本發(fā)明涉及一點(diǎn)陣顯示器的檢測(cè)，特別涉及一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)和一污壞點(diǎn)檢測(cè)方法，其以用于自動(dòng)地進(jìn)行點(diǎn)陣顯示器的污壞點(diǎn)檢測(cè)，進(jìn)而提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性和檢測(cè)效率。

背景技術(shù)：

一般的點(diǎn)陣顯示器是由幾萬至幾十萬個(gè)發(fā)光二極管像素點(diǎn)均勻排列組成，并可分為圖文顯示器和視頻顯示器，其中因?yàn)橛蒾led矩陣塊所組成，故又常稱為oled點(diǎn)陣顯示器或oled顯示器。所述圖文顯示器可與計(jì)算機(jī)同步顯示漢字、英文文本和圖形。所述視頻顯示器采用微型計(jì)算機(jī)進(jìn)行控制，使得圖文、圖像并茂，同時(shí)透過同步、清晰的信息傳播方式去播放各種信息，另外還可顯示二維、三維動(dòng)畫、電視、錄像、vcd節(jié)目以及現(xiàn)場(chǎng)實(shí)況。所以點(diǎn)陣顯示器在現(xiàn)今的社會(huì)中被廣泛的運(yùn)用，像是用于車站、碼頭、機(jī)場(chǎng)、商場(chǎng)、醫(yī)院、賓館、銀行、證券市場(chǎng)、建筑市場(chǎng)、拍賣行、工業(yè)企業(yè)管理和其它公共場(chǎng)所等。

另外，點(diǎn)陣顯示器有單色和雙色兩類，可顯示紅，黃，綠，橙等。根據(jù)圖素的數(shù)目分為等，雙原色、三原色等，根據(jù)圖素顏色的不同所顯示的文字、圖像等內(nèi)容的顏色也不同，單原色點(diǎn)陣只能顯示固定色彩如紅、綠、黃等單色，雙原色和三原色點(diǎn)陣顯示內(nèi)容的顏色由圖素內(nèi)不同顏色發(fā)光二極體點(diǎn)亮組合方式?jīng)Q定，另外，如果按照脈沖方式控制二極體的點(diǎn)亮?xí)r間，即則可實(shí)現(xiàn)256或更高級(jí)灰度顯示，因此可實(shí)現(xiàn)真彩色顯示。

在現(xiàn)今，oled點(diǎn)陣顯示器的運(yùn)用受到廣泛重視進(jìn)而發(fā)展迅速，其中的優(yōu)點(diǎn)是亮度高、工作電壓低、功耗小、小型化、壽命長、耐沖擊和性能穩(wěn)定。因此oled點(diǎn)陣顯示器的發(fā)展前景極為廣闊，目前正朝著更高亮度、更高耐氣候性、更高的發(fā)光密度、更高的發(fā)光均勻性，可靠性、全色化方向發(fā)展。

因此，在oled點(diǎn)陣顯示器的生產(chǎn)制造過程中，如何檢測(cè)判斷一塊點(diǎn)陣顯示器的好壞和是否有污壞點(diǎn)，也成為在生產(chǎn)制造的工序中一個(gè)比較重要的課題。一 般檢測(cè)感光器件污壞點(diǎn)是通過該感光器件拍攝的圖片來檢測(cè)，而對(duì)于點(diǎn)陣顯示器只能使用肉眼來檢測(cè)，然而，利用檢測(cè)人員的人眼去判斷一個(gè)點(diǎn)陣顯示器的好壞，因?yàn)槭抢盟鰴z測(cè)人員的人眼進(jìn)行判斷，所以無法防呆，并且會(huì)產(chǎn)生誤判的情況，同時(shí)因?yàn)槭峭高^人眼進(jìn)行檢測(cè)，由于人類生理機(jī)能的關(guān)系，所以經(jīng)過長時(shí)間的使用人眼，會(huì)造成人眼產(chǎn)生疲勞，這時(shí)除了容易產(chǎn)生誤判的情形外，同時(shí)會(huì)造成生產(chǎn)效率變低的情況發(fā)生。并且，由于是借助人眼進(jìn)行判斷，所以對(duì)于所述檢測(cè)人員的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)值要求也相對(duì)的提高，而且由于人員總是會(huì)存在主觀性，因此檢測(cè)工序也無法有效率和精準(zhǔn)的量化。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的主要目的在于提供一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，其以用于自動(dòng)地進(jìn)行點(diǎn)陣顯示器的污壞點(diǎn)檢測(cè)，進(jìn)而提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性和檢測(cè)效率。

本發(fā)明的另一目的在于提供一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，其以實(shí)現(xiàn)所述點(diǎn)陣顯示器的污壞點(diǎn)的實(shí)時(shí)檢測(cè)。

本發(fā)明的另一目的在于提供一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，其中包括一污壞點(diǎn)檢測(cè)設(shè)備，其可以自動(dòng)抓取所述點(diǎn)陣顯示器的污壞點(diǎn)，以以減少人工檢測(cè)的失誤和提升生產(chǎn)效能，并確保所述點(diǎn)陣顯示器的檢測(cè)工序可以量化。

本發(fā)明的另一目的在于提供一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，其中包括一獲取圖像裝置，其用于拍攝所述點(diǎn)陣顯示器在工作時(shí)的一顯示芯片并取得一圖像數(shù)據(jù)后，對(duì)所述圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行污壞點(diǎn)檢測(cè)。

本發(fā)明的另一目的在于提供一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，其中包括一計(jì)算單元，根據(jù)取得的所述圖像數(shù)據(jù)的一發(fā)光點(diǎn)陣區(qū)域和一周圍非光發(fā)區(qū)域的排布規(guī)律按n*n求平均，并由此排除非發(fā)光區(qū)域?qū)ξ蹓狞c(diǎn)的干擾，判斷所述點(diǎn)陣顯示器的污壞點(diǎn)。

本發(fā)明的另一目的在于提供一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，其以用于有效的提高了點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)的準(zhǔn)確率和有效減少了污壞點(diǎn)檢測(cè)所需時(shí)間，提高了測(cè)試效率。

為了達(dá)到以上目的，本發(fā)明提供一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，其以用于自動(dòng)地進(jìn)行點(diǎn)陣顯示器的污壞點(diǎn)檢測(cè)，包括：

一獲取圖像裝置連接于一計(jì)算單元，這樣透過所述獲取圖像裝置取得工作中 的所述點(diǎn)陣顯示器的顯示芯片的圖像數(shù)據(jù)，經(jīng)過所述計(jì)算單元根據(jù)發(fā)光點(diǎn)陣和周圍非光發(fā)區(qū)域的排布規(guī)律按n*n求平均值后，消除非發(fā)光區(qū)域?qū)ξ蹓狞c(diǎn)抓取的影響，抓取所述圖像數(shù)據(jù)的污壞點(diǎn)。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述獲取圖像裝置為一相機(jī)。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述計(jì)算單元為一計(jì)算機(jī)。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述計(jì)算單元為一點(diǎn)陣發(fā)光芯片。

根據(jù)本發(fā)明的另外一方面，本發(fā)明還提供一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)的一污壞點(diǎn)檢測(cè)方法，包括如下步驟：

(s01)獲取一圖像數(shù)據(jù)；

(s02)對(duì)所述圖像數(shù)據(jù)做預(yù)處理；

(s03)根據(jù)發(fā)光點(diǎn)陣和周圍非光發(fā)區(qū)域的排布規(guī)律按n*n求平均值；以及

(s04)抓取處理之后的所述圖像數(shù)據(jù)的污壞點(diǎn)。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，步驟(s01),是透過一獲取圖像裝置，對(duì)工作狀態(tài)下的所述點(diǎn)陣顯示器的一顯示芯片進(jìn)行拍攝，以獲取所述圖像數(shù)據(jù)。

步驟(s03),述圖像數(shù)據(jù)求平均，其是為了消除所述發(fā)光點(diǎn)陣之間的所述周圍非光發(fā)區(qū)域。

根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例，提供一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，其以用于自動(dòng)地進(jìn)行點(diǎn)陣顯示器的污壞點(diǎn)檢測(cè)，包括：

一獲取圖像裝置，一工作平臺(tái)，一支撐架以及一計(jì)算單元，其中所述支撐架垂直裝置于所述工作平臺(tái)，所述獲取圖像裝置可拆解地安裝于所述支撐架，所述計(jì)算單元連接于所述獲取圖像裝置，這樣透過所述獲取圖像裝置取得位于所述工作平臺(tái)上的所述點(diǎn)陣顯示器的一顯示芯片的一圖像數(shù)據(jù)，并且對(duì)所述圖像數(shù)據(jù)做預(yù)處理后，透過所述計(jì)算單元根據(jù)發(fā)光點(diǎn)陣和周圍非光發(fā)區(qū)域的排布規(guī)律按n*n求平均值，進(jìn)而進(jìn)一步地抓取出所述點(diǎn)陣顯示器的污壞點(diǎn)。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述工作平臺(tái)為一移動(dòng)平臺(tái)。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述獲取圖像裝置為一相機(jī)。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述計(jì)算單元為一計(jì)算機(jī)。

附圖說明

圖1是根據(jù)本發(fā)明的第一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)的示 意圖。

圖2是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)透過一獲取圖像裝置取得一點(diǎn)陣顯示器在工作時(shí)的一顯示芯片的一圖像數(shù)據(jù),其說明處理前的圖像數(shù)據(jù)。

圖3是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)透過一獲取圖像裝置取得一點(diǎn)陣顯示器在工作時(shí)的一顯示芯片的一圖像數(shù)據(jù)，其說明圖2的局部放大圖，圖中明顯可顯示非發(fā)光區(qū)域。

圖4是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)透過一獲取圖像裝置取得一點(diǎn)陣顯示器在工作時(shí)的一顯示芯片的一圖像數(shù)據(jù)，其說明處理后的圖像數(shù)據(jù)。

圖5是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)的一污壞點(diǎn)檢測(cè)方法的流程圖。

圖6是根據(jù)本發(fā)明的第二個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)的示意圖。

具體實(shí)施方式

以下描述用于揭露本發(fā)明以使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明。以下描述中的優(yōu)選實(shí)施例只作為舉例，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以想到其他顯而易見的變型。在以下描述中界定的本發(fā)明的基本原理可以應(yīng)用于其他實(shí)施方案、變形方案、改進(jìn)方案、等同方案以及沒有背離本發(fā)明的精神和范圍的其他技術(shù)方案。

如圖1所示，是根據(jù)本發(fā)明的第一優(yōu)選實(shí)施例的一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，其以用于自動(dòng)地進(jìn)行點(diǎn)陣顯示器90的污壞點(diǎn)檢測(cè)，進(jìn)而提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性和檢測(cè)效率。所述點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)包括一獲取圖像裝置10和一計(jì)算單元20，其連接于所述獲取圖像裝置10，這樣當(dāng)所述獲取圖像裝置10拍攝所述點(diǎn)陣顯示器90在工作時(shí)的一顯示芯片并取得一圖像數(shù)據(jù)，如圖2所示，其為處理前的圖像數(shù)據(jù)，并且對(duì)處理前的所述圖像數(shù)據(jù)做預(yù)處理，其為圖4所示，再透過所述計(jì)算單元20根據(jù)發(fā)光點(diǎn)陣和周圍非光發(fā)區(qū)域的排布規(guī)律按n*n求平均值，進(jìn)而進(jìn)一步地抓取出所述點(diǎn)陣顯示器90的污壞點(diǎn)。另外，所述點(diǎn)陣顯示器90，像oled，在所述發(fā)光點(diǎn)陣之間間隔著所述周圍非光發(fā)區(qū)域，然而在檢測(cè)所述點(diǎn)陣顯示器90時(shí)，所述周圍非光發(fā)區(qū)域在所述的圖像數(shù)據(jù)上很容易被判斷為污壞 點(diǎn)，因此，本發(fā)明是將取得的所述圖像數(shù)據(jù)，和透過所述計(jì)算單元20求得平均值后，再判斷出所述圖像數(shù)據(jù)的所述發(fā)光點(diǎn)陣和所述周圍非光發(fā)區(qū)域，這樣在所述發(fā)光點(diǎn)陣如有任何不正常情況，即為是污壞點(diǎn)，同時(shí)可以避免將所述周圍非光發(fā)區(qū)域判定為污壞點(diǎn)。因此，本發(fā)明可以自動(dòng)地在取得的所述圖像數(shù)據(jù)抓取出所述點(diǎn)陣顯示器的所述污壞點(diǎn)。值得一的是，所述點(diǎn)陣顯示器90包括有一邊框，所以當(dāng)所述點(diǎn)陣顯示器90透過所述獲取圖像裝置10拍攝所述點(diǎn)陣顯示器90時(shí)，有可能會(huì)同時(shí)取得所述邊框的圖像，并形成黑塊，而所述預(yù)處理即是去除這些黑塊。換言之所述黑塊即是所述oled的邊框，是不發(fā)光的，因此，在不同的情況下，所述黑塊出現(xiàn)在所述oled發(fā)光區(qū)域的各邊(左、右、上、下)都是有可能的，具體來說，就是所述獲取圖像裝置10在拍攝所述oled時(shí)的相對(duì)位置了，因此所述預(yù)處理即是去除這些黑塊，進(jìn)而得到圖2中的圖片了。

另外，值得一提的是，所述獲取圖像裝置10可實(shí)施為一相機(jī)。所述計(jì)算單元20可實(shí)施為一計(jì)算機(jī)或一積體電路或一點(diǎn)陣發(fā)光芯片。

另外，如圖5所示，根據(jù)本發(fā)明第一優(yōu)選實(shí)施例還提供一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)的一污壞點(diǎn)檢測(cè)方法，其包括如下步驟：

(s01)獲取一圖像數(shù)據(jù)；

(s02)對(duì)所述圖像數(shù)據(jù)做預(yù)處理；

(s03)根據(jù)發(fā)光點(diǎn)陣和周圍非光發(fā)區(qū)域的排布規(guī)律按n*n求平均值；以及

(s04)抓取處理之后的所述圖像數(shù)據(jù)的污壞點(diǎn)。

值得一提的是，在步驟(s01)，是透過一獲取圖像裝置，即為一相像，對(duì)工作狀態(tài)下的所述點(diǎn)陣顯示器的顯示芯片進(jìn)行拍攝，以獲取所述圖像數(shù)據(jù)。

在步驟(s03)，對(duì)所述圖像數(shù)據(jù)求平均，其是為了消除所述發(fā)光點(diǎn)陣之間的所述周圍非光發(fā)區(qū)域。

如圖6示，是根據(jù)本發(fā)明的第二優(yōu)選實(shí)施例的一點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)，其以用于自動(dòng)地進(jìn)行點(diǎn)陣顯示器90的污壞點(diǎn)檢測(cè)。所述點(diǎn)陣顯示器污壞點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)包括一獲取圖像裝置10，一工作平臺(tái)30，一支撐架40以及一計(jì)算單元20。所述支撐架40垂直裝置于所述工作平臺(tái)30。所述獲取圖像裝置10可拆解地安裝于所述支撐架40。所述計(jì)算單元20連接于所述獲取圖像裝置10。這樣所述點(diǎn)陣顯示器90放置于所述工作平臺(tái)30并工作時(shí)，所述獲取圖像裝置10即可對(duì)所述點(diǎn)陣顯示器90的一顯示芯片取得一圖像數(shù)據(jù)，并且對(duì)所述圖像數(shù)據(jù)做預(yù)處理 后，透過所述計(jì)算單元20根據(jù)發(fā)光點(diǎn)陣和周圍非光發(fā)區(qū)域的排布規(guī)律按n*n求平均值，進(jìn)而進(jìn)一步地抓取出所述點(diǎn)陣顯示器90的污壞點(diǎn)。

另外，所述工作平臺(tái)30可以實(shí)施為一移動(dòng)平臺(tái)，以自動(dòng)地將放置于所述工作平臺(tái)30上的所述點(diǎn)陣顯示器90移至一檢測(cè)位置，亦即是所述獲取圖像裝置10的工作范圍。

值得一提的是，所述點(diǎn)陣顯示器90，像oled，在所述發(fā)光點(diǎn)陣之間間隔著所述周圍非光發(fā)區(qū)域，然而在檢測(cè)所述點(diǎn)陣顯示器時(shí)，所述周圍非光發(fā)區(qū)域在所述的圖像數(shù)據(jù)上很容易被判斷為污壞點(diǎn)，因此，本發(fā)明是將取得的所述圖像數(shù)據(jù)，和透過所述計(jì)算單元20求得平均值后，再判斷出所述圖像數(shù)據(jù)的所述發(fā)光點(diǎn)陣和所述周圍非光發(fā)區(qū)域，這樣在所述發(fā)光點(diǎn)陣如有任何不正常情況，即為是污壞點(diǎn)，同時(shí)可以避免將所述周圍非光發(fā)區(qū)域判定為污壞點(diǎn)。因此，本發(fā)明可以自動(dòng)地在取得的所述圖像數(shù)據(jù)抓取出所述點(diǎn)陣顯示器的所述污壞點(diǎn)。

另外，所述獲取圖像裝置10可實(shí)施為一相機(jī)。所述計(jì)算單元20可實(shí)施為一計(jì)算機(jī)或一積體電路或一晶片。

本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)理解，上述描述及附圖中所示的本發(fā)明的實(shí)施例只作為舉例而并不限制本發(fā)明。本發(fā)明的目的已經(jīng)完整并有效地實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明的功能及結(jié)構(gòu)原理已在實(shí)施例中展示和說明，在沒有背離所述原理下，本發(fā)明的實(shí)施方式可以有任何變形或修改。