1.一種集成電路測(cè)試系統(tǒng)，包括：
導(dǎo)電結(jié)構(gòu)；
導(dǎo)電焊盤，與所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)電連接；
測(cè)試電路，與所述導(dǎo)電焊盤電連接；
導(dǎo)電線，與所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)電連接，所述導(dǎo)電線配置為與地電位連接；以及
控制器，與所述測(cè)試電路連接，所述控制器配置為:
選擇性地使所述測(cè)試電路通過(guò)所述導(dǎo)電焊盤向所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)供應(yīng)電壓；
其中，
所述測(cè)試電路配置為向所述控制器提供顯示所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)是否與所述導(dǎo)電焊盤電連接的反饋。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試電路進(jìn)一步配置為基于電流，向所述控制器提供顯示所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)是否與所述導(dǎo)電焊盤電連接的反饋。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試電路進(jìn)一步配置為基于超過(guò)預(yù)定閾值的所述電流的測(cè)量，向所述控制器提供顯示所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)是否與所述導(dǎo)電焊盤電連接的反饋。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述測(cè)試電路包括：
測(cè)量電路，電連接至所述導(dǎo)電焊盤；
使能電路，電連接至所述測(cè)量電路和電連接至所述控制器；以及
電壓供應(yīng)節(jié)點(diǎn)，電連接至所述使能電路并且配置為供應(yīng)電壓，
其中，所述控制器配置為選擇性地驅(qū)動(dòng)所述使能電路以使所述測(cè)試電路向所述導(dǎo)電焊盤供應(yīng)所述電壓，并且所述反饋是基于由所述測(cè)量電路產(chǎn)生的輸出。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路測(cè)試系統(tǒng)，還包括：
至少一個(gè)讀出電路，與所述控制器和所述測(cè)試電路通信連接，
其中，所述至少一個(gè)讀出電路配置為接收來(lái)自所述測(cè)試電路的反饋以基于所述反饋確定，所述導(dǎo)電焊盤是否與所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)電連接，并且以將所述確定傳達(dá)至所述控制器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述控制器配置為收集所述反饋并且如果所述反饋顯示所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)與所述導(dǎo)電焊盤電斷開，則產(chǎn)生報(bào)告。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)或所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)中的至少一個(gè)是凸塊球。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述凸塊球包括焊料。
9.一種集成電路測(cè)試系統(tǒng)，包括：
第一導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)；
第二導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)，與所述第一導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)分隔開；
第一測(cè)試電路，包括與所述第一導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)電連接的第一電流測(cè)量電路；
第二測(cè)試電路，包括與所述第二導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)電連接的第二電流測(cè)量電路；
導(dǎo)電線，與所述第一導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)和所述第二導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)電連接，所述導(dǎo)電線配置為承載接地電壓；以及
控制器，與所述第一測(cè)試電路和與所述第二測(cè)試電路連接，所述控制器配置為：
選擇性地使所述第一測(cè)試電路向所述第一導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)供應(yīng)第一電壓；或者
選擇性地使所述第二測(cè)試電路向所述第二導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)供應(yīng)第二電壓，
其中，
所述第一測(cè)試電路配置為基于由所述電流測(cè)量電路產(chǎn)生的輸出向所述控制器提供反饋，所述反饋顯示所述第一導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)是否與所述導(dǎo)電線電連接，以及
所述第二測(cè)試電路配置為基于由所述第二電流測(cè)量電路產(chǎn)生的輸出向所述控制器提供反饋，所述反饋顯示所述第二導(dǎo)電凸塊結(jié)構(gòu)是否與所述導(dǎo)電線電連接。
10.一種測(cè)試集成電路的方法，所述方法包括：
將第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)和第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)電連接至導(dǎo)電線；
向所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)供應(yīng)第一電壓以確定所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)是否能夠承載所述第一電壓；
向所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)供應(yīng)第二電壓以確定所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)是否能夠承載所述第二電壓；以及
基于從與所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)和所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)單獨(dú)連接的一個(gè)或多個(gè)測(cè)試電路接收的反饋，產(chǎn)生指示所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)或所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的一個(gè)或多個(gè)不能夠承載所述第一電壓或所述第二電壓的報(bào)告。