玻璃應力測量裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種玻璃應力測量裝置,包括光源、聚光鏡、反光鏡、起偏鏡、全波片、發(fā)散鏡和檢偏鏡,所述光源射出的光線依次經(jīng)過聚光鏡、反光鏡、起偏鏡、全波片、發(fā)散鏡后照射到被測試樣,經(jīng)過被測試樣后進入檢偏鏡,所述被測試樣置于臺面玻璃上。本發(fā)明的玻璃應力檢測裝置能夠快速有效地檢測出玻璃表面的應力,且本裝置結構簡單,使用方便,測量精度高,成本低廉,適用于大多數(shù)的玻璃表面應力測量。
【專利說明】玻璃應力測量裝置
[0001]
【技術領域】
[0002]本發(fā)明涉及一種玻璃檢測裝置,特別涉及一種玻璃應力測量裝置。
【背景技術】
[0003]由于生廣工藝的特殊性,在制作完成后的玻璃制品中還或多或少地存在內(nèi)應力。在玻璃成型過程中,由于外部機械力的作用或冷卻時熱不均勻所產(chǎn)生的應力稱為熱應力或宏觀應力。在玻璃內(nèi)部,由于成分不均勻而形成的微不均勻區(qū)所造成的應力稱為結構應力或微觀應力。在玻璃內(nèi)相當于晶胞大小的體積范圍內(nèi)所存在的應力稱為超微觀應力。由于玻璃的結構特性,其中的微觀與超微觀應力極小,對玻璃的機械強度影響不大。影響最大的是玻璃中的熱應力,因為這種應力通常是極不均勻的,嚴重時會降低玻璃制品的機械強度和熱穩(wěn)定性,影響制品的安全使用,甚至會發(fā)生自裂現(xiàn)象。因此,為了保證使用時的安全,對各種玻璃制品都規(guī)定其殘余的內(nèi)應力不能超過某一規(guī)定值。對于光學玻璃,較大應力的存在將嚴重影響光透過和成像質(zhì)量。因此,測量玻璃的內(nèi)應力是控制質(zhì)量的一種手段,特別是質(zhì)量要求較高的貴重的或精密的產(chǎn)品尤其重要,由于地震而頻發(fā)災害,都市的高樓大廈、公寓的窗用玻璃都會使用安全玻璃,關于建筑用的安全玻璃沒有明確的規(guī)格,以前的測定器感應度很低,難以進行充分的品質(zhì)管理。
[0004]
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]為了克服上述缺陷,本發(fā)明提供了一種能夠解決上述問題的玻璃應力測量裝置。
[0006]本發(fā)明為了解決其技術問題所采用的技術方案是:一種玻璃應力測量裝置,包括光源、聚光鏡、反光鏡、起偏鏡、全波片、發(fā)散鏡和檢偏鏡,所述光源射出的光線依次經(jīng)過聚光鏡、反光鏡、起偏鏡、全波片、發(fā)散鏡后照射到被測試樣,經(jīng)過被測試樣后進入檢偏鏡,所述被測試樣置于臺面玻璃上。
[0007]作為本發(fā)明的進一步改進,設有兩個聚光鏡,所述兩個聚光鏡之間的距離大于他們的焦距。
[0008]作為本發(fā)明的進一步改進,所述聚光鏡和光源之間設有隔熱片。
[0009]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明的玻璃應力檢測裝置能夠快速有效地檢測出玻璃表面的應力,且本裝置結構簡單,使用方便,測量精度高,成本低廉,適用于大多數(shù)的玻璃表面應力測量。
[0010]
【專利附圖】
【附圖說明】
[0011]圖1為本發(fā)明結構示意圖; 圖中標不:1-光源;2-聚光鏡;3_反光鏡;4_起偏鏡;5_全波片;6_發(fā)散鏡;7_檢偏鏡;8_被測試樣;9-臺面玻璃;10_隔熱片。
[0012]
【具體實施方式】
[0013]為了加深對本發(fā)明的理解,下面將結合實施例和附圖對本發(fā)明作進一步詳述,該實施例僅用于解釋本發(fā)明,并不構成對本發(fā)明保護范圍的限定。
[0014]圖1示出了本發(fā)明一種玻璃應力測量裝置的一種實施方式,包括光源1、聚光鏡2、反光鏡3、起偏鏡4、全波片5、發(fā)散鏡6和檢偏鏡7,所述光源I射出的光線依次經(jīng)過聚光鏡
2、反光鏡3、起偏鏡4、全波片5、發(fā)散鏡6后照射到被測試樣8,經(jīng)過被測試樣8后進入檢偏鏡7,所述被測試樣8置于臺面玻璃9上。設有兩個聚光鏡2,所述兩個聚光鏡2之間的距離大于他們的焦距,所述聚光鏡2和光源I之間設有隔熱片10。
【權利要求】
1.一種玻璃應力測量裝置,其特征在于:包括光源(I)、聚光鏡(2)、反光鏡(3)、起偏鏡(4)、全波片(5)、發(fā)散鏡(6)和檢偏鏡(7),所述光源⑴射出的光線依次經(jīng)過聚光鏡(2)、反光鏡(3)、起偏鏡(4)、全波片(5)、發(fā)散鏡(6)后照射到被測試樣(8),經(jīng)過被測試樣(8)后進入檢偏鏡(7),所述被測試樣(8)置于臺面玻璃(9)上。
2.根據(jù)權利要求1所述的玻璃應力測量裝置,其特征在于:設有兩個聚光鏡(2),所述兩個聚光鏡(2)之間的距離大于他們的焦距。
3.根據(jù)權利要求1所述的玻璃應力測量裝置,其特征在于:所述聚光鏡(2)和光源(I)之間設有隔熱片(10)。
【文檔編號】G01N21/21GK104330359SQ201410605138
【公開日】2015年2月4日 申請日期:2014年11月3日 優(yōu)先權日:2014年11月3日
【發(fā)明者】尚修鑫 申請人:蘇州精創(chuàng)光學儀器有限公司