用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置，包括基座：在外部，靠近下端具有用于與氣密測試儀器固定的環(huán)形的卡接槽，緊靠上端設有一圈外螺紋，上端具有內凹的圓形的測試平面，這種用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置針對不同產品只要根據(jù)產品外形制作對應的密封橡膠墊片即可，通用性強，密封橡膠墊片選材廣泛，具有結構簡單、制作方便、裝拆方便等優(yōu)點。通過鎖定支架令產品與密封橡膠墊片之間的密封效果得到增強，使得產品與密封橡膠墊片平面密封可靠，提高檢測準確性和效率；檢測過程密封材料與產品無直接接觸，對產品質量無影響。
【專利說明】用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及氣密性檢漏【技術領域】，尤其涉及一種用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置。
【背景技術】
[0002]隨著我國電子封裝業(yè)的飛速發(fā)展，直接促進著金屬-玻璃封裝技術的發(fā)展。作為玻璃介質氣密封裝，近年來已形成了龐大的技術產業(yè)，產品廣泛應用于人類活動的各個領域，從航空、航天、兵器、船舶、汽車等工業(yè)，到各類家用電器，各類通訊器材再到兒童玩具。眾所周知，氣密性是玻璃封裝件的重要指標之一，氣密性不好會使外界水汽、有害離子或氣體進入元器件的腔體內而產生表面漏電，參數(shù)變壞等失效模式，據(jù)報導，由于腔體內濕氣含量大而導致元器件失效的比例為總失效率的26%以上。常用連接檢漏儀標準接口的氣密封裝置是一種定制的普通工裝，由于每款產品測試均需制作專用工裝，通用性不強，會降低檢測工作效率，也不便于工裝管理和維護；檢測過程中密封面易漏氣，易造成誤判；常用增加密封材料輔助產品與密封橡膠墊片平面之間進行密封，延長測試時間，也會影響產品質量。

【發(fā)明內容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術問題是:為了解決現(xiàn)有的對玻璃封裝件進行氣密檢漏的設備通用性不強、檢測工作效率低、易漏氣、檢測結果不準確和影響產品質量的問題，本發(fā)明提供了一種用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置來解決上述問題。
[0004]本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置，包括
基座:在外部，靠近下端具有用于與氣密測試儀器固定的環(huán)形的卡接槽，緊靠上端設有一圈外螺紋，上端具有內凹的圓形的測試平面；在內部，從上至下依次具有同軸設置的第一測試孔、氣壓孔和導向孔，組成連通上下端的真空測試通道，所述第一測試孔位于所述測試平面的中心；
螺蓋:包括圓柱形的連接部和從連接部的上端沿徑向朝內延伸形成的圓環(huán)形的遮蓋部，所述連接部的內壁上具有與所述外螺紋相匹配的內螺紋，所述遮蓋部的內徑小于所述測試平面的直徑，所述連接部的兩側開設有二個關于中軸對稱的螺紋孔；
圓形的橡膠密封墊:直徑與所述測試平面的直徑相等，中心具有與所述第一測試孔的直徑大致相等的第二測試孔；
鎖定支架:包括固定塊、二個螺釘、鎖合片和翻轉板，所述固定塊和鎖合片分別通過一個所述螺釘和一個所述螺紋孔固定在所述連接部的兩側，所述鎖合片的上端具有一個凸臺，所述翻轉板的兩端為連接端和固定端，所述連接端與所述固定塊鉸接，所述端可被所述凸臺向下壓制，所述翻轉板具有一條開口在所述連接端并向固定端延伸的夾持槽。
[0005]為了方便旋緊螺蓋，所述連接部外壁上具有沿軸向均勻密布有防滑豎紋。
[0006]具體的，所述固定塊的上端具有二塊平行設置的第一連接板，所述二塊第一連接板上分別開設有一個相對應的第一通孔，所述翻轉板的固定端具有一塊第二連接板，所述第二連接板上開設有一個第二通孔，所述鎖定支架還包括一個銷釘，所述第二連接板設置在二塊所述第一連接板之間并通過銷釘鉸接。
[0007]為了針對不同玻璃封裝件的高度不同，所述固定塊具有調節(jié)孔，所述固定塊通過調節(jié)孔被所述螺釘固定在所述連接部上，所述調節(jié)孔上下之間的距離大于所述螺釘?shù)穆輻U的直徑。
[0008]本發(fā)明的有益效果是，這種用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置針對不同產品只要根據(jù)產品外形制作對應的密封橡膠墊片即可，通用性強，密封橡膠墊片選材廣泛，具有結構簡單、制作方便、裝拆方便等優(yōu)點。通過鎖定支架令產品與密封橡膠墊片之間的密封效果得到增強，使得產品與密封橡膠墊片平面密封可靠，提高檢測準確性和效率；檢測過程密封材料與產品無直接接觸，對產品質量無影響。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]下面結合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明。
[0010]圖1是本發(fā)明用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置最優(yōu)實施例的結構示意圖。
[0011]圖2是本發(fā)明用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置的爆炸圖。
[0012]圖3是本發(fā)明用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置的基座的剖視圖。
[0013]圖中1、基座，2、圓形的橡膠密封墊，3、螺蓋，4、鎖定支架，11、外螺紋，12、第一測試孔，13、測試平面，14、氣壓孔，15、導向孔，16、卡接槽，21、第二測試孔，31、防滑豎紋，32、內螺紋，41、翻轉板，42、銷釘，43、固定塊，44、螺釘，45、鎖合片，411、夾持槽。
【具體實施方式】
[0014]現(xiàn)在結合附圖對本發(fā)明作進一步詳細的說明。這些附圖均為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本發(fā)明的基本結構，因此其僅顯示與本發(fā)明有關的構成。
[0015]如圖f 3所示，本發(fā)明提供了一種用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置，包括 基座1:在外部，靠近下端具有用于與氣密測試儀器固定的環(huán)形的卡接槽16，緊靠上端
設有一圈外螺紋11，上端具有內凹的圓形的測試平面13 ;在內部，從上至下依次具有同軸設置的第一測試孔12、氣壓孔14和導向孔15，組成連通上下端的真空測試通道，第一測試孔12位于測試平面13的中心；
螺蓋3:包括圓柱形的連接部和從連接部的上端沿徑向朝內延伸形成的圓環(huán)形的遮蓋部，連接部的內壁上具有與外螺紋11相匹配的內螺紋32，外壁上具有沿軸向均勻密布有防滑豎紋31，遮蓋部的內徑小于測試平面13的直徑，連接部的兩側開設有二個關于中軸對稱的螺紋孔；
圓形的橡膠密封墊2:直徑與測試平面13的直徑相等，中心具有與第一測試孔12的直徑大致相等的第二測試孔21 ；
鎖定支架4:包括固定塊43、二個螺釘44、鎖合片45和翻轉板41，固定塊43和鎖合片45分別通過一個螺釘44和一個螺紋孔固定在連接部的兩側，鎖合片45的上端具有一個凸臺，翻轉板41的兩端為連接端和固定端，固定塊43的上端具有二塊平行設置的第一連接板，二塊第一連接板上分別開設有一個相對應的第一通孔，翻轉板41的固定端具有一塊第二連接板，第二連接板上開設有一個第二通孔，鎖定支架4還包括一個銷釘42，第二連接板設置在二塊第一連接板之間并通過銷釘42鉸接，端可被凸臺向下壓制，翻轉板41具有一條開口在連接端并向固定端延伸的夾持槽411，固定塊43具有調節(jié)孔，固定塊43通過調節(jié)孔被螺釘44固定在連接部上，調節(jié)孔上下之間的距離大于螺釘44的螺桿的直徑。
[0016]檢測時，先通過卡接槽16將基座I與氣密測試儀器固定，真空測試通道與儀器的氣流通道貫通，橡膠密封墊2放置在測試平面13上并通過旋緊螺蓋3緊固，將待測產品通過遮蓋部中間的圓孔放置在橡膠密封墊2上，翻轉板41將待測產品扣鎖固定，然后測試儀器打開真空泵抽氣，是真空測試通道處于真空，再在待測產品上端吹入檢測氣體，觀察測試儀器的指標是否符合要求，完成后松開翻轉板41并取出產品。
[0017]以上述依據(jù)本發(fā)明的理想實施例為啟示，通過上述的說明內容，相關工作人員完全可以在不偏離本項發(fā)明技術思想的范圍內，進行多樣的變更以及修改。本項發(fā)明的技術性范圍并不局限于說明書上的內容，必須要根據(jù)權利要求范圍來確定其技術性范圍。
【權利要求】
1.一種用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置，其特征在于:包括 基座:在外部，靠近下端具有用于與氣密測試儀器固定的環(huán)形的卡接槽，緊靠上端設有一圈外螺紋，上端具有內凹的圓形的測試平面；在內部，從上至下依次具有同軸設置的第一測試孔、氣壓孔和導向孔，組成連通上下端的真空測試通道，所述第一測試孔位于所述測試平面的中心； 螺蓋:包括圓柱形的連接部和從連接部的上端沿徑向朝內延伸形成的圓環(huán)形的遮蓋部，所述連接部的內壁上具有與所述外螺紋相匹配的內螺紋，所述遮蓋部的內徑小于所述測試平面的直徑，所述連接部的兩側開設有二個關于中軸對稱的螺紋孔； 圓形的橡膠密封墊:直徑與所述測試平面的直徑相等，中心具有與所述第一測試孔的直徑大致相等的第二測試孔； 鎖定支架:包括固定塊、二個螺釘、鎖合片和翻轉板，所述固定塊和鎖合片分別通過一個所述螺釘和一個所述螺紋孔固定在所述連接部的兩側，所述鎖合片的上端具有一個凸臺，所述翻轉板的兩端為連接端和固定端，所述連接端與所述固定塊鉸接，所述端可被所述凸臺向下壓制，所述翻轉板具有一條開口在所述連接端并向固定端延伸的夾持槽。
2.如權利要求1所述的用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置，其特征在于:所述連接部外壁上具有沿軸向均勻密布有防滑豎紋。
3.如權利要求1所述的用于玻璃封裝 件的氣密性檢漏裝置，其特征在于:所述固定塊的上端具有二塊平行設置的第一連接板，所述二塊第一連接板上分別開設有一個相對應的第一通孔，所述翻轉板的固定端具有一塊第二連接板，所述第二連接板上開設有一個第二通孔，所述鎖定支架還包括一個銷釘，所述第二連接板設置在二塊所述第一連接板之間并通過銷釘鉸接。
4.如權利要求1所述的用于玻璃封裝件的氣密性檢漏裝置，其特征在于:所述固定塊具有調節(jié)孔，所述固定塊通過調節(jié)孔被所述螺釘固定在所述連接部上，所述調節(jié)孔上下之間的距離大于所述螺釘?shù)穆輻U的直徑。
【文檔編號】G01M3/02GK104019946SQ201410298189
【公開日】2014年9月3日 申請日期:2014年6月27日 優(yōu)先權日:2014年6月27日
【發(fā)明者】周新, 郭嬿 申請人:常州普納電子科技有限公司