專利名稱：光譜檢測(cè)系統(tǒng)及光譜儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及通信領(lǐng)域，具體而言，涉及一種光譜檢測(cè)系統(tǒng)及光譜儀。
背景技術(shù)：
密集波分復(fù)用(DenseWavelength Division Multiplexing，簡(jiǎn)稱為 DWDM)技術(shù)是一種寬帶光傳輸技術(shù)，它將多路不同波長(zhǎng)的光信號(hào)復(fù)用起來傳輸，傳輸后再解復(fù)出多路光信號(hào)，送入不同的通信終端。即在一根物理光纖上提供多個(gè)虛擬的光纖通道，從而可以節(jié)省大量的光纖資源。在DWDM系統(tǒng)中，主光通道參考點(diǎn)復(fù)用段各通道的性能(例如，光功率、光波長(zhǎng)和光信噪比(Optical Signal Noise I^atio，簡(jiǎn)稱為0SNR)是系統(tǒng)的重要參數(shù)，它體現(xiàn)了單信道傳輸性能，對(duì)提高系統(tǒng)復(fù)用段性能具有重要的意義。尤其是其中的中心波長(zhǎng)數(shù)據(jù)，直接影響到信號(hào)傳輸?shù)馁|(zhì)量和穩(wěn)定性。中心波長(zhǎng)發(fā)生大范圍的偏移，意味著整個(gè)傳輸系統(tǒng)的崩潰。因此，檢測(cè)中心波長(zhǎng)偏移具有非常重要的意義。在DWDM系統(tǒng)中，一般通過配置光譜檢測(cè)模塊進(jìn)行這些光學(xué)性能的檢測(cè)以達(dá)到校準(zhǔn)系統(tǒng)性能的目的。相關(guān)技術(shù)中，光譜檢測(cè)模塊有一個(gè)不可彌補(bǔ)的缺陷中心波長(zhǎng)偏移檢測(cè)精度僅僅為士 10GHz，即中心波長(zhǎng)偏差超過(-10GHz，+10GHz)。而DWDM系統(tǒng)對(duì)中心波長(zhǎng)偏移檢測(cè)精度是士5GHz，即中心波長(zhǎng)偏差值超過[-5GHz，+5GHz]的范圍時(shí)，即可檢測(cè)到波長(zhǎng)偏差。但是，目前只有單個(gè)光器件可以實(shí)現(xiàn)此功能，但是該光器件不具備檢測(cè)密集波分復(fù)用系統(tǒng)中主光路性能參數(shù)的功能。

實(shí)用新型內(nèi)容針對(duì)相關(guān)技術(shù)中單個(gè)光器件不具備檢測(cè)密集波分復(fù)用系統(tǒng)中主光路性能參數(shù)的功能的問題，本實(shí)用新型提供了一種光譜檢測(cè)系統(tǒng)及光譜儀，以解決上述問題至少之一。根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供了一種光譜檢測(cè)系統(tǒng)。根據(jù)本實(shí)用新型的光譜檢測(cè)系統(tǒng)，應(yīng)用于密集波分復(fù)用系統(tǒng)。該光譜檢測(cè)系統(tǒng)包括光譜檢測(cè)模塊，所述光譜檢測(cè)模塊包括輸入光接口單元，用于將接收到的光信號(hào)進(jìn)行傳送；光性能檢測(cè)單元，用于對(duì)來自于所述輸入光接口單元的光信號(hào)檢測(cè)主光路性能參數(shù)； 波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元，與所述光性能檢測(cè)單元相連接，用于對(duì)所述光性能檢測(cè)單輸出的光信號(hào)進(jìn)行波長(zhǎng)偏差檢測(cè)；微控制器單元(Micro-controller Unit，簡(jiǎn)稱為MCU)，分別與所述光性能檢測(cè)單元和所述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元相連接，用于根據(jù)用戶操作指令，控制所述光性能檢測(cè)單元和所述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元進(jìn)行檢測(cè)，并對(duì)來自于所述光性能檢測(cè)單元和所述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行處理。根據(jù)本實(shí)用新型的另一方面，提供了一種光譜儀。根據(jù)本實(shí)用新型的光譜儀包括上述光譜檢測(cè)模塊。通過本實(shí)用新型，采用將光性能檢測(cè)單元和波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元集成的光譜檢測(cè)模塊，對(duì)密集波分復(fù)用系統(tǒng)中主光路性能以及波長(zhǎng)偏差進(jìn)行檢測(cè)，解決了相關(guān)技術(shù)中單個(gè)光器件不具備檢測(cè)密集波分復(fù)用系統(tǒng)中主光路性能參數(shù)的功能的問題，從而既可用于現(xiàn)有 DffDM系統(tǒng)，測(cè)量主光通道中各單通道的中心波長(zhǎng)、光功率、OSNR等光學(xué)性能參數(shù)，也可用于系統(tǒng)校準(zhǔn)，即檢測(cè)到中心波長(zhǎng)的偏差，然后對(duì)該單波進(jìn)行調(diào)整。

此處所說明的附圖用來提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分， 本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中圖1根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的光譜檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；圖2為根據(jù)本實(shí)用新型優(yōu)選實(shí)施例的光譜檢測(cè)系統(tǒng)中光譜檢測(cè)模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)例一的光譜檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；圖4為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)例二的光譜檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實(shí)施方式
下文中將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本實(shí)用新型。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，提供了一種光譜檢測(cè)系統(tǒng)。圖1根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的光譜檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。其中，該光譜檢測(cè)系統(tǒng)， 可以應(yīng)用于密集波分復(fù)用系統(tǒng)。如圖1所示，該光譜檢測(cè)系統(tǒng)包括但不限于光譜檢測(cè)模塊 10。該光譜檢測(cè)模塊10進(jìn)一步包括輸入光接口單元100、光性能檢測(cè)單元102、波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元104以及MCU106，以下分別進(jìn)行描述上述各單元。輸入光接口單元100，用于將接收到的光信號(hào)進(jìn)行傳送；光性能檢測(cè)單元102，用于對(duì)來自于輸入光接口單元的光信號(hào)檢測(cè)主光路性能參數(shù)；其中，上述主光路性能參數(shù)主要為主光通道中各單通道的中心波長(zhǎng)、光功率、OSNR
等參數(shù)。波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元104，與光性能檢測(cè)單元相連接，用于對(duì)光性能檢測(cè)單輸出的光信號(hào)進(jìn)行波長(zhǎng)偏差檢測(cè)；微控制器單元(MCU) 106，分別與光性能檢測(cè)單元和波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元相連接，用于根據(jù)用戶操作指令，控制光性能檢測(cè)單元和波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元進(jìn)行工作，并對(duì)來自于光性能檢測(cè)單元和波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行處理。上述光譜檢測(cè)系統(tǒng)，包含有集成了光性能檢測(cè)單元102以及波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元 104的光譜檢測(cè)模塊，既可用于現(xiàn)有DWDM系統(tǒng)，測(cè)量主光通道中各單通道的中心波長(zhǎng)、光功率、OSNR等光學(xué)性能參數(shù)，也可用于系統(tǒng)校準(zhǔn)，即檢測(cè)到中心波長(zhǎng)的偏差，然后對(duì)該單波進(jìn)行調(diào)整。優(yōu)選地，上述光譜檢測(cè)模塊10還可以包括供電電源108，分別與光性能檢測(cè)單元以及波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元相連接。在實(shí)際使用中，上述光性能檢測(cè)單元和波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元均需要供電，可以將供電電源內(nèi)置在光譜檢測(cè)模塊中。當(dāng)然，也可以設(shè)置在光譜檢測(cè)模塊之外。即可以通過外接電源或者內(nèi)置的電源實(shí)現(xiàn)對(duì)上述功能單元的供電。優(yōu)選地，光譜檢測(cè)模塊10還可以包括光濾波器110，其光信號(hào)輸入端連接至輸入光接口單元，其光信號(hào)輸出端連接至光性能檢測(cè)單元，其控制端連接至MCU;則供電電源 108，還與光濾波器相連接。優(yōu)選地，微控制器單元(MCU) 106，還用于根據(jù)用戶操作指令，控制光濾波器對(duì)不同波段的光信號(hào)進(jìn)行濾波操作。優(yōu)選地，上述輸入光接口單元100可以為法蘭盤。在具體實(shí)施過程中，輸入光纖通過法蘭盤與檢測(cè)部分(光性能檢測(cè)單元和波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元)相連，完成信號(hào)的采集和處理。優(yōu)選地，上述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元104對(duì)中心波長(zhǎng)的偏差檢測(cè)精度為士5GHz。上述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元的檢測(cè)精度很高，可以達(dá)到士5GHz，有效滿足了用戶的高精度測(cè)量需求。以下結(jié)合圖2描述上述優(yōu)選的光譜檢測(cè)模塊。圖2為根據(jù)本實(shí)用新型優(yōu)選實(shí)施例的光譜檢測(cè)系統(tǒng)中光譜檢測(cè)模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，該光譜檢測(cè)模塊包括以下幾部分供電電源20(相當(dāng)于上述供電電源 108)、光濾波器22 (相當(dāng)于上述光濾波器110)、光性能檢測(cè)單元對(duì)(相當(dāng)于上述光性能檢測(cè)單元10 、波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元沈(相當(dāng)于上述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元104)、法蘭盤洲(相當(dāng)于上述輸入光接口單元100)、以及MCU30 (相當(dāng)于上述MCU106)。其中，法蘭盤接收光信號(hào)，將光信號(hào)發(fā)送至光濾波器22，光濾波器22根據(jù)來自于 MCU的控制指令，對(duì)光信號(hào)進(jìn)行濾波操作，濾除某些波段的光信號(hào)。經(jīng)過光濾波器22處理后的光信號(hào)輸出至光性能檢測(cè)單元對(duì)，光性能檢測(cè)單元在MCU的控制下進(jìn)行檢測(cè)，并將檢測(cè)結(jié)果發(fā)送至MCU。光信號(hào)經(jīng)過光性能檢測(cè)單元M檢測(cè)后，再經(jīng)波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元沈檢測(cè)， 并將檢測(cè)結(jié)果發(fā)送至MCU。MCU將來自于光性能檢測(cè)單元和波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行處理，并通過通信接口輸出。該光譜檢測(cè)模塊還內(nèi)置有供電電源，分別與光濾波器22、 光性能檢測(cè)單元對(duì)、波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元沈相連接，對(duì)這幾個(gè)模塊進(jìn)行供電。優(yōu)選地，上述光譜檢測(cè)系統(tǒng)還可以包括人機(jī)交互接口模塊，與光譜檢測(cè)模塊相連接，用于將接收到的用戶操作指令發(fā)送至光譜檢測(cè)模塊，并顯示光譜檢測(cè)模塊輸出的檢測(cè)結(jié)果。在優(yōu)選實(shí)施過程中，光譜檢測(cè)模塊與人機(jī)交互接口模塊可以通過USB接口進(jìn)行連接。在優(yōu)選實(shí)施過程中，上述人機(jī)交互接口模塊可以為以下至少之一 PC (PersonalComputer)終端、觸摸屏。以下結(jié)合圖3和圖4的示例描述上述優(yōu)選實(shí)施方式。圖3為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)例一的光譜檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。如圖3所示，該系統(tǒng)包括上述光譜檢測(cè)模塊30和上述人機(jī)交互接口模塊。其中，上述光譜檢測(cè)模塊30實(shí)現(xiàn)對(duì)光譜的光譜掃描及中心波長(zhǎng)偏差分析；上述人機(jī)交互接口模塊為PC終端32。具體地，該P(yáng)C 終端通過USB接口與上述光譜檢測(cè)模塊進(jìn)行連接，用戶可以利用鍵盤、鼠標(biāo)及PC機(jī)專用應(yīng)用程序，完成數(shù)據(jù)測(cè)量、計(jì)算等人機(jī)交互動(dòng)作。[0041]圖4為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)例二的光譜檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。如圖4所示，該系統(tǒng)包括上述光譜檢測(cè)模塊40和上述人機(jī)交互接口模塊。其中，上述光譜檢測(cè)模塊40實(shí)現(xiàn)對(duì)光譜的光譜掃描及中心波長(zhǎng)偏差分析；上述人機(jī)交互接口模塊為觸摸屏42。具體地，通過 USB接口的線纜連接器將上述光譜檢測(cè)模塊與觸摸屏連接，直接在觸摸屏上完成功能菜單切換等人機(jī)交互動(dòng)作。根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，還提供了一種光譜儀。該光譜儀內(nèi)置有上面提到的光譜檢測(cè)模塊。在優(yōu)選實(shí)施過程中，上述光譜檢測(cè)模塊可以單獨(dú)使用，也可以內(nèi)置在光譜儀中。圖 3與圖4中的光譜檢測(cè)模塊也可以內(nèi)置在光譜儀，并將光譜儀與人機(jī)交互接口模塊連接，以使光譜儀響應(yīng)用戶操作指令，既可以測(cè)量主光通道中各單通道的中心波長(zhǎng)、光功率、OSNR等光學(xué)性能參數(shù)，也可用于系統(tǒng)校準(zhǔn)，即檢測(cè)到中心波長(zhǎng)的偏差，然后對(duì)該單波進(jìn)行調(diào)整，保證系統(tǒng)正常穩(wěn)定的運(yùn)轉(zhuǎn)。綜上所述，借助本實(shí)用新型提供的上述實(shí)施例，光譜檢測(cè)模塊可以測(cè)量主光通道中各單通道的中心波長(zhǎng)、光功率、OSNR等光學(xué)性能參數(shù)，也可以精確檢測(cè)到中心波長(zhǎng)的偏差，且集成后的光譜檢測(cè)模塊體積較小，成本較低，使用便捷，操作簡(jiǎn)易，目標(biāo)針對(duì)性增強(qiáng)。 并且可根據(jù)不同的使用環(huán)境，靈活配置各功能組件，這都是現(xiàn)有技術(shù)所不可比擬的。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該明白，上述的本實(shí)用新型的各模塊或各步驟可以用通用的計(jì)算裝置來實(shí)現(xiàn)，它們可以集中在單個(gè)的計(jì)算裝置上，或者分布在多個(gè)計(jì)算裝置所組成的網(wǎng)絡(luò)上，可選地，它們可以用計(jì)算裝置可執(zhí)行的程序代碼來實(shí)現(xiàn)，從而，可以將它們存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置中由計(jì)算裝置來執(zhí)行，并且在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟，或者將它們分別制作成各個(gè)集成電路模塊，或者將它們中的多個(gè)模塊或步驟制作成單個(gè)集成電路模塊來實(shí)現(xiàn)。這樣，本實(shí)用新型不限制于任何特定的硬件和軟件結(jié)合。以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本實(shí)用新型，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本實(shí)用新型可以有各種更改和變化。凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種光譜檢測(cè)系統(tǒng)，應(yīng)用于密集波分復(fù)用系統(tǒng)，其特征在于，所述光譜檢測(cè)系統(tǒng)包括光譜檢測(cè)模塊，所述光譜檢測(cè)模塊包括 輸入光接口單元，用于將接收到的光信號(hào)進(jìn)行傳送；光性能檢測(cè)單元，用于對(duì)來自于所述輸入光接口單元的光信號(hào)檢測(cè)主光路性能參數(shù)； 波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元，與所述光性能檢測(cè)單元相連接，用于對(duì)所述光性能檢測(cè)單輸出的光信號(hào)進(jìn)行波長(zhǎng)偏差檢測(cè)；微控制器單元MCU，分別與所述光性能檢測(cè)單元和所述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元相連接，用于根據(jù)用戶操作指令，控制所述光性能檢測(cè)單元和所述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元進(jìn)行檢測(cè)，并對(duì)來自于所述光性能檢測(cè)單元和所述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行處理。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述光譜檢測(cè)模塊還包括 供電電源，分別與所述光性能檢測(cè)單元以及所述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元相連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光譜檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述光譜檢測(cè)模塊還包括光濾波器，其光信號(hào)輸入端連接至所述輸入光接口單元，其光信號(hào)輸出端連接至所述光性能檢測(cè)單元，其控制端連接至所述MCU ；則所述供電電源，還與所述光濾波器相連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光譜檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述MCU，還用于根據(jù)用戶操作指令，控制所述光濾波器對(duì)不同波段的光信號(hào)進(jìn)行濾波操作。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述輸入光接口單元為法蘭盤。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的光譜檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元對(duì)中心波長(zhǎng)的偏差檢測(cè)精度為士5GHz。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的光譜檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包括人機(jī)交互接口模塊，與所述光譜檢測(cè)模塊相連接，用于將接收到的所述用戶操作指令發(fā)送至所述光譜檢測(cè)模塊，并顯示所述光譜檢測(cè)模塊輸出的檢測(cè)結(jié)果。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光譜檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述光譜檢測(cè)模塊與所述人機(jī)交互接口模塊通過USB接口進(jìn)行連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光譜檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述人機(jī)交互接口模塊為以下至少之一 PC終端、觸摸屏。
10.一種光譜儀，其特征在于，包括如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的光譜檢測(cè)模塊。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種光譜檢測(cè)系統(tǒng)及光譜儀，上述光譜檢測(cè)系統(tǒng)包括光譜檢測(cè)模塊，該模塊包括輸入光接口單元，用于將接收到的光信號(hào)進(jìn)行傳送；光性能檢測(cè)單元，用于對(duì)來自于輸入光接口單元的光信號(hào)檢測(cè)主光路性能參數(shù)；波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元，與光性能檢測(cè)單元相連接，用于對(duì)光性能檢測(cè)單輸出的光信號(hào)進(jìn)行波長(zhǎng)偏差檢測(cè)；微控制器單元，分別與光性能檢測(cè)單元和波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元相連接，用于根據(jù)用戶操作指令，控制光性能檢測(cè)單元和波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元進(jìn)行檢測(cè)，并對(duì)來自于光性能檢測(cè)單元和波長(zhǎng)偏差檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行處理。根據(jù)本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案，既可以測(cè)量主光路性能參數(shù)，也可檢測(cè)中心波長(zhǎng)的偏差。
文檔編號(hào)H04Q11/00GK202143067SQ201120003488
公開日2012年2月8日 申請(qǐng)日期2011年1月7日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月7日
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