本發(fā)明涉及質(zhì)量檢測
技術(shù)領(lǐng)域：
，具體而言，涉及一種光譜檢測方法和一種光譜檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
：目前，市場上的薄膜大體上包括液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等，而這些薄膜在生產(chǎn)制造過程中難免會(huì)存在缺陷，通過人工進(jìn)行質(zhì)量檢測不僅浪費(fèi)資源，操作麻煩，且檢測結(jié)果誤差大。因此需要一種新的技術(shù)方案，可以自動(dòng)對(duì)薄膜進(jìn)行質(zhì)量檢測。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明正是基于上述問題，提出了一種新的技術(shù)方案，可以自動(dòng)對(duì)薄膜進(jìn)行質(zhì)量檢測。有鑒于此，本發(fā)明提出了一種光譜檢測方法，用于光譜檢測系統(tǒng)，包括：根據(jù)接收到的檢測命令，采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)，其中，所述檢測命令包括周期性采集命令或根據(jù)觸發(fā)信號(hào)進(jìn)行采集的命令；確定所述光譜數(shù)據(jù)的光譜質(zhì)量信息；根據(jù)所述光譜質(zhì)量信息，通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算所述待檢測薄膜的綜合缺陷值，所述預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式為：其中，i表示采集所述光譜數(shù)據(jù)時(shí)的寬度方向，j表示采集所述光譜數(shù)據(jù)的長度方向，wn的范圍為[0,1]，表示所述待檢測薄膜的第n面向圖像缺陷權(quán)重系數(shù)，blobn(i，j)的范圍為[0,255]，表示所述待檢測薄膜的第n面向圖像缺陷值，totolblob(i，j)表示所述待檢測薄膜的所述綜合缺陷值；確定所述綜合缺陷值是否滿足預(yù)設(shè)條件，以供確定所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格。在該技術(shù)方案中，當(dāng)接收到檢測命令時(shí)，可以進(jìn)行周期性的圖像采集，也可以在每次接收到觸發(fā)信號(hào)時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算薄膜的檢測位置的缺陷值，以便根據(jù)缺陷值的大小或者說缺陷值的所處范圍是否滿足預(yù)設(shè)條件，判定薄膜質(zhì)量是否符合要求，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。其中，本技術(shù)方案中所述的薄膜包括但不限于液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述光譜檢測系統(tǒng)由光源、分光器件、鏡頭、圖像采集器和控制電路組成，待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的發(fā)射光、反射光或透射光，經(jīng)過所述鏡頭聚焦后進(jìn)入所述分光組件，經(jīng)所述分光組件分光后，不同波長的光在空間上分開，投射到所述圖像采集器，其中，所述圖像采集器為面陣灰度相機(jī)；所述光譜檢測系統(tǒng)可包含一組或多組光譜成像裝置。在該技術(shù)方案中，分光組件前端有光學(xué)鏡頭。待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進(jìn)入分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到面陣灰度相機(jī)的采集單元。面陣灰度相機(jī)采集到的每一幅二維圖像對(duì)應(yīng)一條窄帶區(qū)域的光譜信息，圖像橫向?qū)?yīng)待檢測薄膜的橫向，每一行代表窄帶區(qū)域在該行對(duì)應(yīng)波長的信息，圖像縱向?qū)?yīng)不同光譜波長，每一列代表窄帶區(qū)域的一塊子區(qū)域的光譜展開信息，圖像像素值大小表示某個(gè)波長的強(qiáng)度。其中，圖像采集器可以是面陣灰度相機(jī)，也可以是根據(jù)需要除此之外的其他類型的圖像采集裝置。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)，具體包括：使用圖像采集器多次采集所述待檢測薄膜的整個(gè)幅面寬度的光譜數(shù)據(jù)，以采集所述待檢測薄膜的全寬度光譜數(shù)據(jù)；或使用圖像采集器多次采集所述待檢測薄膜的部分幅面寬度的光譜數(shù)據(jù)，其中，所述圖像采集器在所述寬度方向靜止或進(jìn)行往返運(yùn)動(dòng)。在該技術(shù)方案中，可以根據(jù)實(shí)際需求采用不同的圖像采集手段來采集圖像數(shù)據(jù)，具體地，既可以采集薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)，也可以采集薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，在采集過程中，可以通過移動(dòng)圖像數(shù) 據(jù)采集器來對(duì)靜態(tài)的薄膜進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)采集，也可以讓靜態(tài)的圖像采集器對(duì)移動(dòng)的薄膜進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)采集。也就是說，光譜采集的典型方法包含兩種：一是薄膜沿縱向運(yùn)動(dòng)，光譜采集系統(tǒng)固定不動(dòng)，或(當(dāng)光譜采集窄帶的寬度小于薄膜寬度時(shí))光譜采集系統(tǒng)橫向往復(fù)移動(dòng)；二是薄膜固定不動(dòng)，光譜采集系統(tǒng)沿一個(gè)方向運(yùn)動(dòng)一次或多次，完成整片薄膜的光譜信息采集。此外，系統(tǒng)可根據(jù)實(shí)際情況和需要，按特定運(yùn)動(dòng)方式采集光譜信息。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，多樣化的圖像采集手段可以更加貼合用戶對(duì)檢測薄膜的需求，提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，便于提升檢測效率，降低檢測成本。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，在所述采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)的過程中，還包括：降低所述圖像采集器的運(yùn)行速度，以提升采集所述光譜數(shù)據(jù)時(shí)的方向分辨率；或增大所述圖像采集器的曝光時(shí)間，以提升采集所述光譜數(shù)據(jù)時(shí)的所述方向分辨率。在該技術(shù)方案中，在采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)的過程中，采集到的方向分辨率的高低影響薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性，具體地，方向分辨率與圖像采集器的運(yùn)行速度成正相關(guān)關(guān)系及與圖像采集器的曝光時(shí)間成反相關(guān)系，用戶可根據(jù)實(shí)際情況通過降低圖像采集器的運(yùn)行速度或增大圖像采集器的曝光時(shí)間，以獲得較低的方向分辨率，使得采集到的數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確，有利于提升薄膜檢測質(zhì)量的準(zhǔn)確性。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述光譜數(shù)據(jù)的光譜質(zhì)量信息包括以下至少之一或其組合：所述光譜數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強(qiáng)度、能量積分、某個(gè)波長區(qū)間的主波長、某個(gè)波長區(qū)間的半波寬、某個(gè)波長區(qū)間的峰值強(qiáng)度、某個(gè)波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值；以及所述光譜檢測方法還包括：根據(jù)所述光譜數(shù)據(jù)的所述光譜質(zhì)量信息，確定所述光譜數(shù)據(jù)的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，以供根據(jù)所述合格數(shù)據(jù)空間與所述不合格數(shù)據(jù)空間為所述綜合缺陷值設(shè)置所述預(yù)設(shè)條件；以及根據(jù)所述光譜質(zhì)量信息、所述合格數(shù)據(jù)空間和所述不合格數(shù)據(jù)空間，計(jì)算所述光譜數(shù)據(jù)的blobn(i，j)。在該技術(shù)方案中，通過多種圖像數(shù)據(jù)屬性對(duì)薄膜質(zhì)量進(jìn)行判定，多樣 化的判定依據(jù)可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，同時(shí)通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算薄膜的檢測位置的缺陷值時(shí)，可以根據(jù)圖像數(shù)據(jù)屬性劃分出合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，從而可以進(jìn)一步判斷缺陷值是位于合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)還是位于不合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)，得出薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果。通過該技術(shù)方案，劃分的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間可以使得對(duì)缺陷值的范圍判斷更加準(zhǔn)確，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。其中，cie為顏色系統(tǒng)，ciexyz、ciel*a*b*、ciehab、為其不同的色彩空間。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，在所述確定所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格之后，還包括：存儲(chǔ)質(zhì)量檢測結(jié)果，并為質(zhì)量不合格的所述待檢測薄膜設(shè)置缺陷標(biāo)記，以供識(shí)別并處理具有所述缺陷標(biāo)記的所述待檢測薄膜。在該技術(shù)方案中，通過存儲(chǔ)質(zhì)量檢測結(jié)果，并為質(zhì)量不合格的待檢測薄膜設(shè)置缺陷標(biāo)記，以供識(shí)別并處理具有缺陷標(biāo)記的待檢測薄膜，使得后續(xù)相關(guān)處理系統(tǒng)可根據(jù)標(biāo)識(shí)直接對(duì)缺陷產(chǎn)品進(jìn)行分類處理，進(jìn)而大大提升了薄膜檢測的效率。本發(fā)明還提出了一種光譜檢測系統(tǒng)，包括：光譜數(shù)據(jù)采集單元，根據(jù)接收到的檢測命令，采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)，其中，所述檢測命令包括周期性采集命令或根據(jù)觸發(fā)信號(hào)進(jìn)行采集的命令；光譜質(zhì)量信息確定單元，確定所述光譜數(shù)據(jù)的光譜質(zhì)量信息；缺陷值計(jì)算單元，根據(jù)所述光譜質(zhì)量信息，通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算所述待檢測薄膜的綜合缺陷值，所述預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式為：其中，i表示采集所述光譜數(shù)據(jù)時(shí)的寬度方向，j表示采集所述光譜數(shù)據(jù)的長度方向，wn的范圍為[0,1]，表示所述待檢測薄膜的第n面向圖像缺陷權(quán)重系數(shù)，blobn(i，j)的范圍為[0,255]，表示所述待檢測薄膜的第n面向圖像缺陷值，totolblob(i，j)表示所述待檢測薄膜的所述綜合缺陷值；質(zhì)量判定單元，確定所述綜合缺陷值是否滿足預(yù)設(shè)條件，以供確定所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格。在該技術(shù)方案中，當(dāng)接收到檢測命令時(shí)，可以進(jìn)行周期性的圖像采集， 也可以在每次接收到觸發(fā)信號(hào)時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算薄膜的檢測位置的缺陷值，以便根據(jù)缺陷值的大小或者說缺陷值的所處范圍是否滿足預(yù)設(shè)條件，判定薄膜質(zhì)量是否符合要求，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。其中，本技術(shù)方案中所述的薄膜包括但不限于液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述光譜檢測系統(tǒng)由光源、分光器件、鏡頭、圖像采集器和控制電路組成，待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的發(fā)射光、反射光或透射光，經(jīng)過所述鏡頭聚焦后進(jìn)入所述分光組件，經(jīng)所述分光組件分光后，不同波長的光在空間上分開，投射到所述圖像采集器，其中，所述圖像采集器為面陣灰度相機(jī)；所述光譜檢測系統(tǒng)可包含一組或多組光譜成像裝置。在該技術(shù)方案中，分光組件前端有光學(xué)鏡頭。待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進(jìn)入分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到面陣灰度相機(jī)的采集單元。面陣灰度相機(jī)采集到的每一幅二維圖像對(duì)應(yīng)一條窄帶區(qū)域的光譜信息，圖像橫向?qū)?yīng)待檢測薄膜的橫向，每一行代表窄帶區(qū)域在該行對(duì)應(yīng)波長的信息，圖像縱向?qū)?yīng)不同光譜波長，每一列代表窄帶區(qū)域的一塊子區(qū)域的光譜展開信息，圖像像素值大小表示某個(gè)波長的強(qiáng)度。其中，圖像采集器可以是面陣灰度相機(jī)，也可以是根據(jù)需要除此之外的其他類型的圖像采集裝置。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述光譜數(shù)據(jù)采集單元包括：第一采集單元，使用圖像采集器多次采集所述待檢測薄膜的整個(gè)幅面寬度的光譜數(shù)據(jù)，以采集所述待檢測薄膜的全寬度光譜數(shù)據(jù)；和/或第二采集單元，使用圖像采集器多次采集所述待檢測薄膜的部分幅面寬度的光譜數(shù)據(jù)，其中，所述圖像采集器在所述寬度方向靜止或進(jìn)行往返運(yùn)動(dòng)。在該技術(shù)方案中，可以根據(jù)實(shí)際需求采用不同的圖像采集手段來采集圖像數(shù)據(jù)，具體地，既可以采集薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)，也可以采集薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，在采集過程中，可以通過移動(dòng)圖像數(shù)據(jù)采集器來對(duì)靜態(tài)的薄膜進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)采集，也可以讓靜態(tài)的圖像采集器 對(duì)移動(dòng)的薄膜進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)采集。也就是說，光譜采集的典型方法包含兩種：一是薄膜沿縱向運(yùn)動(dòng)，光譜采集系統(tǒng)固定不動(dòng)，或(當(dāng)光譜采集窄帶的寬度小于薄膜寬度時(shí))光譜采集系統(tǒng)橫向往復(fù)移動(dòng)；二是薄膜固定不動(dòng)，光譜采集系統(tǒng)沿一個(gè)方向運(yùn)動(dòng)一次或多次，完成整片薄膜的光譜信息采集。此外，系統(tǒng)可根據(jù)實(shí)際情況和需要，按特定運(yùn)動(dòng)方式采集光譜信息。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，多樣化的圖像采集手段可以更加貼合用戶對(duì)檢測薄膜的需求，提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，便于提升檢測效率，降低檢測成本。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，還包括：運(yùn)行速度調(diào)節(jié)單元，在所述采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)的過程中，降低所述圖像采集器的運(yùn)行速度，以提升采集所述光譜數(shù)據(jù)時(shí)的方向分辨率；和/或曝光時(shí)間調(diào)節(jié)單元，在所述采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)的過程中，增大所述圖像采集器的曝光時(shí)間，以提升采集所述光譜數(shù)據(jù)時(shí)的所述方向分辨率。在該技術(shù)方案中，在采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)的過程中，采集到的方向分辨率的高低影響薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性，具體地，方向分辨率與圖像采集器的運(yùn)行速度正相關(guān)及與圖像采集器的曝光時(shí)反相關(guān)，用戶可根據(jù)實(shí)際情況通過降低圖像采集器的運(yùn)行速度或增大圖像采集器的曝光時(shí)間，以獲得較高的方向分辨率，使得采集到的數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確，有利于提升薄膜檢測質(zhì)量的準(zhǔn)確性。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述光譜數(shù)據(jù)的光譜質(zhì)量信息包括以下至少之一或其組合：所述光譜數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強(qiáng)度、能量積分、某個(gè)波長區(qū)間的主波長、某個(gè)波長區(qū)間的半波寬、某個(gè)波長區(qū)間的峰值強(qiáng)度、某個(gè)波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值；以及所述光譜檢測系統(tǒng)還包括：數(shù)據(jù)空間確定單元，根據(jù)所述光譜數(shù)據(jù)的所述光譜質(zhì)量信息，確定所述光譜數(shù)據(jù)的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，以供根據(jù)所述合格數(shù)據(jù)空間與所述不合格數(shù)據(jù)空間為所述綜合缺陷值設(shè)置所述預(yù)設(shè)條件；以及缺陷值確定單元，根據(jù)所述光譜質(zhì)量信息、所述合格數(shù)據(jù)空間和所述不合格數(shù)據(jù)空間，計(jì)算所述光譜數(shù)據(jù)的blobn(i，j)。在該技術(shù)方案中，通過多種圖像數(shù)據(jù)屬性對(duì)薄膜質(zhì)量進(jìn)行判定，多樣化的判定依據(jù)可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，同時(shí)通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算薄膜的檢測位置的缺陷值時(shí)，可以根據(jù)圖像數(shù)據(jù)屬性劃分出合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，從而可以進(jìn)一步判斷缺陷值是位于合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)還是位于不合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)，得出薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果。通過該技術(shù)方案，劃分的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間可以使得對(duì)缺陷值的范圍判斷更加準(zhǔn)確，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。cie為顏色系統(tǒng)，ciexyz、ciel*a*b*、ciehab、為其不同的色彩空間。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，還包括：存儲(chǔ)單元，在所述確定所述待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格之后，存儲(chǔ)質(zhì)量檢測結(jié)果；以及標(biāo)記單元，為質(zhì)量不合格的所述待檢測薄膜設(shè)置缺陷標(biāo)記，以供識(shí)別并處理具有所述缺陷標(biāo)記的所述待檢測薄膜。在該技術(shù)方案中，通過存儲(chǔ)質(zhì)量檢測結(jié)果，并為質(zhì)量不合格的待檢測薄膜設(shè)置缺陷標(biāo)記，以供識(shí)別并處理具有缺陷標(biāo)記的待檢測薄膜，使得后續(xù)相關(guān)處理系統(tǒng)可根據(jù)標(biāo)識(shí)直接對(duì)缺陷產(chǎn)品進(jìn)行分類處理，進(jìn)而有利于提升薄膜檢測的效率。通過以上技術(shù)方案，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜質(zhì)量進(jìn)行自動(dòng)檢測，從而避免了不必要的人力資源浪費(fèi)，同時(shí)提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，進(jìn)而有利于提升薄膜檢測的效率和質(zhì)量。附圖說明圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的光譜檢測方法的流程示意圖；圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的光譜檢測系統(tǒng)的示意框圖；圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的光譜檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4示出了圖3中的光譜成像系統(tǒng)的原理圖；圖5示出了光譜成像系統(tǒng)的線性光源結(jié)構(gòu)圖；圖6示出了光譜成像系統(tǒng)的成像效果示意圖。具體實(shí)施方式為了能夠更清楚地理解本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步的詳細(xì)描述。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是，本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其他方式來實(shí)施，因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍并不受下面公開的具體實(shí)施例的限制。圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的光譜檢測方法的流程示意圖。如圖1所示，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的光譜檢測方法，包括：步驟102，根據(jù)接收到的檢測命令，采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)，其中，檢測命令包括周期性采集命令或根據(jù)觸發(fā)信號(hào)進(jìn)行采集的命令。步驟104，確定光譜數(shù)據(jù)的光譜質(zhì)量信息。步驟106，根據(jù)光譜質(zhì)量信息，通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算待檢測薄膜的綜合缺陷值，預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式為：其中，i表示采集光譜數(shù)據(jù)時(shí)的寬度方向，j表示采集光譜數(shù)據(jù)的長度方向，wn的范圍為[0,1]，表示待檢測薄膜的第n面向圖像缺陷權(quán)重系數(shù)，blobn(i，j)的范圍為[0,255]，表示待檢測薄膜的第n面向圖像缺陷值，totolblob(i，j)表示待檢測薄膜的綜合缺陷值。步驟108，確定綜合缺陷值是否滿足預(yù)設(shè)條件，以供確定待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格。在該技術(shù)方案中，當(dāng)接收到檢測命令時(shí)，可以進(jìn)行周期性的圖像采集，也可以在每次接收到觸發(fā)信號(hào)時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算薄膜的檢測位置的缺陷值，以便根據(jù)缺陷值的大小或者說缺陷值的所處范圍是否滿足預(yù)設(shè)條件，判定薄膜質(zhì)量是否符合要求，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。其中，本技術(shù)方案中的薄膜包括但不限于液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述光譜檢測系統(tǒng)由光源、分光器件、 鏡頭、圖像采集器和控制電路組成，待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的發(fā)射光、反射光或透射光，經(jīng)過所述鏡頭聚焦后進(jìn)入所述分光組件，經(jīng)所述分光組件分光后，不同波長的光在空間上分開，投射到所述圖像采集器，其中，所述圖像采集器為面陣灰度相機(jī)；所述光譜檢測系統(tǒng)可包含一組或多組光譜成像裝置。在該技術(shù)方案中，分光組件前端有光學(xué)鏡頭。待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進(jìn)入分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到面陣灰度相機(jī)的采集單元。面陣灰度相機(jī)采集到的每一幅二維圖像對(duì)應(yīng)一條窄帶區(qū)域的光譜信息，圖像橫向?qū)?yīng)待檢測薄膜的橫向，每一行代表窄帶區(qū)域在該行對(duì)應(yīng)波長的信息，圖像縱向?qū)?yīng)不同光譜波長，每一列代表窄帶區(qū)域的一塊子區(qū)域的光譜展開信息，圖像像素值大小表示某個(gè)波長的強(qiáng)度。其中，圖像采集器可以是面陣灰度相機(jī)，也可以是根據(jù)需要除此之外的其他類型的圖像采集裝置。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，步驟102具體包括：使用圖像采集器多次采集待檢測薄膜的整個(gè)幅面寬度的光譜數(shù)據(jù)，以采集待檢測薄膜的全寬度光譜數(shù)據(jù)；或使用圖像采集器多次采集待檢測薄膜的部分幅面寬度的光譜數(shù)據(jù)，其中，圖像采集器在寬度方向靜止或進(jìn)行往返運(yùn)動(dòng)。在該技術(shù)方案中，可以根據(jù)實(shí)際需求采用不同的圖像采集手段來采集圖像數(shù)據(jù)，具體地，既可以采集薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)，也可以采集薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，在采集過程中，可以通過移動(dòng)圖像數(shù)據(jù)采集器來對(duì)靜態(tài)的薄膜進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)采集，也可以讓靜態(tài)的圖像采集器對(duì)移動(dòng)的薄膜進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)采集。也就是說，光譜采集的典型方法包含兩種：一是薄膜沿縱向運(yùn)動(dòng)，光譜采集系統(tǒng)固定不動(dòng)，或(當(dāng)光譜采集窄帶的寬度小于薄膜寬度時(shí))光譜采集系統(tǒng)橫向往復(fù)移動(dòng)；二是薄膜固定不動(dòng)，光譜采集系統(tǒng)沿一個(gè)方向運(yùn)動(dòng)一次或多次，完成整片薄膜的光譜信息采集。此外，系統(tǒng)可根據(jù)實(shí)際情況和需要，按特定運(yùn)動(dòng)方式采集光譜信息。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，多樣化的圖像采集手段可以更加貼合用戶對(duì)檢測薄膜的需求，提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，便于提升檢測效率，降低檢測成本。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，在采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)的過程中，還包括：降低圖像采集器的運(yùn)行速度，以提升采集光譜數(shù)據(jù)時(shí)的方向分辨率；或增大圖像采集器的曝光時(shí)間，以提升采集光譜數(shù)據(jù)時(shí)的方向分辨率。在該技術(shù)方案中，在采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)的過程中，采集到的方向分辨率的高低影響薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性，具體地，方向分辨率與圖像采集器的運(yùn)行速度成正相關(guān)關(guān)系及與圖像采集器的曝光時(shí)間成反相關(guān)系，用戶可根據(jù)實(shí)際情況通過降低圖像采集器的運(yùn)行速度或增大圖像采集器的曝光時(shí)間，以獲得較低的方向分辨率，使得采集到的數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確，有利于提升薄膜檢測質(zhì)量的準(zhǔn)確性。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，光譜數(shù)據(jù)的光譜質(zhì)量信息包括以下至少之一或其組合：光譜數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強(qiáng)度、能量積分、某個(gè)波長區(qū)間的主波長、某個(gè)波長區(qū)間的半波寬、某個(gè)波長區(qū)間的峰值強(qiáng)度、某個(gè)波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值；以及光譜檢測方法還包括：根據(jù)光譜數(shù)據(jù)的光譜質(zhì)量信息，確定光譜數(shù)據(jù)的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，以供根據(jù)合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間為綜合缺陷值設(shè)置預(yù)設(shè)條件；以及根據(jù)光譜質(zhì)量信息、合格數(shù)據(jù)空間和不合格數(shù)據(jù)空間，計(jì)算光譜數(shù)據(jù)的blobn(i，j)。在該技術(shù)方案中，通過多種圖像數(shù)據(jù)屬性對(duì)薄膜質(zhì)量進(jìn)行判定，多樣化的判定依據(jù)可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，同時(shí)通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算薄膜的檢測位置的缺陷值時(shí)，可以根據(jù)圖像數(shù)據(jù)屬性劃分出合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，從而可以進(jìn)一步判斷缺陷值是位于合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)還是位于不合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)，得出薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果。通過該技術(shù)方案，劃分的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間可以使得對(duì)缺陷值的范圍判斷更加準(zhǔn)確，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。cie為顏色系統(tǒng)，ciexyz、ciel*a*b*、ciehab、為其不同的色彩空間。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，在步驟108之后，還包括：存儲(chǔ)質(zhì)量檢測結(jié)果，并為質(zhì)量不合格的待檢測薄膜設(shè)置缺陷標(biāo)記，以供識(shí)別并處理具有缺陷標(biāo)記的待檢測薄膜。在該技術(shù)方案中，通過存儲(chǔ)質(zhì)量檢測結(jié)果，并為質(zhì)量不合格的待檢測薄膜設(shè)置缺陷標(biāo)記，以供識(shí)別并處理具有缺陷標(biāo)記的待檢測薄膜，使得后續(xù)相關(guān)處理系統(tǒng)可根據(jù)標(biāo)識(shí)直接對(duì)缺陷產(chǎn)品進(jìn)行分類處理，進(jìn)而大大提升了薄膜檢測的效率。圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的光譜檢測系統(tǒng)的示意框圖。如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的光譜檢測系統(tǒng)200，包括：光譜數(shù)據(jù)采集單元202，根據(jù)接收到的檢測命令，采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)，其中，檢測命令包括周期性采集命令或根據(jù)觸發(fā)信號(hào)進(jìn)行采集的命令；光譜質(zhì)量信息確定單元204，確定光譜數(shù)據(jù)的光譜質(zhì)量信息；缺陷值計(jì)算單元206，根據(jù)光譜質(zhì)量信息，通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算待檢測薄膜的綜合缺陷值，預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式為：其中，i表示采集光譜數(shù)據(jù)時(shí)的寬度方向，j表示采集光譜數(shù)據(jù)的長度方向，wn的范圍為[0,1]，表示待檢測薄膜的第n面向圖像缺陷權(quán)重系數(shù)，blobn(i，j)的范圍為[0,255]，表示待檢測薄膜的第n面向圖像缺陷值，totolblob(i，j)表示待檢測薄膜的綜合缺陷值；質(zhì)量判定單元208，確定綜合缺陷值是否滿足預(yù)設(shè)條件，以供確定待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格。在該技術(shù)方案中，當(dāng)接收到檢測命令時(shí)，可以進(jìn)行周期性的圖像采集，也可以在每次接收到觸發(fā)信號(hào)時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算薄膜的檢測位置的缺陷值，以便根據(jù)缺陷值的大小或者說缺陷值的所處范圍是否滿足預(yù)設(shè)條件，判定薄膜質(zhì)量是否符合要求，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。其中，本技術(shù)方案中的薄膜包括但不限于液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，所述光譜檢測系統(tǒng)200由光源、分光器件、鏡頭、圖像采集器和控制電路組成，待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的發(fā)射光、反射光或透射光，經(jīng)過所述鏡頭聚焦后進(jìn)入所述分光組件，經(jīng)所述分光組件分光后，不同波長的光在空間上分開，投射到所述圖像采集器，其中，所述圖像采集器為面陣灰度相機(jī)；所述光譜檢測系統(tǒng)可包含一組或 多組光譜成像裝置。在該技術(shù)方案中，分光組件前端有光學(xué)鏡頭。待檢測薄膜的一條窄帶區(qū)域的反射光或透射光，經(jīng)過鏡頭聚焦后進(jìn)入分光組件，分光后不同波長的光在空間上分開，投射到面陣灰度相機(jī)的采集單元。面陣灰度相機(jī)采集到的每一幅二維圖像對(duì)應(yīng)一條窄帶區(qū)域的光譜信息，圖像橫向?qū)?yīng)待檢測薄膜的橫向，每一行代表窄帶區(qū)域在該行對(duì)應(yīng)波長的信息，圖像縱向?qū)?yīng)不同光譜波長，每一列代表窄帶區(qū)域的一塊子區(qū)域的光譜展開信息，圖像像素值大小表示某個(gè)波長的強(qiáng)度。其中，圖像采集器可以是面陣灰度相機(jī)，也可以是根據(jù)需要除此之外的其他類型的圖像采集裝置。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，光譜數(shù)據(jù)采集單元202包括：第一采集單元2022，使用圖像采集器多次采集待檢測薄膜的整個(gè)幅面寬度的光譜數(shù)據(jù)，以采集待檢測薄膜的全寬度光譜數(shù)據(jù)；和/或第二采集單元2024，使用圖像采集器多次采集待檢測薄膜的部分幅面寬度的光譜數(shù)據(jù)，其中，圖像采集器在寬度方向靜止或進(jìn)行往返運(yùn)動(dòng)。在該技術(shù)方案中，可以根據(jù)實(shí)際需求采用不同的圖像采集手段來采集圖像數(shù)據(jù)，具體地，既可以采集薄膜的全寬度圖像數(shù)據(jù)，也可以采集薄膜的部分幅面寬度的圖像數(shù)據(jù)，其中，在采集過程中，可以通過移動(dòng)圖像數(shù)據(jù)采集器來對(duì)靜態(tài)的薄膜進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)采集，也可以讓靜態(tài)的圖像采集器對(duì)移動(dòng)的薄膜進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)采集。也就是說，光譜采集的典型方法包含兩種：一是薄膜沿縱向運(yùn)動(dòng)，光譜采集系統(tǒng)固定不動(dòng)，或(當(dāng)光譜采集窄帶的寬度小于薄膜寬度時(shí))光譜采集系統(tǒng)橫向往復(fù)移動(dòng)；二是薄膜固定不動(dòng)，光譜采集系統(tǒng)沿一個(gè)方向運(yùn)動(dòng)一次或多次，完成整片薄膜的光譜信息采集。此外，系統(tǒng)可根據(jù)實(shí)際情況和需要，按特定運(yùn)動(dòng)方式采集光譜信息。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，多樣化的圖像采集手段可以更加貼合用戶對(duì)檢測薄膜的需求，提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，便于提升檢測效率，降低檢測成本。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，還包括：運(yùn)行速度調(diào)節(jié)單元210，在采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)的過程中，降低圖像采集器的運(yùn)行速度，以提升采集光譜數(shù)據(jù)時(shí)的方向分辨率；和/或曝光時(shí)間調(diào)節(jié)單元212，在采集待檢 測薄膜的光譜數(shù)據(jù)的過程中，增大圖像采集器的曝光時(shí)間，以提升采集光譜數(shù)據(jù)時(shí)的方向分辨率。在該技術(shù)方案中，在采集待檢測薄膜的光譜數(shù)據(jù)的過程中，采集到的方向分辨率的高低影響薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性，具體地，方向分辨率與圖像采集器的運(yùn)行速度正相關(guān)及與圖像采集器的曝光時(shí)反相關(guān)，用戶可根據(jù)實(shí)際情況通過降低圖像采集器的運(yùn)行速度或增大圖像采集器的曝光時(shí)間，以獲得較高的方向分辨率，使得采集到的數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確，有利于提升薄膜檢測質(zhì)量的準(zhǔn)確性。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，光譜數(shù)據(jù)的光譜質(zhì)量信息包括以下至少之一或其組合：光譜數(shù)據(jù)的主波長、半波寬、峰值強(qiáng)度、能量積分、某個(gè)波長區(qū)間的主波長、某個(gè)波長區(qū)間的半波寬、某個(gè)波長區(qū)間的峰值強(qiáng)度、某個(gè)波長區(qū)間的能量積分、ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值；以及光譜檢測系統(tǒng)200還包括：數(shù)據(jù)空間確定單元214，根據(jù)光譜數(shù)據(jù)的光譜質(zhì)量信息，確定光譜數(shù)據(jù)的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，以供根據(jù)合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間為綜合缺陷值設(shè)置預(yù)設(shè)條件；以及缺陷值確定單元216，根據(jù)光譜質(zhì)量信息、合格數(shù)據(jù)空間和不合格數(shù)據(jù)空間，計(jì)算光譜數(shù)據(jù)的blobn(i，j)。在該技術(shù)方案中，通過多種圖像數(shù)據(jù)屬性對(duì)薄膜質(zhì)量進(jìn)行判定，多樣化的判定依據(jù)可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，同時(shí)通過預(yù)設(shè)缺陷值計(jì)算公式計(jì)算薄膜的檢測位置的缺陷值時(shí)，可以根據(jù)圖像數(shù)據(jù)屬性劃分出合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間，從而可以進(jìn)一步判斷缺陷值是位于合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)還是位于不合格數(shù)據(jù)空間內(nèi)，得出薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果。通過該技術(shù)方案，劃分的合格數(shù)據(jù)空間與不合格數(shù)據(jù)空間可以使得對(duì)缺陷值的范圍判斷更加準(zhǔn)確，從而可以使得薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果更加準(zhǔn)確全面，提升了薄膜檢測的質(zhì)量和效率。cie為顏色系統(tǒng)，ciexyz、ciel*a*b*、ciehab、為其不同的色彩空間。在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選地，還包括：存儲(chǔ)單元218，在確定待檢測薄膜的質(zhì)量是否合格之后，存儲(chǔ)質(zhì)量檢測結(jié)果；以及標(biāo)記單元220，為質(zhì)量不合格的待檢測薄膜設(shè)置缺陷標(biāo)記，以供識(shí)別并處理具有缺陷標(biāo)記的待 檢測薄膜。在該技術(shù)方案中，通過存儲(chǔ)質(zhì)量檢測結(jié)果，并為質(zhì)量不合格的待檢測薄膜設(shè)置缺陷標(biāo)記，以供識(shí)別并處理具有缺陷標(biāo)記的待檢測薄膜，使得后續(xù)相關(guān)處理系統(tǒng)可根據(jù)標(biāo)識(shí)直接對(duì)缺陷產(chǎn)品進(jìn)行分類處理，進(jìn)而有利于提升薄膜檢測的效率。圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的光譜檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示，根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的光譜檢測系統(tǒng)，用于檢測液晶薄膜、全息脫鋁安全線、光變薄膜、塑料薄膜、紙張、布料、字畫等的質(zhì)量，包括：輥筒、運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)、光譜采集與處理子系統(tǒng)、質(zhì)量標(biāo)記子系統(tǒng)、圖像分析主站系統(tǒng)和后工序產(chǎn)品處理系統(tǒng)。該光譜檢測系統(tǒng)可以自動(dòng)檢測薄膜產(chǎn)品質(zhì)量，并包含兩種檢測方法：方法一：采集運(yùn)行中的薄膜的光譜圖像和表面圖像，通過數(shù)字圖像處理對(duì)它們進(jìn)行自動(dòng)質(zhì)量檢測判斷，確定產(chǎn)品質(zhì)量是否合格，及時(shí)得到產(chǎn)品檢測結(jié)論，以在線進(jìn)行質(zhì)量標(biāo)記，或?qū)z測結(jié)果數(shù)據(jù)信息進(jìn)行存儲(chǔ)，或?qū)z測結(jié)果數(shù)據(jù)信息傳遞給后工序，后續(xù)工序根據(jù)檢測結(jié)果進(jìn)行整體作廢、局部作廢、缺陷修補(bǔ)等處理。其中，檢測結(jié)果包括：整體是否合格、局部缺陷的縱向位置及橫向位置或檢測系統(tǒng)的質(zhì)量標(biāo)記等。方法二：被檢測對(duì)象可固定在平板上或者兩端固定，圖像采集器在運(yùn)動(dòng)中掃描檢測對(duì)象，獲取圖像數(shù)據(jù)，進(jìn)行分析檢測，其具體處理方法與方法一所述相同。另外，該光譜檢測系統(tǒng)檢測的對(duì)象可以是整幅薄膜產(chǎn)品，也可以是多幅薄膜產(chǎn)品，還可以是切開的條帶狀產(chǎn)品。該光譜檢測系統(tǒng)主要包含運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)及輥筒等運(yùn)動(dòng)組件、至少一套光譜采集處理子系統(tǒng)、圖像分析主站系統(tǒng)。以及還可以包含其他光學(xué)檢測系統(tǒng)、質(zhì)量標(biāo)記子系統(tǒng)，該質(zhì)量標(biāo)記子系統(tǒng)可與后工序產(chǎn)品處理系統(tǒng)連接。光譜像采集與處理子系統(tǒng)可按照固定頻率(或周期)采集圖像，或通過運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)的觸發(fā)信號(hào)采集圖像，觸發(fā)信號(hào)的頻率(或周期)與產(chǎn)品運(yùn)行速度成比例相關(guān)。各采集與處理子系統(tǒng)通過嵌入式電路板或計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析和處理。本系光譜檢測系統(tǒng)的薄膜檢測基本幅寬為0.2m至1m，當(dāng) 然，也可檢測細(xì)分切后的更窄的薄膜或者更寬的薄膜，運(yùn)行速度為小于或等于150m/min。圖4示出了圖3中的光譜成像系統(tǒng)的原理圖。如圖4所示，光譜成像系統(tǒng)可以采集薄膜的光譜質(zhì)量信息。光源1發(fā)射的光具有較寬的頻率范圍，譜線平滑，光源1可以是白光光源、紫外光源、紅外光源三者中的一個(gè)，或者兩個(gè)、三個(gè)的組合，光源1的最大照明面積為1200mm*30mm，照度均勻度大于或等于95％，焦距為200mm，焦距可根據(jù)需要調(diào)節(jié)，總通光量為68000lm，峰值通光量為100000lm，連續(xù)工作模式下功率最大為500w，光源功率可動(dòng)態(tài)、無級(jí)調(diào)節(jié)，觸發(fā)工作模式下峰值功率為3000w，觸發(fā)模式的開關(guān)周期最短可達(dá)0.1ms。發(fā)光部分采用多個(gè)led(lightemittingdiode，發(fā)光二極管)排列組成，可全部采用白光led，或白光led與紫外led交替排列、交錯(cuò)排列或平行排列，或白光led與紅外led交替排列、交錯(cuò)排列或平行排列，或紫外led、白光led與紅外led交替排列、交錯(cuò)排列或平行排列。線性光源結(jié)構(gòu)如圖5所示，led固定在光源底板上，柱狀光學(xué)元件蓋在led上，使發(fā)出的光匯聚成高強(qiáng)度的線性光，其中，入射光路可配備消偏器。如圖4所示，分光組件采集經(jīng)過薄膜反射(也可以是透射)后的光譜數(shù)據(jù)。在滾筒帶動(dòng)薄膜的成像方式下，光學(xué)系統(tǒng)的聚焦面可以是薄膜脫離滾筒后懸空的位置，也可以位于滾筒上。反射成像模式下，光源入射角為0至15°，可以使用1至3個(gè)光源從不同入射角度照射，光譜采集系統(tǒng)的反射角為0至15°。透射成像模式下，光源入射角為-15°至+15°，可以使用1至3個(gè)光源從不同入射角度照射，進(jìn)入光譜分光采集系統(tǒng)的光線與法線夾角為-15°至+15°。分光組件前端配備一個(gè)鏡頭，該鏡頭對(duì)各色光都具有良好的通過性，經(jīng)過鏡頭后的光進(jìn)入分光器件的狹縫，通過狹縫后，不同波長的光被分光器件在空間上被均勻展開，展開后的光譜分辨率最高可達(dá)1nm，最低為20nm。后端的面陣相機(jī)采集光譜數(shù)據(jù)，面陣相機(jī)具有連續(xù)平滑的光譜響應(yīng)曲線。如圖6所示，光譜成像的相機(jī)為一個(gè)面陣的數(shù)字相機(jī)，相機(jī)的每一列 對(duì)應(yīng)一小塊薄膜的光譜展開曲線。拍攝對(duì)象橫向物理尺寸為width，相機(jī)分辨率為n像素，則橫向空間分辨率為width/npixel，系統(tǒng)width最大為1m，npixel最大為2048，橫向空間分辨率最大為0.49mm，也可通過設(shè)置相鄰n(＝2，3，4，…)個(gè)像素進(jìn)行合并，獲得較低的分辨率。系統(tǒng)正常工作狀態(tài)下，橫向空間分辨率為0.49mm至49mm。在特殊工作狀態(tài)下，可任意選擇1至20個(gè)點(diǎn)，跟蹤、分析、檢測薄膜的光譜特性。面陣相機(jī)縱向像素分辨率最大為1088，也可通過像素合并得到更低分辨率。圖像的每一列對(duì)應(yīng)拍攝對(duì)象某一塊的光譜展開，展開的光譜最大可包含300至1200nm波長范圍，也可根據(jù)需要采集一部分光譜，比如380至780nm波長范圍。從采集到的數(shù)據(jù)中，選取一定數(shù)量的點(diǎn)，波長分辨率為0.5至10nm，一般不少于40個(gè)點(diǎn)，用于光譜計(jì)算和檢測。在特殊工作狀態(tài)下，可選擇1至40個(gè)點(diǎn)的光譜數(shù)據(jù)，用于跟蹤、分析、檢測薄膜的光譜特性。光譜成像系統(tǒng)能夠采集整個(gè)幅面寬度范圍的光譜，在產(chǎn)品運(yùn)動(dòng)同時(shí)，系統(tǒng)頻繁采集光譜圖像，實(shí)現(xiàn)間斷或連續(xù)的全寬度光譜采集；或者能夠采集部分幅面寬度范圍的光譜，在產(chǎn)品運(yùn)動(dòng)同時(shí)，系統(tǒng)頻繁采集光譜圖像，實(shí)現(xiàn)間斷或連續(xù)的部分寬度范圍的光譜采集；或者采集部分幅面寬度范圍的光譜，在產(chǎn)品運(yùn)動(dòng)同時(shí)，光譜成像系統(tǒng)在寬度方向往返移動(dòng)，系統(tǒng)頻繁采集光譜圖像，實(shí)現(xiàn)寬度方向多位置、長度方向間隔位置的光譜采集；或者使用多套分光組件及相機(jī)，采集不同位置的光譜圖像，分別處理或者進(jìn)行光譜圖像拼接后再處理。光譜成像系統(tǒng)曝光時(shí)間為ex_time，系統(tǒng)運(yùn)行速度為v，行進(jìn)方向光譜分辨率為v/ex_time，系統(tǒng)最大速度為v＝150m/min，系統(tǒng)最小曝光時(shí)間為ex_time＝1ms，此時(shí)對(duì)應(yīng)的行進(jìn)方向分辨率為2.5mm，也可通過降低運(yùn)行速度以提升行進(jìn)方向分辨率，或增大曝光時(shí)間以提升行進(jìn)方向分辨率。系統(tǒng)連續(xù)曝光工作狀態(tài)下，行進(jìn)方向光譜分辨率為2.5mm至100mm。系統(tǒng)可以間隔曝光，間隔時(shí)間為ex_skip，該時(shí)間范圍為0s至10s。另外，光譜檢測范圍為200nm至1000nm，根據(jù)檢測對(duì)象的特征，包含單峰光譜和多峰光譜兩種檢測方法：(一)單峰光譜系統(tǒng)自動(dòng)分析得到薄膜每個(gè)橫向細(xì)塊的主波長、半波寬、光譜強(qiáng)度(反射率)、分段積分能量、某個(gè)波長區(qū)間的主波長、某個(gè)波長區(qū)間的半波寬、某個(gè)波長區(qū)間的峰值強(qiáng)度、某個(gè)波長區(qū)間的能量積分等光譜指標(biāo)，檢測光譜是否合格，光譜檢測邏輯關(guān)系圖如表1所示(表1的參數(shù)格式同時(shí)適用于選取波長整個(gè)范圍、某個(gè)波長區(qū)間)。同時(shí)，計(jì)算各指標(biāo)超過參數(shù)范圍的值，得到缺陷值。表1測量值參數(shù)范圍單項(xiàng)檢測結(jié)論主波長/nm[peak_low,peak_high]合格/不合格半波寬/nm[wave_min,wave_max]合格/不合格強(qiáng)度[strength_min,strength_max]合格/不合格分段積分能量第1段能量[ei_min,ei_max](i＝1，...，n)合格/不合格其中，peak_low和peak_high分別為主波長低值閾值和主波長高值閾值；wave_min和wave_max分別為半波寬低值閾值和半波寬高值閾值；strength_min和strength_max分別為強(qiáng)度低值閾值和強(qiáng)度高值閾值；ei_min和ei_max分別為能量積分低值和能量積分高值。各個(gè)指標(biāo)的范圍可以人工設(shè)定，或者通過分析產(chǎn)品的光譜圖像數(shù)據(jù)自動(dòng)生成。自動(dòng)生成指系統(tǒng)分析一定數(shù)量合格產(chǎn)品的光譜信息，得到其光譜數(shù)據(jù)空間1；分析一定數(shù)量不合格產(chǎn)品的光譜信息，得到其光譜數(shù)據(jù)空間2；計(jì)算光譜數(shù)據(jù)空間1和光譜數(shù)據(jù)空間2的分割界線，即為合格與不合格的檢測閾值。除了表1所示的合格/不合格判斷方法，不合格程度可以細(xì)分為多個(gè)等級(jí)，表1中“單項(xiàng)檢測結(jié)論”的“合格/不合格”可細(xì)分為“合格/輕微不合格/一般不合格/嚴(yán)重不合格”。對(duì)于包含多幅的產(chǎn)品，可人工指定第一幅起始位置、各幅的寬度和幅間距離等，系統(tǒng)按照指定參數(shù)進(jìn)行光譜檢測。或系統(tǒng)自動(dòng)分析比較有效部分的光譜和間隔部分的光譜，得到第一幅起始位置、各幅的寬度和幅間距離等數(shù)據(jù)。此外，還可將光譜數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為ciexyz值、ciel*a*b*值、ciehab和值，根據(jù)自動(dòng)學(xué)習(xí)生成的合格數(shù)據(jù)范圍，或者人工指定的合格數(shù)據(jù)范 圍，在相關(guān)顏色空間(坐標(biāo)系統(tǒng))進(jìn)行合格/不合格檢測。(二)多峰光譜通過解耦可以得到多個(gè)單峰光譜，各個(gè)單峰光譜參考前述單峰光譜的方法進(jìn)行分析檢測，分析比較各個(gè)單峰光譜的能量積分、中心波長、主波長強(qiáng)度等參數(shù)指標(biāo)，進(jìn)行綜合分析。另外，在進(jìn)行反射圖像檢測的過程中，可以通過反射圖像顏色高低值范圍、高低值圖像模板、圖紋個(gè)數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度等指標(biāo)檢測反射圖像是否合格。各個(gè)指標(biāo)的范圍可以人工設(shè)定，或者通過分析合格產(chǎn)品的光譜圖像數(shù)據(jù)自動(dòng)生成。在進(jìn)行透射圖像檢測的過程中，可以通過透射圖像顏色高低值范圍、高低值圖像模板、圖紋個(gè)數(shù)、圖紋完整度、圖紋相似度等指標(biāo)檢測反射圖像是否合格。各個(gè)指標(biāo)的范圍可以人工設(shè)定，或者通過分析合格產(chǎn)品的光譜圖像數(shù)據(jù)自動(dòng)生成。圖像分析主站匯集光譜采集處理子系統(tǒng)、反射圖像采集與處理子系統(tǒng)、透射圖像采集與處理子系統(tǒng)的檢測信息，將它們轉(zhuǎn)換到一致的圖像分辨率，進(jìn)行圖像位置對(duì)準(zhǔn)，并將圖像位置與物理位置對(duì)準(zhǔn)，得到產(chǎn)品的檢測結(jié)果信息。某個(gè)圖像位置(i，j)的綜合缺陷值，為多個(gè)圖像缺陷數(shù)值的融合，如式(1)所示。其中，i表示采集圖像數(shù)據(jù)時(shí)的寬度方向，j表示采集圖像數(shù)據(jù)的長度方向，wn的范圍為[0,1]，表示每個(gè)位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷權(quán)重系數(shù)，blobn(i，j)的范圍為[0,255]，表示每個(gè)位置處的第n面向圖像數(shù)據(jù)缺陷值，其中，0表示沒有缺陷，255表示最嚴(yán)重的缺陷。totolblob(i，j)表示每個(gè)位置處的綜合缺陷值。具體地，通過成像參數(shù)、缺陷圖相比原圖的縮放比例可計(jì)算得到每個(gè)缺陷點(diǎn)的橫向分辨率為bxmm/pixel，那么第i個(gè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的橫向位置為i*bxmm。通過行進(jìn)方向采圖周期、行進(jìn)速度、缺陷圖相比原圖的縮放比例可計(jì)算得到每個(gè)缺陷點(diǎn)的縱向分辨率為bymm/pixel，那么第j個(gè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的橫向位置為j*bxmm。當(dāng)一個(gè)或多個(gè)檢測項(xiàng)不合格時(shí)，位置(i，j)即被判為不 合格。另外，也可以根據(jù)圖像數(shù)據(jù)和產(chǎn)品的橫向及縱向劃分規(guī)格參數(shù)，將圖像位置和細(xì)分單元進(jìn)行匹配，將i(寬度方向位置)對(duì)應(yīng)到幅、根等細(xì)分單元，將j(行進(jìn)方向位置)對(duì)應(yīng)到段等細(xì)分單元。分析主站判定某個(gè)位置產(chǎn)品不合格時(shí)，將相關(guān)信息進(jìn)行顯示存儲(chǔ)；或通知質(zhì)量標(biāo)記子系統(tǒng)，執(zhí)行缺陷標(biāo)記；或?qū)①|(zhì)量信息傳遞給后工序產(chǎn)品處理系統(tǒng)，后續(xù)對(duì)缺陷產(chǎn)品進(jìn)行處理。以上結(jié)合附圖詳細(xì)說明了本發(fā)明的技術(shù)方案，通過本發(fā)明的技術(shù)方案，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜質(zhì)量進(jìn)行自動(dòng)檢測，從而避免了不必要的人力資源浪費(fèi)，同時(shí)提升了薄膜質(zhì)量檢測結(jié)果的可靠性，進(jìn)而有利于提升薄膜檢測的效率和質(zhì)量。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。當(dāng)前第1頁12