計量芯片的異常檢測及解決方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種計量芯片的異常檢測及解決方法，包括以下步驟：(1)、上電，將標準參數(shù)寫入計量芯片內(nèi)；(2)、時間段N計時；(3)、檢測以下幾點：a、檢測電網(wǎng)頻率，b、檢測電網(wǎng)電壓；c、檢測功率(4)、時間段N計時時間到，管理芯片MCU讀取計量芯片的參數(shù)，如果該參數(shù)與標準參數(shù)一致，則返回步驟(2)；否則，管理芯片MCU將計量芯片初始化，同時返回步驟(2)；該方法能夠檢測到計量芯片異常且能夠恢復，從而可有效提高表計的可靠性及穩(wěn)定性。
【專利說明】計量芯片的異常檢測及解決方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及電能表【技術領域】，具體講是一種計量芯片的異常檢測及解決方法。
【背景技術】
[0002]計量芯片是一種高精度的電能表電能計量模塊。當計量芯片收到外界的干擾時，會造成計量芯片復位、死機等問題，進而出現(xiàn)計量值長時間偏大或偏小或完全不計量的情況，影響電能的正常計量。而該故障可通過軟件處理修復。因此，基于上述原因，亟待需要一種計量芯片的異常檢測及解決方法，該方法能夠檢測到計量芯片異常且能夠恢復，從而可有效提高表計的可靠性及穩(wěn)定性，以解決上述問題。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本發(fā)明要解決的技術問題是，提供一種計量芯片的異常檢測及解決方法，該方法能夠檢測到計量芯片異常且能夠恢復，從而可有效提高表計的可靠性及穩(wěn)定性。
[0004]本發(fā)明的技術方案是，提供一種計量芯片的異常檢測及解決方法，包括以下步驟:
[0005](I)、電能表上電，管理芯片MCU將標準參數(shù)寫入計量芯片內(nèi)；
[0006](2)、時間段N開始計時；
[0007](3)、計量芯片檢測以下幾點:
[0008]a、檢測電網(wǎng)頻率，如果計量芯片檢測到的電網(wǎng)頻率連續(xù)M次檢測到偏出標準頻率的一定值L，執(zhí)行步驟則判斷出計量芯片計量異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化；否則，執(zhí)行步驟⑷；
[0009]b、檢測電網(wǎng)電壓，如果計量芯片檢測到的輸入電壓低于電能表啟動電壓或者計量芯片檢測到的輸入電壓高于電能表最大額定電壓，則判斷計量芯片異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化；否則，執(zhí)行步驟(d);
[0010]C、檢測功率，如果計量芯片長時間K的檢測到功率高于電能表的最大額定功率，則判斷計量芯片異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化；否則，執(zhí)行步驟(d);
[0011]d、返回執(zhí)行步驟(3);
[0012](4)、時間段N計時時間到，管理芯片MCU讀取計量芯片的參數(shù)，如果該參數(shù)與標準參數(shù)一致，則返回步驟⑵；否則，管理芯片MCU將計量芯片初始化，同時返回步驟⑵；
[0013]所述計量芯片的異常檢測及解決方法還包括以下步驟:(5)、如果計量芯片連續(xù)長時間T的檢測到計量功率為零，則判斷計量芯片異常，則判斷計量芯片異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化。
[0014]所述的時間段N為I分鐘。
[0015]所述的M次為3次；所述的一定值L為10%。
[0016]所述的長時間K為5分鐘。
[0017]所述的長時間T為48小時。
[0018]采用以上方法后，本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比，具有以下優(yōu)點:
[0019]本發(fā)明計量芯片的異常檢測及解決方法通過實時檢測電網(wǎng)頻率、電壓、功率的數(shù)據(jù)，來通過判斷數(shù)據(jù)異常的方法來判斷計量芯片是否異常，同時還通過讀取計量芯片內(nèi)參數(shù)的方法來檢測計量芯片是否異常，如果發(fā)現(xiàn)上述異常則通過初始化(掉電，重新上電，通過MCU重新寫入數(shù)據(jù))的方法來解決。而當計量芯片收到外界的干擾時，任何的改變都可以被上述的檢測監(jiān)測到而使得計量芯片初始化，從而避免長時間出現(xiàn)計量值偏大或偏小或完全不計量的情況，進而保證了電能的正常計量。
[0020]作為改進，所述計量芯片的異常檢測及解決方法還包括以下步驟:(5)、如果計量芯片連續(xù)長時間T的檢測到計量功率為零，則判斷計量芯片異常，則判斷計量芯片異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化。該步驟能夠解決計量芯片因收到干擾而鎖死導致長時間不計量的情況。
【具體實施方式】
[0021]下面結合具體實施例對本發(fā)明作進一步說明。
[0022]本發(fā)明一種計量芯片的異常檢測及解決方法，包括以下步驟:
[0023](I)、電能表上電，管理芯片MCU將標準參數(shù)寫入計量芯片內(nèi)，該標準參數(shù)為電能表的固定參數(shù)，其已經(jīng)經(jīng)過試驗取得；
[0024](2)、時間段N開始計時，一般是一分鐘；
[0025](3)、計量芯片檢測以下幾點:
[0026]a、檢測電網(wǎng)頻率，如果計量芯片檢測到的電網(wǎng)頻率連續(xù)M次檢測到偏出標準頻率的一定值L，執(zhí)行步驟則判斷出計量芯片計量異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化；否貝1J，執(zhí)行步驟(d);如果電網(wǎng)頻率是50Hz的話，那么偏出的值為5Hz，即只要電網(wǎng)頻率超出45Hz-55Hz，即判異常。
[0027]b、檢測電網(wǎng)電壓，如果計量芯片檢測到的輸入電壓低于電能表啟動電壓或者計量芯片檢測到的輸入電壓高于電能表最大額定電壓，則判斷計量芯片異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化；否則，執(zhí)行步驟(d)般的話，在電網(wǎng)電壓是220V的話，那么只要電網(wǎng)電壓超出110V-440V，即判異常。
[0028]C、檢測功率，如果計量芯片長時間K的檢測到功率高于電能表的最大額定功率，則判斷計量芯片異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化；否則，執(zhí)行步驟(d);最大額定功率在電能表上會標注
[0029]d、返回執(zhí)行步驟(3);即在時間段N內(nèi)是連續(xù)監(jiān)測電網(wǎng)頻率、電網(wǎng)電壓和功率的數(shù)據(jù)，即實時監(jiān)測。
[0030](4)、時間段N計時時間到，管理芯片MCU讀取計量芯片的參數(shù)，如果該參數(shù)與標準參數(shù)一致，則返回步驟⑵；否則，管理芯片MCU將計量芯片初始化，同時返回步驟⑵；
[0031]所述計量芯片的異常檢測及解決方法還包括以下步驟:(5)、如果計量芯片連續(xù)長時間T的檢測到計量功率為零，則判斷計量芯片異常，則判斷計量芯片異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化。
[0032]所述的時間段N為I分鐘。
[0033]所述的M次為3次；所述的一定值L為10%。
[0034]所述的長時間K為5分鐘。
[0035]所述的長時間T為48小時。
[0036]以上僅就本發(fā)明的最佳實施例作了說明，但不能理解為是對權利要求的限制。本發(fā)明不僅限于以上實施例，其具體結構允許有變化。但凡在本發(fā)明獨立權利要求的保護范圍內(nèi)所作的各種變化均在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
【權利要求】
1.一種計量芯片的異常檢測及解決方法，其特征在于:包括以下步驟: (1)、電能表上電，管理芯片MCU將標準參數(shù)寫入計量芯片內(nèi)； (2)、時間段N開始計時； (3)、計量芯片檢測以下幾點: a、檢測電網(wǎng)頻率，如果計量芯片檢測到的電網(wǎng)頻率連續(xù)M次檢測到偏出標準頻率的一定值L，執(zhí)行步驟則判斷出計量芯片計量異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化；否則，執(zhí)行步驟⑷； b、檢測電網(wǎng)電壓，如果計量芯片檢測到的輸入電壓低于電能表啟動電壓或者計量芯片檢測到的輸入電壓高于電能表最大額定電壓，則判斷計量芯片異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化；否則，執(zhí)行步驟(d); c、檢測功率，如果計量芯片長時間K的檢測到功率高于電能表的最大額定功率，則判斷計量芯片異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化；否則，執(zhí)行步驟(d); d、返回執(zhí)行步驟(3); (4)、時間段N計時時間到，管理芯片MCU讀取計量芯片的參數(shù)，如果該參數(shù)與標準參數(shù)一致，則返回步驟⑵；否則，管理芯片MCU將計量芯片初始化，同時返回步驟(2)。
2.根據(jù)權利要求1所述計量芯片的異常檢測及解決方法，其特征在于:所述計量芯片的異常檢測及解決方法還包括以下步驟:(5)、如果計量芯片連續(xù)長時間T的檢測到計量功率為零，則判斷計量芯片異常，則判斷計量芯片異常，管理芯片MCU將計量芯片初始化。
3.根據(jù)權利要求1所述計量芯片的異常檢測及解決方法，其特征在于:所述的時間段N為I分鐘。
4.根據(jù)權利要求1所述計量芯片的異常檢測及解決方法，其特征在于:所述的M次為3次；所述的一定值L為10%。
5.根據(jù)權利要求1所述計量芯片的異常檢測及解決方法，其特征在于:所述的長時間K為5分鐘。
6.根據(jù)權利要求2所述計量芯片的異常檢測及解決方法，其特征在于:所述的長時間T為48小時。
【文檔編號】G01R35/04GK104502883SQ201410841959
【公開日】2015年4月8日 申請日期:2014年12月30日 優(yōu)先權日:2014年12月30日
【發(fā)明者】鄭堅江, 杜小濤, 章躍平, 程雪莉 申請人:寧波三星電氣股份有限公司