本發(fā)明涉及電路測(cè)試技術(shù)，尤其涉及一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試電路與測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

10種規(guī)格的高精度繞線電阻，進(jìn)行2ⁿ的矩陣排列，構(gòu)成512種帶載負(fù)載形式。在短路測(cè)量回路中，利用歐姆定律，在標(biāo)準(zhǔn)或客戶要求的指定電壓下，通過(guò)選用高精度矩陣電阻序列，輸出規(guī)定需求的短路電流值?，F(xiàn)有技術(shù)測(cè)試的過(guò)程為：利用短路試品銅柱調(diào)試出預(yù)期的短路電流波形，在保證電壓的公差范圍下，短路電流值控制在一定范圍內(nèi)。此短路電流參數(shù)要多次手動(dòng)調(diào)節(jié)，進(jìn)行不斷修改和投入回路電阻值后，才能得到。

在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明過(guò)程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在以下技術(shù)問(wèn)題：現(xiàn)有技術(shù)中存在的第一個(gè)問(wèn)題是需要手動(dòng)調(diào)節(jié)和補(bǔ)償電阻，進(jìn)行多次短路逼近預(yù)期值調(diào)節(jié)，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，效率極低；且多次直接大電流短路調(diào)節(jié)，對(duì)設(shè)備的使用壽命損害非常大，會(huì)造成器件的老化偏差和衰減，增加參數(shù)調(diào)節(jié)的不確定性和難度，同時(shí)增加測(cè)試成本。

現(xiàn)有技術(shù)中存在的第二個(gè)問(wèn)題是短路電流調(diào)節(jié)公差要求控制在一定范圍內(nèi),且此范圍很大，不能滿足現(xiàn)在一些高精度產(chǎn)品測(cè)試要求，會(huì)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行誤判。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試電路與測(cè)試方法，以優(yōu)化現(xiàn)有的測(cè)試電路和測(cè)試方法。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試電路，包括：電源，所述電源串聯(lián)第一開(kāi)關(guān)S₁和第二開(kāi)關(guān)S₂形成第一回路；所述電源串聯(lián)所述第一開(kāi)關(guān)S₁、第三開(kāi)關(guān)S₃和可調(diào)電阻R形成第二回路；所述第二開(kāi)關(guān)S₂和可調(diào)電阻R并聯(lián)，所述第三開(kāi)關(guān)S₃和所述可調(diào)電阻R串聯(lián)在可調(diào)電阻R所在支路上。

進(jìn)一步, 還包括短路試品，所述短路試品串聯(lián)在所述第一回路中。

根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試方法，包括：基于第一回路內(nèi)阻Rr，計(jì)算理論電阻R₁；將所述可調(diào)電阻R的阻值調(diào)節(jié)為理論電阻R₁，其中，R₁=R；當(dāng)所述第二開(kāi)關(guān)S₂斷開(kāi)，且所述第一開(kāi)關(guān)S₁和所述第三開(kāi)關(guān)S₃閉合時(shí)，在測(cè)試電路中投入預(yù)設(shè)電流Isc₂，測(cè)試所述第二回路的電壓V₂；基于所述第一回路內(nèi)阻Rr、所述第二回路電壓V₂和所述預(yù)設(shè)電流Isc₂，計(jì)算實(shí)際電阻R₁'的阻值；判斷所述理論電阻R₁的阻值是否大于所述實(shí)際電阻R₁'；當(dāng)所述理論電阻R₁的阻值大于所述實(shí)際電阻R₁'時(shí)，在所述可調(diào)電阻R所在支路串聯(lián)電阻R₂；當(dāng)所述理論電阻R₁的阻值小于所述實(shí)際電阻R₁'時(shí)，在所述可調(diào)電阻R兩端并聯(lián)電阻R₂。

進(jìn)一步，所述第一回路內(nèi)阻Rr通過(guò)以下方法計(jì)算：當(dāng)所述第一開(kāi)關(guān)S₁和所述第二開(kāi)關(guān)S₂閉合，且所述第三開(kāi)關(guān)S₃斷開(kāi)時(shí)，在測(cè)試電路中投入預(yù)設(shè)電流I，測(cè)試所述第一回路的電壓U；基于所述電壓U和所述預(yù)設(shè)電流I計(jì)算所述第一回路內(nèi)阻Rr。

進(jìn)一步，所述計(jì)算理論電阻R₁具體為：基于理論電壓V₁、理論電流Isc₁和所述內(nèi)阻Rr，計(jì)算理論電阻R₁的阻值。

進(jìn)一步，所述計(jì)算所述第一回路內(nèi)阻Rr的阻值的步驟為：基于以下公式計(jì)算所述回路內(nèi)阻Rr的阻值：Rr=U/I；式中，I為投入的預(yù)設(shè)電流的電流值，U為在測(cè)試電路中投入預(yù)設(shè)電流下測(cè)試得到的所述第一回路電壓的電壓值。

進(jìn)一步，計(jì)算所述理論電阻R₁的阻值的步驟為：基于以下公式計(jì)算所述理論電阻R₁的阻值：R₁=V₁/Isc₁-Rr；式中，V₁為所述理論電壓的電壓值，Isc₁為所述理論電流的電流值，Rr為所述第一回路內(nèi)阻的阻值。

進(jìn)一步，計(jì)算所述實(shí)際電阻R₁'的阻值的步驟為：基于以下公式計(jì)算所述實(shí)際電阻R₁'的阻值：R₁'=V₂/Isc₂-Rr；式中，Isc₂為投入所述預(yù)設(shè)電流的電流值，V₂為在測(cè)試電路中投入所述預(yù)設(shè)電流Isc₂下測(cè)試得到的所述第二回路電壓的電壓值，Rr為所述第一回路內(nèi)阻的阻值。

進(jìn)一步，當(dāng)所述可調(diào)電阻R與電阻R₂為串聯(lián)時(shí)，計(jì)算所述電阻R₂的阻值的步驟為：基于以下公式計(jì)算所述電阻R₂的阻值：R₂=R₁-R₁'；式中，R₁為通過(guò)計(jì)算得到的所述理論電阻R₁的阻值，R₁'為通過(guò)計(jì)算得到的所述實(shí)際電阻R₁'的阻值。

進(jìn)一步，當(dāng)所述可調(diào)電阻R與所述電阻R₂為并聯(lián)時(shí)，計(jì)算所述電阻R₂的阻值的步驟為：基于以下公式計(jì)算所述電阻R₂的阻值：R₂=R₁'*R₁/(R₁'-R₁)；式中，R₁為通過(guò)計(jì)算得到的所述理論電阻R₁的阻值，R₁'為通過(guò)計(jì)算得到的所述實(shí)際電阻R₁'的阻值。

本發(fā)明實(shí)施例提供的一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試電路和測(cè)試方法，通過(guò)增加電流回路自檢電路，即第一回路，從而對(duì)回路的內(nèi)在阻值進(jìn)行預(yù)算，依據(jù)理論電流和理論電壓參數(shù)，計(jì)算理論電阻值，即在電路中需投入的電阻值；進(jìn)而通過(guò)在電路中投入電壓和電流計(jì)算實(shí)際投入的電阻值，根據(jù)理論電阻值和計(jì)算得到的實(shí)際投入的電阻值計(jì)算需要補(bǔ)償?shù)碾娮柚?，從而避免了現(xiàn)有技術(shù)中需要多次通過(guò)手動(dòng)調(diào)節(jié)可調(diào)電阻的阻值進(jìn)行測(cè)試，造成容易對(duì)電路造成破壞，以及需要多次測(cè)試的缺陷，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試流程的簡(jiǎn)化，不會(huì)出現(xiàn)由于多次調(diào)試造成電路損壞的現(xiàn)象，避免了造成器件的老化偏差和衰減，增加參數(shù)調(diào)節(jié)的不確定性和難度，節(jié)省了電路元器件成本。同時(shí)也不再需要控制短路電流調(diào)節(jié)公差，能夠滿足高精度產(chǎn)品測(cè)試要求，不會(huì)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行誤判。

附圖說(shuō)明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)試電路的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本發(fā)明實(shí)施例的一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試電路的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3是本發(fā)明實(shí)施例的一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試方法的流程示意圖。

圖4是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式中包含補(bǔ)償電阻的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

圖5是根據(jù)本發(fā)明另一種實(shí)施方式中包含補(bǔ)償電阻的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明了，下面結(jié)合具體實(shí)施方式并參照附圖，對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)該理解，這些描述只是示例性的，而并非要限制本發(fā)明的范圍。此外，在以下說(shuō)明中，省略了對(duì)公知結(jié)構(gòu)和技術(shù)的描述，以避免不必要地混淆本發(fā)明的概念。

圖1顯示了現(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)試電路的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖1所示，電源串聯(lián)開(kāi)關(guān)S和可調(diào)電阻r形成回路，現(xiàn)有技術(shù)沒(méi)有短路自檢電路，沒(méi)有對(duì)測(cè)試電路內(nèi)在阻值進(jìn)行預(yù)算，也沒(méi)有補(bǔ)償電阻，只能通過(guò)手動(dòng)調(diào)節(jié)電阻r的大小去逼近輸出預(yù)設(shè)的電流值。每次手動(dòng)調(diào)節(jié)之前，還要使用短路試品銅柱調(diào)試出預(yù)期的短路電流參數(shù)，而電流參數(shù)的調(diào)試往往需要調(diào)試很多遍，因此耗時(shí)耗力；且每次的手動(dòng)調(diào)節(jié)是直接采用短路調(diào)節(jié)，如果投入的預(yù)設(shè)電流過(guò)大，對(duì)設(shè)備的使用壽命損害非常大，測(cè)試成本變高，可能要經(jīng)常更換測(cè)試電路。

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的以上缺陷，本發(fā)明提出一種測(cè)試電路，能夠測(cè)試得到補(bǔ)償電阻值及補(bǔ)償電阻和待補(bǔ)償電阻的連接方式。

圖2顯示了本發(fā)明實(shí)施例的一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試電路的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖2所示，一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試電路，包括電源，電源串聯(lián)第一開(kāi)關(guān)S₁和第二開(kāi)關(guān)S₂形成第一回路；電源串聯(lián)第一開(kāi)關(guān)S₁、第三開(kāi)關(guān)S₃和可調(diào)電阻R形成第二回路；第二開(kāi)關(guān)S₂和可調(diào)電阻R并聯(lián)，第三開(kāi)關(guān)S₃和可調(diào)電阻R串聯(lián)在可調(diào)電阻R所在支路上。

的電路還包括短路試品，短路試品串聯(lián)在第一回路中。作為一種優(yōu)選實(shí)施例，短路試品優(yōu)選地為兩個(gè)銅柱，其中，兩個(gè)銅柱的作用相當(dāng)于電路中的保險(xiǎn)絲，能夠在電流過(guò)大時(shí)對(duì)整個(gè)電路進(jìn)行保護(hù)。

圖3是本發(fā)明實(shí)施例的一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試方法的流程示意圖。

如圖3所示，一種補(bǔ)償電阻的測(cè)試方法，方法包括如下步驟：

步驟S100，基于第一回路內(nèi)阻Rr，計(jì)算理論電阻R₁。

第一回路內(nèi)阻Rr通過(guò)以下方法計(jì)算：當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)S₁和第二開(kāi)關(guān)S₂閉合，且第三開(kāi)關(guān)S₃斷開(kāi)時(shí)，在測(cè)試電路中投入預(yù)設(shè)電流I，測(cè)試第一回路的電壓U。在具體實(shí)施時(shí)，第一開(kāi)關(guān)S₁和第二開(kāi)關(guān)S₂閉合，且第三開(kāi)關(guān)S₃斷開(kāi)，可以采用手動(dòng)進(jìn)行閉合或斷開(kāi)，也可以采用測(cè)控軟件進(jìn)行控制其閉合或斷開(kāi)。

其中，如圖2所示，當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)S₁和第二開(kāi)關(guān)S₂閉合，且第三開(kāi)關(guān)S₃斷開(kāi)時(shí)，整個(gè)第一回路相當(dāng)于一根導(dǎo)線直接連接到電源兩端，電路為短路狀態(tài)，為了保護(hù)電路，投入的預(yù)設(shè)電流I具體值要很小。其中，作為一種優(yōu)選實(shí)施例，預(yù)設(shè)電流I可以設(shè)置為1A。

計(jì)算第一回路內(nèi)阻Rr的阻值的步驟為：

基于以下公式計(jì)算回路內(nèi)阻Rr的阻值：Rr=U/I；式中，I為投入的預(yù)設(shè)電流I的電流值，U為投入預(yù)設(shè)電流I下測(cè)試得到的第一回路電壓的電壓值。

計(jì)算理論電阻R₁具體為：

基于理論電壓V₁、理論電流Isc₁和內(nèi)阻Rr，計(jì)算理論電阻R₁的阻值。

其中，理論電壓V₁和理論電流Isc₁均為已知的，也是規(guī)定參數(shù)，因?yàn)閷儆诶碚搮?shù)，一般數(shù)值比較大，所以不能直接在電路中投入，所以必須先求出實(shí)際電阻，再根據(jù)實(shí)際電阻和理論電阻阻值的差值確定補(bǔ)償電阻的阻值，以及確定補(bǔ)償電阻以何種方式連接在電路中，從而避免直接投入額定電壓和額定電流，燒壞電路，實(shí)現(xiàn)節(jié)約成本。具體地，理論電壓V₁和理論電流Isc₁分別為生產(chǎn)廠商規(guī)定的理論電阻R₁所能夠投入的額定電壓和額定電流。

計(jì)算理論電阻R₁的阻值的步驟為：

基于以下公式計(jì)算理論電阻R₁的阻值：R₁=V₁/Isc₁-Rr；式中，V₁為理論電壓的電壓值，Isc₁為理論電流的電流值，Rr為已經(jīng)求得的第一回路內(nèi)阻的阻值。

步驟S101，將可調(diào)電阻R的阻值調(diào)節(jié)為理論電阻R₁，其中，R₁=R。

在將可調(diào)電阻R的阻值調(diào)整為理論電阻R₁后，由于調(diào)整過(guò)程可能會(huì)存在誤差，因此實(shí)際調(diào)整后的可調(diào)電阻阻值實(shí)際上并不為理論電阻R₁,因此，需要在第二回路中投入相應(yīng)電流，再對(duì)電壓進(jìn)行測(cè)試，來(lái)計(jì)算調(diào)整后實(shí)際的電阻值。具體計(jì)算方法如步驟S102。

步驟S102，當(dāng)?shù)诙_(kāi)關(guān)S₂和第四開(kāi)關(guān)S₄斷開(kāi)，且第一開(kāi)關(guān)S₁和第三開(kāi)關(guān)S₃閉合時(shí)，在測(cè)試電路中投入預(yù)設(shè)電流Isc₂，測(cè)試第二回路的電壓V₂。

預(yù)設(shè)電流Isc₂因?yàn)闇y(cè)試需要，具體數(shù)值應(yīng)當(dāng)盡量取較小的值，對(duì)整個(gè)測(cè)試電路進(jìn)行保護(hù)，這樣可以在保護(hù)電路的條件下測(cè)試出第二回路的電壓V₂。

步驟S103，基于第一回路內(nèi)阻Rr、第二回路電壓V₂和預(yù)設(shè)電流Isc₂，計(jì)算實(shí)際電阻R₁'的阻值。計(jì)算實(shí)際電阻R₁'的阻值的步驟為：基于以下公式計(jì)算實(shí)際電阻R₁'的阻值：R₁'=V₂/Isc₂-Rr；式中，Isc₂為投入預(yù)設(shè)電流Isc₂的電流值，V₂為投入預(yù)設(shè)電流Isc₂下測(cè)試得到的第二回路電壓的電壓值，Rr為已經(jīng)求得的第一回路內(nèi)阻的阻值。

步驟S104，判斷理論電阻R₁的阻值是否大于實(shí)際電阻R₁'。

步驟S105，當(dāng)理論電阻R₁的阻值大于實(shí)際電阻R₁'時(shí)，在可調(diào)電阻R所在支路串聯(lián)電阻R₂。

具體地，當(dāng)理論電阻R₁的阻值大于實(shí)際電阻R₁'時(shí)，則表示步驟S101在將可調(diào)電阻R的阻值調(diào)整為理論電阻R₁，實(shí)際上在電路中投入的電阻較小，因此，需要在電路中串聯(lián)一個(gè)相應(yīng)阻值的補(bǔ)償電阻來(lái)對(duì)實(shí)際電阻R₁'進(jìn)行補(bǔ)償，使得串聯(lián)后的實(shí)際電阻R₁'的阻值與補(bǔ)償電阻的阻值之和等于理論電阻R₁的阻值。

圖4顯示了本發(fā)明一種實(shí)施方式提供的一種包含補(bǔ)償電阻的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖4所示，在包含如圖2所示的電路的基礎(chǔ)上，還包括電阻R₂，此時(shí)可調(diào)電阻R和R₂是串聯(lián)關(guān)系。當(dāng)可調(diào)電阻R與電阻R₂為串聯(lián)時(shí)，計(jì)算電阻R₂的阻值的步驟為：

基于以下公式計(jì)算電阻R₂的阻值：R₂=R₁-R₁'；式中，R₁為通過(guò)計(jì)算得到的理論電阻R₁的阻值，也是可調(diào)電阻R進(jìn)行調(diào)節(jié)后的電阻值，R₁'為通過(guò)計(jì)算得到的實(shí)際電阻R₁'的阻值。

步驟S106，當(dāng)理論電阻R₁的阻值小于實(shí)際電阻R₁'時(shí)，在可調(diào)電阻R兩端并聯(lián)電阻R₂。

具體地，當(dāng)理論電阻R₁的阻值大于實(shí)際電阻R₁'時(shí)，則表示步驟S101在將可調(diào)電阻R的阻值調(diào)整為理論電阻R₁，實(shí)際上在電路中投入的電阻較大，即可調(diào)電阻R調(diào)節(jié)后的電阻值偏大。因此，需要在電路中并聯(lián)一個(gè)相應(yīng)阻值的補(bǔ)償電阻來(lái)對(duì)實(shí)際電阻R₁'進(jìn)行補(bǔ)償，使得實(shí)際電阻R₁'的阻值與補(bǔ)償電阻并聯(lián)后的阻值等于理論電阻R₁的阻值。

圖5顯示了本發(fā)明另一種實(shí)施方式提供的一種包含補(bǔ)償電阻的電路結(jié)構(gòu)示意圖。如圖5所示，在包含如圖2所示的電路的基礎(chǔ)上，還包括電阻R₂，此時(shí)可調(diào)電阻R和電阻R₂是并聯(lián)關(guān)系。當(dāng)可調(diào)電阻R與電阻R₂為并聯(lián)時(shí)，計(jì)算電阻R₂的阻值的步驟為：

基于以下公式計(jì)算電阻R₂的阻值：R₂=R₁'R₁/(R₁'-R₁)；式中，R₁為通過(guò)計(jì)算得到的理論電阻R₁的阻值，R₁'為通過(guò)計(jì)算得到的實(shí)際電阻R₁'的阻值。

其中，還包括步驟S107：當(dāng)理論電阻R₁的阻值等于實(shí)際電阻R₁'時(shí)，即R₂=R₁-R₁'=0，表示此時(shí)補(bǔ)償電阻為0，即調(diào)節(jié)為理論電阻R₁的可調(diào)電阻不需要進(jìn)行補(bǔ)償。

其中，在通過(guò)以上方法計(jì)算得到補(bǔ)償電阻后，為了檢驗(yàn)計(jì)算得到的補(bǔ)償電阻的阻值是否準(zhǔn)確，可以在將補(bǔ)償電阻通過(guò)串聯(lián)或并聯(lián)方式投入電路中后，通過(guò)以下方法進(jìn)行檢驗(yàn)，從而完成對(duì)電路安全，高效的測(cè)試。具體的檢驗(yàn)方法為：將第二開(kāi)關(guān)S₂斷開(kāi)，且將第一開(kāi)關(guān)S₁、第三開(kāi)關(guān)S₃和第四開(kāi)關(guān)S₄閉合時(shí)，在測(cè)試電路中投入理論電壓V₁，測(cè)試電流值是否為理論電流Isc₁值，或者在測(cè)試電路中投入理論電流Isc₁，測(cè)試電路中電源的電壓值是否為理論電壓V₁值。

如上，詳細(xì)的介紹了本發(fā)明實(shí)施例的補(bǔ)償電阻的測(cè)試電路和測(cè)試方法，通過(guò)增加第一回路，首先測(cè)試得到電路內(nèi)阻Rr，然后基于電路內(nèi)阻Rr、理論電壓V₁和理論電流Isc₁計(jì)算得到理論電阻R₁，將可調(diào)電阻R阻值調(diào)節(jié)為為理論電阻R₁的阻值，再在第二回路中投入預(yù)設(shè)電流Isc₂，測(cè)試電源電壓V₂，并基于電源電壓V₂和預(yù)設(shè)電流Isc₂以及電路內(nèi)阻計(jì)算Rr得到實(shí)際電阻R₁'阻值，最后比較實(shí)際電阻R₁'阻值和理論電阻R₁阻值的大小，當(dāng)理論電阻R₁的阻值大于實(shí)際電阻R₁'時(shí)，表明調(diào)節(jié)的可調(diào)電阻R過(guò)小，因此，在電阻R₁所在支路串聯(lián)補(bǔ)償電阻R₂，從而增加回路中電阻值，使得實(shí)際電阻R₁'阻值和補(bǔ)償電阻R₂阻值之和正好等于理論電阻的阻值R₁；以及當(dāng)理論電阻R₁的阻值小于實(shí)際電阻R₁'時(shí)，表明調(diào)節(jié)的可調(diào)電阻R的阻值過(guò)大，在電阻R₁兩端并聯(lián)電阻R₂，從而減小回路中電阻，使得實(shí)際電阻R₁'阻值和補(bǔ)償電阻R₂阻值并聯(lián)之后得到的電阻值正好等于理論電阻R₁的阻值。從而避免了現(xiàn)有技術(shù)中需要多次通過(guò)手動(dòng)調(diào)節(jié)可調(diào)電阻的阻值進(jìn)行測(cè)試，造成容易對(duì)電路造成破壞，以及需要多次測(cè)試的缺陷，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試流程的簡(jiǎn)化，只需要對(duì)可調(diào)電阻進(jìn)行數(shù)次調(diào)試即可，不會(huì)出現(xiàn)由于多次調(diào)試造成電路損壞的現(xiàn)象，避免了造成器件的老化偏差和衰減，增加參數(shù)調(diào)節(jié)的不確定性和難度，節(jié)省了電路元器件成本。

在本發(fā)明的描述中，需要說(shuō)明的是，術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”、“第三”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對(duì)重要性。

當(dāng)然，本發(fā)明的上述具體實(shí)施方式僅僅用于示例性說(shuō)明或解釋本發(fā)明的原理，而不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。因此，在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。此外，本發(fā)明所附權(quán)利要求旨在涵蓋落入所附權(quán)利要求范圍和邊界、或者這種范圍和邊界的等同形式內(nèi)的全部變化和修改例。