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一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)及操作方法

文檔序號:6241845閱讀:319來源:國知局
一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)及操作方法
【專利摘要】一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)設(shè)有光開關(guān)、三組設(shè)備連接端口及兩組樣品連接端口,光開關(guān)設(shè)置在光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)內(nèi)部,光開關(guān)分別與三組設(shè)備連接端口及兩組樣品連接端口電連接。設(shè)備連接端口每組由一根設(shè)備數(shù)據(jù)輸入引纖和一根設(shè)備數(shù)據(jù)輸出引纖構(gòu)成,設(shè)備數(shù)據(jù)輸入引纖與設(shè)備數(shù)據(jù)輸出引纖的一端分別與光開關(guān)連接。樣品連接端口每組由一根樣品測試信號輸入引纖和一根樣品測試信號輸出引纖構(gòu)成,樣品測試信號輸入引纖與樣品測試信號輸出引纖的一端分別與光開關(guān)連接。通過光路切換的模式進(jìn)行資源的合理整合,實(shí)現(xiàn)多臺儀表可相互連接,光纖一次連接,相繼完成不同光纖指標(biāo)的測試,從而能夠提高操作人員的工作效率,也可提升測試設(shè)備的使用效率。
【專利說明】一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)及操作方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及光纖生產(chǎn)領(lǐng)域,尤其涉及一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)及操作方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 光纖是光導(dǎo)纖維的簡寫,是一種由玻璃或塑料制成的纖維,可作為光傳導(dǎo)工具。傳 輸原理是'光的全反射'。前香港中文大學(xué)校長高錕和George A. Hockham首先提出光纖可 以用于通訊傳輸?shù)脑O(shè)想,高錕因此獲得2009年諾貝爾物理學(xué)獎。
[0003] 微細(xì)的光纖封裝在塑料護(hù)套中,使得它能夠彎曲而不至于斷裂。通常,光纖的一端 的發(fā)射裝置使用發(fā)光二極管(light emitting diode, LED)或一束激光將光脈沖傳送至光 纖,光纖的另一端的接收裝置使用光敏元件檢測脈沖。
[0004] 在日常生活中,由于光在光導(dǎo)纖維的傳導(dǎo)損耗比電在電線傳導(dǎo)的損耗低得多,光 纖被用作長距離的信息傳遞。
[0005] 通常光纖與光纜兩個名詞會被混淆。多數(shù)光纖在使用前必須由幾層保護(hù)結(jié)構(gòu)包 覆,包覆后的纜線即被稱為光纜。光纖外層的保護(hù)層和絕緣層可防止周圍環(huán)境對光纖的傷 害,如水、火、電擊等。光纜分為:光纖,緩沖層及披覆。光纖和同軸電纜相似,只是沒有網(wǎng)狀 屏蔽層。中心是光傳播的玻璃芯。
[0006] 在光纖的生產(chǎn)過程中,測試占較大的比重。光纖的測試參數(shù)較多,一臺測試設(shè)備無 法完成一盤光纖所有參數(shù)的測試,因此完成一盤光纖的測試需要幾臺不同的測試儀表。光 纖測試時,不同的測試指標(biāo)需要連接在對應(yīng)的測試儀表上,即每盤光纖在不同測試設(shè)備上 均需連接一次,這樣既造成測試效率低下、占用測試人員較多、光纖檢驗(yàn)流程復(fù)雜,又不利 于光纖在測試區(qū)域的快速流轉(zhuǎn)和光纖流轉(zhuǎn)的過程控制。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,解決上述技術(shù)問題本發(fā)明提供了一種利用光開關(guān) 的特性對測試設(shè)備進(jìn)行整合,對多盤樣品光纖進(jìn)行相繼測試,從而有效提高生產(chǎn)效率的技 術(shù)方案: 一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng),包括擴(kuò)展模塊以及若干與擴(kuò)展模塊通訊的測試儀組,擴(kuò) 展模塊內(nèi)置一光開關(guān),該光開關(guān)一側(cè)的端口組A與測試儀組連接通訊,另一側(cè)的端口組B 用于與樣品光纖連接通訊,光開關(guān)通過控制組件實(shí)現(xiàn)樣品光纖與測試儀組中各測試儀的通 訊。
[0008] 進(jìn)一步的,擴(kuò)展模塊包括內(nèi)置于擴(kuò)展模塊中的光開關(guān),控制光開關(guān)物理切換或邏 輯操作的控制組件,以及用于分別與測試儀組、樣品連接的六個測試儀組側(cè)接口和若干個 樣品側(cè)接口;所述測試儀組側(cè)接口和樣品側(cè)接口分別與光開關(guān)兩側(cè)的端口組A、端口組B通 過光纖跳線進(jìn)行連接通訊。
[0009] 進(jìn)一步的,光開關(guān)物理切換分為程序自動切換和手動切換兩種模式。
[0010] 進(jìn)一步的,測試儀組包括光纖衰減測試儀、光纖色散測試儀及光纖偏振模色散測 試儀,光纖衰減測試儀、光纖色散測試儀及光纖偏振模色散測試儀均具有兩個測試接口,各 測試接口分別與擴(kuò)展模塊上的六個測試儀組側(cè)接口對應(yīng)連接。
[0011] 進(jìn)一步的,擴(kuò)展模塊中光纖色散測試儀、光纖偏振模色散測試儀通訊信號進(jìn)行串 行后在與光開關(guān)端口組A連接通訊。
[0012] 進(jìn)一步的,端口組B分為樣品連接端口 A和樣品連接端口 B。樣品連接端口 A和樣 品連接端口 B中分別包括樣品測試信號輸入引纖與樣品測試信號輸出引纖,通過樣品測試 信號輸入引纖與樣品測試信號輸出引纖分別與待測樣品光纖兩端連接。
[0013] 此光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)操作步驟為: (1) 將樣品光纖接入樣品連接端口 A,以光開關(guān)切換使樣品連接端口 A與光纖衰減測試 儀對應(yīng)測試端口導(dǎo)通,按照常規(guī)方法進(jìn)行光纖衰減測試儀的測試; (2) 將另一個樣品光纖接入樣品連接端口 B,等待光纖衰減測試儀測試完畢后通過光開 關(guān)切換,光纖衰減測試儀對應(yīng)測試端口與樣品測試端口 B導(dǎo)通,以按照常規(guī)方法進(jìn)行光纖 衰減測試儀測試; (3) 光纖衰減測試儀在進(jìn)行端口 B樣品測試的同時,色散測試儀與偏振模色散測試儀 構(gòu)成的串聯(lián)模式與端口 A導(dǎo)通,相繼完成色散及偏振模色散的測試; (4) 完成樣品連接端口 A上樣品光纖的測試后,光開關(guān)將光纖色散測試儀與光纖色散 測試儀及偏振模色散測試儀所構(gòu)成的串行模式進(jìn)行切換,與樣品連接端口 B導(dǎo)通以進(jìn)行測 試,用新的樣品光纖代替樣品連接端口 A上的樣品光纖,再從步驟(1)開始進(jìn)行循環(huán)測試。
[0014] 本發(fā)明的有益效果在于: (1)本發(fā)明提供一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)將多種光纖測試設(shè)備集成在一起,填補(bǔ)業(yè) 界空白。
[0015] (2)本發(fā)明實(shí)現(xiàn)使用一臺擴(kuò)展設(shè)備連接多臺光纜測試設(shè)備,完成同一被測光纖或 者多盤光纖的相繼測試,減少樣品光纖測試中轉(zhuǎn)步驟,有效提高生產(chǎn)效率。
[0016] (3)本發(fā)明中設(shè)備連接端口與樣品連接端口與光開關(guān)之間采用光纖跳線進(jìn)行連 接,其插入損耗低,重復(fù)性好,回波損耗大,互插性能好,溫度穩(wěn)定性好,抗拉性能強(qiáng),增加整 體設(shè)備的使用壽命。
[0017] (4)本發(fā)明利用PK2800光纖色散測試儀、PMD4000光纖偏振模色散測試儀的特性, 對光纖產(chǎn)品同時檢測兩項數(shù)據(jù),同時將檢測設(shè)備側(cè)的實(shí)際光信號傳輸端口控制在2個,以 便在提高檢測側(cè)傳輸端口數(shù)量的同時降低光開關(guān)的選型難度或者設(shè)計難度。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0018] 圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0019] 為使本發(fā)明目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施方 式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
[0020] 如圖1所示,本發(fā)明的測試設(shè)備集成系統(tǒng)1,通過光路切換的模式進(jìn)行資源的合理 整合,實(shí)現(xiàn)多臺儀表可相互連接,光纖一次連接,相繼或者同時完成不同光纖指標(biāo)的測試, 從而能夠提高操作人員的工作效率,也可提升測試設(shè)備的使用效率。測試設(shè)備集成系統(tǒng)1 可連接兩盤測試光纖同時可連接三臺測試設(shè)備。該測試設(shè)備集成系統(tǒng)1包括擴(kuò)展模塊2以 及若干與擴(kuò)展模塊2通訊的測試儀組。
[0021] 擴(kuò)展模塊2內(nèi)置一光開關(guān)3,該光開關(guān)3 -側(cè)的端口組A4與測試儀組連接通訊,另 一側(cè)的端口組B5用于與樣品光纖連接通訊,光開關(guān)3通過控制組件10實(shí)現(xiàn)程序自動切換 和手動切換兩種模式,實(shí)現(xiàn)樣品光纖與測試儀組中各測試儀的通訊。
[0022] 通常在測試過程中較常使用的設(shè)備包括光纖衰減測試儀、光纖色散測試儀及光纖 偏振模色散測試儀,因此在本發(fā)明中測試儀組就是由光纖衰減測試儀、光纖色散測試儀及 光纖偏振模色散測試儀構(gòu)成的。光纖衰減測試儀、光纖色散測試儀及光纖偏振模色散測試 儀均具有兩個測試接口,各測試接口分別與擴(kuò)展模塊上的六個測試儀組側(cè)接口對應(yīng)連接。
[0023] 其中,由于光纖色散測試儀與光纖偏振模色散測試儀的通訊信號在串行時,相互 干擾少,設(shè)備的測試可靠率高,因此將光纖色散測試儀與光纖偏振模色散測試儀的通訊信 號進(jìn)行串行處理后后再與光開關(guān)3端口組A4連接通訊,簡化了該測試設(shè)備集成系統(tǒng)1,有效 的節(jié)約了該體統(tǒng)的制造成本。
[0024] 端口組B5分為樣品連接端口 A6和樣品連接端口 B7。樣品連接端口 A6和樣品連 接端口 B7中分別包括樣品測試信號輸入引纖8與樣品測試信號輸出引纖9,通過樣品測試 信號輸入引纖8與樣品測試信號輸出引纖9分別與待測樣品光纖兩端連接,以此結(jié)構(gòu)達(dá)到 測試目的。
[0025] 測試時,光纖衰減測試儀先對樣品連接端口 A6的樣品光纖進(jìn)行測試,測試完成 后,通過光開關(guān)3切換,實(shí)現(xiàn)光纖色散測試儀和光纖偏振模色散測試儀與樣品連接端口 A6 的連接并對樣品光纖進(jìn)行測試,同時將樣品連接端口 B7連接在光纖衰減測試儀所對應(yīng)的 端口組A4上的端口進(jìn)行測試,當(dāng)樣品連接端口 A6樣品光纖測試完畢后,更換新的樣品光纖 進(jìn)行測試,以此循環(huán)測試。
[0026] 本發(fā)明的光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)具體操作步驟為: a.將樣品光纖接入樣品連接端口 A6,以光開關(guān)3切換使樣品連接端口 A6與光纖衰減 測試儀對應(yīng)測試端口導(dǎo)通,按照常規(guī)方法進(jìn)行光纖衰減測試儀的測試。
[0027] b.將另一個樣品光纖接入樣品連接端口 B7,等待光纖衰減測試儀測試完畢后通 過光開關(guān)4切換,光纖衰減測試儀對應(yīng)測試端口與樣品測試端口 B7導(dǎo)通,以按照常規(guī)方法 進(jìn)行光纖衰減測試儀測試; c.光纖衰減測試儀測試完畢后,通過光開關(guān)4切換光纖衰減測試儀對應(yīng)測試端口線 路,與樣品連接端口 B7導(dǎo)通,光纖衰減測試儀對樣品連接端口 B7上連接的樣品光纖照常規(guī) 方法進(jìn)行測試;同時,光開關(guān)4將樣品連接端口 A6切換至與PK2800光纖色散測試儀和光纖 偏振模色散測試儀所構(gòu)成的串行電路導(dǎo)通,光纖色散測試儀與光纖偏振模色散測試儀對樣 品連接端口 A6上的樣品光纖按照常規(guī)方法進(jìn)行相應(yīng)測試。
[0028] d.完成樣品連接端口 A6上樣品光纖的測試后,光開關(guān)4將光纖色散測試儀與光纖 偏振模色散測試儀所構(gòu)成的串行電路進(jìn)行切換,與樣品連接端口 B7導(dǎo)通以進(jìn)行測試,用新 的樣品光纖代替樣品連接端口 A6上的樣品光纖,再從步驟a開始進(jìn)行循環(huán)測試。
[0029] 系統(tǒng)使用前、后用人工、流程、測試時間詳見表1 : 表1 :系統(tǒng)使用前、后測試情況對比

【權(quán)利要求】
1. 一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng),其特征在于:包括擴(kuò)展模塊以及若干與擴(kuò)展模塊通訊 的測試儀組;所述擴(kuò)展模塊內(nèi)置一光開關(guān),該光開關(guān)一側(cè)的端口組A與測試儀組連接通訊, 另一側(cè)的端口組B用于與樣品光纖連接通訊,光開關(guān)通過控制組件實(shí)現(xiàn)樣品光纖與測試儀 組中各測試儀的通訊。
2. 根據(jù)權(quán)利要求書1所述的一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng),其特征在于:所述擴(kuò)展模塊 包括內(nèi)置于擴(kuò)展模塊中的光開關(guān),控制光開關(guān)物理切換或邏輯操作的控制組件,以及用于 分別與測試儀組、樣品連接的六個測試儀組接口和若干個樣品接口; 所述測試儀組接口和樣品側(cè)接口分別與光開關(guān)兩側(cè)的端口組A、端口組B通過光纖跳 線進(jìn)行連接通訊; 所述測試儀組包括光纖衰減測試儀、光纖色散測試儀及光纖偏振模色散測試儀; 所述0TDR8000光纖衰減測試儀、PK2800光纖色散測試儀及PMD4000光纖偏振模色散測 試儀均具有兩個測試接口,各測試接口分別與擴(kuò)展模塊上的六個測試儀組接口對應(yīng)連接。
3. 根據(jù)權(quán)利要求書2所述的一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng),其特征在于:所述光開關(guān)物 理切換分為程序自動切換和手動切換兩種模式。
4. 根據(jù)權(quán)利要求書2所述的光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng),其特征在于:所述擴(kuò)展模塊中 PK2800光纖色散測試儀、PMD4000光纖偏振模色散測試儀通訊信號進(jìn)行串行后再與光開關(guān) 端口組A連接通訊。
5. 根據(jù)權(quán)利要求書1所述的一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng),其特征在于:所述端口組B 分為樣品連接端口 A和樣品連接端口 B ;所述樣品連接端口 A和樣品連接端口 B中分別包 括樣品測試信號輸入引纖與樣品測試信號輸出引纖,通過樣品測試信號輸入引纖與樣品測 試信號輸出引纖分別與待測樣品光纖兩端連接。
6. -種實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求書1所述一種光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)的操作方法,其特征在于: 所述光纖測試設(shè)備集成系統(tǒng)操作步驟為: 將樣品光纖接入樣品連接端口 A,以光開關(guān)切換使樣品連接端口 A與光纖衰減測試儀 對應(yīng)測試端口導(dǎo)通,按照常規(guī)方法進(jìn)行光纖衰減測試儀的測試; 將另一個樣品光纖接入樣品連接端口 B,等待光纖衰減測試儀測試完畢后通過光開關(guān) 切換,光纖衰減測試儀對應(yīng)測試端口與樣品測試端口 B導(dǎo)通,以按照常規(guī)方法進(jìn)行光纖衰 減測試儀測試; 光纖衰減測試儀在進(jìn)行端口 B樣品測試的同時,色散測試儀與偏振模色散測試儀構(gòu)成 的串聯(lián)模式與端口 A導(dǎo)通,相繼完成色散及偏振模色散的測試; 完成樣品連接端口 A上樣品光纖的測試后,光開關(guān)將光纖色散測試儀與光纖色散測試 儀及偏振模色散測試儀所構(gòu)成的串行模式進(jìn)行切換,與樣品連接端口 B導(dǎo)通以進(jìn)行測試, 用新的樣品光纖代替樣品連接端口 A上的樣品光纖,再從步驟(1)開始進(jìn)行循環(huán)測試。
【文檔編號】G01M11/02GK104280213SQ201410490369
【公開日】2015年1月14日 申請日期:2014年9月23日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月23日
【發(fā)明者】胡繼剛, 鄭玲, 劉志忠, 曹珊珊, 戴杰, 吳磊 申請人:中天科技光纖有限公司
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