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X光平行屏蔽裝置制造方法

文檔序號(hào):6238984閱讀:189來(lái)源:國(guó)知局
X光平行屏蔽裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種X光平行屏蔽裝置,包括X射線屏蔽房,所述X射線屏蔽房?jī)?nèi)設(shè)有一輸送待檢測(cè)物品的輸送機(jī),X射線屏蔽房?jī)?nèi)位于輸送機(jī)的兩端分別設(shè)有出料口和進(jìn)料口,輸送機(jī)的下方設(shè)有X射線源,對(duì)應(yīng)輸送機(jī)的上方設(shè)有X射線探測(cè)器,所述輸送機(jī)為平行式輸送機(jī),所述X射線屏蔽房?jī)?nèi)位于輸送機(jī)的上下方平行設(shè)有若干組可調(diào)式射線折射擋板,所述每組可調(diào)式射線折射擋板由兩塊呈一定夾角設(shè)置的鉛板組成,這種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單有效,設(shè)計(jì)加工難度低,結(jié)構(gòu)成本低,與常規(guī)市面上的結(jié)構(gòu)相比更穩(wěn)定,效率高,常規(guī)運(yùn)用到工廠在線自動(dòng)檢測(cè)。
【專利說(shuō)明】X光平行屏敝裝直
[0001]

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002] 本發(fā)明涉及X光檢測(cè)裝置領(lǐng)域,特別涉及一種X光平行屏蔽測(cè)裝置。

【背景技術(shù)】
[0003] X光特征表現(xiàn)為以光子形式輻射和吸收時(shí)具有的一定的質(zhì)量、能量和動(dòng)量。表現(xiàn)形 式為在與物質(zhì)相互作用時(shí)交換能量。如光電效應(yīng);二次電子等,高速運(yùn)動(dòng)的電子與物體碰撞 時(shí),發(fā)生能量轉(zhuǎn)換,電子的運(yùn)動(dòng)受阻失去動(dòng)能,其中一小部分(1 %左右)能量轉(zhuǎn)變?yōu)閄射線, 而絕大部分(99%左右)能量轉(zhuǎn)變成熱能使物體溫度升高,物質(zhì)對(duì)X射線的吸收指的是X射 線能量在通過(guò)物質(zhì)時(shí)轉(zhuǎn)變?yōu)槠渌问降哪芰?,X射線發(fā)生了能量損耗。物質(zhì)對(duì)X射線的吸收 主要是由原子內(nèi)部的電子躍遷而引起的。這個(gè)過(guò)程中發(fā)生X射線的光電效應(yīng)和俄歇效應(yīng)。
[0004] 現(xiàn)有的X光檢測(cè)設(shè)備中的X光屏蔽是通過(guò)封閉式鉛房,爬坡、轉(zhuǎn)彎和射線源發(fā)光點(diǎn) 與進(jìn)出料口高度差的方式來(lái)屏蔽射線,這種技術(shù)在在線檢測(cè)上使用中對(duì)工件尺寸大小有一 定的局限性,成本高,運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)復(fù)雜,故障率高,效率低。
[0005]


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 為了克服上述缺陷,本發(fā)明提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低,故障率低檢測(cè)工件沒(méi)有 局限性的X光平行屏蔽裝置。
[0007] 本發(fā)明為了解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:一種X光平行屏蔽裝置,包括X 射線屏蔽房,所述X射線屏蔽房?jī)?nèi)設(shè)有一輸送待檢測(cè)物品的輸送機(jī),X射線屏蔽房?jī)?nèi)位于輸 送機(jī)的兩端分別設(shè)有出料口和進(jìn)料口,輸送機(jī)的下方設(shè)有X射線源,對(duì)應(yīng)輸送機(jī)的上方設(shè) 有X射線探測(cè)器,所述輸送機(jī)為平行式輸送機(jī),所述X射線屏蔽房?jī)?nèi)位于輸送機(jī)的上下方平 行設(shè)有若干組可調(diào)式射線折射擋板,所述每組可調(diào)式射線折射擋板由兩塊呈一定夾角設(shè)置 的鉛板組成。
[0008] 作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述出料口和進(jìn)料口為大小可調(diào)的可調(diào)式進(jìn)出口。
[0009] 作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述X射線屏蔽房是鉛制成。所述可調(diào)式射線折射擋 板在X射線屏蔽房中的高度為可調(diào)節(jié)的,所述可調(diào)式射線折射擋板的兩塊鉛板之間的夾角 也為可調(diào)節(jié)的。
[0010] 本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明采用平行式輻射屏蔽技術(shù),平行式輸送機(jī)檢測(cè)工件, 這種結(jié)構(gòu)X光屏蔽難度大,本發(fā)明主要是根據(jù)X光特性來(lái)屏蔽X光,X光是以光子形式相對(duì) 規(guī)則運(yùn)動(dòng),本發(fā)明是通過(guò)可調(diào)式射線擋板來(lái)改變光子的運(yùn)動(dòng)軌跡,使光子能量在二次激發(fā) 時(shí)能量不斷減弱,直到?jīng)]有輻射泄漏為止,本身空氣也會(huì)使光子能量轉(zhuǎn)換熱能,這種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn) 單有效,設(shè)計(jì)加工難度低,結(jié)構(gòu)成本低,與常規(guī)市面上的結(jié)構(gòu)相比更穩(wěn)定,效率高,常規(guī)運(yùn)用 到工廠在線自動(dòng)檢測(cè)。
[0011]

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012] 圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖; 圖中標(biāo)示:l-x射線屏蔽房;2-輸送機(jī);3-出料口;4-進(jìn)料口;5-X射線源;6-X射線探 測(cè)器;7-可調(diào)式射線折射擋板。
[0013]

【具體實(shí)施方式】
[0014] 為了加深對(duì)本發(fā)明的理解,下面將結(jié)合實(shí)施例和附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳述,該 實(shí)施例僅用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。
[0015] 圖1示出了本發(fā)明一種X光平行屏蔽檢測(cè)裝置的一種實(shí)施方式,包括X射線屏蔽 房1,所述X射線屏蔽房1內(nèi)設(shè)有一輸送待檢測(cè)物品的輸送機(jī)2, X射線屏蔽房1內(nèi)位于輸 送機(jī)2的兩端分別設(shè)有出料口 3和進(jìn)料口 4,輸送機(jī)2的下方設(shè)有X射線源5,對(duì)應(yīng)輸送機(jī) 2的上方設(shè)有X射線探測(cè)器6,所述輸送機(jī)2為平行式輸送機(jī),所述X射線屏蔽房1內(nèi)位于 輸送機(jī)2的上下方平行設(shè)有若干組可調(diào)式射線折射擋板7,所述每組可調(diào)式射線折射擋板 7由兩塊呈一定夾角設(shè)置的鉛板組成。所述可調(diào)式射線折射擋板7在X射線屏蔽房1中的 高度為可調(diào)節(jié)的,所述可調(diào)式射線折射擋板7的兩塊鉛板之間的夾角也為可調(diào)節(jié)的。通過(guò) 可調(diào)式射線擋板來(lái)改變光子的運(yùn)動(dòng)軌跡,使光子能量在二次激發(fā)時(shí)能量不斷減弱,直到?jīng)] 有輻射泄漏為止,所述出料口 3和進(jìn)料口 4為大小可調(diào)的可調(diào)式進(jìn)出口,所述X射線屏蔽房 1是鉛制成,而且可以采用平行式輻射屏蔽技術(shù),這種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單有效,設(shè)計(jì)加工難度低,結(jié)構(gòu) 成本低。
【權(quán)利要求】
1. 一種X光平行屏蔽裝置,包括X射線屏蔽房(1),所述X射線屏蔽房(1)內(nèi)設(shè)有一輸 送待檢測(cè)物品的輸送機(jī)(2),X射線屏蔽房(1)內(nèi)位于輸送機(jī)(2)的兩端分別設(shè)有出料口 (3)和進(jìn)料口(4),輸送機(jī)(2)的下方設(shè)有X射線源(5),對(duì)應(yīng)輸送機(jī)(2)的上方設(shè)有X射線 探測(cè)器(6),其特征在于:所述輸送機(jī)(2)為平行式輸送機(jī),所述X射線屏蔽房(1)內(nèi)位于 輸送機(jī)(2)的上下方平行設(shè)有若干組可調(diào)式射線折射擋板(7),所述每組可調(diào)式射線折射 擋板(7)由兩塊呈夾角設(shè)置的鉛板組成。
2. 根據(jù)權(quán)利所述要求1所述的X光平行屏蔽裝置,其特征在于:所述出料口(3)和進(jìn) 料口(4)為大小可調(diào)的可調(diào)式進(jìn)出口。
3. 根據(jù)權(quán)利所述要求1所述的X光平行屏蔽裝置,其特征在于:所述X射線屏蔽房(1) 是鉛制成。
4. 根據(jù)權(quán)利所述要求1所述的X光平行屏蔽裝置,其特征在于:所述可調(diào)式射線折射 擋板(7)在X射線屏蔽房(1)中的高度為可調(diào)節(jié)的,所述可調(diào)式射線折射擋板(7)的兩塊 鉛板之間的夾角也為可調(diào)節(jié)的。
【文檔編號(hào)】G01V5/00GK104155698SQ201410434799
【公開日】2014年11月19日 申請(qǐng)日期:2014年8月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月30日
【發(fā)明者】楊德明 申請(qǐng)人:昆山易方達(dá)精密儀器有限公司
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