一種塑料顆粒用分析天平的制作方法
【專利摘要】一種塑料顆粒用分析天平，包括框體、位于所述框體下方的支撐腳、位于所述支撐腳之間的收集箱、位于所述框體右側(cè)的手持塊、與手持快固定連接的連接桿、設置于所述連接桿上的電機、與電機連接的卡勾、設置于所述框體上表面的固定柱、固定柱所支撐的漏斗、設置于所述漏斗內(nèi)的緩沖片、設置于所述框體內(nèi)的支撐柱、托盤、與托盤固定連接的托桿、位于所述支撐柱一側(cè)的收容柱、位于所述支撐柱右側(cè)的固定架及延伸臂，所述位于所述支撐柱左側(cè)的托桿下方設有一通槽。本實用新型塑料顆粒用分析天平由于結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，提高了工作效率，滿足了用戶的需求。
【專利說明】一種塑料顆粒用分析天平

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種天平，尤其涉及一種塑料顆粒用分析天平。

【背景技術】
[0002]分析天平主要用于測量產(chǎn)品的質(zhì)量以觀察其物理屬性。然而由于塑料顆粒其本身的因素，使得使用分析天平在進行測量塑料顆粒時，使用不方便，且難以進行準確測量。
[0003]因此，有必要提供一種新的技術方案以克服上述缺陷。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單且測量方便的塑料顆粒用分析天平。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用如下技術方案:一種塑料顆粒用分析天平，所述塑料顆粒用分析天平包括框體、位于所述框體下方的支撐腳、位于所述支撐腳之間的收集箱、位于所述框體右側(cè)的手持塊、與手持快固定連接的連接桿、設置于所述連接桿上的電機、與電機連接的卡勾、設置于所述框體上表面的固定柱、固定柱所支撐的漏斗、設置于所述漏斗內(nèi)的緩沖片、設置于所述框體內(nèi)的支撐柱、托盤、與托盤固定連接的托桿、位于所述支撐柱一側(cè)的收容柱、位于所述支撐柱右側(cè)的固定架及延伸臂，所述位于所述支撐柱左側(cè)的托桿下方設有一通槽。
[0006]所述框體呈長方體。
[0007]所述支撐腳的上表面與所述框體的下表面固定連接。
[0008]所述收容柱的上端向左傾斜，所述收容柱與所述支撐柱之間形成一開口。
[0009]所述延伸臂位于所述固定架的下方，所述延伸臂呈L型。
[0010]所述手持塊呈長方體且位于所述框體外。
[0011]與現(xiàn)有技術相比，本實用新型具有如下有益效果:本實用新型塑料顆粒用分析天平由于結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，提高了工作效率，滿足了用戶的需求。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1為本實用新型塑料顆粒用分析天平的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實施方式】
[0013]如圖1所示，本實用新型塑料顆粒用分析天平主要包括框體1、位于所述框體I下方的支撐腳2、位于所述支撐腳2之間的收集箱3、位于所述框體I右側(cè)的手持塊5、與手持快5固定連接的連接桿6、設置于所述連接桿6上的電機7、與電機7連接的卡勾8、設置于所述框體I上表面的固定柱16、固定柱16所支撐的漏斗4、設置于所述漏斗4內(nèi)的緩沖片15、設置于所述框體I內(nèi)的支撐柱13、托盤10、與托盤10固定連接的托桿11、位于所述支撐柱13 —側(cè)的收容柱17、位于所述支撐柱13右側(cè)的固定架19及延伸臂21。
[0014]如圖1所示，所述框體I呈長方體。所述支撐腳2的上表面與所述框體I的下表面固定連接。所述收集箱3上表面向下凹陷形成一凹槽。所述支撐柱13的下表面與所述框體I的下內(nèi)壁固定連接，所述支撐柱13的上表面固定連接有儀表盤14，用于顯示質(zhì)量。所述托盤10位于所述支撐柱13的兩側(cè)，且其上表面的兩端設有呈傾斜的擋板。所述托盤10的下表面設有托桿11。所述托桿11及托盤10可以轉(zhuǎn)動。所述位于所述支撐柱13左側(cè)的托桿11下方設有一通槽12，其與所述托盤10的上表面相通。所述托桿11的另一端設有開口。所述支撐柱13的左側(cè)還設有一收容柱17，所述收容柱17的上端向左傾斜。所述收容柱17與所述支撐柱13之間形成一開口 20，使得測試完的塑料顆粒從此流出。所述支撐柱13右側(cè)設有一固定架19，所述固定架19的一端與所述框體I的下內(nèi)壁固定連接，所述固定架19與所述框體I的左內(nèi)壁之間形成一通道，使得測試完成后砝碼落至所述延伸臂21上。所述延伸臂21位于所述固定架19的下方，所述延伸臂21呈L型。所述手持塊5呈長方體且位于所述框體I外。所述連接桿6 —端與所述手持塊5的左表面固定連接，另一端穿過所述框體I的右壁延伸至所述框體I內(nèi)與所述電機7固定連接，所述電機7與所述卡勾8連接使得所述卡勾8可以上下移動，從而將延伸臂21上的砝碼勾住然后送至右側(cè)的托盤上。所述固持柱為成分那個題，所述漏斗15上部分等腰梯形，下部分為圓柱體。所述圓柱體部分內(nèi)側(cè)設有緩沖片，以使得塑料顆粒緩慢落至所述左側(cè)的托盤上。
[0015]如圖1所示，本實用新型塑料顆粒用分析天平工作時，首先將塑料顆粒放置漏斗15上，待塑料顆粒全部落至左側(cè)托盤10后，加至砝碼使得兩托盤平行，待測量完畢后，使用卡勾8繼續(xù)勾住砝碼放置右側(cè)的托盤10，直至右側(cè)托盤頂靠在所述固定架19上。然后左側(cè)托盤10內(nèi)的塑料顆粒通過通槽12落至所述收集箱4內(nèi)，同時砝碼不斷的同所述右側(cè)托盤10上滑落，通過所述固定架19落至所述延伸臂21上，至此本分析天平的工作過程結(jié)束。
[0016]顯然，上述實施例僅僅是為了清楚地說明所作的舉例，而并非對實施方式的限定。對于所屬領域的普通技術人員來說，在上述說明的基礎上還可以做出其他不同形式的變化或者變動。這里無需也無法對所有實施方式予以窮舉。而由此所引申出的顯而易見的變化或者變動仍處于本實用新型創(chuàng)造的保護范圍之中。
【權(quán)利要求】
1.一種塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述塑料顆粒用分析天平包括框體、位于所述框體下方的支撐腳、位于所述支撐腳之間的收集箱、位于所述框體右側(cè)的手持塊、與手持快固定連接的連接桿、設置于所述連接桿上的電機、與電機連接的卡勾、設置于所述框體上表面的固定柱、固定柱所支撐的漏斗、設置于所述漏斗內(nèi)的緩沖片、設置于所述框體內(nèi)的支撐柱、托盤、與托盤固定連接的托桿、位于所述支撐柱一側(cè)的收容柱、位于所述支撐柱右側(cè)的固定架及延伸臂，所述位于所述支撐柱左側(cè)的托桿下方設有一通槽。
2.如權(quán)利要求1所述之塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述框體呈長方體。
3.如權(quán)利要求2所述之塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述支撐腳的上表面與所述框體的下表面固定連接。
4.如權(quán)利要求3所述之塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述收容柱的上端向左傾斜，所述收容柱與所述支撐柱之間形成一開口。
5.如權(quán)利要求4所述之塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述延伸臂位于所述固定架的下方，所述延伸臂呈L型。
6.如權(quán)利要求5所述之塑料顆粒用分析天平，其特征在于:所述手持塊呈長方體且位于所述框體外。
【文檔編號】G01N5/00GK204188479SQ201420612842
【公開日】2015年3月4日 申請日期:2014年10月22日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月22日
【發(fā)明者】李玉生 申請人:天津思邁德高分子科技有限公司