1.一種顯示面板的金屬走線(xiàn)的寄生電容的量測(cè)方法，其特征在于，包括：
步驟10、提供第一組電路版圖，其包括測(cè)試部分及公共部分，該測(cè)試部分包含待量測(cè)的金屬走線(xiàn)，該公共部分包含引線(xiàn)及與引線(xiàn)相連接的量測(cè)墊；該引線(xiàn)及相連接的量測(cè)墊一一對(duì)應(yīng)于該金屬走線(xiàn)，該引線(xiàn)一端連接對(duì)應(yīng)的金屬走線(xiàn)，另一端連接相應(yīng)的量測(cè)墊；
步驟20、利用該第一組電路版圖中的量測(cè)墊量測(cè)第一組寄生電容數(shù)據(jù)；
步驟30、提供第二組電路版圖，其僅包括該第一組電路版圖中的公共部分；
步驟40、利用該第二組電路版圖中的量測(cè)墊量測(cè)第二組寄生電容數(shù)據(jù)；
步驟50、將該第一組寄生電容數(shù)據(jù)與第二組寄生電容數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)相減以得到對(duì)應(yīng)的金屬走線(xiàn)的寄生電容。
2.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的金屬走線(xiàn)的寄生電容的量測(cè)方法，其特征在于，所述引線(xiàn)與對(duì)應(yīng)的金屬走線(xiàn)相連的一端的形狀為該對(duì)應(yīng)的金屬走線(xiàn)的形狀的自然延伸。
3.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的金屬走線(xiàn)的寄生電容的量測(cè)方法，其特征在于，所述待量測(cè)的金屬走線(xiàn)為平行的金屬走線(xiàn)，所述金屬走線(xiàn)的寄生電容為側(cè)向電容。
4.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的金屬走線(xiàn)的寄生電容的量測(cè)方法，其特征在于，所述待量測(cè)的金屬走線(xiàn)為交疊的金屬走線(xiàn)，所述金屬走線(xiàn)的寄生電容為交疊電容。
5.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的金屬走線(xiàn)的寄生電容的量測(cè)方法，其特征在于，所述顯示面板為L(zhǎng)TPS面板。
6.如權(quán)利要求3所述的顯示面板的金屬走線(xiàn)的寄生電容的量測(cè)方法，其特征在于，所述引線(xiàn)包括與對(duì)應(yīng)的金屬走線(xiàn)連接并按照該對(duì)應(yīng)的金屬走線(xiàn)形狀延伸的第一平行延伸部分，連接該第一平行延伸部分的斜線(xiàn)延伸部分，以及連接該斜線(xiàn)延伸部分并與該第一平行延伸部分平行的第二平行延伸部分。
7.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的金屬走線(xiàn)的寄生電容的量測(cè)方法，其特征在于，所述待量測(cè)的金屬走線(xiàn)對(duì)應(yīng)于該顯示面板的WOA區(qū)域。
8.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的金屬走線(xiàn)的寄生電容的量測(cè)方法，其特征在于，所述待量測(cè)的金屬走線(xiàn)對(duì)應(yīng)于該顯示面板的GOA區(qū)域。