本發(fā)明涉及一種例如對(duì)來自高速收發(fā)器(高速半導(dǎo)體)、光纖連接模塊(SFP+)等被測(cè)定物(DUT)的被測(cè)定信號(hào)重復(fù)進(jìn)行采樣的采樣電路、采樣方法、采樣示波器以及波形顯示方法。

背景技術(shù)：

以往已知有等效時(shí)間采樣示波器(以下，稱為采樣示波器)作為例如對(duì)來自高速收發(fā)器、光纖連接模塊(SFP+)等被測(cè)定物(DUT)的被測(cè)定信號(hào)重復(fù)進(jìn)行采樣并顯示觀測(cè)波形和眼圖的裝置。例如下述專利文獻(xiàn)1中公開的采樣示波器使用直接數(shù)字頻率合成器(DDS：Direct Digital Syn thesizer)生成從基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)的整數(shù)分之一的頻率稍微偏移頻率的周期信號(hào)，將該生成的周期信號(hào)作為時(shí)間基準(zhǔn)(時(shí)基)進(jìn)行被測(cè)定信號(hào)的采樣。

專利文獻(xiàn)1：US2005/0177758A1

然而，近年來隨著比特率的高速化，例如32Gbps等高速率的高速裝置開始普及。因此，對(duì)于這種采樣示波器，要求能夠應(yīng)對(duì)高速率的高速裝置的高精度化，且要求進(jìn)一步改善波動(dòng)誤差。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

因此，本發(fā)明是鑒于上述問題點(diǎn)而完成的，其目的在于提供一種實(shí)現(xiàn)波動(dòng)誤差的改善，時(shí)間精確度優(yōu)異且低成本的采樣電路、采樣方法、采樣示波器以及波形顯示方法。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的權(quán)利要求1所述的采樣電路，其具備：觸發(fā)生成部11，其具有頻率合成器11a及采樣器驅(qū)動(dòng)部11b，所述頻率合成器輸出從與由重復(fù)信號(hào)構(gòu)成的被測(cè)定信號(hào)ws同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的頻率的整數(shù)分之一的頻率失諧規(guī)定頻率Δf[Hz]的頻率的周期信號(hào)r(t)，所述采樣器驅(qū)動(dòng)部從所述周期信號(hào)輸出成為時(shí)間基準(zhǔn)的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK；及

第1采樣器部12，在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)所述被測(cè)定信號(hào)進(jìn)行采樣，

所述采樣電路的特征在于，具備誤差檢測(cè)部13，該誤差檢測(cè)部具有：第2采樣器部13a，在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)基于所述基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)的I信號(hào)I(t)或所述周期信號(hào)進(jìn)行采樣；及校正值計(jì)算部13d，根據(jù)由所述第2采樣器部獲取的采樣數(shù)據(jù)和采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)。

權(quán)利要求1所述的采樣電路，其具備：觸發(fā)生成部11，其具有頻率合成器11a及采樣器驅(qū)動(dòng)部11b，所述頻率合成器輸出從與由重復(fù)信號(hào)構(gòu)成的被測(cè)定信號(hào)ws同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的頻率的整數(shù)分之一的頻率失諧規(guī)定頻率Δf[Hz]的頻率的周期信號(hào)r(t)，所述采樣器驅(qū)動(dòng)部從所述周期信號(hào)輸出成為時(shí)間基準(zhǔn)的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK；及

第1采樣器部12，在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)所述被測(cè)定信號(hào)進(jìn)行采樣，

所述采樣電路的特征在于，具備誤差檢測(cè)部13，該誤差檢測(cè)部具有：第2采樣器部13a，在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)基于所述基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)的I信號(hào)I(t)進(jìn)行采樣；相位器13b，輸出將所述基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)的相位偏移90°的Q信號(hào)Q(t)；第3采樣器部13c，在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)所述Q信號(hào)進(jìn)行采樣；及校正值計(jì)算部13d，根據(jù)所述I信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)I(n)、所述Q信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)Q(n)及采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)。

權(quán)利要求1所述的采樣電路，其具備觸發(fā)生成部21，其具有頻率合成器21a及采樣器驅(qū)動(dòng)部21b，所述頻率合成器輸出從與由重復(fù)信號(hào)構(gòu)成的被測(cè)定信號(hào)ws同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的頻率的整數(shù)分之一的頻率失諧規(guī)定頻率Δf[Hz]的頻率的周期信號(hào)r(t)，所述采樣器驅(qū)動(dòng)部從所述周期信號(hào)輸出成為時(shí)間基準(zhǔn)的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK；及

第1采樣器部22，在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)所述被測(cè)定信號(hào)進(jìn)行采樣，

所述采樣電路的特征在于，具備誤差檢測(cè)部23，該誤差檢測(cè)部具有：第2采樣器部23b，在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)所述周期信號(hào)進(jìn)行采樣；及校正值計(jì)算部23c，輸入由該第2采樣器部獲取的采樣數(shù)據(jù)r(n)和采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)，并由預(yù)先存儲(chǔ)的正弦波表的相位Φ(n)＝sin^-1(r(n))計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)。

權(quán)利要求3所述的采樣電路，其特征在于，具備可變延遲部23a，該可變延遲部延遲由所述頻率合成器21a輸入至所述采樣器驅(qū)動(dòng)部21b的周期信 號(hào)r(t)。

一種采樣示波器，其特征在于，具備：

權(quán)利要求1所述的采樣電路2A、2B，及

控制部3A、3B，根據(jù)通過所述校正值進(jìn)行校正的時(shí)間基準(zhǔn)，顯示控制基于由所述采樣電路的第1采樣器部12、22獲取的采樣數(shù)據(jù)的觀測(cè)波形或眼圖。

根據(jù)權(quán)利要求1所述的采樣電路，其特征在于，

所述校正值計(jì)算部用所述I信號(hào)I(t)的采樣數(shù)據(jù)I(n)和所述Q信號(hào)Q(t)的采樣數(shù)據(jù)Q(n)從下述式(1)計(jì)算相位Φ(n)，并用計(jì)算出的相位Φ(n)從下述式(2)計(jì)算時(shí)間T(n)，

Φ(n)＝tan^-1(Q(n)/I(n))……式(1)其中，-π＜Φ(n)＜+π

T(n)＝Φ(n)/2πf0……式(2)其中，-1/2f0＜T(n)＜1/2f0

將展開處理后的時(shí)間設(shè)為T’(n)(其中，0＜T’(n)＜∞)，由所述頻率合成器確定的采樣周期設(shè)為Ts時(shí)，使用從t(n)＝Ts×n(其中，n＝0，1，2，……)求出的作為采樣時(shí)刻而設(shè)定的值t(n)計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)＝T’(n)-t(n)。

權(quán)利要求2所述的采樣電路，其特征在于，

所述校正值計(jì)算部輸入由所述第2采樣器部獲取的采樣數(shù)據(jù)r(n)和由所述控制部獲取的所述采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)，利用所述預(yù)先存儲(chǔ)的正弦波表的相位Φ(n)＝sin^-1(r(n))從下述式(2)計(jì)算時(shí)間T(n)，

T(n)＝Φ(n)/2πf0……式(2)其中，-1/2f0＜T(n)＜1/2f0

將展開處理后的時(shí)間設(shè)為T’(n)(其中，0＜T’(n)＜∞)，由所述頻率合成器確定的采樣周期設(shè)為Ts時(shí)，所述校正值計(jì)算部利用從t(n)＝Ts×n(其中，n＝0，1，2，……)求出的作為采樣時(shí)刻而設(shè)定的值t(n)計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)＝T’(n)-t(n)。

一種采樣方法，其具備：輸出從與由重復(fù)信號(hào)構(gòu)成的被測(cè)定信號(hào)ws同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的頻率的整數(shù)分之一的頻率失諧規(guī)定頻率Δf[Hz]的頻率的周期信號(hào)r(t)的步驟；

從所述周期信號(hào)輸出成為時(shí)間基準(zhǔn)的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK的步驟；及

在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)所述被測(cè)定信號(hào)進(jìn)行采樣的步驟，

所述采樣方法的特征在于，包括：

在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)基于所述基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)的I信號(hào)I(t)或所述周期信號(hào)進(jìn)行采樣的步驟；及

根據(jù)采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)的步驟。

權(quán)利要求8所述的采樣方法，其具備：輸出從與由重復(fù)信號(hào)構(gòu)成的被測(cè)定信號(hào)ws同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的頻率的整數(shù)分之一的頻率失諧規(guī)定頻率Δf[Hz]的頻率的周期信號(hào)r(t)的步驟；

從所述周期信號(hào)輸出成為時(shí)間基準(zhǔn)的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK的步驟；及

在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)所述被測(cè)定信號(hào)進(jìn)行采樣的步驟，

所述采樣方法的特征在于，包括：

在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)基于所述基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)的I信號(hào)I(t)進(jìn)行采樣的步驟；

輸出將所述基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)的相位偏移90°的Q信號(hào)Q(t)的步驟；

在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)所述Q信號(hào)進(jìn)行采樣的步驟；及

根據(jù)所述I信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)I(n)、所述Q信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)Q(n)及采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)的步驟。

權(quán)利要求8所述的采樣方法，其具備：輸出從與由重復(fù)信號(hào)構(gòu)成的被測(cè)定信號(hào)ws同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的頻率的整數(shù)分之一的頻率失諧規(guī)定頻率Δf[Hz]的頻率的周期信號(hào)r(t)的步驟；

從所述周期信號(hào)輸出成為時(shí)間基準(zhǔn)的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK的步驟；及

在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)所述被測(cè)定信號(hào)進(jìn)行采樣的步驟，

所述采樣方法的特征在于，包括：

在所述觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻對(duì)所述周期信號(hào)進(jìn)行采樣的步驟；及

輸入所述周期信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)r(n)和采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)，從預(yù)先存儲(chǔ)的正弦波表的相位Φ(n)＝sin^-1(r(n))計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)的步驟。

權(quán)利要求10所述的采樣方法，其特征在于，還包括延遲所述周期信號(hào)r(t)的步驟。

一種波形顯示方法，其特征在于，

在權(quán)利要求8所述的采樣方法中，還包括根據(jù)通過所述校正值進(jìn)行校正的時(shí)間基準(zhǔn)顯示基于從所述被測(cè)定信號(hào)ws獲得的采樣數(shù)據(jù)的觀測(cè)波形或眼圖的步驟。

權(quán)利要求9所述的采樣方法，其特征在于，

計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)的步驟包括：

用所述I信號(hào)I(t)的采樣數(shù)據(jù)I(n)和所述Q信號(hào)Q(t)的采樣數(shù)據(jù)Q(n)從下述式(1)計(jì)算相位Φ(n)，并用計(jì)算出的相位Φ(n)從下述式(2)計(jì)算時(shí)間T(n)的步驟，及

Φ(n)＝tan^-1(Q(n)/I(n))……式(1)其中，-π＜Φ(n)＜+π

T(n)＝Φ(n)/2πf0……式(2)其中，-1/2f0＜T(n)＜1/2f0

將展開處理后的時(shí)間設(shè)為T’(n)(其中，0＜T’(n)＜∞)，由所述頻率合成器確定的采樣周期設(shè)為Ts時(shí)，使用從t(n)＝Ts×n(其中，n＝0，1，2，……)求出的作為采樣時(shí)刻而設(shè)定的值t(n)計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)＝T’(n)-t(n)的步驟。

權(quán)利要求10所述的采樣方法，其特征在于，

計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)的步驟包括：

輸入由所述第2采樣器部獲取的采樣數(shù)據(jù)r(n)和所述采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)，利用所述預(yù)先存儲(chǔ)的正弦波表的相位Φ(n)＝sin^-1(r(n))從下述式(2)計(jì)算時(shí)間T(n)，

T(n)＝Φ(n)/2πf0……式(2)其中，-1/2f0＜T(n)＜1/2f0

將展開處理后的時(shí)間設(shè)為T’(n)(其中，0＜T’(n)＜∞)，由所述頻率合成器確定的采樣周期設(shè)為Ts時(shí)，利用從t(n)＝Ts×n(其中，n＝0，1，2，……)求出的作為采樣時(shí)刻而設(shè)定的值t(n)計(jì)算所述時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)＝T’(n)-t(n)的步驟。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明，基于從與由重復(fù)信號(hào)構(gòu)成的被測(cè)定信號(hào)同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)生成的成為時(shí)間基準(zhǔn)的觸發(fā)信號(hào)進(jìn)行被測(cè)定信號(hào)的采樣，并且檢測(cè)在裝置內(nèi)部產(chǎn)生的時(shí)間基準(zhǔn)的誤差來進(jìn)行校正。由此，能夠通過比以往(400fs rms)更高精度(200fs rms)的時(shí)間基準(zhǔn)觀測(cè)以長周期重復(fù)的來自被測(cè)定物的被測(cè) 定信號(hào)。

并且，作為采樣器驅(qū)動(dòng)部的輸入，若不使用基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)而使用頻率合成器的輸出，則能夠通過減少用于校正時(shí)間基準(zhǔn)的誤差的采樣器的個(gè)數(shù)來簡化結(jié)構(gòu)，且能夠?qū)崿F(xiàn)成本的降低。

附圖說明

圖1是表示包含本發(fā)明所涉及的采樣電路的采樣示波器的第1實(shí)施方式的概略結(jié)構(gòu)的框圖。

圖2是表示包含本發(fā)明所涉及的采樣電路的采樣示波器的第2實(shí)施方式的概略結(jié)構(gòu)的框圖。

圖中：1A、1B-采樣示波器，2A、2B-采樣電路，3A、3B-控制部，4A、4B-顯示部，5-基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器，6-被測(cè)定物，11-觸發(fā)生成部，11a-頻率合成器，11b-采樣器驅(qū)動(dòng)部，12-第1采樣器部，13-誤差檢測(cè)部，13a-第2采樣器部，13b-相位器，13c-第3采樣器部，13d-校正值計(jì)算部，21-觸發(fā)生成部，21a-頻率合成器，21b-采樣器驅(qū)動(dòng)部，22-第1采樣器，23-誤差檢測(cè)部，23a-可變延遲部，23b-第2采樣器，23c-校正值計(jì)算部。

具體實(shí)施方式

以下，參考附圖的圖1及圖2對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)說明。

[關(guān)于本發(fā)明的實(shí)施方式的概要]

本發(fā)明涉及一種對(duì)來自被測(cè)定物(DUT)的被測(cè)定信號(hào)重復(fù)進(jìn)行采樣的采樣電路、被測(cè)定信號(hào)的采樣方法、包含采樣電路的采樣示波器、被測(cè)定信號(hào)的波形顯示方法。

本發(fā)明的包含采樣電路的采樣示波器具有如下功能：從與來自被測(cè)定物的被測(cè)定信號(hào)同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)生成成為時(shí)間基準(zhǔn)(時(shí)基)的觸發(fā)信號(hào)，并根據(jù)該已生成的觸發(fā)信號(hào)的時(shí)刻進(jìn)行被測(cè)定信號(hào)的采樣，且檢測(cè)在采樣示波器(采樣電路)內(nèi)產(chǎn)生的時(shí)間基準(zhǔn)的誤差，從而對(duì)時(shí)間基準(zhǔn)的信息進(jìn)行校正。

另外，本發(fā)明的采樣示波器僅將需要外部時(shí)鐘的等效時(shí)間采樣示波器作為對(duì)象，不包含內(nèi)部具有采樣時(shí)鐘且不需要外部時(shí)鐘的實(shí)時(shí)示波器。

[關(guān)于第1實(shí)施方式]

如圖1所示，第1實(shí)施方式的采樣示波器1A概略構(gòu)成為具備采樣電路2A、控制部3A及顯示部4A，在基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5所產(chǎn)生的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的上升(或下降)的時(shí)刻對(duì)來自被測(cè)定物(DUT)6的被測(cè)定信號(hào)ws(例如NRZ信號(hào)、PAW信號(hào)等重復(fù)信號(hào))進(jìn)行采樣，顯示基于該采樣結(jié)果的觀測(cè)波形(包括對(duì)被測(cè)定信號(hào)ws的轉(zhuǎn)變進(jìn)行大量采樣，并將它們疊加而進(jìn)行圖形顯示的眼圖)。

被測(cè)定物6例如由高速收發(fā)器、光纖連接模塊(SFP+)等構(gòu)成。高速收發(fā)器為被測(cè)定物6時(shí)，例如NRZ信號(hào)、PAM信號(hào)等重復(fù)信號(hào)(電信號(hào))作為被測(cè)定信號(hào)ws，在基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的上升(或下降)的時(shí)刻被輸入到采樣示波器1A。并且，光纖連接模塊(SFP+)為被測(cè)定物6時(shí)，在基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的上升(或下降)的時(shí)刻，將經(jīng)光強(qiáng)度調(diào)制的來自被測(cè)定物6的光信號(hào)通過未圖示的O/E轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)信號(hào)(電信號(hào))，該轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)信號(hào)(電信號(hào))作為被測(cè)定信號(hào)ws被輸入到采樣示波器1A。

另外，圖1例子中，將基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5和被測(cè)定物6設(shè)為不同的結(jié)構(gòu)，但也可以構(gòu)成為被測(cè)定物6一體具備基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5。該情況下，被測(cè)定物6在1個(gè)電路基板上具備產(chǎn)生基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5、在基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的上升(或下降)的時(shí)刻產(chǎn)生作為被測(cè)定信號(hào)的圖案信號(hào)的圖案信號(hào)產(chǎn)生裝置及基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0。

采樣電路2A構(gòu)成為具備觸發(fā)生成部11、第1采樣器部12、誤差檢測(cè)部13。

觸發(fā)生成部11由頻率合成器11a及采樣器驅(qū)動(dòng)部11b構(gòu)成，從與被測(cè)定信號(hào)ws同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0生成觸發(fā)信號(hào)CLK。該觸發(fā)信號(hào)CLK成為用于對(duì)從被測(cè)定物6輸入的被測(cè)定信號(hào)ws進(jìn)行采樣的時(shí)間基準(zhǔn)(時(shí)基)。

頻率合成器11a例如由PLL頻率合成器和直接數(shù)字頻率合成器(DDS)構(gòu)成。頻率合成器11a從控制部3A輸入采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)，并輸出來自基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的頻率的整數(shù)分之一的頻率失諧規(guī)定頻率Δf[Hz]的頻率的周期信號(hào)r(t)。另外，n表示采樣的順序，n＝0，1，2，……包含0的整數(shù)。

另外，頻率合成器11a也可以構(gòu)成為在PLL頻率合成器和直接數(shù)字頻率合成器的前級(jí)連接1/N分頻器(N為1以上的正整數(shù))。

采樣器驅(qū)動(dòng)部11b作為來自頻率合成器11a的周期信號(hào)r(t)的輸入， 輸出與采樣的規(guī)格(頻帶、振幅靈敏度)相對(duì)應(yīng)的采樣用的觸發(fā)信號(hào)(采樣脈沖)CLK。從采樣驅(qū)動(dòng)部11b輸出的觸發(fā)信號(hào)CLK被分別輸入到第1采樣器部12、第2采樣器部13a及第3采樣器部13c。

作為采樣器驅(qū)動(dòng)部11b，使用例如階躍恢復(fù)二極管或高速動(dòng)作的晶體管電路，產(chǎn)生基于高速脈沖的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK而進(jìn)行輸出。另外，采樣器驅(qū)動(dòng)部11b也可以構(gòu)成為在上述或高速動(dòng)作的晶體管電路的前級(jí)連接分頻器。

在此，當(dāng)輸出信號(hào)即觸發(fā)信號(hào)CLK為緩慢的上升斜率(或下降斜率)時(shí)，采樣器驅(qū)動(dòng)部11b無法高速地開啟/關(guān)閉采樣器，且無法滿足所要求的采樣的寬帶特性。因此，采樣器驅(qū)動(dòng)部11b需要輸出信號(hào)(觸發(fā)信號(hào)CLK)高速上升(或下降)，并要求寬帶特性。但是，若將采樣器驅(qū)動(dòng)部11b設(shè)為寬帶特性，則會(huì)產(chǎn)生在采樣器驅(qū)動(dòng)部11b的內(nèi)部產(chǎn)生的雜音成分增加的問題。因此，在這種以往的采樣示波器中，因采樣器驅(qū)動(dòng)部11b中的雜音成分產(chǎn)生的時(shí)間誤差(抖動(dòng))起主導(dǎo)作用，難以使該采樣器驅(qū)動(dòng)部11b的輸出抖動(dòng)完全變?yōu)?。其結(jié)果，以往的采樣示波器中，上述情況成為400fs rms左右的測(cè)定極限的原因。因此，本實(shí)施方式中，采用圖1的結(jié)構(gòu)作為該測(cè)定極限的對(duì)應(yīng)方案。

第1采樣器部12在由采樣器驅(qū)動(dòng)部11b輸入的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK的上升(或下降)的時(shí)刻，對(duì)來自被測(cè)定物6的被測(cè)定信號(hào)ws進(jìn)行采樣。由第1采樣器部12進(jìn)行采樣的被測(cè)定信號(hào)ws的采樣數(shù)據(jù)d(n)被輸入到控制部3A。

誤差檢測(cè)部13構(gòu)成為具備第2采樣器部13a、相位器13b、第3采樣器部13c及校正值計(jì)算部13d。

第2采樣器部13a與第1采樣器部12相同地在來自采樣器驅(qū)動(dòng)部11b的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK的上升(或下降)的時(shí)刻，對(duì)基于由基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5產(chǎn)生的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的I信號(hào)I(t)進(jìn)行采樣。由第2采樣器部13a進(jìn)行采樣的I信號(hào)I(t)的采樣數(shù)據(jù)I(n)被輸入到后級(jí)的校正值計(jì)算部13d。

相位器13b將由基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5產(chǎn)生的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的相位偏移90°后進(jìn)行輸出。該相位偏移90°的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)作為Q信號(hào)Q(t)被輸入到第3采樣器部13c。

第3采樣器部13c與第1采樣器部12或第2采樣器部13a相同地在來 自采樣器驅(qū)動(dòng)部11b的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK的上升(或下降)的時(shí)刻，對(duì)來自相位器13b的Q信號(hào)Q(t)進(jìn)行采樣。由第3采樣器部13c進(jìn)行采樣的Q信號(hào)Q(t)的采樣數(shù)據(jù)Q(n)被輸入到后級(jí)的校正值計(jì)算部13d。

校正值計(jì)算部13d利用由第2采樣器部13a獲取的I信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)I(n)和由第3采樣器部13c獲取的Q信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)Q(n)、及來自控制部3A的采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)計(jì)算時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)。

即，校正值計(jì)算部13d利用I信號(hào)I(t)的采樣數(shù)據(jù)I(n)和Q信號(hào)Q(t)的采樣數(shù)據(jù)Q(n)，從下述式(1)計(jì)算相位Φ(n)。并且，利用計(jì)算出的相位Φ(n)從下述式(2)計(jì)算時(shí)間T(n)。

Φ(n)＝tan^-1(Q(n)/I(n)……式(1)其中，-π＜Φ(n)＜+π。

T(n)＝Φ(n)/2πf0……式(2)其中，-1/2f0＜T(n)＜1/2f0。

并且，將展開處理后的時(shí)間作為T’(n)(其中，0＜T’(n)＜∞)，計(jì)算時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)＝T’(n)-t(n)。

另外，將通過頻率合成器11a確定的采樣周期設(shè)為Ts時(shí)，t(n)為作為由t(n)＝Ts×n(其中，n＝0，1，2，……)求出的理想的采樣時(shí)刻而設(shè)定的值。

控制部3A例如由CPU(Central Processing Unit)和ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等處理器構(gòu)成，對(duì)頻率合成器11a及校正值計(jì)算部13d設(shè)定采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)。并且，控制部3A根據(jù)由校正值計(jì)算部13d計(jì)算出的時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)計(jì)算用于校正設(shè)定值t(n)的校正時(shí)間t(n)+Δt(n)。而且，控制部3A從第1采樣器部12獲取被測(cè)定信號(hào)ws的采樣器數(shù)據(jù)d(n)，使用校正時(shí)間t(n)+Δt(n)，以[X，Y]＝[t(n)+Δt(n)，d(n)]描繪觀測(cè)波形的方式控制顯示部4A的顯示。另外，若控制部3A將X的值以XO進(jìn)行研磨處理而設(shè)為X’，則能夠以[X’，Y]描繪眼圖并控制顯示部4A的顯示。

顯示部4A例如由液晶顯示器等構(gòu)成，通過控制部3A的控制，在顯示畫面上以[X，Y]顯示觀測(cè)波形或以[X’，Y]顯示眼圖(Eye Pattern)。

[關(guān)于第1實(shí)施方式的動(dòng)作]

接著，對(duì)上述第1實(shí)施方式的采樣示波器1A的動(dòng)作進(jìn)行說明。

基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5所產(chǎn)生的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0被分別輸入到被測(cè)定物6、頻率合成器11a、第2采樣器部13a及相位器13b。

從基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5輸入基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0，被測(cè)定物6在該基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0上升(或下降)的時(shí)刻轉(zhuǎn)變(改變)被測(cè)定信號(hào)ws的振幅電平。

頻率合成器11a中，若從基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5輸入基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0，則輸出從該基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的頻率的整數(shù)分之一的頻率失諧規(guī)定頻率Δf[Hz]的頻率的周期信號(hào)r(t)，并輸入到采樣器驅(qū)動(dòng)部11b。從頻率合成器11a輸入周期信號(hào)r(t)時(shí)，采樣器驅(qū)動(dòng)部11b輸出采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK。該觸發(fā)信號(hào)CLK被分別輸入到第1采樣器部12、第2采樣器部13a及第3采樣器部13c。

第1采樣器部12在來自采樣器驅(qū)動(dòng)部11b的觸發(fā)信號(hào)CLK的上升(或下降)的時(shí)刻對(duì)來自被測(cè)定物6的被測(cè)定信號(hào)ws進(jìn)行采樣?；谠摰?采樣器部12的被測(cè)定信號(hào)ws的采樣數(shù)據(jù)d(n)被輸入到控制部3A。

第2采樣器部13a在來自采樣器驅(qū)動(dòng)部11b的觸發(fā)信號(hào)CLK的上升(或下降)的時(shí)刻對(duì)來基于來自基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的I信號(hào)I(t)進(jìn)行采樣。基于該第2采樣器部13a的I信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)I(n)被輸入到校正值計(jì)算部13d。

相位器13b將由基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5產(chǎn)生的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的相位偏移90°后的信號(hào)作為Q信號(hào)Q(t)輸入到第3采樣器部13c。第3采樣器部13c在來自采樣器驅(qū)動(dòng)部11b的觸發(fā)信號(hào)CLK的上升(或下降)的時(shí)刻對(duì)來自相位器13b的Q信號(hào)Q(t)進(jìn)行采樣。即，第1采樣器部12、第2采樣器部13a、第3采樣器部13c同樣在來自采樣器驅(qū)動(dòng)部11b的觸發(fā)信號(hào)CLK的時(shí)刻進(jìn)行采樣。該基于第3采樣器部13c的Q信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)Q(n)被輸入到校正值計(jì)算部13d。

校正值計(jì)算部13d根據(jù)來自第2采樣器部13a的I信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)I(n)和來自第3采樣器部13c的Q信號(hào)的采樣數(shù)據(jù)Q(n)、及來自控制部3A的采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)計(jì)算時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)。該計(jì)算出的時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)被輸入到控制部3A。

控制部3A計(jì)算用于通過來自校正值計(jì)算部13d的時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)來校正設(shè)定于頻率合成器11a及校正值計(jì)算部13d的采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)的校正時(shí)間t(n)+Δt(n)。并且，控制部3A從第1采樣器部12獲取被測(cè)定信號(hào)ws的采樣數(shù)據(jù)d(n)，并利用校正時(shí)間t(n)+Δt(n)，在顯示部4A的顯示畫面上以[X，Y]＝[t(n)+Δt(n)，d(n)]顯示觀測(cè)波形。

[關(guān)于第2實(shí)施方式]

上述第1實(shí)施方式的采樣示波器1A中，使輸入的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0與采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK的周期錯(cuò)開，使用I信號(hào)與Q信號(hào)的正交信號(hào)獲取時(shí)間信息T(n)。即，由于僅用1個(gè)正弦波信號(hào)將正弦波的傾斜(轉(zhuǎn)換速率)較大的位置及較小的位置包括在內(nèi)而進(jìn)行采樣，因此僅由振幅值難以求出始終準(zhǔn)確的相位Φ(n)，為了得到I信號(hào)與Q信號(hào)的1組正交信號(hào)，利用基于第2采樣器部13a及第3采樣器部13c的2個(gè)采樣器。

相對(duì)于此，第2實(shí)施方式的采樣示波器1B作為第2采樣器部23b的輸入，不使用基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0而使用頻率合成器21a的輸出。由此，能夠減少采樣器的個(gè)數(shù)并實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)的簡化及成本的降低。以下，參考圖2對(duì)第2實(shí)施方式的采樣示波器1B的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。

如圖2所示，第2實(shí)施方式的采樣示波器1B概略構(gòu)成為具備采樣電路2B、控制部3B及顯示部4B，在基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5所產(chǎn)生的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的上升(或下降)的時(shí)刻對(duì)來自被測(cè)定物(DUT)6的被測(cè)定信號(hào)ws(例如NRZ信號(hào)、PAW信號(hào)等重復(fù)信號(hào))進(jìn)行采樣，顯示基于該采樣結(jié)果的觀測(cè)波形(包括對(duì)被測(cè)定信號(hào)ws的轉(zhuǎn)變進(jìn)行大量采樣，并將它們疊加而進(jìn)行圖形顯示的眼圖)。

被測(cè)定物6例如由高速收發(fā)器、光纖連接模塊(SFP+)等構(gòu)成。高速收發(fā)器為被測(cè)定物6時(shí)，例如NRZ信號(hào)、PAM信號(hào)等重復(fù)信號(hào)(電信號(hào))作為被測(cè)定信號(hào)ws，在基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的上升(或下降)的時(shí)刻被輸入到采樣示波器1B。并且，光纖連接模塊(SFP+)為被測(cè)定物6時(shí)，在基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的上升(或下降)的時(shí)刻，將經(jīng)光強(qiáng)度調(diào)制的來自被測(cè)定物6的光信號(hào)通過未圖示的O/E轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)信號(hào)(電信號(hào))，該轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)信號(hào)(電信號(hào))作為被測(cè)定信號(hào)ws被輸入到采樣示波器1B。

另外，圖2例子中，將基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5和被測(cè)定物6設(shè)為不同的結(jié)構(gòu)，但也可以構(gòu)成為被測(cè)定物6一體具備基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5。該情況下，被測(cè)定物6在1個(gè)電路基板上具備產(chǎn)生基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5、在基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的上升(或下降)的時(shí)刻產(chǎn)生作為被測(cè)定信號(hào)的圖案信號(hào)的圖案信號(hào)產(chǎn)生裝置及基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0。

采樣電路2B構(gòu)成為具備觸發(fā)生成部21、第1采樣器部22、誤差檢測(cè)部23。

觸發(fā)生成部21由頻率合成器21a及采樣器驅(qū)動(dòng)部21b構(gòu)成，從與被測(cè)定信號(hào)ws同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0生成觸發(fā)信號(hào)CLK。該觸發(fā)信號(hào)CLK成為用于對(duì)從被測(cè)定物6輸入的被測(cè)定信號(hào)ws進(jìn)行采樣的時(shí)間基準(zhǔn)(時(shí)基)。

頻率合成器21a例如由PLL頻率合成器和直接數(shù)字頻率合成器(DDS)構(gòu)成。頻率合成器21a從控制部3B輸入采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)，并輸出來自基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的頻率的整數(shù)分之一的頻率失諧規(guī)定頻率Δf[Hz]的頻率的周期信號(hào)r(t)。

另外，頻率合成器21a也可以構(gòu)成為在PLL頻率合成器和直接數(shù)字頻率合成器的前級(jí)連接1/N分頻器(N為1以上的正整數(shù))。

采樣器驅(qū)動(dòng)部21b作為輸入后述的來自可變延遲部23a的延遲周期信號(hào)r’(t)，輸出與采樣的規(guī)格(頻帶、振幅靈敏度)相對(duì)應(yīng)的采樣用的觸發(fā)信號(hào)(采樣脈沖)CLK。從采樣驅(qū)動(dòng)部21b輸出的觸發(fā)信號(hào)CLK被分別輸入到第1采樣器部22及第2采樣器部23b。

作為采樣器驅(qū)動(dòng)部21b，使用例如階躍恢復(fù)二極管或高速動(dòng)作的晶體管電路，產(chǎn)生基于高速脈沖的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK而進(jìn)行輸出。另外，采樣器驅(qū)動(dòng)部21b也可以構(gòu)成為在上述階躍恢復(fù)二極管或高速動(dòng)作的晶體管電路的前級(jí)連接分頻器。

在此，當(dāng)輸出信號(hào)即觸發(fā)信號(hào)CLK為緩慢的上升斜率(或下降斜率)時(shí)，采樣器驅(qū)動(dòng)部21b無法高速地開啟/關(guān)閉采樣器，且無法滿足所要求的采樣的寬帶特性。因此，采樣器驅(qū)動(dòng)部21b需要輸出信號(hào)(觸發(fā)信號(hào)CLK)高速上升(或下降)，并要求寬帶特性。但是，若將采樣器驅(qū)動(dòng)部21b設(shè)為寬帶特性，則會(huì)產(chǎn)生在采樣器驅(qū)動(dòng)部21b的內(nèi)部產(chǎn)生的雜音成分增加的問題。因此，在這種以往的采樣示波器中，因采樣器驅(qū)動(dòng)部21b中的雜音成分產(chǎn)生的時(shí)間誤差(抖動(dòng))起主導(dǎo)作用，難以使該采樣器驅(qū)動(dòng)部21b的輸出抖動(dòng)完全變?yōu)?。其結(jié)果，以往的采樣示波器中，上述情況成為400fs rms左右的測(cè)定極限的原因。因此，本實(shí)施方式中，采用圖2的結(jié)構(gòu)作為該測(cè)定極限的對(duì)應(yīng)方案。

第1采樣器部22在由采樣器驅(qū)動(dòng)部21b輸入的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK的上升(或下降)的時(shí)刻，對(duì)來自被測(cè)定物6的被測(cè)定信號(hào)ws進(jìn)行采樣。由第1采樣器部22進(jìn)行采樣的被測(cè)定信號(hào)ws的采樣數(shù)據(jù)d(n)被輸入到控制部3B。

誤差檢測(cè)部23構(gòu)成為具備可變延遲部23a、第2采樣器部23b及校正值計(jì)算部23c。

可變延遲部23a調(diào)整延遲量，以便第2采樣器部23b的周期信號(hào)r(t)與觸發(fā)信號(hào)CLK的相位成為最佳狀態(tài)。即，可變延遲部23a調(diào)整延遲量(固定值)，以便在第2采樣器部23b的作為輸入信號(hào)的周期信號(hào)r(t)的振幅的中央附近(傾斜度最好的高轉(zhuǎn)換速率的位置)始終進(jìn)行采樣。由此，第2采樣器部23b的周期信號(hào)r(t)以振幅的中央附近的大致相同相位Φ(n)被采樣。其結(jié)果，能夠僅從振幅值準(zhǔn)確地求出相位Φ(n)。

第2采樣器部23b與第1采樣器部22相同地在來自驅(qū)動(dòng)部21b的采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK的上升(或下降)的時(shí)刻對(duì)來自頻率合成器21a的周期信號(hào)r(t)進(jìn)行采樣。由第2采樣器部23b進(jìn)行采樣的采樣數(shù)據(jù)r(n)被輸入至后級(jí)的校正值計(jì)算部23c。

校正值計(jì)算部23c輸入來自第2采樣器部23b的采樣數(shù)據(jù)r(n)和來自控制部3B的采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)，利用預(yù)先存儲(chǔ)的正弦波表的相位Φ(n)＝sin^-1(r(n))計(jì)算時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)。“其中，-π/2＜Φ(n)＜+π/2?！?/p>

即，校正值計(jì)算部23c利用相位Φ(n)從下述式(2)計(jì)算時(shí)間T(n)。

T(n)＝Φ(n)/2πf0……式(2)其中，-1/2f0＜T(n)＜1/2f0。

并且，校正值計(jì)算部23c將展開處理后的時(shí)間作為T’(n)(其中，＜T’(n)＜∞)，計(jì)算時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)＝T’(n)-t(n)。

另外，將通過頻率合成器11a確定的采樣周期設(shè)為Ts時(shí)，t(n)為作為由t(n)＝Ts×n(其中，n＝0，1，2，……)求出的理想的采樣時(shí)刻而設(shè)定的值。

控制部3B例如由CPU(Central Processing Unit)和ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等處理器構(gòu)成，對(duì)頻率合成器21a及校正值計(jì)算部23c設(shè)定采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)。并且，控制部3B根據(jù)由校正值計(jì)算部23c計(jì)算出的時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)計(jì)算用于校正設(shè)定值t(n)的校正時(shí)間t(n)+Δt(n)。而且，控制部3B從第1采樣器部22獲取被測(cè)定信號(hào)ws的采樣器數(shù)據(jù)d(n)，使用校正時(shí)間t(n)+Δt(n)，以[X，Y]＝[t(n)+Δt(n)，d(n)]描繪觀測(cè)波形的方式控制顯示部4B的顯示。另外，若控制部3B將X的值以XO進(jìn)行研磨處理而設(shè)為X’，則能 夠以[X’，Y]描繪眼圖并控制顯示部4B的顯示。

顯示部4B例如由液晶顯示器等構(gòu)成，通過控制部3B的控制，在顯示畫面上以[X，Y]顯示觀測(cè)波形或以[X’，Y]顯示眼圖(Eye Pattern)。

[關(guān)于第2實(shí)施方式的動(dòng)作]

接著，對(duì)上述第2實(shí)施方式的采樣示波器1B的動(dòng)作進(jìn)行說明。

基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5所產(chǎn)生的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0被分別輸入到被測(cè)定物6及頻率合成器21a。

從基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5輸入基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0時(shí)，被測(cè)定物6在該基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0上升(或下降)的時(shí)刻轉(zhuǎn)變(改變)被測(cè)定信號(hào)ws的振幅電平。

頻率合成器21a中，若從基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生器5輸入基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0，則輸出從該基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0的頻率的整數(shù)分之一的頻率失諧規(guī)定頻率Δf[Hz]的頻率的周期信號(hào)r(t)，并輸入到可變延遲部23a?？勺冄舆t部23a調(diào)整延遲量，以便在第2采樣器部23b的周期信號(hào)r(t)的振幅中央附近始終進(jìn)行采樣，并將該延遲量被調(diào)整的延遲周期信號(hào)r’(t)輸入到采樣器驅(qū)動(dòng)部21b。從可變延遲部23a輸入延遲周期信號(hào)r’(t)時(shí)，采樣器驅(qū)動(dòng)部21b輸出采樣用的觸發(fā)信號(hào)CLK。該觸發(fā)信號(hào)CLK被分別輸入到第1采樣器部22及第2采樣器部23b。

第1采樣器部22在來自采樣器驅(qū)動(dòng)部21b的觸發(fā)信號(hào)CLK的上升(或下降)的時(shí)刻對(duì)來自被測(cè)定物6的被測(cè)定信號(hào)ws進(jìn)行采樣?；谠摰?采樣器部22的被測(cè)定信號(hào)ws的采樣數(shù)據(jù)d(n)被輸入到控制部3B。

第2采樣器部23b在與第1采樣器部22相同的來自采樣器驅(qū)動(dòng)部21b的觸發(fā)信號(hào)CLK的上升(或下降)的時(shí)刻，對(duì)來自頻率合成器21a的周期信號(hào)r(t)進(jìn)行采樣。基于該第2采樣器部23b的采樣數(shù)據(jù)r(n)被輸入到校正值計(jì)算部23c。

校正值計(jì)算部23c根據(jù)來自第2采樣器部23b的采樣數(shù)據(jù)r(n)和來自控制部3B的采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)計(jì)算時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)。該計(jì)算出的時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)被輸入到控制部3B。

控制部3B計(jì)算用于通過來自校正值計(jì)算部23c的時(shí)間基準(zhǔn)的校正值Δt(n)來校正設(shè)定于頻率合成器21a及校正值計(jì)算部23c的采樣時(shí)刻的設(shè)定值t(n)的校正時(shí)間t(n)+Δt(n)。并且，控制部3B從第1采樣器部22獲取被測(cè)定信號(hào)ws的采樣數(shù)據(jù)d(n)，并利用校正時(shí)間t(n)+Δt(n)，在 顯示部4B的顯示畫面上以[X，Y]＝[t(n)+Δt(n)，d(n)]顯示觀測(cè)波形。

[關(guān)于本發(fā)明的實(shí)施方式的效果]

上述本發(fā)明的各實(shí)施方式中，根據(jù)與由重復(fù)信號(hào)構(gòu)成的被測(cè)定信號(hào)ws同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0生成的時(shí)間基準(zhǔn)進(jìn)行被測(cè)定信號(hào)ws的采樣，并且檢測(cè)在裝置內(nèi)部產(chǎn)生的時(shí)間基準(zhǔn)的誤差來計(jì)算校正時(shí)間t(n)+Δt(n)，利用計(jì)算出的校正時(shí)間t(n)+Δt(n)顯示觀測(cè)波形(眼圖)。由此，能夠以200fs rms的高精度的時(shí)間基準(zhǔn)觀測(cè)以長周期重復(fù)的來自被測(cè)定物6的被測(cè)定信號(hào)ws，而非限制于基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0。其結(jié)果，能夠提供時(shí)間精確度優(yōu)異且低成本的采樣器電路和采樣示波器。

并且，圖2所示的本發(fā)明的第2實(shí)施方式中，作為第2采樣器部23b的輸入，不使用基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)f0而使用頻率合成器21a的輸出。由此，能夠檢測(cè)采樣器驅(qū)動(dòng)部21b的時(shí)間誤差來進(jìn)行校正，與圖1的第1實(shí)施方式相比較，能夠減少用于校正時(shí)間基準(zhǔn)的誤差的采樣器的個(gè)數(shù)來簡化結(jié)構(gòu)，且能夠?qū)崿F(xiàn)成本的降低。

以上，對(duì)本發(fā)明所涉及的采樣電路、采樣方法、采樣示波器及波形顯示方法的最佳方式進(jìn)行了說明，但本發(fā)明并不限定于該方式的描述及附圖。即，本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)該方式而實(shí)施的其他方式、實(shí)施例及運(yùn)用技術(shù)等當(dāng)然均包含在本發(fā)明的范圍內(nèi)。