一種星載面陣ccd相機(jī)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)測量裝置及方法
【專利摘要】一種星載面陣CCD相機(jī)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)測量裝置及方法,裝置包括光源系統(tǒng)、靶標(biāo)、平行光管、面陣CCD相機(jī)和圖像采集系統(tǒng);靶標(biāo)放置在平行光管的焦面上,平行光管與面陣CCD相機(jī)的光軸共軸放置,靶標(biāo)被光源系統(tǒng)產(chǎn)生的均勻光照亮,經(jīng)過平行光管和面陣相機(jī),成像在面陣CCD相機(jī)的焦面上,形成靶標(biāo)的圖像,圖像采集系統(tǒng)對成像結(jié)果進(jìn)行采集和處理。本發(fā)明在靶標(biāo)設(shè)計(jì)、實(shí)驗(yàn)方法和數(shù)據(jù)處理中考慮了相位對準(zhǔn),能夠保證PSF測量精度,填補(bǔ)了星載面陣CCD相機(jī)的PSF測試方法空白。
【專利說明】-種星載面陣CCD相機(jī)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)測量裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的測量裝置及方法,特別是一種星載面陣CCD相機(jī)點(diǎn)擴(kuò)散 函數(shù)的測量裝置及方法,適用于面陣凝視型CCD相機(jī)或CMOS相機(jī)的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)測試,屬于 航天光學(xué)遙感【技術(shù)領(lǐng)域】。
【背景技術(shù)】
[0002] 光學(xué)系統(tǒng)在理想狀態(tài)下,物空間一點(diǎn)發(fā)出的光能量在像空間也集中在一點(diǎn)上,但 是實(shí)際的光學(xué)系統(tǒng)成像時(shí),由于衍射和像差以及其它因素的影響,物空間一點(diǎn)發(fā)出的光在 像空間是分布在一定的區(qū)域內(nèi),其分布曲線稱為點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)PSF。調(diào)制傳遞函數(shù)MTF是客 觀評價(jià)光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的重要指標(biāo),目前國內(nèi)為了定量化評價(jià)相機(jī)成像質(zhì)量,發(fā)射之前 都進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室的MTF測試,但MTF只是PSF在頻域的幅值信息,不包含相位信息。目前常用 的MTF測試方法包括以下三種,第一種是對比度矩形靶標(biāo)法,可以用于面陣或推掃相機(jī)MTF 測試,黃巧林等人2006年在《航天返回與遙感》上發(fā)表的《航天光學(xué)遙感器MTF測試技術(shù)研 究》一文中給出兩種測試方法,一種是高對比度矩形靶標(biāo)測試方法,該方法受采樣相位的影 響,測試誤差較大,另一種低頻靶標(biāo)法對相位不敏感,但易受噪聲影響;第二種是斜刃邊靶 標(biāo)法,適用于面陣CCD的MTF地面測試,張孝弘等人2006年在中國空間科學(xué)學(xué)會空間探測 專業(yè)委員會第十九次學(xué)術(shù)會議上發(fā)表的《面陣CCD相機(jī)的MTF測試技術(shù)》一文介紹了實(shí)驗(yàn) 方法和數(shù)據(jù)處理算法,該處理方法增加了采樣點(diǎn),但無法準(zhǔn)確定位初始相位;第三種是點(diǎn)源 或狹縫測試法,適用于面陣CCD的MTF測試,吳海平碩士學(xué)位論文《點(diǎn)源法MTF測試技術(shù)研 究》中詳細(xì)介紹了點(diǎn)源法實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),實(shí)驗(yàn)方法是對點(diǎn)光源成像,該方法計(jì)算精度較高,但對 準(zhǔn)直顯微物鏡的對準(zhǔn)精度要求較高,必須保證點(diǎn)光源在一個(gè)像素內(nèi)成像。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003] 本發(fā)明解決的技術(shù)問題是:針對國內(nèi)現(xiàn)有星載面陣CCD相機(jī)地面只測MTF的現(xiàn)狀, 提出一種星載面陣CCD相機(jī)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的實(shí)驗(yàn)室測量裝置及方法,本發(fā)明通過靶標(biāo)設(shè)計(jì)和 數(shù)據(jù)處理方法解決相位對準(zhǔn)問題,保證面陣CCD相機(jī)PSF的測試準(zhǔn)確性,最大程度上滿足了 面陣C⑶相機(jī)PSF測試的需求。
[0004] 本發(fā)明的技術(shù)方案是:
[0005] -種星載面陣CCD相機(jī)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的測量裝置,其特征在于:包括光源系統(tǒng)、靶 標(biāo)、平行光管、面陣CCD相機(jī)和圖像采集系統(tǒng);
[0006] 靶標(biāo)放置在平行光管的焦面上,平行光管與面陣CCD相機(jī)的光軸共軸放置;
[0007] 光源系統(tǒng)產(chǎn)生均勻光后照射在靶標(biāo)上,然后經(jīng)過平行光管和面陣C⑶相機(jī),成像 在面陣CCD相機(jī)的焦面上,形成靶標(biāo)的圖像,圖像采集系統(tǒng)對面陣CCD相機(jī)的成像結(jié)果進(jìn)行 采集和處理;
[0008] 靶標(biāo)包括一百個(gè)星點(diǎn)、第一定標(biāo)線和第二定標(biāo)線,所述一百個(gè)星點(diǎn)分別為第一星 點(diǎn)至第一百星點(diǎn);
[0009] 第一星點(diǎn)至第一百星點(diǎn)形狀和尺寸均相同,且均為正方形透光孔,正方形透光孔 的邊長為標(biāo)準(zhǔn)長度L的0. 9倍;所述L = (?·Μ?/〇 d,其中fMl為平行光管的焦距,feam為面 陣CCD相機(jī)的焦距,d為面陣CCD相機(jī)中探測器單元間距;第一定標(biāo)線和第二定標(biāo)線均為長 方形透光孔,長方形透光孔的寬度為標(biāo)準(zhǔn)長度L的0. 9倍,長度大于標(biāo)準(zhǔn)長度L的5倍;
[0010] 第一星點(diǎn)至第一百星點(diǎn)、第一定標(biāo)線和第二定標(biāo)線在靶標(biāo)平面直角坐標(biāo)系XOY中 的坐標(biāo)分別為:
[0011] 第一定標(biāo)線長方形結(jié)構(gòu)左上角的頂點(diǎn)坐標(biāo)為(-20 · L,80 · L);第二定標(biāo)線長方形 結(jié)構(gòu)左上角的頂點(diǎn)坐標(biāo)為(80 · L, 200 · L);第一星點(diǎn)的坐標(biāo)為(0,0);第i星點(diǎn)的坐標(biāo)為 (a · 19. 9 · L,b · 19. 9 · L),其中a為i除以10的余數(shù)部分減1,b為i除以10的整數(shù)部 分,l〈i〈100 ;第一百星點(diǎn)的坐標(biāo)為(179. I *L, 179. 1噸)點(diǎn);所述星點(diǎn)坐標(biāo)為星點(diǎn)正方形結(jié) 構(gòu)左上角的坐標(biāo);
[0012] 所述靶標(biāo)平面直角坐標(biāo)系XOY的坐標(biāo)原點(diǎn)0為第一星點(diǎn)正方形結(jié)構(gòu)位于左上角的 頂點(diǎn),X軸的正方向?yàn)榈谝恍屈c(diǎn)指向第二星點(diǎn),Y軸的正方向?yàn)榈谝恍屈c(diǎn)指向第十一星點(diǎn);
[0013] 所述的靶標(biāo)大小長度和寬度均大于300 · L。
[0014] 所述的靶標(biāo)中的第一星點(diǎn)至第一百星點(diǎn)、第一定標(biāo)線和第二定標(biāo)線透光,其余部 分不透光,透光部分與不透光部分對比度不低于100:1。
[0015] 一種利用權(quán)利要求1所述測量裝置的面陣CCD相機(jī)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的測量方法,步驟 如下:
[0016] (1)圖像采集系統(tǒng)采集靶標(biāo)圖像的同時(shí)不斷調(diào)整靶標(biāo)的位置,直至靶標(biāo)的第一定 標(biāo)線位于圖像矩陣同一列上,同時(shí)第二定標(biāo)線位于圖像矩陣同一行上,固定此時(shí)靶標(biāo)的位 置;
[0017] (2)設(shè)置面陣C⑶相機(jī)的曝光時(shí)間,使得第一星點(diǎn)至第一百星點(diǎn)在圖像中灰度值 的范圍為:[0. 5Κ,0. 6Κ];利用圖像采集系統(tǒng)采集得到P幀當(dāng)前曝光時(shí)間下的靶標(biāo)的圖像, 所述K為飽和灰度值,P為大于100的正整數(shù);
[0018] (3)逐點(diǎn)對第X幀靶標(biāo)圖像上的星點(diǎn)i的相鄰像素點(diǎn)進(jìn)行采樣,具體為:
[0019] 令該星點(diǎn)i在圖像矩陣中的坐標(biāo)為(x,y),則對其相鄰像素點(diǎn)(x+n,y)和(x,y+n) 進(jìn)行采樣,所述η為整數(shù),且-N彡η彡N ;所述i為正整數(shù),且1〈 = i〈 = 100 ;所述N為正 整數(shù),且N彡10 ;
[0020] 采樣得到的序列長度為2N+1,其中,與星點(diǎn)i的y坐標(biāo)相同的采樣點(diǎn)灰度值序列 為Xi-N,Xi-N+l,Xi-N+2,…,Xi,Xi+l,Xi+2,…,Xi+N-l,Xi+N,與生點(diǎn)?的X坐豐不相問的木樣點(diǎn)灰度值序 列為y^+i,yi^,…,yi,y i+i,yi+2,…,yi+N-i,yi+N ;若關(guān)于星點(diǎn)i點(diǎn)對稱的采樣點(diǎn)的灰度 值相問,即 Xi-I - Xj+I, Xj-2 - Xi+2> Xi-3 - Xi+3…,Xi-N - Xi+N,且 Yi-I - Yi+l) Yi-2 - 5^1+2) 5^1-3 - yi+3…,yg = yi+N,則選取該點(diǎn)序列為目標(biāo)點(diǎn)序列,進(jìn)入步驟(4);否則返回步驟(3)對下一 幀圖像進(jìn)行處理;
[0021] (4)根據(jù)面陣C⑶相機(jī)的滿阱電子數(shù)M以及圖像量化位數(shù)bs將 步驟(3)中得到的目標(biāo)點(diǎn)序列轉(zhuǎn)換為電子數(shù)序列,所述電子書序列為 …"匕,所述轉(zhuǎn)換過程具體由公式:
[0022]
【權(quán)利要求】
1. 一種星載面陣CCD相機(jī)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的測量裝置,其特征在于:包括光源系統(tǒng)(103)、 靶標(biāo)(104)、平行光管(105)、面陣CCD相機(jī)(106)和圖像采集系統(tǒng)(107); 靶標(biāo)(104)放置在平行光管(105)的焦面上,平行光管(105)與面陣CCD相機(jī)(106) 的光軸共軸放置; 光源系統(tǒng)(103)產(chǎn)生均勻光后照射在靶標(biāo)(104)上,然后經(jīng)過平行光管(105)和面陣CCD相機(jī)(106),成像在面陣CCD相機(jī)(106)的焦面上,形成靶標(biāo)(104)的圖像,圖像采集系 統(tǒng)(107)對面陣CCD相機(jī)(106)的成像結(jié)果進(jìn)行采集和處理; 靶標(biāo)(104)包括一百個(gè)星點(diǎn)、第一定標(biāo)線(101)和第二定標(biāo)線(102),所述一百個(gè)星點(diǎn) 分別為第一星點(diǎn)(1)至第一百星點(diǎn)(100); 第一星點(diǎn)(1)至第一百星點(diǎn)(100)形狀和尺寸均相同,且均為正方形透光孔,正方形透 光孔的邊長為標(biāo)準(zhǔn)長度L的0. 9倍;所述L= (f^/Od,其中fMl為平行光管(105)的焦 距,f?!窞槊骊嘋⑶相機(jī)(106)的焦距,d為面陣C⑶相機(jī)(106)中探測器單元間距;第一定 標(biāo)線(101)和第二定標(biāo)線(102)均為長方形透光孔,長方形透光孔的寬度為標(biāo)準(zhǔn)長度L的 〇. 9倍,長度大于標(biāo)準(zhǔn)長度L的5倍; 第一星點(diǎn)(1)至第一百星點(diǎn)(100)、第一定標(biāo)線(101)和第二定標(biāo)線(102)在靶標(biāo) (104)平面直角坐標(biāo)系XOY中的坐標(biāo)分別為: 第一定標(biāo)線(101)長方形結(jié)構(gòu)左上角的頂點(diǎn)坐標(biāo)為(-20噸,80噸);第二定標(biāo)線(102) 長方形結(jié)構(gòu)左上角的頂點(diǎn)坐標(biāo)為(80噸,200噸);第一星點(diǎn)(1)的坐標(biāo)為(0,0);第i星點(diǎn) 的坐標(biāo)為(a· 19. 9 ·L,b· 19. 9 ·L),其中a為i除以10的余數(shù)部分減1,b為i除以10 的整數(shù)部分,l〈i〈l〇〇 ;第一百星點(diǎn)(100)的坐標(biāo)為(179. 1噸,179. 1噸)點(diǎn);所述星點(diǎn)坐標(biāo) 為星點(diǎn)正方形結(jié)構(gòu)左上角的坐標(biāo); 所述靶標(biāo)(104)平面直角坐標(biāo)系XOY的坐標(biāo)原點(diǎn)0為第一星點(diǎn)(1)正方形結(jié)構(gòu)位于左 上角的頂點(diǎn),X軸的正方向?yàn)榈谝恍屈c(diǎn)(1)指向第二星點(diǎn)(2),Υ軸的正方向?yàn)榈谝恍屈c(diǎn)(1) 指向第十一星點(diǎn)(11); 所述的靶標(biāo)(104)大小長度和寬度均大于300 ·L。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種面陣CCD相機(jī)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的測量裝置,其特征在于:所 述的靶標(biāo)(104)中的第一星點(diǎn)(1)至第一百星點(diǎn)(100)、第一定標(biāo)線(101)和第二定標(biāo)線 (102)透光,其余部分不透光,透光部分與不透光部分對比度不低于100:1。
3. -種利用權(quán)利要求1所述測量裝置的面陣CCD相機(jī)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的測量方法,其特征 在于步驟如下: (1) 圖像采集系統(tǒng)(107)采集靶標(biāo)(104)圖像的同時(shí)不斷調(diào)整靶標(biāo)(104)的位置,直至 靶標(biāo)(104)的第一定標(biāo)線(101)位于圖像矩陣同一列上,同時(shí)第二定標(biāo)線(102)位于圖像 矩陣同一行上,固定此時(shí)靶標(biāo)(104)的位置; (2) 設(shè)置面陣CCD相機(jī)(106)的曝光時(shí)間,使得第一星點(diǎn)(1)至第一百星點(diǎn)(100)在圖 像中灰度值的范圍為:[〇. 5Κ,0. 6Κ];利用圖像采集系統(tǒng)(107)采集得到P幀當(dāng)前曝光時(shí)間 下的靶標(biāo)(104)的圖像,所述K為飽和灰度值,P為大于100的正整數(shù); (3) 逐點(diǎn)對第X幀靶標(biāo)(104)圖像上的星點(diǎn)i的相鄰像素點(diǎn)進(jìn)行采樣,具體為: 令該星點(diǎn)i在圖像矩陣中的坐標(biāo)為(X,y),則對其相鄰像素點(diǎn)(x+n,y)和(X,y+n)進(jìn) 行采樣,所述η為整數(shù),且-N彡η彡N;所述i為正整數(shù),且1〈 =i〈 = 100 ;所述N為正整 數(shù),且N彡10; 采樣得到的序列長度為2N+1,其中,與星點(diǎn)i的y坐標(biāo)相同的采樣點(diǎn)灰度值序列為Xi,XiL1,Xi_N+2,…,Xi,xi+1,xi+2,…,Xm,xi+N,與星點(diǎn)i的X坐標(biāo)相同的采樣點(diǎn)灰度值序列為 yi_N,yi_N+i,yi-N+2,…,yi,yi+i,yi+2,…,yi+N-i,yi+N;若關(guān)于星點(diǎn)i點(diǎn)對稱的采樣點(diǎn)的灰度值相同, 艮PXi-I - Xi+1) Xi-2 - Xi+2, Xi-3 - Xi+3...,Xi-N - Xi+N?-S-Yi-I - Yi+1) Yi-2 -Ii+2,h- 5^+3...,Yi-N =yi+N,則選取該點(diǎn)序列為目標(biāo)點(diǎn)序列,進(jìn)入步驟(4);否則返回步驟(3)對下一幀圖像進(jìn)行 處理; (4) 根據(jù)面陣CCD相機(jī)(106)的滿阱電子數(shù)M以及圖像量化位數(shù)bs將 步驟(3)中得到的目標(biāo)點(diǎn)序列轉(zhuǎn)換為電子數(shù)序列,所述電子書序列為 -.C.,-C-…一-二,…,C ,=^^ XM2々s-1 給出,其中X為采樣點(diǎn)的灰度值,Xe為電子數(shù); (5) 對步驟(4)中得到的電子數(shù)序列進(jìn)行歸一化處理,得到歸一化電子數(shù)序列后利用 高斯函數(shù)Ν(μpμ2,σσ2)進(jìn)行擬合,得到第X巾貞圖像高斯分布點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)方差σi和 0 2 ; 所述歸一化電子數(shù)序列由公式: 一Λ -瓦 / +Λ 給出,式中f為歸一化的電子數(shù)序列,^ =Σ<; -"Λ. (6) 對當(dāng)前曝光時(shí)間下P幀圖像中的每一幀圖像按照步驟(4)?步驟(5)的方法進(jìn)行 處理,得到每一幀圖像的高斯分布點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)方差,最終得到高斯分布點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)方差序 列%:和,對%:和作直方圖分布統(tǒng)計(jì),得到直方圖序列,并將該直方圖序列擬合 得到高斯分布函數(shù)Ν(μhl,μκ,Ohl,Oh2),N(0,0,Ohl,Oh2)即為面陣CCD相機(jī)(106)的點(diǎn) 擴(kuò)散函數(shù); (7) 利用步驟(6)中得到的面陣CCD相機(jī)(106)的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)對面陣CCD相機(jī)(106) 的成像數(shù)據(jù)進(jìn)行圖像復(fù)原,提高遙感圖像質(zhì)量。
【文檔編號】G01M11/02GK104236859SQ201410484237
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2014年9月19日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月19日
【發(fā)明者】劉薇, 高慧婷, 何紅艷, 鮑云飛, 邢坤, 曹世翔, 江澄, 王殿中, 李巖, 李方琦 申請人:北京空間機(jī)電研究所