技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明尤其提供了一種用于輻射成像系統(tǒng)的檢測(cè)器陣列(300)。該檢測(cè)器陣列包括多個(gè)檢測(cè)器元件。各個(gè)檢測(cè)器元件尤其包括閃爍體(304)和光電檢測(cè)器(306)。在一些實(shí)施例中，所述檢測(cè)器元件中的兩個(gè)或更多個(gè)檢測(cè)器元件之間共用閃爍體。在一些實(shí)施例中，兩個(gè)或更多個(gè)檢測(cè)器元件之間具有很少甚至幾乎沒(méi)有被配置成減輕檢測(cè)器元件之間的串?dāng)_的反射材料。

技術(shù)研發(fā)人員：魯溫·戴馳;A·利特溫;弗拉丹·里斯丹維克
受保護(hù)的技術(shù)使用者：模擬技術(shù)公司
技術(shù)研發(fā)日：2014.10.16
技術(shù)公布日：2017.07.04