色度測(cè)試方法和色度測(cè)試設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種色度測(cè)試方法和色度測(cè)試設(shè)備。所述色度測(cè)試方法包括：S1.測(cè)量待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸；S2.根據(jù)步驟S1中測(cè)量得到的像素的尺寸確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑；S3.根據(jù)步驟S2中確定的孔徑選擇相應(yīng)的透光孔對(duì)所述待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行色度測(cè)試。本發(fā)明在進(jìn)行色度測(cè)試之前首先對(duì)待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量，然后根據(jù)實(shí)測(cè)信息選擇合適的透光孔進(jìn)行測(cè)試，減少了因透光孔選擇不恰當(dāng)而導(dǎo)致的時(shí)間的浪費(fèi)，在保證測(cè)試準(zhǔn)確性的同時(shí)提高了測(cè)試效率。
【專利說明】色度測(cè)試方法和色度測(cè)試設(shè)備

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種色度測(cè)試方法和色度測(cè)試設(shè)備。

【背景技術(shù)】
[0002]顯示產(chǎn)品在制造過程中，通常需要對(duì)彩膜的色坐標(biāo)進(jìn)行測(cè)試?，F(xiàn)有色坐標(biāo)測(cè)試技術(shù)重點(diǎn)關(guān)注的是如何收集到準(zhǔn)確的光線，以及如何減小測(cè)試光斑的直徑，以滿足窄線寬像素的測(cè)試，然而測(cè)試光斑越小，測(cè)試時(shí)間越長(zhǎng)，如果用直徑2 μ m的光斑去測(cè)試線寬50 μ m的像素的色度，會(huì)造成時(shí)間的浪費(fèi)。
[0003]色度測(cè)試設(shè)備中配備有透光孔，光束通過透光孔形成上述光斑。對(duì)于同一束光，通過改變透光孔的大小來改變測(cè)試光斑的大小。在現(xiàn)有技術(shù)中，往往根據(jù)產(chǎn)品包裝上描述的相關(guān)信息來準(zhǔn)備相應(yīng)的測(cè)試用透光孔，然而在實(shí)際測(cè)試過程中，可能會(huì)出現(xiàn)選擇不恰當(dāng)，甚至錯(cuò)誤的情況，既不能保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，又浪費(fèi)了時(shí)間。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于提供一種色度測(cè)試方法和色度測(cè)試設(shè)備，在保證測(cè)試準(zhǔn)確性的同時(shí)，提高測(cè)試效率。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，作為本發(fā)明的第一個(gè)方面，提供一種利用色度測(cè)試設(shè)備進(jìn)行色度測(cè)試的色度測(cè)試方法，所述色度測(cè)試設(shè)備包括色譜分析裝置和測(cè)試頭，所述測(cè)試頭包括透光孔，所述方法包括以下步驟:
[0006]S1、測(cè)量待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸；
[0007]S2、根據(jù)步驟SI中測(cè)量得到的像素的尺寸確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑；
[0008]S3、根據(jù)步驟S2中確定的孔徑選擇相應(yīng)的透光孔對(duì)所述待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行色度測(cè)試。
[0009]優(yōu)選地，步驟S3包括:
[0010]S31、判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑是否滿足測(cè)試要求；
[0011]S32、如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑滿足測(cè)試要求，則對(duì)所述待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試；
[0012]S33、如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑不滿足測(cè)試要求，則根據(jù)步驟S2中確定的孔徑更換相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試；
[0013]其中，步驟S31包括:
[0014]判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑與步驟S2中確定的孔徑是否一致。
[0015]優(yōu)選地，步驟SI包括:
[0016]S11、獲取待測(cè)試產(chǎn)品的像素的圖片；
[0017]S12、根據(jù)步驟Sll中獲取的像素的圖片計(jì)算出該像素的灰度值；
[0018]S13、根據(jù)步驟S12中計(jì)算出的灰度值計(jì)算出該像素的尺寸。
[0019]優(yōu)選地，所述像素包括多個(gè)亞像素，所述尺寸包括所述像素的每個(gè)亞像素的寬度。
[0020]優(yōu)選地，步驟S2還包括:
[0021]S21a、將待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸與預(yù)存的樣本像素的尺寸進(jìn)行對(duì)比；
[0022]S22a、根據(jù)對(duì)比結(jié)果確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑。
[0023]優(yōu)選地，在步驟S22a中，當(dāng)所述亞像素的寬度大于25 μ m時(shí)，選擇孔徑為20 μ m的透光孔；當(dāng)所述亞像素的寬度小于25 μ m時(shí)，選擇孔徑為10 μ m的透光孔。
[0024]作為本發(fā)明的第二個(gè)方面，還提供一種色度測(cè)試設(shè)備，包括色譜分析裝置和測(cè)試頭，所述色譜分析裝置包括:
[0025]測(cè)量模塊，用于測(cè)量待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸；
[0026]控制模塊，與所述測(cè)量模塊相連，用于根據(jù)測(cè)量得到的所述待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑；
[0027]所述測(cè)試頭包括:
[0028]透光孔切換器，所述透光孔切換器上設(shè)置有多個(gè)具有不同孔徑的透光孔，所述透光孔切換器與所述控制模塊相連，用于根據(jù)所述控制模塊確定的孔徑選取相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試。
[0029]優(yōu)選地，所述控制模塊能夠判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑是否滿足測(cè)試要求，如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑不滿足測(cè)試要求，所述控制模塊控制所述透光孔切換器切換至相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試。
[0030]優(yōu)選地，所述測(cè)量模塊包括圖像采集子模塊，用于獲取待測(cè)試產(chǎn)品的像素的圖片。
[0031]優(yōu)選地，所述圖像采集子模塊包括電荷耦合元件。
[0032]優(yōu)選地，所述測(cè)量模塊還包括圖像處理子模塊，所述圖像處理子模塊能夠根據(jù)所述待測(cè)試產(chǎn)品的像素的圖片計(jì)算出該像素的灰度值，并根據(jù)該像素的灰度值計(jì)算出該像素的尺寸。
[0033]優(yōu)選地，所述色譜分析裝置還包括對(duì)比模塊，所述對(duì)比模塊內(nèi)預(yù)存有樣本像素的尺寸，所述對(duì)比模塊與所述測(cè)量模塊相連，用于將所述待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸與樣本像素的尺寸進(jìn)行對(duì)比，并將對(duì)比結(jié)果反饋給所述控制模塊，所述控制模塊根據(jù)對(duì)比結(jié)果來確定用于測(cè)試的透光孔的孔徑。
[0034]本發(fā)明在進(jìn)行色度測(cè)試之前首先對(duì)待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量，然后根據(jù)實(shí)測(cè)信息選擇合適的透光孔進(jìn)行測(cè)試，減少了因透光孔選擇不恰當(dāng)而導(dǎo)致的時(shí)間的浪費(fèi)，在保證測(cè)試準(zhǔn)確性的同時(shí)提高了測(cè)試效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0035]附圖是用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的【具體實(shí)施方式】一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。
[0036]圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的色度測(cè)試方法的流程圖；
[0037]圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的色度測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0038]以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描述的【具體實(shí)施方式】?jī)H用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。
[0039]本發(fā)明首先提供一種利用色度測(cè)試設(shè)備進(jìn)行色度測(cè)試的色度測(cè)試方法，該方法尤其適合于測(cè)試顯示產(chǎn)品的色坐標(biāo)。
[0040]圖1是所述方法的流程圖，包括以下步驟:
[0041]S1、測(cè)量待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸；
[0042]S2、根據(jù)步驟SI中測(cè)量得到的像素的尺寸確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑；
[0043]S3、根據(jù)步驟S2中確定的孔徑選擇相應(yīng)的透光孔對(duì)所述待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行色度測(cè)試。
[0044]在色度測(cè)試過程中，通常需要使測(cè)試光斑的大小與待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸相匹配，以保證測(cè)試的準(zhǔn)確性，并節(jié)約測(cè)試時(shí)間。對(duì)于同一束光來說，通過改變色度測(cè)試設(shè)備中的透光孔的大小就可以改變測(cè)試光斑的大小。
[0045]本發(fā)明在進(jìn)行色度測(cè)試之前首先對(duì)待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量，獲得待測(cè)試產(chǎn)品的像素的實(shí)際尺寸信息，然后根據(jù)實(shí)測(cè)信息選擇合適的透光孔進(jìn)行準(zhǔn)確的色度測(cè)試。因此，本發(fā)明方法減少了因透光孔選擇不恰當(dāng)而導(dǎo)致的時(shí)間的浪費(fèi)，在保證測(cè)試準(zhǔn)確性的同時(shí)提高了測(cè)試效率。
[0046]進(jìn)一步地,步驟S3包括:
[0047]S31、判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑是否滿足測(cè)試要求；
[0048]S32、如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑滿足測(cè)試要求，則對(duì)所述待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試；
[0049]S33、如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑不滿足測(cè)試要求，則根據(jù)步驟S2中確定的孔徑更換相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試；
[0050]其中，步驟S31包括:
[0051]判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑與步驟S2中確定的孔徑是否一致。
[0052]本發(fā)明方法根據(jù)像素的實(shí)測(cè)信息來選擇具有合適孔徑的透光孔進(jìn)行測(cè)試，使透光孔的測(cè)試范圍與像素的尺寸相匹配，能夠提高相應(yīng)的測(cè)試設(shè)備的稼動(dòng)率，進(jìn)而提高產(chǎn)能，節(jié)約成本。
[0053]本發(fā)明中，可以采用多種方法來獲取待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸。例如，步驟SI可以包括以下步驟:
[0054]S11、獲取待測(cè)試產(chǎn)品的像素的圖片；
[0055]S12、根據(jù)步驟Sll中獲取的像素的圖片計(jì)算出該像素的灰度值；
[0056]S13、根據(jù)步驟S12中計(jì)算出的灰度值計(jì)算出該像素的尺寸。
[0057]使用圖像處理軟件對(duì)獲取的像素的圖片進(jìn)行分析計(jì)算，得到所述像素的灰度值。然后，通過分析上述灰度值所表示的“黑”、“白”區(qū)域的邊界，計(jì)算出所述像素的尺寸。所述像素包括多個(gè)亞像素，這里的尺寸主要指亞像素的線寬，具體地，指紅、綠、藍(lán)亞像素中較短的邊的寬度。
[0058]在本發(fā)明中，可以通過獲取的像素的尺寸直接進(jìn)行透光孔的選擇，也可以將獲取的像素的尺寸與樣本像素的尺寸進(jìn)行比較，通過判斷后選擇相應(yīng)的透光孔進(jìn)行色度測(cè)試。
[0059]例如，步驟S2可以包括以下步驟:
[0060]S21a、將待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸與預(yù)存的樣本像素的尺寸進(jìn)行對(duì)比；
[0061]S22a、根據(jù)對(duì)比結(jié)果確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑。
[0062]例如，有兩種待選擇的透光孔，分別是孔徑為10 μ m的透光孔和孔徑為20 μ m的透光孔。其中，孔徑為10 μ m的透光孔適用于測(cè)試線寬小于25 μ m的像素，孔徑為20 μ m的透光孔適用于測(cè)試線寬大于25 μ m的像素。
[0063]那么，可以設(shè)定當(dāng)測(cè)量出的待測(cè)試產(chǎn)品的像素的線寬大于25 μ m時(shí)，反饋選擇孔徑為20 μ m的透光孔，當(dāng)測(cè)量出的待測(cè)試產(chǎn)品的像素的線寬小于25 μ m時(shí)，反饋選擇孔徑為10 μ m的透光孔。
[0064]此外，還可以將待測(cè)試產(chǎn)品的圖片與預(yù)存的樣本像素的圖片進(jìn)行對(duì)比。進(jìn)行圖片對(duì)比的本質(zhì)其實(shí)也是進(jìn)行尺寸對(duì)比，在此不再贅述。
[0065]本發(fā)明的重點(diǎn)在于提前獲取待測(cè)試產(chǎn)品的像素的實(shí)際尺寸信息，根據(jù)像素的尺寸信息選擇孔徑相匹配的透光孔進(jìn)行色度測(cè)試，不僅保證了色度測(cè)試的準(zhǔn)確性，而且減少了因透光孔不合適頻繁調(diào)試而導(dǎo)致的時(shí)間浪費(fèi)，提高了測(cè)試效率。
[0066]本發(fā)明還提供了一種色度測(cè)試設(shè)備，如圖2中所示。所述色度測(cè)試設(shè)備I包括色譜分析裝置11和測(cè)試頭12，色譜分析裝置11包括:
[0067]測(cè)量模塊101，用于測(cè)量待測(cè)試產(chǎn)品2的像素的尺寸；
[0068]控制模塊102，與測(cè)量模塊101相連，用于根據(jù)測(cè)量得到的待測(cè)試產(chǎn)品2的像素的尺寸來確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑；
[0069]測(cè)試頭12包括:
[0070]透光孔切換器201，透光孔切換器201上設(shè)置有多個(gè)具有不同孔徑的透光孔，透光孔切換器201與控制模塊102相連，用于根據(jù)控制模塊102確定的孔徑選取相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試。
[0071]控制模塊102還能夠判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑是否滿足測(cè)試要求，如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑不滿足測(cè)試要求，控制模塊102控制透光孔切換器201切換至相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試。
[0072]與現(xiàn)有色度測(cè)試設(shè)備相比，本發(fā)明所提供的色度測(cè)試設(shè)備能夠?qū)崟r(shí)測(cè)量出待測(cè)試產(chǎn)品的像素的實(shí)際尺寸信息，然后再根據(jù)實(shí)測(cè)信息選擇孔徑合適的透光孔進(jìn)行色度測(cè)試。因此，本發(fā)明所提供的色度測(cè)試設(shè)備不僅提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性，還避免了因透光孔選擇不恰當(dāng)而導(dǎo)致的時(shí)間的浪費(fèi)，提高了測(cè)試效率。
[0073]具體地，測(cè)量模塊101包括圖像采集子模塊，用于獲取待測(cè)試產(chǎn)品2的像素的圖片。所述圖像采集子模塊包括電荷稱合元件(Charge-Coupled Device,CCD)或者其它形式的圖像傳感器。
[0074]此外，測(cè)量模塊101還包括圖像處理子模塊，所述圖像處理子模塊能夠根據(jù)所述圖像采集子模塊獲取的待測(cè)試產(chǎn)品2的像素的圖片計(jì)算出該像素的灰度值，并根據(jù)該像素的灰度值計(jì)算出該像素的尺寸，具體計(jì)算方法如上文所述。
[0075]在本發(fā)明所提供的色度測(cè)試設(shè)備中，可以將測(cè)量模塊101獲得的待測(cè)試產(chǎn)品2的像素的尺寸直接反饋給控制模塊102，由控制模塊102控制透光孔切換器201轉(zhuǎn)換到相應(yīng)地透光孔進(jìn)行測(cè)試?；蛘?，色譜分析裝置11中還包括對(duì)比模塊103，對(duì)比模塊103內(nèi)預(yù)存有樣本像素的尺寸，對(duì)比模塊103與測(cè)量模塊101相連，用于將待測(cè)試產(chǎn)品2的像素的尺寸與樣本像素的尺寸進(jìn)行對(duì)比，并將對(duì)比結(jié)果反饋給控制模塊102，控制模塊102根據(jù)對(duì)比結(jié)果來確定用于測(cè)試的透光孔的孔徑。
[0076]此外，還可以在對(duì)比模塊103內(nèi)預(yù)存樣本像素的圖片，然后將待測(cè)試產(chǎn)品2的像素的圖片與樣本像素的圖片進(jìn)行對(duì)比，根據(jù)對(duì)比結(jié)果進(jìn)行透光孔的選擇。
[0077]本發(fā)明提供的色度測(cè)試設(shè)備根據(jù)待測(cè)試產(chǎn)品像素的實(shí)測(cè)信息來選擇具有合適孔徑的透光孔進(jìn)行測(cè)試，使透光孔的測(cè)試范圍與像素的尺寸相匹配，提高了測(cè)試設(shè)備的稼動(dòng)率，減少了因頻繁調(diào)試更換透光孔而導(dǎo)致的時(shí)間浪費(fèi)，有利于提高生產(chǎn)效率，節(jié)約成本。
[0078]可以理解的是，以上實(shí)施方式僅僅是為了說明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式，然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下，可以做出各種變型和改進(jìn)，這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種利用色度測(cè)試設(shè)備進(jìn)行色度測(cè)試的色度測(cè)試方法，所述色度測(cè)試設(shè)備包括色譜分析裝置和測(cè)試頭，所述測(cè)試頭包括透光孔，其特征在于，所述方法包括以下步驟: 51、測(cè)量待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸； 52、根據(jù)步驟SI中測(cè)量得到的像素的尺寸確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑； 53、根據(jù)步驟S2中確定的孔徑選擇相應(yīng)的透光孔對(duì)所述待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行色度測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的色度測(cè)試方法，其特征在于，步驟S3包括: 531、判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑是否滿足測(cè)試要求； 532、如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑滿足測(cè)試要求，則對(duì)所述待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試； 533、如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑不滿足測(cè)試要求，則根據(jù)步驟S2中確定的孔徑更換相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試； 其中，步驟S31包括: 判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑與步驟S2中確定的孔徑是否一致。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的色度測(cè)試方法，其特征在于，步驟SI包括: 511、獲取待測(cè)試產(chǎn)品的像素的圖片； 512、根據(jù)步驟Sll中獲取的像素的圖片計(jì)算出該像素的灰度值； 513、根據(jù)步驟S12中計(jì)算出的灰度值計(jì)算出該像素的尺寸。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的色度測(cè)試方法，其特征在于，所述像素包括多個(gè)亞像素，所述尺寸包括所述像素的每個(gè)亞像素的寬度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的色度測(cè)試方法，其特征在于，步驟S2還包括: S21a、將待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸與預(yù)存的樣本像素的尺寸進(jìn)行對(duì)比； S22a、根據(jù)對(duì)比結(jié)果確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的色度測(cè)試方法，其特征在于，在步驟S22a中，當(dāng)所述亞像素的寬度大于25 μ m時(shí)，選擇孔徑為20 μ m的透光孔；當(dāng)所述亞像素的寬度小于25 μ m時(shí)，選擇孔徑為10 μ m的透光孔。
7.一種色度測(cè)試設(shè)備，包括色譜分析裝置和測(cè)試頭，其特征在于，所述色譜分析裝置包括: 測(cè)量模塊，用于測(cè)量待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸； 控制模塊，與所述測(cè)量模塊相連，用于根據(jù)測(cè)量得到的所述待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸確定用于進(jìn)行測(cè)試的透光孔的孔徑； 所述測(cè)試頭包括: 透光孔切換器，所述透光孔切換器上設(shè)置有多個(gè)具有不同孔徑的透光孔，所述透光孔切換器與所述控制模塊相連，用于根據(jù)所述控制模塊確定的孔徑選取相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的色度測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述控制模塊能夠判斷當(dāng)前使用的透光孔的孔徑是否滿足測(cè)試要求，如果當(dāng)前使用的透光孔的孔徑不滿足測(cè)試要求，所述控制模塊控制所述透光孔切換器切換至相應(yīng)的透光孔進(jìn)行測(cè)試。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的色度測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)量模塊包括圖像采集子模塊，用于獲取待測(cè)試產(chǎn)品的像素的圖片。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的色度測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述圖像采集子模塊包括電荷率禹合元件。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的色度測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)量模塊還包括圖像處理子模塊，所述圖像處理子模塊能夠根據(jù)所述待測(cè)試產(chǎn)品的像素的圖片計(jì)算出該像素的灰度值，并根據(jù)該像素的灰度值計(jì)算出該像素的尺寸。
12.根據(jù)權(quán)利要求7至11中任意一項(xiàng)所述的色度測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述色譜分析裝置還包括對(duì)比模塊，所述對(duì)比模塊內(nèi)預(yù)存有樣本像素的尺寸，所述對(duì)比模塊與所述測(cè)量模塊相連，用于將所述待測(cè)試產(chǎn)品的像素的尺寸與樣本像素的尺寸進(jìn)行對(duì)比，并將對(duì)比結(jié)果反饋給所述控制模塊，所述控制模塊根據(jù)對(duì)比結(jié)果來確定用于測(cè)試的透光孔的孔徑。
【文檔編號(hào)】G01J3/46GK104316191SQ201410643707
【公開日】2015年1月28日 申請(qǐng)日期:2014年11月7日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月7日
【發(fā)明者】周麗佳 申請(qǐng)人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 成都京東方光電科技有限公司