技術總結
本發(fā)明屬于F元素微區(qū)原位測試技術領域，具體涉及一種用于測定天然礦物中F含量的電子探針定量分析方法。本發(fā)明的方法包括以下步驟：將天然礦物樣品磨制成待測樣品，對待測樣品與標準樣品鍍碳；利用X射線能譜譜圖查找確定待測含F(xiàn)礦物；在相同定量分析條件下依次測量標準樣品計數(shù)強度以及待測含F(xiàn)礦物計數(shù)強度；對比分析標準樣品計數(shù)強度和待測含F(xiàn)礦物計數(shù)強度，對對比分析結果進行修正，得到F元素含量。本發(fā)明解決了現(xiàn)有方法對天然礦物中F元素含量測量不準確的技術問題，通過詳細周密的實驗方案設計，最大限度地排除了測試過程中的干擾因素，確定了最佳的電子探針分析測試條件，實現(xiàn)了準確測定微觀尺度下天然礦物中F元素含量。

技術研發(fā)人員：葛祥坤;艾鈺潔;范光
受保護的技術使用者：核工業(yè)北京地質研究院
文檔號碼：201510885168
技術研發(fā)日：2015.12.04
技術公布日：2017.06.13