技術(shù)特征：
1.一種鋼板缺陷識(shí)別方法，其特征在于：包括以下步驟：步驟一、超聲儀啟動(dòng)并初始化，上位機(jī)向超聲儀發(fā)送控制參數(shù)；步驟二、超聲探頭裝置(1)啟動(dòng)并根據(jù)超聲儀中的控制參數(shù)進(jìn)行工作，超聲探頭裝置(1)在被測(cè)鋼板上移動(dòng)，上位機(jī)獲取超聲探頭裝置(1)對(duì)鋼板檢測(cè)點(diǎn)的實(shí)時(shí)位置坐標(biāo)數(shù)據(jù)，形成檢測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)數(shù)據(jù)組W＝[(x1,y1),(x2,y2),...,(xj,yj),...,(xb,yb)]，其中j和b均為正整數(shù)，1≤j≤b，b為檢測(cè)點(diǎn)總數(shù)，(xj,yj)為第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的位置坐標(biāo)，xj表示第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)在鋼板長(zhǎng)度方向上的值，yj表示第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)在鋼板寬度方向上的值；超聲探頭裝置(1)向被測(cè)鋼板發(fā)射超聲波，同時(shí)接收來(lái)自鋼板的超聲波回波信號(hào)，其中，超聲波回波信號(hào)包括自鋼板表面反射的起始信號(hào)、自缺陷位置反射的缺陷信號(hào)、自鋼板底面反射的底波信號(hào)；步驟三、超聲儀采集并存儲(chǔ)超聲探頭裝置(1)返回的各個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的回波信號(hào)；步驟四、超聲儀根據(jù)鋼板中聲速和增益對(duì)回波信號(hào)進(jìn)行處理，進(jìn)而針對(duì)每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)位置，對(duì)應(yīng)的獲取被測(cè)鋼板范圍內(nèi)回波信號(hào)形成的深度-幅值波形曲線，從而形成深度-幅值波形曲線數(shù)據(jù)組A＝[A1,A2,...,Aj,...,Ab]，其中j和b均為正整數(shù)，1≤j≤b，b為檢測(cè)點(diǎn)總數(shù)，Aj表示第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的深度-幅值波形曲線；超聲儀將深度-幅值波形曲線數(shù)據(jù)組A中的曲線數(shù)據(jù)上傳到上位機(jī)中；步驟五、上位機(jī)對(duì)深度-幅值波形曲線數(shù)據(jù)組A進(jìn)行后續(xù)處理；首先，自深度-幅值波形曲線數(shù)據(jù)組A中獲取每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的起始信號(hào)幅值，從而形成初始信號(hào)幅值數(shù)據(jù)組I＝[I1,I2,...,Ij,...,Ib]，自深度-幅值波形曲線數(shù)據(jù)組A中獲取每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的底波幅值，從而形成底波幅值數(shù)據(jù)組D＝[D1,D2,...,Dj,...,Db]；計(jì)算初始信號(hào)幅值平均值計(jì)算底波幅值平均值其中j和b均為自然數(shù)，1≤j≤b，b為檢測(cè)點(diǎn)總數(shù)，Dj表示第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)在其相應(yīng)的深度-幅值波形曲線Aj上對(duì)應(yīng)的底波信號(hào)幅值；對(duì)深度-幅值波形曲線數(shù)據(jù)組A進(jìn)行預(yù)處理，即對(duì)深度-幅值波形曲線數(shù)據(jù)組A中每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的深度-幅值波形曲線進(jìn)行截取，保留被測(cè)鋼板的表面至底面深度范圍內(nèi)回波信號(hào)對(duì)應(yīng)的波形，從而形成缺陷波形曲線數(shù)據(jù)組B＝[B1,B2,...,Bj,...,Bb]，其中j和b均為正整數(shù)，1≤j≤b，Bj表示第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的缺陷波形曲線，b為檢測(cè)點(diǎn)總數(shù)；對(duì)缺陷波形曲線數(shù)據(jù)組B中每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的缺陷波形曲線進(jìn)行求導(dǎo)計(jì)算，從而獲取相應(yīng)檢測(cè)點(diǎn)缺陷波形曲線中的所有波峰點(diǎn)，從而構(gòu)建波峰點(diǎn)信息數(shù)據(jù)組C＝[C1,C2,...,Cj,...,Cb]；Cj＝[C[j][1],C[j][2]]，C[j][1]＝(Sj0,Sj1,...,Sji,...,Sja)，C[j][2]＝(Fj0,Fj1,...,Fji,...,Fja)；其中j和b均為自然數(shù)，1≤j≤b，b為檢測(cè)點(diǎn)總數(shù)，Cj表示第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的缺陷波形曲線Bj中包含的所有波峰點(diǎn)信息數(shù)據(jù)組；i和a均為自然數(shù)，0≤i≤a，a為波峰點(diǎn)總數(shù)，C[j][1]表示第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的缺陷深度數(shù)組，Sji為第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的缺陷波形曲線Bj中第i個(gè)波峰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的缺陷深度值，C[j][2]為第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的缺陷幅值數(shù)組，F(xiàn)ji為第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的缺陷波形曲線Bj中第i個(gè)波峰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的缺陷信號(hào)幅值；整理各個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的信息數(shù)據(jù)，構(gòu)建一個(gè)信息數(shù)據(jù)庫(kù)M＝[M1,M2,...,Mj,...,Mb]，Mj＝[(xj,yj),Cj,Dj]，其中j和b均為自然數(shù)，1≤j≤b，b為檢測(cè)點(diǎn)總數(shù)，Mj表示第j個(gè)檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的信息數(shù)據(jù)集；步驟六、待超聲探頭裝置(1)對(duì)被測(cè)鋼板掃查完畢后，針對(duì)任一坐標(biāo)為(xn,yn)的檢測(cè)點(diǎn)，其中1≤n≤b，n和b均為正整數(shù)，b為檢測(cè)點(diǎn)總數(shù)；根據(jù)其相應(yīng)的缺陷深度數(shù)組C[n][1]中各波峰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的缺陷深度值，對(duì)檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)相對(duì)應(yīng)的信息數(shù)據(jù)集Mn進(jìn)行整合；即檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)對(duì)應(yīng)的缺陷波形曲線Bn中，依次相鄰的兩個(gè)波峰點(diǎn)中，當(dāng)后一個(gè)波峰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的缺陷深度值減去前一個(gè)波峰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的缺陷深度值的差的絕對(duì)值小于深度相關(guān)性閾值q時(shí)，將后一個(gè)波峰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的信息數(shù)據(jù)與前一個(gè)波峰點(diǎn)對(duì)應(yīng)的信息數(shù)據(jù)歸為一個(gè)子信息數(shù)據(jù)集；否則，新建一個(gè)子信息數(shù)據(jù)集；以此類推，從而形成檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)相對(duì)應(yīng)的子信息數(shù)據(jù)集群：Pn＝[Pn1,Pn2,...,Pnm,...,Pnk]，其中m和k均為正整數(shù)，1≤m≤k，k為檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)對(duì)應(yīng)的子信息數(shù)據(jù)集總數(shù)，Pnm表示檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)相對(duì)應(yīng)的子信息數(shù)據(jù)集群Pn中第m個(gè)子信息數(shù)據(jù)集；針對(duì)子信息數(shù)據(jù)集群Pn＝[Pn1,Pn2,...,Pnm,...,Pnk]中的每一個(gè)子信息數(shù)據(jù)集，獲取其缺陷深度極值數(shù)據(jù)組Ln＝[Ln1,Ln2,...,Lnm,...,Lnk]，Lnm＝(MaxC[nm][1],MinC[nm][1])，其中m和k均為正整數(shù)，1≤m≤k，k為檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)對(duì)應(yīng)的子信息數(shù)據(jù)集總數(shù)，Lnm表示檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)相對(duì)應(yīng)的子信息數(shù)據(jù)集群Pn中第m個(gè)子信息數(shù)據(jù)集Pnm中的缺陷深度極值，MaxC[nm][1]表示其缺陷深度最大值，MinC[nm][1]表示其缺陷深度最小值；將所有檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的波峰點(diǎn)信息數(shù)據(jù)進(jìn)行整合后形成新的信息數(shù)據(jù)庫(kù)M'＝[P1,P2,...,Pn,...,Pb]，其中n和b均為自然數(shù)，1≤n≤b，b為檢測(cè)點(diǎn)總數(shù)，Pn表示第n個(gè)檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)相對(duì)應(yīng)的子信息數(shù)據(jù)集群；同時(shí)獲取所有檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的子信息數(shù)據(jù)集群中各子信息數(shù)據(jù)集相對(duì)應(yīng)的缺陷深度極值數(shù)據(jù)集L＝[L1,L2,...,Ln,...,Lb]，其中n和b均為自然數(shù)，1≤n≤b，b為檢測(cè)點(diǎn)總數(shù)，Ln表示第n個(gè)檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)相對(duì)應(yīng)的缺陷深度極值數(shù)據(jù)組；針對(duì)任一坐標(biāo)為(xn,yn)的檢測(cè)點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的缺陷深度極值數(shù)據(jù)組Ln＝[Ln1,Ln2,...,Lnm,...,Lnk]中的每一個(gè)缺陷深度極值數(shù)據(jù)，其中m和k均為正整數(shù)，1≤m≤k，k為檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)對(duì)應(yīng)的子信息數(shù)據(jù)集總數(shù)；搜索檢測(cè)點(diǎn)(xn,yn)所在八領(lǐng)域范圍{(xn,yn-1)；(xn,yn+1)；(xn-1,yn-1)；(xn-1,yn)；(xn-1,yn+1)；(xn+1,yn-1)；(xn+1,yn)；(xn+1,yn+1)}內(nèi)各檢測(cè)點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的缺陷深度極值數(shù)據(jù)組中的每一個(gè)缺陷深度極值數(shù)據(jù)，如果缺陷深度極值數(shù)據(jù)存在交集，則將其對(duì)應(yīng)的檢測(cè)點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的子信息數(shù)據(jù)集進(jìn)行合并；如此，將所有檢測(cè)點(diǎn)的子信息數(shù)據(jù)集根據(jù)缺陷深度極值數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)搜索整合處理后，構(gòu)建新的缺陷信息數(shù)據(jù)庫(kù)Q＝[Q1,Q2,...,Qu,...,Qz]，其中u和z為正整數(shù)，1≤u≤z，z為子缺陷信息數(shù)據(jù)集總數(shù)，Qu表示第u個(gè)缺陷的子缺陷信息數(shù)據(jù)集；步驟七、計(jì)算缺陷信息數(shù)據(jù)庫(kù)Q＝[Q1,Q2,...,Qu,...,Qz]中各子缺陷信息數(shù)據(jù)集的相對(duì)應(yīng)的缺陷參數(shù)，從而獲取缺陷參數(shù)數(shù)組V＝[V1,V2,...,Vu,...,Vz]，其中u和z為正整數(shù)，1≤u≤z，z為子缺陷信息數(shù)據(jù)集總數(shù)，Vu表示第u個(gè)子缺陷信息數(shù)據(jù)集的缺陷參數(shù)；其中v代表字缺陷數(shù)據(jù)集Qu中包含的檢測(cè)點(diǎn)總數(shù)，x表示鋼板長(zhǎng)度方向上的兩個(gè)相鄰的檢測(cè)點(diǎn)中心之間的距離，y表示鋼板寬度方向上兩個(gè)相鄰的檢測(cè)點(diǎn)中心之間的距離，MaxC[e][1]表示缺陷數(shù)據(jù)集Qu中第e個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的缺陷深度最大值，MinC[e][1]表示缺陷數(shù)據(jù)集Qu中第e個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的缺陷深度最小值；同時(shí)計(jì)算信息數(shù)據(jù)庫(kù)Q＝[Q1,Q2,...,Qu,...,Qz]中各子缺陷信息數(shù)據(jù)集的相對(duì)應(yīng)的平均幅值，從而獲取缺陷平均幅值數(shù)組其中u和z為正整數(shù)，1≤u≤z，z為子缺陷信息數(shù)據(jù)集總數(shù)，表示第u個(gè)子缺陷信息數(shù)據(jù)集的平均幅值；將缺陷參數(shù)數(shù)組V＝[V1,V2,...,Vu,...,Vz]中的每個(gè)缺陷參數(shù)與疏松缺陷閾值R1進(jìn)行比較，如果Vu<R1，則判斷缺陷參數(shù)Vu對(duì)應(yīng)的子缺陷數(shù)據(jù)集Qu對(duì)應(yīng)的鋼板缺陷類型為疏松缺陷；.剔除掉信息數(shù)據(jù)庫(kù)Q＝[Q1,Q2,...,Qu,...,Qz]中疏松缺陷對(duì)應(yīng)的信息數(shù)據(jù)集，將剩余的各信息數(shù)據(jù)集相對(duì)應(yīng)的缺陷參數(shù)及平均幅值分別與分層缺陷閾值R2及幅值閾值f進(jìn)行比較，如果R2<Vu<1且則判斷缺陷參數(shù)Vu對(duì)應(yīng)的子缺陷數(shù)據(jù)集Qu對(duì)應(yīng)的鋼板缺陷類型為分層缺陷；步驟八、剔除掉信息數(shù)據(jù)庫(kù)Q＝[Q1,Q2,...,Qu,...,Qz]中疏松缺陷和分層缺陷相對(duì)應(yīng)的子缺陷信息數(shù)據(jù)集，將剩余的各子缺陷信息數(shù)據(jù)集在二維平面上進(jìn)行偽彩色圖像重構(gòu)，形成相應(yīng)的子集圖像，然后針對(duì)子集圖像進(jìn)行形態(tài)學(xué)分析，從而獲取鋼板缺陷類型為裂紋缺陷或者氣孔缺陷；計(jì)算各子集圖像的近圓度T以判斷鋼板的氣孔缺陷，計(jì)算各子集圖像的細(xì)長(zhǎng)度G以判斷鋼板的裂紋缺陷；其中T＝S/(π×d2/4)，其中T表示近圓度，S表示子集圖像包含的面積，d表示子集圖像中最遠(yuǎn)兩點(diǎn)的距離，當(dāng)近圓度T≤t時(shí)，則認(rèn)為該子集圖像相對(duì)應(yīng)的子數(shù)據(jù)集所對(duì)應(yīng)的鋼板缺陷為氣孔型缺陷，其中t為近圓度閾值；G＝S/(h×l)，其中I表示細(xì)長(zhǎng)度，S表示子集圖像所占據(jù)的面積，h表示子集圖像中最遠(yuǎn)兩點(diǎn)的距離，l表示子集圖像中與h方向相垂直方向上的平均寬度，當(dāng)細(xì)長(zhǎng)度G≤g時(shí)，則判斷該子集圖像相對(duì)應(yīng)的子數(shù)據(jù)集所對(duì)應(yīng)的鋼板缺陷為裂紋型缺陷，其中，g為細(xì)長(zhǎng)度閾值。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋼板缺陷識(shí)別方法，其特征在于：所述步驟二中，超聲探頭裝置(1)由輔助行走器械帶動(dòng)在鋼板上弓形移動(dòng)，所述輔助行走器械上設(shè)置有編碼器以實(shí)時(shí)獲取超聲探頭裝置(1)在鋼板上檢測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鋼板缺陷識(shí)別方法，其特征在于：所述超聲探頭裝置(1)包括多個(gè)并列設(shè)置的超聲探頭，形成超聲探頭組，所述超聲探頭組中多個(gè)超聲探頭的排列方向與所述超聲探頭裝置(1)對(duì)鋼板的掃查方向相垂直；相應(yīng)地，所述超聲儀為多通道超聲儀；輔助行走器械為具有兩個(gè)承重輪的探傷車，兩個(gè)承重輪上分別安裝一編碼器；探傷車將超聲探頭組從鋼板的一側(cè)帶到另一側(cè)后，以其中一個(gè)承重輪為固定點(diǎn)，另外一個(gè)承重輪進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，從而完成超聲探頭裝置(1)在鋼板上的弓形行走路線。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鋼板缺陷識(shí)別方法，其特征在于：所述超聲探頭裝置(1)在被測(cè)鋼板上移動(dòng)的過(guò)程中，利用噴淋耦合機(jī)構(gòu)在超聲探頭裝置(1)與被測(cè)鋼板接觸區(qū)噴灑耦合劑。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋼板缺陷識(shí)別方法，其特征在于：所述上位機(jī)具有人機(jī)交互界面，通過(guò)人機(jī)交互界面輸入控制命令及系統(tǒng)參數(shù)。