本發(fā)明涉及指紋識別技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種數(shù)據(jù)采集芯片的測試系統(tǒng)、裝置及其控制方法。

背景技術(shù)：

相關(guān)技術(shù)中，如圖1所示，對指紋識別芯片的測試系統(tǒng)一般會同時測試多顆芯片，從而提高測試效率。其中，由于ate(automatictestequipment，自動測試設(shè)備)并不具備計算功能，所以在測試時，ate先采集多片dut(deviceundertest，被測器件)的測試數(shù)據(jù)，然后將多片dut的測試數(shù)據(jù)上傳到pc端，以在pc端完成每片dut的噪聲計算。噪聲計算一般為求多幀數(shù)據(jù)中同一個像素點位置數(shù)據(jù)的方差。

然而，在上述系統(tǒng)中，由于ate與pc之間的數(shù)據(jù)傳輸方式為串行傳輸，一旦采集數(shù)據(jù)量很大時，數(shù)據(jù)傳輸需耗費大量時間，尤其是在進(jìn)行芯片的量產(chǎn)測試時，提高了大量的測試成本，并且單純采用求方差的計算方式進(jìn)行噪聲計算，一旦噪聲表現(xiàn)為冒點，如圖2所示，則數(shù)據(jù)的方差并不能準(zhǔn)確反應(yīng)出該像素點的噪聲大小，從而影響指紋識別芯片的穩(wěn)定性，進(jìn)而降低指紋識別的準(zhǔn)確率。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問題之一。

為此，本發(fā)明的一個目的在于提出一種數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置，該裝置可以提高芯片測試的效率，降低芯片測試的成本。

本發(fā)明的另一個目的在于提出一種數(shù)據(jù)采集芯片的測試系統(tǒng)。

本發(fā)明的再一個目的在于提出一種數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的控制方法。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明一方面實施例提出了一種數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置，所述數(shù)據(jù)采集芯片包括多個數(shù)據(jù)采樣點，所述測試裝置包括：數(shù)據(jù)采集模塊，所述數(shù)據(jù)采集模塊與數(shù)據(jù)采集芯片相連，接收所述數(shù)據(jù)采集芯片采集的多幀采樣數(shù)據(jù)；存儲模塊，所述存儲模塊用于存儲所述多幀采樣數(shù)據(jù)；處理模塊，所述處理模塊用于根據(jù)所述多幀采樣數(shù)據(jù)計算所述多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以得到噪聲測試結(jié)果；數(shù)據(jù)收發(fā)模塊，所述數(shù)據(jù)收發(fā)模塊用于將所述噪聲測試結(jié)果上傳至上位機(jī)；以及控制模塊，所述控制模塊用于對所述數(shù)據(jù)采 集模塊、所述存儲模塊、所述處理模塊和所述數(shù)據(jù)收發(fā)模塊進(jìn)行控制。

本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置，根據(jù)多幀采樣數(shù)據(jù)計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以通過計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲得到噪聲測試結(jié)果，將噪聲測試結(jié)果上傳至上位機(jī)，提高了芯片測試的效率，降低了芯片測試的成本，更好地保證測試的可靠性。

另外，根據(jù)本發(fā)明上述實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置還可以具有以下附加的技術(shù)特征：

可選地，在本發(fā)明的一個實施例中，所述數(shù)據(jù)采集芯片為指紋識別芯片。

進(jìn)一步地，在本發(fā)明的一個實施例中，所述存儲模塊包括：存儲器模塊，用于存儲所述多幀采樣數(shù)據(jù)；存儲器控制模塊，所述存儲器控制模塊分別與所述存儲器模塊和所述控制模塊相連，以在所述控制模塊的控制下控制所述存儲器模塊進(jìn)行多幀采樣數(shù)據(jù)的讀寫。

進(jìn)一步地，在本發(fā)明的一個實施例中，所述多幀采樣數(shù)據(jù)中每一幀采樣數(shù)據(jù)包括多個數(shù)據(jù)采樣點的采樣值，所述處理模塊包括：計算單元模塊，所述計算單元模塊與所述控制模塊相連，以計算多幀采樣數(shù)據(jù)中每個數(shù)據(jù)采樣點的多個采樣值的方差，以及多幀采樣數(shù)據(jù)中每個數(shù)據(jù)采樣點的多個采樣值的冒點值；噪聲判斷模塊，所述噪聲判斷模塊與所述計算單元模塊相連，用于判斷每個數(shù)據(jù)采樣點對應(yīng)的方差是否小于預(yù)定方差以及每個數(shù)據(jù)采樣點對應(yīng)的冒點值是否小于預(yù)定冒點值，以判斷所述每個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲測試是否通過，進(jìn)而得到噪聲測試結(jié)果。

進(jìn)一步地，在本發(fā)明的一個實施例中，所述數(shù)據(jù)采集模塊具有緩存，用于緩存所述多幀采樣數(shù)據(jù)。

可選地，在本發(fā)明的一個實施例中，所述測試裝置還包括開關(guān)模塊，所述開關(guān)模塊包括一個或多個開關(guān)，所述數(shù)據(jù)采集芯片包括一個或多個，一個或多個數(shù)據(jù)采集芯片一一對應(yīng)地與一個或多個開關(guān)相連；所述數(shù)據(jù)采集模塊在所述開關(guān)模塊閉合后，接收所述數(shù)據(jù)采集芯片采集的多幀采樣數(shù)據(jù)。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明另一方面實施例提出了一種數(shù)據(jù)采集芯片的測試系統(tǒng)，包括：如上述所述的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置；自動測試設(shè)備ate，所述ate與所述數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置相連；pc機(jī)，所述pc機(jī)與所述ate相連，所述pc機(jī)通過所述ate得到所述數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置上傳的噪聲測試結(jié)果，進(jìn)而根據(jù)所述噪聲測試結(jié)果對所述數(shù)據(jù)采集芯片進(jìn)行相應(yīng)的操作。

本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試系統(tǒng)，測試裝置根據(jù)多幀采樣數(shù)據(jù)計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以通過計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲得到噪聲測試結(jié)果，從而得到噪聲測試結(jié)果，進(jìn)而判斷數(shù)據(jù)采集芯片是否合格，并且將噪聲測試結(jié)果上傳至pc機(jī)，提高了芯片測試的效率，降低了芯片測試的成本，更好地保證測試的可靠性。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明再一方面實施例提出了一種數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的控制方法，包括以下步驟：接收數(shù)據(jù)采集芯片采集的多幀采樣數(shù)據(jù)，并存儲所述多幀采樣數(shù)據(jù)；根據(jù)所述多幀采樣數(shù)據(jù)計算所述多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以得到噪聲測試結(jié)果；以及將所述噪聲測試結(jié)果上傳至上位機(jī)。

本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的控制方法，根據(jù)多幀采樣數(shù)據(jù)計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以通過計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲得到噪聲測試結(jié)果，將噪聲測試結(jié)果上傳至上位機(jī)，提高了芯片測試的效率，降低了芯片測試的成本，更好地保證測試的可靠性。

另外，根據(jù)本發(fā)明上述實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的控制方法還可以具有以下附加的技術(shù)特征：

進(jìn)一步地，在本發(fā)明的一個實施例中，所述多幀采樣數(shù)據(jù)中每一幀采樣數(shù)據(jù)包括多個數(shù)據(jù)采樣點的采樣值，所述根據(jù)所述多幀采樣數(shù)據(jù)計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以得到噪聲測試結(jié)果，進(jìn)一步包括：計算多幀采樣數(shù)據(jù)中每個數(shù)據(jù)采樣點的多個采樣值的方差，以及多幀采樣數(shù)據(jù)中每個數(shù)據(jù)采樣點的多個采樣值的冒點值；判斷每個數(shù)據(jù)采樣點對應(yīng)的方差是否小于預(yù)定方差以及每個數(shù)據(jù)采樣點對應(yīng)的冒點值是否小于預(yù)定冒點值，以判斷所述每個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲測試是否通過，進(jìn)而得到噪聲測試結(jié)果。

進(jìn)一步地，在本發(fā)明的一個實施例中，在所述接收數(shù)據(jù)采集芯片采集的多幀采樣數(shù)據(jù)之后，上述方法還包括：對所述多幀采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行緩存。

本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。

附圖說明

本發(fā)明上述的和/或附加的方面和優(yōu)點從下面結(jié)合附圖對實施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中：

圖1為相關(guān)技術(shù)中對指紋識別類芯片的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為相關(guān)技術(shù)中冒點噪聲示意圖；

圖3為相關(guān)技術(shù)中指紋識別芯片中像素矩陣示意圖；

圖4為相關(guān)技術(shù)中像素點噪聲示意圖；

圖5為根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6為根據(jù)本發(fā)明一個具體實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7為根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的控制方法的流程圖；以及

圖8為根據(jù)本發(fā)明一個具體實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的控制方法的流程圖。

具體實施方式

下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，旨在用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。

下面在描述根據(jù)本發(fā)明實施例提出的數(shù)據(jù)采集芯片的測試系統(tǒng)、裝置及其控制方法之前，先來簡單描述一下芯片測試的重要性。

以指紋識別芯片為例，指紋識別芯片的穩(wěn)定性將影響采集指紋圖像的質(zhì)量以及最終指紋識別的準(zhǔn)確率。如圖3所示，指紋識別芯片的表面有m*n個像素點，由于電路中元器件的差異性以及系統(tǒng)設(shè)計的影響，導(dǎo)致每個像素點存在不同的噪聲，如圖4所示，該圖為空載狀態(tài)下不同時刻對同一個像素點采集到的數(shù)據(jù)，受噪聲的影響，采集到的數(shù)據(jù)幅度會波動，且噪聲越大波動越大，一旦噪聲超過一定范圍時，則該像素點采集到的數(shù)據(jù)將無法被識別，而當(dāng)mxn的像素矩陣中無法被識別的像素點的數(shù)目超過一定數(shù)量時，指紋識別將失敗。由此可知芯片測試的重要性。

然而，在相關(guān)技術(shù)中，一旦采集數(shù)據(jù)量很大時，ate與pc之間的數(shù)據(jù)傳輸(串行傳輸)需耗費大量時間，提高了大量的測試成本，并且由于數(shù)據(jù)的方差并不能準(zhǔn)確反應(yīng)出該像素點的噪聲大小，從而影響指紋識別芯片的穩(wěn)定性，進(jìn)而降低指紋識別的準(zhǔn)確率。

本發(fā)明中正是基于上述問題，而提出了一種數(shù)據(jù)采集芯片的測試系統(tǒng)、裝置及其控制方法。

下面參照附圖描述根據(jù)本發(fā)明實施例提出的數(shù)據(jù)采集芯片的測試系統(tǒng)、裝置及其控制方法，首先將參照附圖描述根據(jù)本發(fā)明實施例提出的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置。

圖5為根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖5所示，該數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置10包括：開關(guān)模塊100、數(shù)據(jù)采集模塊200、存儲模塊300、處理模塊400、數(shù)據(jù)收發(fā)模塊500和控制模塊600。

其中，數(shù)據(jù)采集芯片包括多個數(shù)據(jù)采樣點。具體地，數(shù)據(jù)采集模塊200通過開關(guān)模塊100與數(shù)據(jù)采集芯片相連，以在開關(guān)模塊100閉合后，數(shù)據(jù)采集模塊200接收數(shù)據(jù)采集芯片采集的多幀采樣數(shù)據(jù)。存儲模塊300用于存儲多幀采樣數(shù)據(jù)。處理模塊400用于根據(jù)多幀采樣數(shù)據(jù)計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以得到噪聲測試結(jié)果。數(shù)據(jù)收發(fā)模塊500用于將噪聲測試結(jié)果上傳至上位機(jī)。控制模塊600用于對開關(guān)模塊100、數(shù)據(jù)采集模塊200、存儲模塊300、處理模塊400和數(shù)據(jù)收發(fā)模塊500進(jìn)行控制。本發(fā)明實施例的測試裝置10具備pc機(jī)的噪聲計算能力，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)運算后僅將噪聲測試結(jié)果上傳至上位機(jī)，減少了數(shù)據(jù)采集芯片與上位機(jī)之間的數(shù)據(jù)傳輸量，如此可以提高芯片測試的效率和準(zhǔn)確率，降低芯片 測試的成本，更好地保證測試的可靠性。

可選地，在本發(fā)明的一個實施例中，數(shù)據(jù)采集芯片可以為指紋識別芯片，降低了大量指紋識別芯片的測試成本，保證指紋識別芯片的穩(wěn)定性，進(jìn)而提高指紋識別的準(zhǔn)確率。

進(jìn)一步地，在本發(fā)明的一個實施例中，如圖6所示，本發(fā)明實施例的上位機(jī)包括：ate20與pc機(jī)30。其中，ate20與測試裝置相連，pc機(jī)30與ate20相連。

數(shù)據(jù)采集芯片(即被測芯片)、ate和本發(fā)明實施例的測試裝置10之間可兩兩獨立通信，但被測芯片與本發(fā)明裝置之間用開關(guān)模塊100(相當(dāng)于模擬開關(guān))隔離，從而避免本發(fā)明實施例的測試裝置10在ate測試dut其他測試項時產(chǎn)生影響；在開關(guān)模塊閉合后，使用本發(fā)明實施例的測試裝置10將數(shù)據(jù)采集、轉(zhuǎn)換，并且緩存于本地大容量存儲器中，保證測試的穩(wěn)定性。

進(jìn)一步地，在本發(fā)明的一個實施例中，如圖6所示，存儲模塊300包括：存儲器模塊301和存儲器控制模塊302。

其中，存儲器模塊301用于存儲多幀采樣數(shù)據(jù)。存儲器控制模塊302分別與存儲器模塊301和控制模塊600相連，以在控制模塊600的控制下控制存儲器模塊301進(jìn)行多幀采樣數(shù)據(jù)的讀寫。

進(jìn)一步地，在本發(fā)明的一個實施例中，數(shù)據(jù)采集模塊200具有緩存(圖中未具體標(biāo)識)，用于緩存多幀采樣數(shù)據(jù)。

可選地，在本發(fā)明的一個實施例中，如圖6所示，開關(guān)模塊100包括一個或多個開關(guān)(如圖6中開關(guān)101、開關(guān)102、…、開關(guān)10n所示)，數(shù)據(jù)采集芯片包括一個或多個(dut0、dut1、…、dutn)，一個或多個數(shù)據(jù)采集芯片一一對應(yīng)地與一個或多個開關(guān)相連。

進(jìn)一步地，在本發(fā)明的一個實施例中，如圖6所示，處理模塊400包括：計算單元模塊401和噪聲判斷模塊402。

其中，多幀采樣數(shù)據(jù)中每一幀采樣數(shù)據(jù)包括多個數(shù)據(jù)采樣點的采樣值。具體地，計算單元模塊401與控制模塊600相連，以計算多幀采樣數(shù)據(jù)中每個數(shù)據(jù)采樣點的多個采樣值的方差，以及多幀采樣數(shù)據(jù)中每個數(shù)據(jù)采樣點的多個采樣值的冒點值。噪聲判斷模塊402與計算單元模塊401相連，噪聲判斷模塊402用于判斷每個數(shù)據(jù)采樣點對應(yīng)的方差是否小于預(yù)定方差以及每個數(shù)據(jù)采樣點對應(yīng)的冒點值是否小于預(yù)定冒點值，以判斷每個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲測試是否通過，進(jìn)而得到數(shù)據(jù)采集芯片的噪聲測試結(jié)果。例如，記錄方差大于預(yù)定方差、或冒點值大于預(yù)定冒點值、或方差大于預(yù)定方差和冒點值大于預(yù)定冒點值的數(shù)據(jù)采樣點的數(shù)量，若該數(shù)量大于預(yù)定數(shù)量，則對應(yīng)的數(shù)據(jù)采集芯片的噪聲測試通過，否則為不通過。

需要說明的是，預(yù)定方差、預(yù)定冒點值和預(yù)定數(shù)量可以根據(jù)實際情況進(jìn)行調(diào)整。

在本發(fā)明的實施例中，本發(fā)明實施例的測試裝置10通過求同一像素點的多個不同時刻的采樣值的方差以及冒點值進(jìn)行噪聲測試，并且完成運算后只將噪聲測試結(jié)果如數(shù)據(jù)采集芯片的噪聲測試為通過或者不通過上傳到上位機(jī)如ate20。

在本發(fā)明的一個具體實施例中，如圖6所示，數(shù)據(jù)采集模塊200、存儲模塊300、處理模塊400、數(shù)據(jù)收發(fā)模塊500和控制模塊600可以通過fpga(field－programmablegatearray，現(xiàn)場可編程門陣列)實現(xiàn)。其中，開關(guān)模塊100負(fù)責(zé)控制dut與fpga之間的數(shù)據(jù)傳輸總線是否導(dǎo)通，當(dāng)開關(guān)模塊100斷開時，dut可以與ate20通信；當(dāng)開關(guān)模塊100閉合時，dut與fpga通信。數(shù)據(jù)采集模塊200主要負(fù)責(zé)采集dut的數(shù)據(jù)，即接收數(shù)據(jù)采集芯片采集的多幀采樣數(shù)據(jù)，其次將多幀采樣數(shù)據(jù)做相應(yīng)的轉(zhuǎn)換后送入緩存，并且當(dāng)緩存數(shù)據(jù)到達(dá)一定數(shù)目時產(chǎn)生請求信號輸出到下級模塊?？刂颇K600主要負(fù)責(zé)整個系統(tǒng)的控制，如觸發(fā)數(shù)據(jù)采集模塊200采集數(shù)據(jù)并且接收讀緩存請求信號、觸發(fā)存儲器控制模塊302啟動存儲器模塊301讀寫數(shù)據(jù)等等。存儲器控制模塊302主要負(fù)責(zé)存儲器模塊301的控制以及讀寫數(shù)據(jù)的仲裁。存儲器模塊301主要負(fù)責(zé)存儲dut的大量數(shù)據(jù)。計算單元模塊401主要負(fù)責(zé)完成噪聲測試算法的實現(xiàn)，并且把計算結(jié)果輸出。噪聲判斷模塊402主要負(fù)責(zé)對計算單元模塊401輸出的計算結(jié)果進(jìn)行判斷，判斷測試是否通過。數(shù)據(jù)收發(fā)模塊500主要負(fù)責(zé)接收ate20下發(fā)到fpga的數(shù)據(jù)和發(fā)送噪聲測試結(jié)果到ate20。

舉例而言，ate20對dut和fpga配置后，閉合開關(guān)模塊100中的開關(guān)，數(shù)據(jù)經(jīng)開關(guān)模塊100進(jìn)入數(shù)據(jù)采集模塊200，在該數(shù)據(jù)采集模塊200內(nèi)完成數(shù)據(jù)的整理，包括串并轉(zhuǎn)換，緩存等處理后觸發(fā)控制模塊600，控制模塊600啟動存儲器控制模塊302，存儲器控制模塊302有序地將上級模塊緩存的數(shù)據(jù)寫入存儲器模塊301，存儲完n幀數(shù)據(jù)后，控制模塊600啟動存儲器控制模塊302將數(shù)據(jù)從存儲器模塊301中取出送往計算單元模塊401，在計算單元模塊401中完成噪聲的計算并且把計算結(jié)果送至噪聲判斷模塊402，在噪聲判斷模塊40實現(xiàn)根據(jù)噪聲計算結(jié)果與設(shè)定的閾值作比較，判定該數(shù)據(jù)采樣點的測試是否通過，然后將噪聲測試結(jié)果送往數(shù)據(jù)收發(fā)模塊500，經(jīng)解析后通過ate20送往pc機(jī)，pc機(jī)根據(jù)接收到的噪聲測試結(jié)果，如dut0的噪聲測試不通過或者通過，對dut進(jìn)行分類，噪聲測試結(jié)果不通過的dut將被丟棄。

需要說明的是，具體如何采用求方差以及冒點計算將在下面的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的控制方法的實施例中進(jìn)行詳細(xì)贅述。

根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置，在開關(guān)模塊閉合后，根據(jù)多幀采樣數(shù)據(jù)計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以通過計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲得到噪聲測試結(jié)果，將噪聲測試結(jié)果上傳至上位機(jī)，減少了測試時間，提高了芯片測試的效率，并且通過求方差以及冒點計算完成噪聲計算，提高了芯片測試準(zhǔn)確率，降低了芯片測試的成本，更好地保 證測試的可靠性。

本發(fā)明的實施例還提出了一種數(shù)據(jù)采集芯片的測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括上述數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置、ate和pc機(jī)。其中，ate與數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置相連，pc機(jī)與ate相連，pc機(jī)通過ate得到數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置上傳的噪聲測試結(jié)果，進(jìn)而根據(jù)噪聲測試結(jié)果對數(shù)據(jù)采集芯片進(jìn)行相應(yīng)的操作。

應(yīng)理解，根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試系統(tǒng)的具體實現(xiàn)過程可與本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置中描述的相同，此處不再詳細(xì)描述。

根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試系統(tǒng)，測試裝置根據(jù)多幀采樣數(shù)據(jù)計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以通過計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲判斷數(shù)據(jù)采集芯片是否合格，然后將噪聲測試結(jié)果通過ate上傳至pc機(jī)，減少了測試時間，提高了芯片測試的效率，并且通過求方差以及冒點計算完成噪聲計算，提高了芯片測試準(zhǔn)確率，降低了芯片測試的成本，更好地保證測試的可靠性。

圖7為根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的控制方法的流程圖。

如圖7所示，該數(shù)據(jù)采集芯片(包括多個數(shù)據(jù)采樣點)的測試裝置的控制方法包括以下步驟：

s701，接收數(shù)據(jù)采集芯片采集的多幀采樣數(shù)據(jù)，并存儲多幀采樣數(shù)據(jù)。

其中，在本發(fā)明的一個實施例中，在接收數(shù)據(jù)采集芯片采集的多幀采樣數(shù)據(jù)之后，本發(fā)明實施例的控制方法還包括：對多幀采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行緩存。

s702，根據(jù)多幀采樣數(shù)據(jù)計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以得到噪聲測試結(jié)果。

其中，在本發(fā)明的一個實施例中，多幀采樣數(shù)據(jù)中每一幀采樣數(shù)據(jù)包括多個數(shù)據(jù)采樣點的采樣值，根據(jù)多幀采樣數(shù)據(jù)計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以得到噪聲測試結(jié)果，進(jìn)一步包括：計算多幀采樣數(shù)據(jù)中每個數(shù)據(jù)采樣點的多個采樣值的方差，以及多幀采樣數(shù)據(jù)中每個數(shù)據(jù)采樣點的多個采樣值的冒點值；判斷每個數(shù)據(jù)采樣點對應(yīng)的方差是否小于預(yù)定方差以及每個數(shù)據(jù)采樣點對應(yīng)的冒點值是否小于預(yù)定冒點值，以判斷每個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲測試是否通過，進(jìn)而得到噪聲測試結(jié)果。

s703，將噪聲測試結(jié)果上傳至上位機(jī)。

需要說明的是，前述對數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置實施例的解釋說明也適用于該實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的控制方法，此處不再贅述。

在本發(fā)明的一個具體實施例，其中將對如何采用求方差以及冒點計算進(jìn)行詳細(xì)描述，如圖8所示，本發(fā)明實施例的控制方法包括以下步驟：

s801，配置參數(shù)。

可以理解為，ate先斷開開關(guān)模塊中的開關(guān)，通過下發(fā)配置參數(shù)的形式控制dut和fpga工作于特定的模式下。

其中，對dut的配置包括設(shè)定掃描模式、adc幅度、積分次數(shù)等等，讓dut進(jìn)入等待掃描狀態(tài)；對fpga的配置包括設(shè)定當(dāng)前dut的像素規(guī)格(m*n矩陣)、采集數(shù)據(jù)位寬、采集數(shù)據(jù)幀數(shù)等等，最后進(jìn)入等待采集狀態(tài)。

s802，采集數(shù)據(jù)。

也就是說，在ate完成對dut和fpga的參數(shù)配置之后，閉合開關(guān)模塊中的開關(guān)，并且觸發(fā)dut和fpga進(jìn)入數(shù)據(jù)采集模式。dut與fpga之間連接的數(shù)據(jù)總線通常為串行總線，如spi，i²c總線等，因此采集的數(shù)據(jù)進(jìn)入fpga后首先需要進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換，然后按照特定的格式存入緩存，緩存通常使用fifo實現(xiàn)。根據(jù)ate配置的參數(shù)，當(dāng)緩存數(shù)據(jù)達(dá)到配置數(shù)量時便可發(fā)出請求信號，請求下級模塊讀取緩存中的數(shù)據(jù)。

s803，存儲數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步地，當(dāng)控制模塊接收到請求信號時，便觸發(fā)存儲器控制模塊將采集數(shù)據(jù)模塊中的緩存數(shù)據(jù)讀出，然后寫入存儲器模塊內(nèi)，此處的存儲器通常為外部存儲器，比如sdram、sram等。由于數(shù)據(jù)采集是對多個dut并行采集的，因此在存儲器控制模塊中需要對數(shù)據(jù)進(jìn)行仲裁，將每個dut的數(shù)據(jù)逐一寫入存儲器模塊直到存完n(根據(jù)設(shè)計需求設(shè)定n的值，n大于等于2)幀數(shù)據(jù)。

s804，計算噪聲。

舉例而言，當(dāng)采集完n幀數(shù)據(jù)后，控制模塊觸發(fā)存儲器控制模塊將數(shù)據(jù)按規(guī)定格式取出送往計算單元模塊，其次在此計算單元模塊中完成每個像素點的噪聲計算。噪聲計算包括兩部分，第一部分為計算多幀數(shù)據(jù)中同一個像素點的數(shù)據(jù)的方差s²，可以表示為：

s²＝((x1-m)²+(x2-m)²+…(xn-m)²)/n，

其中，x1、x2、…、xn分別為對應(yīng)該像素點的第1幀，第2幀，…第n幀數(shù)據(jù)，m為該像素點n幀數(shù)據(jù)的均值；

第二部分為求多幀數(shù)據(jù)中同一個像素點數(shù)據(jù)的冒點值v，可以表示為：

v＝max(x1，x2，…，xn)-min(x1，x2，…，xn)。

s805，噪聲判斷。

其中，噪聲的判斷可以分為兩項：

其一為判斷每個像素點的方差s²和冒點v是否小于閾值limvar和limjit，如果兩者均小于對應(yīng)的閾值，則判定該像素點的噪聲測試通過(pass)；否則失敗(fail)，并且計數(shù)器failnum加1：

s²≥limvarorv≥limjit：fail；failnum++；

s²<limvarandv<limjit：pass；

其二為一個像素矩陣中噪聲測試失敗的像素點的數(shù)目是否大于閾值limnum，如果小于閾值limnum，則判定該像素矩陣對應(yīng)的dut噪聲測試通過(pass)，否則失敗(fail)。

failnum≥limnum：fail；

failnum<limnum：pass。

s806，輸出結(jié)果。

也就是說，噪聲判斷模塊將噪聲測試結(jié)果送入數(shù)據(jù)收發(fā)模塊，其次數(shù)據(jù)收發(fā)模塊按照接口協(xié)議將結(jié)果上傳到ate。

根據(jù)本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)采集芯片的測試裝置的控制方法，根據(jù)多幀采樣數(shù)據(jù)計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲，以通過計算多個數(shù)據(jù)采樣點的噪聲得到噪聲測試結(jié)果，從而將噪聲測試結(jié)果上傳至上位機(jī)，減少了測試時間，提高了芯片測試的效率，并且通過求方差以及冒點計算完成噪聲計算，提高了芯片測試準(zhǔn)確率，降低了芯片測試的成本，更好地保證測試的可靠性。

在本發(fā)明的描述中，需要理解的是，術(shù)語“中心”、“縱向”、“橫向”、“長度”、“寬度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”“內(nèi)”、“外”、“順時針”、“逆時針”、“軸向”、“徑向”、“周向”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。

此外，術(shù)語“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個該特征。在本發(fā)明的描述中，“多個”的含義是至少兩個，例如兩個，三個等，除非另有明確具體的限定。

在本發(fā)明中，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”、“固定”等術(shù)語應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或成一體；可以是機(jī)械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通或兩個元件的相互作用關(guān)系，除非另有明確的限定。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。

在本發(fā)明中，除非另有明確的規(guī)定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接觸，或第一和第二特征通過中間媒介間接接觸。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或僅僅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面” 可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或僅僅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本說明書的描述中，參考術(shù)語“一個實施例”、“一些實施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點包含于本發(fā)明的至少一個實施例或示例中。在本說明書中，對上述術(shù)語的示意性表述不必須針對的是相同的實施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點可以在任一個或多個實施例或示例中以合適的方式結(jié)合。此外，在不相互矛盾的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以將本說明書中描述的不同實施例或示例以及不同實施例或示例的特征進(jìn)行結(jié)合和組合。

盡管上面已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實施例，可以理解的是，上述實施例是示例性的，不能理解為對本發(fā)明的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以對上述實施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。