技術(shù)編號(hào)：12811146
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請(qǐng)涉及輻射成像系統(tǒng)的一種間接轉(zhuǎn)換檢測(cè)器陣列。本申請(qǐng)尤其適用于醫(yī)療、安全和/或工業(yè)領(lǐng)域，其中，輻射成像系統(tǒng)用于識(shí)別/查看被檢查的對(duì)象的內(nèi)部特定部位(aspects)。背景技術(shù)如今，諸如計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)系統(tǒng)、數(shù)字投影系統(tǒng)和/或行掃描系統(tǒng)之類的輻射成像系統(tǒng)例如對(duì)于提供被檢查對(duì)象的內(nèi)部特定部分的信息或圖像是有用的。對(duì)象被暴露于輻射光子(例如，X射線光子、伽馬射線光子等)的射線并且穿過對(duì)象的輻射光子通過檢測(cè)器陣列被檢測(cè)，該檢測(cè)器陣列被設(shè)置成相對(duì)于對(duì)象與輻射源大體上徑向相對(duì)。對(duì)輻射光子被對(duì)象衰減(...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。