本發(fā)明涉及直流阻抗的測(cè)試裝置，具體涉及一種指紋識(shí)別模組中金屬環(huán)直流阻抗的測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

隨著科技的發(fā)展，電子感測(cè)技術(shù)越來(lái)越多地被應(yīng)用。指紋識(shí)別(fingerprinting)技術(shù)是目前最成熟且價(jià)格便宜的生物特征識(shí)別技術(shù)。目前來(lái)說(shuō)指紋識(shí)別的技術(shù)應(yīng)用最為廣泛，我們不僅在門禁、考勤系統(tǒng)中可以看到指紋識(shí)別技術(shù)的身影，市場(chǎng)上有了更多指紋識(shí)別的應(yīng)用：如筆記本電腦、手機(jī)、汽車、銀行支付都可應(yīng)用指紋識(shí)別的技術(shù)。

在手機(jī)、平板電腦等電子類產(chǎn)品的使用指紋識(shí)別模組中，往往用到金屬環(huán)，由于其作用為接地防止人在觸摸指紋芯片時(shí)人體的靜電對(duì)芯片造成傷害，所以其本身的直流阻抗越小越好，但是，在目前自動(dòng)化測(cè)試時(shí)都使用萬(wàn)用電表來(lái)測(cè)試其直流阻抗，使用非常不便。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了克服上述缺陷，本發(fā)明提供一種指紋識(shí)別模組中金屬環(huán)直流阻抗的測(cè)試裝置，該測(cè)試裝置可以解決采用萬(wàn)用電表測(cè)試帶來(lái)不便的問(wèn)題。

本發(fā)明為了解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：一種指紋識(shí)別模組中金屬環(huán)直流阻抗的測(cè)試裝置，包括底板、蓋板和測(cè)試電路，所述底板上設(shè)有供待測(cè)產(chǎn)品放置的測(cè)試槽，所述蓋板上至少設(shè)有一個(gè)頂針，當(dāng)蓋板蓋在底板上時(shí)所述頂針與待測(cè)產(chǎn)品中的金屬環(huán)接觸，所述頂針與測(cè)試電路連接，所述測(cè)試電路根據(jù)待測(cè)產(chǎn)品中的金屬環(huán)阻抗值變換不同的工作狀態(tài)。

進(jìn)一步地，所述測(cè)試電路中設(shè)有三個(gè)大功率電阻(R1，R2和R3)和金屬環(huán)(R8)組成電壓采樣電路，R1和R2串聯(lián)為參考電壓輸入，R8與R3串聯(lián)構(gòu)成采樣電壓輸入，將兩個(gè)輸入信號(hào)分別接入比較放大電路LM339中，當(dāng)R8的阻抗在設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)時(shí)，導(dǎo)通三極管Q1驅(qū)動(dòng)綠燈亮，否則，導(dǎo)通三極管Q2驅(qū)動(dòng)紅燈亮。

進(jìn)一步地，所述三極管Q2還連接有報(bào)警裝置。

進(jìn)一步地，所述頂針為四個(gè)。

本發(fā)明的有益效果是：將待測(cè)指紋模組(包括FPCB和芯片)放置于底板的測(cè)試槽中，并蓋上蓋板，此時(shí)蓋板中的頂針可接觸到待測(cè)產(chǎn)品中的金屬環(huán)，因此將金屬環(huán)接入測(cè)試電路中，當(dāng)所述金屬環(huán)的阻抗值在設(shè)定的合格范圍內(nèi)時(shí)，測(cè)試電路顯示綠燈亮；當(dāng)所述金屬環(huán)的阻抗值超出范圍時(shí)，測(cè)試電路顯示紅燈亮同時(shí)啟動(dòng)報(bào)警裝置，與之前采用的萬(wàn)用電表來(lái)測(cè)試金屬環(huán)阻抗的方法相比較，該測(cè)試裝置測(cè)試的結(jié)果非常直觀，只需要觀察是綠燈亮還是紅燈亮即可，不需要看具體的數(shù)值進(jìn)行判斷，同時(shí)當(dāng)產(chǎn)品為不合格品時(shí)，報(bào)警裝置發(fā)出報(bào)警信號(hào)，引起操作人員的注意。本發(fā)明的測(cè)試裝置具有操作簡(jiǎn)單方便、測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確，大大提高了產(chǎn)品組裝效率的優(yōu)點(diǎn)。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明中底板和蓋板的分解結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明中底板和蓋板的結(jié)合結(jié)構(gòu)示意圖

圖3為本發(fā)明中測(cè)試電路的原理圖。

圖中：1-底板，2-測(cè)試槽，3-蓋板，4-待測(cè)產(chǎn)品，5-頂針。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

如圖1和圖2所示，一種指紋識(shí)別模組中金屬環(huán)直流阻抗的測(cè)試裝置，包括底板1、蓋板3和測(cè)試電路，所述底板1上設(shè)有供待測(cè)產(chǎn)品放置的測(cè)試槽2，所述蓋板3上至少設(shè)有一個(gè)頂針5，當(dāng)蓋板3蓋在底板1上時(shí)所述頂針5與待測(cè)產(chǎn)品4中的金屬環(huán)接觸，所述頂針5與測(cè)試電路連接，所述測(cè)試電路根據(jù)待測(cè)產(chǎn)品中的金屬環(huán)阻抗值變換不同的工作狀態(tài)。將待測(cè)指紋模組(包括FPCB和芯片)放置于底板的測(cè)試槽中，并蓋上蓋板，此時(shí)蓋板中的頂針可接觸到待測(cè)產(chǎn)品中的金屬環(huán)，因此將金屬環(huán)接入測(cè)試電路中，當(dāng)所述金屬環(huán)的阻抗值在設(shè)定的合格范圍內(nèi)時(shí)，測(cè)試電路顯示一種工作狀態(tài)；當(dāng)所述金屬環(huán)的阻抗值超出范圍時(shí)，測(cè)試電路顯示另一種工作狀態(tài)，測(cè)試人員可以根據(jù)測(cè)試電路不同的工作狀態(tài)來(lái)判斷待測(cè)產(chǎn)品為合格品還是不良品，本發(fā)明的測(cè)試裝置操作簡(jiǎn)單方便、測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確，大大提高了產(chǎn)品組裝的效率。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述測(cè)試電路中設(shè)有三個(gè)大功率電阻(R1，R2和R3)和金屬環(huán)(R8)組成電壓采樣電路，R1和R2串聯(lián)為參考電壓輸入，R8與R3串聯(lián)構(gòu)成采樣電壓輸入，將兩個(gè)輸入信號(hào)分別接入比較放大電路LM339中，當(dāng)R8的阻抗在設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)時(shí)，導(dǎo)通三極管Q1驅(qū)動(dòng)綠燈亮，否則，導(dǎo)通三極管Q2驅(qū)動(dòng)紅燈亮。如圖3所示，R1和R2串聯(lián)作為參考電壓連接到比較放大電路LM339的輸入端7上，R3和R8串聯(lián)構(gòu)成采樣電壓連接到比較放大電路LM339的輸入端6上，如果金屬環(huán)即R8的阻抗在設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)時(shí)，比較放大電路LM339通過(guò)OUT2輸出的電壓為高電平，則導(dǎo)通NPN三極管Q1驅(qū)動(dòng)綠燈亮；如果金屬環(huán)即R8的阻抗超出設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)范圍，比較放大電路LM339通過(guò)OUT2輸出的電壓為低電平，則導(dǎo)通PNP三極管Q2驅(qū)動(dòng)綠燈亮。因此當(dāng)操作人員觀察到綠燈亮?xí)r，說(shuō)明待測(cè)產(chǎn)品中金屬環(huán)的阻抗是符合要求的，即該產(chǎn)品為合格品；反之紅燈亮?xí)r，說(shuō)明待測(cè)產(chǎn)品為不良品，進(jìn)行返工或報(bào)廢處理。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述三極管Q2還連接有報(bào)警裝置。因?yàn)閳?bào)警裝置連接在三極管Q2上，所以當(dāng)金屬環(huán)的阻抗超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)范圍時(shí)，不僅紅燈亮起，同時(shí)報(bào)警裝置也被啟動(dòng)，報(bào)警裝置可以為發(fā)出響聲的報(bào)警器或高亮度閃爍燈，以此來(lái)提醒操作人員。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述頂針為四個(gè)。設(shè)有的四個(gè)頂針可以用來(lái)與金屬環(huán)不同的面進(jìn)行接觸，提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。

本發(fā)明的操作過(guò)程是：首先將待測(cè)指紋模組(包括FPCB和芯片)放置于底板的測(cè)試槽中，再將蓋上蓋板，此時(shí)蓋板中的頂針可接觸到待測(cè)產(chǎn)品中的金屬環(huán)，設(shè)有的四個(gè)頂針可以接觸金屬環(huán)的不同面，并在頂針上引出連接線到電路的輸入極，用三個(gè)大功率高精度電阻(2瓦)和金屬環(huán)一起組成電壓采樣電路，并從其中接出信號(hào)采樣點(diǎn)(如圖3所示)，以R1和R2串聯(lián)為參考輸入，金屬環(huán)與R3串聯(lián)構(gòu)成采樣電壓輸入；將兩個(gè)得到的輸入信號(hào)分別接入比較放大電路LM339的兩個(gè)輸入腳，當(dāng)金屬環(huán)的阻抗在標(biāo)準(zhǔn)范圍以內(nèi)時(shí)比較放大電路輸出為高電平，導(dǎo)通三極管Q1驅(qū)動(dòng)綠燈亮起，即此測(cè)試產(chǎn)品為合格品,當(dāng)金屬環(huán)上阻抗超出標(biāo)準(zhǔn)范圍時(shí)，金屬環(huán)上的壓降會(huì)變大，導(dǎo)致比較放大電路的輸出發(fā)生翻轉(zhuǎn)，導(dǎo)通三極管Q2驅(qū)動(dòng)報(bào)警裝置及紅色亮，以提示測(cè)試人員此產(chǎn)品為不合格品。

應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。