1.一種信號處理裝置，其特征在于，包括：
信號輸入模塊，用于接收一脈沖信號；
信號處理模塊，用于確認所述脈沖信號中電平變化位置，并在所述脈沖信號的電平變化位置添加一忽略標記；以及
信號輸出模塊，用于輸出所述信號處理模塊處理后的所述脈沖信號。
2.如權利要求1所述的信號處理裝置，其特征在于，所述脈沖信號為芯片測試時所采用的脈沖測試信號。
3.如權利要求1所述的信號處理裝置，其特征在于，所述信號處理模塊包括：
確認模塊，用于確認所述脈沖信號中電平變化位置；以及
標記模塊，用于在所述脈沖信號的電平變化位置添加所述忽略標記。
4.權利要求3所述的信號處理裝置，其特征在于，所述電平變化位置為所述脈沖信號中自高電平至低電平的位置和自低電平至高電平的位置。
5.如權利要求4所述的信號處理裝置，其特征在于，所述確認模塊用于確認所述脈沖信號中自高電平至低電平的第一位置和自低電平至高電平的第二位置。
6.一種信號處理方法，其特征在于，包括如下步驟：
接收一脈沖信號；
確認所述脈沖信號中電平變化位置，并在所述脈沖信號的電平變化位置添加一忽略標記；以及
輸出經過處理后的所述脈沖信號。
7.如權利要求6所述的信號處理方法，其特征在于，所述脈沖信號為芯片測試時所采用的脈沖測試信號。
8.如權利要求6所述的信號處理方法，其特征在于，所述電平變化位置為所述脈沖信號中自高電平至低電平的第一位置和自低電平至高電平的第二位置。
9.如權利要求8所述的信號處理方法，其特征在于，確認所述脈沖信號中電平變化位置，并在所述脈沖信號的電平變化位置添加一忽略標記的步驟包括：
確認所述脈沖信號中所述第一位置和/或所述第二位置，并在所述第一位置和/或所述第二位置添加所述忽略標記。
10.一種信號偏移檢測系統(tǒng)，用于芯片的信號測試，其特征在于，包括：
一信號處理裝置，用于接收脈沖測試信號,并在所述脈沖測試信號的電平變化位置添加一忽略標記，并輸出一脈沖處理信號；以及
一測試裝置，用于接收所述脈沖處理信號和所述芯片輸出的實測脈沖信號，并比較所述脈沖處理信號和所述實測脈沖信號中的對應位置的邏輯電平是否一致；
其中，所述測試裝置比較所述脈沖處理信號中除所述電平變化位置之外的第三位置與所述實測脈沖信號中與所述第三位置相對應的第四位置的邏輯電平是否一致。
11.如權利要求10所述的信號偏移檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述電平變化位置為所述脈沖信號中自高電平至低電平的第一位置和自低電平至高電平的第二位置。
12.如權利要求10所述的信號偏移檢測系統(tǒng)，其特征在于，當所述測試裝置比較所述脈沖處理信號和所述實測脈沖信號的邏輯電平一致時，表示芯片輸出的結果正確；當所述測試裝置比較所述脈沖處理信號和所述實測脈沖信號的邏輯電平不一致時，表示芯片輸出的結果錯誤。
13.如權利要求10所述的信號偏移檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述信號處理裝置包括：
信號輸入模塊，用于接收所述脈沖測試信號；
信號處理模塊，用于確認所述脈沖測試信號中電平變化位置，并在所述脈沖測試信號的電平變化位置添加所述忽略標記；以及
信號輸出模塊，用于輸出處理后的所述脈沖處理信號。
14.如權利要求13所述的信號處理裝置，其特征在于，所述信號處理模塊包括：
確認模塊，用于確認所述脈沖測試信號中電平變化位置；
標記模塊，用于在所述脈沖測試信號的電平變化位置添加所述忽略標記。
15.如權利要求10所述的信號偏移檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述測試裝置包括：
信號輸入模塊，用于接收所述脈沖處理信號和所述實測脈沖信號；
信號讀取模塊，用于讀取所述脈沖處理信號中添加所述忽略標記的電平變化位置；以及
信號比較模塊，用于接收經所述信號讀取模塊讀取后的結果,并檢測所述脈沖處理信號中所述電平變化位置的所述忽略標記,并比較所述脈沖處理信號中的第三位置與所述實測脈沖信號中的第四位置的邏輯電平是否一致。
16.如權利要求15所述的信號偏移檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述信號比較模塊在檢測到所述脈沖處理信號中的所述忽略標記時，取消所述忽略標記處的所述脈沖處理信號與所述實測脈沖信號的邏輯電平比較操作。
17.一種信號偏移檢測方法，用于芯片的信號測試，包括如下步驟：
確認脈沖測試信號中電平變化位置，在所述電平變化位置添加一忽略標記，并輸出脈沖處理信號；
比較所述脈沖處理信號中除所述電平變化位置之外的第三位置與芯片輸出的實測脈沖信號中與所述第三位置相對應的第四位置的邏輯電平是否一致；其中,
當所述脈沖處理信號與所述實測脈沖信號的邏輯電平一致時，表示芯片輸出的結果正確；
當所述脈沖處理信號與所述實測脈沖信號的邏輯電平不一致時，表示芯片輸出的結果錯誤。