Led測試裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種LED測試裝置，屬于LED照明領(lǐng)域。包括積分球和支撐架，所述積分球架設(shè)在支撐架上，還包括振動(dòng)器、光學(xué)分析儀、電性測試儀和控制主機(jī)；振動(dòng)器穿入積分球內(nèi)，振動(dòng)器的上部連接試件承載板，試件承載板電連接電性測試儀；積分球上安裝用于采集積分球內(nèi)的漫反射光線的光采集器，光采集器連接光學(xué)分析儀，光學(xué)分析儀和電性測試儀連接控制主機(jī)；積分球內(nèi)設(shè)有加熱層；積分球上設(shè)有冷氣輸入孔。本發(fā)明可以快速測試LED試件高溫、低溫、常溫及振動(dòng)等環(huán)境下LED試件的光、色及電等性能參數(shù)，避免了LED試件測試時(shí)頻繁更換設(shè)備，提高了LED試件的測試效率。
【專利說明】LED測試裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電燈測試裝置，具體講是一種LED測試裝置，屬于LED照明領(lǐng)域。

【背景技術(shù)】
[0002]目前，LED在照明領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，特別是隨著液晶顯示技術(shù)的快速發(fā)展，LED作為液晶顯示面板的背光源得到了更為廣泛的應(yīng)用，其原因在于，與冷陰極射線管相比，LED具體功耗低、壽命長等優(yōu)點(diǎn)。
[0003]LED生產(chǎn)廠家在生產(chǎn)了大批量的LED之后，通常會(huì)抽取部分樣品進(jìn)行LED的性能測試?，F(xiàn)有技術(shù)中使用LED的性能測試裝置，通常僅能測試LED的單一環(huán)境下的一種性能，對于LED不同環(huán)境下的多性能測試，要分別采用各種不同的測試裝置，給LED測試帶來了諸多不便，影響了測試效率。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于克服現(xiàn)有技術(shù)缺陷，提供一種能全面測試不同環(huán)境下LED的各種性能測試裝置。
[0005]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供的LED測試裝置，包括積分球和支撐架，所述積分球架設(shè)在支撐架上，還包括振動(dòng)器、光學(xué)分析儀、電性測試儀和控制主機(jī)；所述振動(dòng)器穿入積分球內(nèi)，所述振動(dòng)器的上部連接試件承載板，所述試件承載板電連接電性測試儀；所述積分球上安裝用于采集積分球內(nèi)的漫反射光線的光采集器，所述光采集器連接光學(xué)分析儀，所述光學(xué)分析儀和電性測試儀連接控制主機(jī)；所述積分球內(nèi)設(shè)有加熱層；所述積分球上設(shè)有冷氣輸入孔。
[0006]本發(fā)明的測試裝置可以快速測試LED試件高溫、低溫、常溫及振動(dòng)等環(huán)境下LED試件的光、色及電等性能參數(shù)，避免了 LED試件測試時(shí)頻繁更換設(shè)備，提高了 LED試件的測試效率。
[0007]積分球外包覆保溫層，可以保證測試環(huán)境更逼真，測得的LED試件性能更準(zhǔn)確。
[0008]振動(dòng)器包括上部和下部，所述振動(dòng)器下部與上部之間彈性連接，可以進(jìn)一步提高振動(dòng)效果，同時(shí)減少與積分球之間的摩擦。
[0009]振動(dòng)器與積分球連接處設(shè)有彈性密封件，使振動(dòng)器與積分球連接密封更好。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1為本發(fā)明LED測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0011]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0012]如圖1所示，本發(fā)明LED測試裝置，包括支撐架1、積分球2、振動(dòng)器、光學(xué)分析儀10、電性測試儀8和控制主機(jī)11。積分球2固定架設(shè)在支撐架1上。振動(dòng)器設(shè)置在積分球2的下方，振動(dòng)器包括底座3、振動(dòng)發(fā)生部4和振動(dòng)平臺(tái)5，振動(dòng)平臺(tái)5和振動(dòng)發(fā)生部4通過彈簧15連接，彈簧15內(nèi)設(shè)有活動(dòng)連桿，振動(dòng)平臺(tái)5穿入積分球2的內(nèi)部，振動(dòng)平臺(tái)5上平面連接試件承載板6，振動(dòng)平臺(tái)5與積分球2的連接處設(shè)有密封膠條15。
[0013]試件承載板6上可擺放LED試件7，試件承載板6電連接電性測試儀8，電性測試儀8連接控制主機(jī)11。
[0014]積分球2內(nèi)設(shè)有加熱層13，用于積分球2的加溫；外包覆保溫層12 ;積分球2上設(shè)有可密封開孔，開孔可以冷氣連接，用于積分球2內(nèi)部制冷。外包覆保溫層12，要提高積分球2加熱和制冷效果。
[0015]積分球2上安裝光采集器14，光采集器14用于采集積分球內(nèi)的漫反射光線，光采集器14連接光學(xué)分析儀10，光學(xué)分析儀10連接控制主機(jī)11。
[0016]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下還可以做出若干改進(jìn)，這些改進(jìn)也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種120測試裝置，包括積分球和支撐架，所述積分球架設(shè)在支撐架上，其特征在于:還包括振動(dòng)器、光學(xué)分析儀、電性測試儀和控制主機(jī)；所述振動(dòng)器穿入積分球內(nèi)，所述振動(dòng)器的上部連接試件承載板，所述試件承載板電連接電性測試儀；所述積分球上安裝用于采集積分球內(nèi)的漫反射光線的光采集器，所述光采集器連接光學(xué)分析儀，所述光學(xué)分析儀和電性測試儀連接控制主機(jī)；所述積分球內(nèi)設(shè)有加熱層；所述積分球上設(shè)有冷氣輸入孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的1^0測試裝置，其特征在于:所述積分球外包覆保溫層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的120測試裝置，其特征在于:所述振動(dòng)器包括上部和下部，所述振動(dòng)器下部與上部之間彈性連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的120測試裝置，其特征在于:所述振動(dòng)器與積分球連接處設(shè)有彈性密封件。
【文檔編號(hào)】G01R31/44GK104459569SQ201410775414
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年12月16日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月16日
【發(fā)明者】楊耀武 申請人:常熟卓輝光電科技股份有限公司