1.一種校準(zhǔn)檢測設(shè)備的方法，該檢測設(shè)備包括：
用于電離樣品的電離器；
用于探測由電離形成的離子的探測器；
該方法包括：
i)將含有異氟烷的校準(zhǔn)物樣品引入至所述檢測設(shè)備中；
ii)收集與探測的由電離所述校準(zhǔn)物樣品而形成的異氟烷的單體負(fù)離子和二聚體負(fù)離子相關(guān)的實驗數(shù)據(jù)；
iii)基于對所收集的異氟烷的單體負(fù)離子的實驗數(shù)據(jù)相對所收集的異氟烷的二聚體負(fù)離子的實驗數(shù)據(jù)的評價，校準(zhǔn)用于探測已知目標(biāo)化學(xué)品的檢測設(shè)備。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，對檢測設(shè)備的校準(zhǔn)包括修正所述探測器的一種或多種探測參數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，該方法還包括在校準(zhǔn)所述檢測設(shè)備后采用該檢測設(shè)備分析分析物樣品。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任意一項所述的方法，其中，所述檢測設(shè)備包括：
在所述電離器和探測器之間的漂移室，離子可沿著該漂移室能夠從所述電離器被傳送至所述探測器；
控制由所述電離器至所述漂移室的離子通道的閘門；
單個或多個電極，其被配置為在所述漂移室中提供均勻的負(fù)電場梯度以用于將離子由所述電離器傳送至所述探測器；
以及其中，該方法的步驟ii)的實驗數(shù)據(jù)包括：由電離所述校準(zhǔn)物樣品而形成的異氟烷的單體負(fù)離子和二聚體負(fù)離子通過所述漂移室的漂移時間；以及其中，該方法的步驟iii)包括：對異氟烷的單體負(fù)離子的漂移時間相對異氟烷的二聚體負(fù)離子的漂移時間進(jìn)行評價。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，校準(zhǔn)包括修正所述探測器的漂移時間探測參數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的方法，其中，該方法的步驟iii)包括測定異氟烷的單體離子周圍的中性分子的聚集水平。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中，所述聚集水平是采用異氟烷單體離子的漂移時間與異氟烷二聚體離子的漂移時間的比例測定的。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的方法，其中，所測定的聚集水平通過比較所測定的聚集水平相對目標(biāo)化學(xué)品在聚集水平變化下的預(yù)估漂移時間，從而用于校準(zhǔn)探測目標(biāo)化學(xué)品的檢測設(shè)備。
9.根據(jù)權(quán)利要求4-8中任意一項所述的方法，其中，該方法還包括向所述檢測設(shè)備中引入摻雜劑。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述摻雜劑包括六氯乙烷(HCE)和/或五氯乙烷(PCE)。
11.根據(jù)權(quán)利要求4-10中任意一項所述的方法，其中，所述檢測設(shè)備包括干燥劑以用于干燥所述漂移室中的漂移氣體。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中，所述干燥劑包括分子篩。
13.根據(jù)權(quán)利要求1-12中任意一項所述的方法，其中，所述校準(zhǔn)物樣品以蒸汽的形式引入至所述檢測設(shè)備中。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中，所述校準(zhǔn)物樣品通過蒸汽發(fā)生器引入至所述檢測設(shè)備中，所述蒸汽發(fā)生器包括：
包括所述校準(zhǔn)物樣品的蒸汽源，且該蒸汽源連接有流道以提供由阻抗器至出口的蒸汽，用于分配蒸汽至所述檢測設(shè)備中，其中，所述阻抗器包括：
i)第一蒸汽可透過通道，其被配置為阻礙蒸汽從蒸汽源向出口擴散以及使得蒸汽由蒸汽源被驅(qū)趕至出口；以及
ii)通過所述第一蒸汽可透過通道而與所述出口隔離的槽，其中，所述槽包括適于捕獲蒸汽的材料并被配置為轉(zhuǎn)移蒸汽擴散以遠(yuǎn)離所述出口。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中，所述第一蒸汽可透過通道和槽被如此配置：響應(yīng)在所述出口和蒸汽源之間的壓差，使得驅(qū)趕蒸汽流通過所述第一蒸汽可透過通道至所述出口的阻礙作用比驅(qū)趕蒸汽流進(jìn)入所述槽的阻礙作用弱。
16.根據(jù)權(quán)利要求14或15所述的方法，其中，所述流道包括連接所述蒸汽源和所述第一蒸汽可透過通道的分支，以及包括所述槽的封閉分支。
17.根據(jù)權(quán)利要求14-16中任意一項所述的方法，其中，所述第一蒸汽可透過通道包括適于捕獲蒸汽的材料。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，蒸汽的捕獲包括吸收。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，其中，吸收包括將蒸汽吸收至表面上、化學(xué)吸收、通過化學(xué)作用或分子作用捕獲蒸汽以及至少在多孔材料中臨時捕獲蒸汽中的至少一種。
20.根據(jù)權(quán)利要求14-19中任意一項所述的方法，其中，所述槽包括至少一個第二蒸汽可透過通道，所述蒸汽源包括蒸汽室，以及所述阻抗器包括吸收組件。
21.根據(jù)前述權(quán)利要求中任意一項所述的方法，其中，進(jìn)行校準(zhǔn)以響應(yīng)檢測設(shè)備的溫度、壓力和/或電場梯度的變化。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的方法，其中，檢測設(shè)備的溫度、壓力和/或電場的變化是持續(xù)被監(jiān)控的。
23.根據(jù)前述權(quán)利要求中任意一項所述的方法，其中，所述校準(zhǔn)物樣品基本由異氟烷組成。
24.根據(jù)前述權(quán)利要求中任意一項所述的方法，其中，所述檢測設(shè)備為離子遷移譜儀。
25.一種校準(zhǔn)檢測設(shè)備的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：
權(quán)利要求1-24中任意一項定義的檢測設(shè)備；
含有異氟烷的校準(zhǔn)物樣品；以及
分析單元，該分析單元被配置為：
i)收集與探測的由電離所述校準(zhǔn)物樣品而形成的異氟烷的單體離子和二聚體離子相關(guān)的實驗數(shù)據(jù)；以及
ii)基于對所收集的異氟烷的單體離子的實驗數(shù)據(jù)相對所收集的異氟烷的二聚體離子的實驗數(shù)據(jù)的評價，校準(zhǔn)用于探測已知目標(biāo)化學(xué)品的檢測設(shè)備。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的系統(tǒng)，其中，所述分析單元被配置為校準(zhǔn)權(quán)利要求2和4-8中任意一項所定義的檢測設(shè)備。
27.根據(jù)權(quán)利要求25或26所述的系統(tǒng)，其中，該系統(tǒng)還包括被配置為與所述檢測設(shè)備一起使用的權(quán)利要求14-19中任意一項所定義的蒸汽發(fā)生器。
28.根據(jù)權(quán)利要求25-27中任意一項所述的系統(tǒng)，其中，所述分析單元包括計算機系統(tǒng)。
29.根據(jù)權(quán)利要求25-28中任意一項所述的系統(tǒng)，其中，所述校準(zhǔn)物樣品基本由異氟烷組成。
30.一種裝置，其包括：權(quán)利要求1-24中任意一項所定義的檢測設(shè)備；含有異氟烷或基本由異氟烷組成的校準(zhǔn)物樣品；以及被配置為響應(yīng)檢測設(shè)備的溫度、壓力和/或電場的變化以將所述校準(zhǔn)物樣品引入至所述檢測設(shè)備中的工具。
31.根據(jù)權(quán)利要求30所述的裝置，其中，用于將所述校準(zhǔn)物樣品引入至所述檢測設(shè)備中的工具包括權(quán)利要求14-19中任意一項所定義的蒸汽發(fā)生器。
32.含有異氟烷或基本由異氟烷組成的校準(zhǔn)物樣品在校準(zhǔn)權(quán)利要求1-24中任意一項所定義的用于探測目標(biāo)化學(xué)品的檢測設(shè)備中的應(yīng)用。