用于測定電子裝置的環(huán)境溫度的方法和系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一種用于測定電子裝置的環(huán)境溫度的方法，所述裝置包括：定位于共用殼體(101)內(nèi)的發(fā)熱部件(102)和溫度傳感器(105)，所述方法包括以下步驟：在具有受控環(huán)境溫度的環(huán)境中：測定(307)第一功率模式(Emin)與第二功率模式(Emax)之間的功率耗散變化的裝置特定系數(shù)(a)，其中在所述第二功率模式(Emax)中，所述裝置比在所述第一功率模式(Emin)中耗散更多功率；以及在將要測定所述環(huán)境溫度的環(huán)境中：通過用于所述第一功率模式(Emin)和所述第二功率模式(Emax)的溫度傳感器(105)測量(203-205)溫度(Tmin,Tmax)，根據(jù)所測量的溫度(Tmin,Tmax)和功率耗散變化的所述裝置特定系數(shù)(a)計算(206)環(huán)境溫度(Tamb)。
【專利說明】用于測定電子裝置的環(huán)境溫度的方法和系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及測定電子裝置的環(huán)境溫度。

【背景技術(shù)】
[0002]電子裝置通常被設(shè)計成在通過可容許濕度和溫度范圍所界定的特定環(huán)境條件下操作，所述范圍對于期望操作所述裝置的給定地理區(qū)域來說通常是正常的。例如，可能期望在+5至+35攝氏度的溫度范圍內(nèi)操作裝置。這個范圍對于家庭內(nèi)部來說通常為正常的。
[0003]然而，在終端用戶住宅房屋處，裝置可能常常被無意地放置在條件超過容許溫度范圍的環(huán)境中。例如，DVD播放器或機(jī)頂盒可能放置在遭受日照的密閉櫥柜中。在那些條件下，考慮到由裝置本身產(chǎn)生的熱量和日照熱量，所述裝置的環(huán)境大氣將可能超過容許溫度。這可能導(dǎo)致由過熱引起的裝置故障。此外，即使環(huán)境溫度在容許限度內(nèi)，但裝置安裝不當(dāng)時，所述裝置仍可能過熱，例如，由于在裝置頂部上鋪放報紙而遮蓋裝置殼體處的通氣口從而引起裝置的熱阻增加的情況。
[0004]因此希望監(jiān)控電子裝置的環(huán)境溫度，以便例如當(dāng)溫度超過容許范圍時，引起裝置自動斷電或存儲數(shù)據(jù)以達(dá)維修目的。希望進(jìn)一步監(jiān)控電子裝置的熱阻變化。
[0005]環(huán)境溫度可通過定位在裝置外部殼體處的專用溫度傳感器來監(jiān)控。
[0006]例如，US8374730提出用于動態(tài)地預(yù)算功率使用來控制數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)中的溫度的方法和設(shè)備。所述系統(tǒng)包括:第一傳感器，其測定數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)所處環(huán)境的環(huán)境溫度；連接到所述傳感器的控制器，其根據(jù)環(huán)境溫度控制數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的操作；以及第二傳感器，其測定數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的部件的實際溫度。
[0007]同樣，US6754607提出用于控制設(shè)備的故障診斷方法,所述設(shè)備包括:第一傳感器，其用于檢測控制設(shè)備的內(nèi)部溫度；第二傳感器，其用于檢測控制設(shè)備的外部溫度；以及內(nèi)部存儲介質(zhì)，其用于存儲在控制設(shè)備內(nèi)部已創(chuàng)建的信息。
[0008]這種專用環(huán)境溫度傳感器增加了裝置的成本和復(fù)雜性。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]本發(fā)明的目的是一種用于測定電子裝置的環(huán)境溫度的方法，所述裝置包括:定位于共用殼體內(nèi)的發(fā)熱部件和溫度傳感器，所述方法包括以下步驟:在具有受控環(huán)境溫度的環(huán)境中:測定第一功率模式(Emin)與第二功率模式(Emax)之間的功率耗散變化的裝置特定系數(shù)(a)，其中在所述第二功率模式(Emax)中，所述裝置比在所述第一功率模式(Emin)中耗散更多功率；以及在將要測定環(huán)境溫度的環(huán)境中:通過用于所述第一功率模式(Emin)和所述第二功率模式(Emax)的溫度傳感器測量溫度(Tmin，Tmax),根據(jù)所測量的溫度(Tmin，Tmax)和功率耗散變化的所述裝置特定系數(shù)(a)來計算環(huán)境溫度(Tamb)。
[0010]優(yōu)選地，所述方法進(jìn)一步包括以下步驟:將所測定的環(huán)境溫度(Tamb)與最大容許環(huán)境溫度(Tambmax)相比較，并且在所測定的環(huán)境溫度(Tamb)高于所述最大容許環(huán)境溫度
(Tgjnbmax
)的情況下發(fā)出報警。
[0011]優(yōu)選地，所述方法進(jìn)一步包括以下步驟:在具有所述受控環(huán)境溫度的所述環(huán)境中:測定所述裝置與裝置環(huán)境之間的熱阻(R)和所述第一功率模式(Emin)中的功率耗散(Pmin)的裝置特定乘積(R*pmin)，以及在將要測定所述環(huán)境溫度的所述環(huán)境中:根據(jù)所測量的溫度(Tfflin, Tfflax)和裝置特定乘積(R*Pmin)來測定裝置-裝置環(huán)境熱阻變化的系數(shù)(b)。
[0012]優(yōu)選地，所述方法進(jìn)一步包括以下步驟:在所計算的熱阻系數(shù)(b)超過值I的情況下，發(fā)出報警。
[0013]本發(fā)明的另一目的是一種計算機(jī)程序以及一種計算機(jī)可讀介質(zhì)，所述計算機(jī)程序包括當(dāng)所述程序在計算機(jī)上運(yùn)行時用于執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的所述方法的所有步驟的程序代碼裝置，所述計算機(jī)可讀介質(zhì)存儲計算機(jī)可執(zhí)行指令，所述計算機(jī)可執(zhí)行指令在計算機(jī)上執(zhí)行時執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的所述方法的所有步驟。
[0014]本發(fā)明的目的還是一種電子裝置，其包括定位于共用殼體內(nèi)的發(fā)熱部件和溫度傳感器，所述裝置進(jìn)一步包括:非易失性存儲器，其被配置來存儲第一功率模式(Emin)與第二功率模式(Emax)之間的功率耗散變化的裝置特定系數(shù)(a)，其中在所述第二功率模式(Emax)中，所述裝置比在所述第一功率模式(Emin)中耗散更多功率；以及控制器，其被配置來通過以下測定所述環(huán)境溫度:通過用于所述第一功率模式(Emin)和所述第二功率模式(Emax)的溫度傳感器測量溫度(Tmin，Tmax),根據(jù)所測量的溫度(Tmin，Tmax)和從所述非易失性存儲器讀取的功率耗散變化的所述裝置特定系數(shù)(a)來計算所述環(huán)境溫度(Tamb)15
[0015]優(yōu)選地，所述控制器被進(jìn)一步配置來將所測定的環(huán)境溫度(Tamb)與最大容許環(huán)境溫度(Tambmax)相比較，并且在所測定的環(huán)境溫度(Tamb)高于所述最大容許環(huán)境溫度(Tambmax)的情況下發(fā)出報警。
[0016]優(yōu)選地，所述非易失性存儲器被進(jìn)一步配置來存儲所述裝置與裝置環(huán)境之間的熱阻(R)和所述第一功率模式(Emin)中的功率耗散(Pmin)的裝置特定乘積(R*Pmin);以及所述控制器被進(jìn)一步配置來通過根據(jù)所測量的溫度(Tmin，Tfflax)和裝置特定乘積(R*Pmin)測定裝置-裝置環(huán)境熱阻變化的系數(shù)(b)來檢測裝置-裝置環(huán)境熱阻變化的系數(shù)。
[0017]優(yōu)選地，所述控制器被進(jìn)一步配置來在所計算的熱阻系數(shù)(b)超過值I的情況下，發(fā)出報警。
[0018]本發(fā)明利用裝置殼體內(nèi)部的單一傳感器來測定環(huán)境溫度和熱阻變化。這簡化了電子裝置的設(shè)計并允許使用通常用于所述裝置中的傳感器之一，而無需將專用環(huán)境溫度傳感器安裝在裝置殼體外部。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019]本發(fā)明借助于附圖上的示例性實施方案示出，其中:
[0020]圖1呈現(xiàn)其中可應(yīng)用本發(fā)明的典型電子裝置的示意圖；
[0021]圖2呈現(xiàn)用于測定環(huán)境溫度的方法；
[0022]圖3呈現(xiàn)用于測定裝置特定參數(shù)的方法。

【具體實施方式】
[0023]圖1呈現(xiàn)可應(yīng)用本發(fā)明的典型電子裝置的示意圖。裝置具有殼體101，發(fā)熱部件102安裝在所述殼體中。
[0024]典型的發(fā)熱部件102包括數(shù)據(jù)處理器、信號放大器或電源?？刂破?04用來通過分析溫度傳感器105的性質(zhì)并且根據(jù)圖2示出的過程操作功率產(chǎn)生部件來測定溫度。功率產(chǎn)生部件可通過功率模式調(diào)節(jié)器103控制，所述功率模式調(diào)節(jié)器被配置來設(shè)置裝置以便在特定功率模式下操作，所述特定功率模式諸如有源(包括最大功率耗散模式)、無源、關(guān)閉或備用模式。
[0025]控制器104包括非易失性存儲器111，其用于存儲裝置特定參數(shù):功率耗散變化系數(shù)(a)、裝置與裝置的環(huán)境之間的熱阻(R)和功率耗散(Pmin)的乘積(R*Pmin)以及最大容許環(huán)境溫度(Tambmax)?？刂破?04進(jìn)一步包括操作寄存器112，其用于存儲測量數(shù)據(jù):所測量的溫度(Tmin，Tmax)和所計算的系數(shù):裝置-裝置環(huán)境熱阻變化的系數(shù)(b)和所測定的環(huán)境溫度(Tamb)。
[0026]以下是本發(fā)明方法的理論介紹。
[0027]在稱為Emin的無源模式中，以下關(guān)系出現(xiàn)在Emin模式中:
[0028](I)Tfflin = Τ?η+Κω?η*Ρω?η
[0029]其中:
[0030]Tmin -在Emin模式中由溫度傳感器105所指示的溫度，
[0031 ] TambEmin - Emin模式中的裝置環(huán)境溫度，
[0032]Rmin - Emin模式中的裝置-裝置環(huán)境熱阻，
[0033]Pmin - Emin模式中所耗散的功率。
[0034]在裝置比Emin模式中消耗更多功率的稱為Emax的較高功率消耗模式中，出現(xiàn)以下關(guān)系:
[0035]⑵Tmax = TambEmax+Rmax*Pmaχ
[0036]其中:
[0037]Tmax -在Emax模式中由溫度傳感器105所指示的溫度，
[0038]Τ^Εω3Χ - Efflax模式中的裝置環(huán)境溫度，
[0039]Rmax - Emax模式中的裝置-裝置環(huán)境熱阻，
[0040]Pmax - Emax模式中所耗散的功率。
[0041]本發(fā)明假定環(huán)境溫度在Emin模式和Emax模式中是恒定的。在典型的機(jī)頂盒中，當(dāng)裝置可從Emin中的穩(wěn)定溫度開始達(dá)到Emax中的穩(wěn)定溫度時，期間所經(jīng)過的時間平均為30分鐘。在其它裝置中，這個時間可能更長，即數(shù)小時。
[0042]假定環(huán)境溫度在Emin模式和Emax模式中是恒定的(Τ




amb r^ambEmin ^ambEmax^，
并且裝置-裝置環(huán)境熱阻在Emin模式和Emax模式中是恒定的，即Rth = Rfflin = Rfflax,那么方程(I)和
(2)以以下形式出現(xiàn):
[0043](3)
rnnwi fTmin = Tamb + Itlh.Ριιιι?
^Tmax - Tatnk + Ktk * Pmax
[0045]同時
[0046](4)
[0047]Rth = R+ Λ R
[0048]其中:
[0049]Rth -工作環(huán)境中的裝置-裝置環(huán)境熱阻，
[0050]R-實驗室環(huán)境(即，具有受控環(huán)境溫度的環(huán)境)中的裝置-裝置環(huán)境熱阻，所述裝置在符合手動操作所需的這種熱阻的環(huán)境中工作，
[0051]AR-工作環(huán)境與實驗室環(huán)境的熱阻之間的差，
[0052]并且
[0053](5)
[0054]Pmax = Pmin+ Δ P
[0055]其中AP-Emax模式與Emin模式的功率耗散之間的差，
[0056]方程組(3)等于
[0057](6)
C Tmin — TmnB 4.(Λ + ΔΚ) *.Pwdr,
L0058」= Tmnb + m + M}本 iPvUjl +Δρ}
[0059]將(6)兩邊同時除以乘積I^Pniin,得到
[0060](7)
"Tnm1- Tamb (R + M) + Pmin _Μ + ΔΕ
「nnR1lR * PminR * PrninJ?.Tmax — Tamb _ (I + &R) * (Pmn + AF) _ I + 41 ^ Pmn, + ΔΡ
k R* PtmnR *PndnR Ρπ?η
[0062]假定
[0063](8)
R + tR
[0064]i =---
H
[0065]其中b -裝置-裝置環(huán)境熱阻變化的系數(shù)，
[0066]并且
[0067](9)

P'min + ΔΡ
[0068]? = ~—-
Pmm
[0069]其中a -功率耗散變化的系數(shù)，
[0070]方程組(J)等于
[0071](10)
{ Tmn 讀 Tmnb ,
I —-—-—；— = 0
[00721 ? 4 P^UtlL。。"」 ^Twmx-Tmnk %
1-ss t a
V R 本 Pndn
[0073]將(10)兩邊同時相除，得到
[0074](11)
Γ nTmux-Tamb
[0075]
[0076]因此，裝置的環(huán)境溫度是
[0077](12)Γ ?L Tmax-a^Tmin

1-a
[0079]并且裝置-裝置環(huán)境熱阻變化的系數(shù)是
[0080](13)
r n , TmIn-Tamh
[0081]_

R * Fmtii
[0082]利用(12)替換Tanib，得到
[0083](14)
， rma.T - a ? Tmin _ _
[0084]=...............................1-1__=..........?!!Ξ^.ζΙ--ΞΞ...........R 本 PnmiR 本.Pmin ^ (1-* a)
[0085]b = I指示:裝置在符合手動操作所需的這種熱阻的環(huán)境中工作，如⑶所示。
[0086]系數(shù)a和乘積R*Pmin對于每個具體裝置來說是恒定和特定的。它們在相同類型的裝置之間由于每個裝置中所使用的電子部件或機(jī)械部件的可變參數(shù)而可能稍有不同。在將裝置布置在實驗室中之前，將要根據(jù)圖3的過程來測定所述參數(shù)。
[0087]如(11)所述，在實驗室環(huán)境中，即對于Emin模式和Emax模式中的恒定環(huán)境溫度和Efflin模式和Emax模式中的恒定裝置-裝置環(huán)境熱阻來說，其中AR = O;
[0088](15)
[0089]β = --ΕΞ?ζ?52--

Tminl - Tambl
[0090](16)
[0091]R*Pmin = Tminl-Tambl
[0092]其中:
[0093]Tmaxl -在實驗室環(huán)境中，在Emax模式中由溫度傳感器所指示的溫度，
[0094]Tminl -在實驗室環(huán)境中，在Emin模式中由溫度傳感器所指示的溫度，
[0095]Tambl-在實驗室環(huán)境中的裝置環(huán)境溫度。
[0096]圖2呈現(xiàn)一種用于測定環(huán)境溫度的方法，所述方法通過控制器104來操作。在步驟201中使裝置通電之后，過程開始，此時裝置在步驟202中切換成無源模式。接著，在步驟203中通過從溫度傳感器105讀取溫度測量值而獲得溫度了^。然后，在步驟204中通過經(jīng)由功率模式調(diào)節(jié)器103將裝置轉(zhuǎn)換成較高功率消耗模式來增加功率消耗，例如通過啟用在無源模式中通常停用的大多數(shù)功率消耗功能來進(jìn)行。
[0097]接著，在步驟205中，從溫度傳感器105讀取溫度Tmax。接著，在步驟206中，基于以上指定的方程(12)計算環(huán)境溫度Tamb。然后，在步驟207中，可基于以上指定的方程(13)計算系數(shù)b。在步驟208中，控制器檢查環(huán)境溫度Tamb是否高于最大容許環(huán)境溫度Tambmax，并且如果是，那么控制器將在步驟209中發(fā)出報警。
[0098]然后，控制器可在步驟210中檢查系數(shù)b是否高于1，并且如果是，那么控制器在步驟211中發(fā)出報警。接著，過程返回到無源模式，并且可在預(yù)定溫度測量事件之后重復(fù)測量過程。因此，圖2的過程容許首先測定環(huán)境溫度(Tamb)，并其次測定裝置熱阻(b)是否存在變化。
[0099]溫度測量事件測定應(yīng)測量溫度的時刻。當(dāng)裝置在容許設(shè)置兩個不同功率模式的模式中操作時可測量溫度，其中裝置在第二模式中比在第一模式中耗散更多功率。例如，這可在裝置處于備用模式(其中可臨時調(diào)用較高功率耗散模式)時完成?；蛘?，這可在甚至當(dāng)裝置處于正常操作模式，但沒有啟用裝置的所有功能并且裝置可臨時切換成較高功率模式(通過啟用其它功能)時完成。
[0100]所述事件可以循環(huán)方式調(diào)用，例如每小時或每天一次(例如，在特定時間段，如中午)。或者，可在改變裝置狀態(tài)之后調(diào)用所述事件，例如每次將裝置切換成備用模式或從斷電模式通電時(就可能的限制來說，測量將例如每天僅完成一次)。
[0101]圖3呈現(xiàn)用于測量具體裝置的參數(shù)‘a(chǎn)’、‘R*Pmin’的過程。所述參數(shù)是特定乘積，并且測量值(計算結(jié)果)應(yīng)在設(shè)計/試驗階段執(zhí)行，和/或所述測量值(計算結(jié)果)對于具體裝置可為特定的，并且所述過程應(yīng)在裝置完全組裝之后的制造階段執(zhí)行。例如，所述過程可在裝置的老化測試期間執(zhí)行。首先，在步驟301中將裝置通電并在步驟302中使用外部傳感器獲得環(huán)境溫度Tamb。在步驟303中將裝置切換成無源模式，并且在步驟304中從裝置溫度傳感器105讀取溫度Tmin。然后，在步驟305中將裝置切換成較高功率消耗模式，并且在步驟306中從裝置溫度傳感器105讀取溫度Tmax。接著，在步驟307中，使用公式(15)計算系數(shù)a的值并將其存儲在裝置的非易失性存儲器111中。然后，在步驟308中，使用公式(16)計算R*Pmin的值并將其存儲在裝置的非易失性存儲器111中。值(a)和(R*Pmin)與容許最大溫度Tambmax —起存儲在裝置的非易失存儲器111中。
[0102]本領(lǐng)域技術(shù)人員可容易認(rèn)識到，用于測定電子裝置的環(huán)境溫度的前述方法可通過一個或多個計算機(jī)程序來執(zhí)行和/或控制。這類計算機(jī)程序通常通過利用裝置的計算資源來執(zhí)行。計算機(jī)程序可存儲在非易失性存儲器(例如閃存)或易失性存儲器(例如RAM)中，并通過處理單元來執(zhí)行。這些存儲器是用于存儲計算機(jī)程序的示例性記錄介質(zhì)，所述計算機(jī)程序包括執(zhí)行根據(jù)本文提出的技術(shù)概念的計算機(jī)實現(xiàn)方法的所有步驟的計算機(jī)可執(zhí)行指令。
[0103]雖然已參考具體優(yōu)選實施方案來描繪、描述以及界定本文提出的本發(fā)明，但前述說明書中實行方案的這類參考和實施例不暗示對本發(fā)明的任何限制。然而，顯然的是，在不脫離技術(shù)概念的較寬范圍的情況下，可對本發(fā)明做出各種修改和改變。所提出的優(yōu)選實施方案僅僅是示例性且不是對本文提出的技術(shù)概念范圍的詳盡闡明。因此，保護(hù)范圍不限于說明書中描述的優(yōu)選實施方案，而僅通過隨附權(quán)利要求書來限定。
【權(quán)利要求】
1.一種用于測定電子裝置的環(huán)境溫度的方法，所述裝置包括:定位于共用殼體(101)內(nèi)的發(fā)熱部件(102)和溫度傳感器(105)，所述方法包括以下步驟: -在具有受控環(huán)境溫度的環(huán)境中: -測定(307)第一功率模式(Emin)與第二功率模式(Emax)之間的功率耗散變化的裝置特定系數(shù)(a)，其中在所述第二功率模式(Emax)中，所述裝置比在所述第一功率模式(Emin)中耗散更多功率， -在將要測定所述環(huán)境溫度的環(huán)境中: -通過用于所述第一功率模式(Emin)和所述第二功率模式(Emax)的溫度傳感器(105)測量(203-205)溫度(Tmin, Tmax)， -根據(jù)所測量的溫度(Tmin，Tmax)和功率耗散變化的所述裝置特定系數(shù)(a)計算(206)環(huán)境溫度(Tamb)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其進(jìn)一步包括以下步驟:將所測定的環(huán)境溫度(Tamb)與最大容許環(huán)境溫度(Tambmax)相比較，并且在所測定的環(huán)境溫度(Tamb)高于所述最大容許環(huán)境溫度(Tambmax)的情況下發(fā)出報警(209)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其進(jìn)一步包括以下步驟: -在具有所述受控環(huán)境溫度的所述環(huán)境中: -測定(308)所述裝置與裝置環(huán)境之間的熱阻(R)和所述第一功率模式(Emin)中的功率耗散(Pmin)的裝置特定乘積(R*Pmin)， -在將要測定所述環(huán)境溫度的所述環(huán)境中: -根據(jù)所測量的溫度(Tmin，Tmax)和裝置特定乘積(R*Pmin)測定(207)裝置-裝置環(huán)境熱阻變化的系數(shù)(b)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其進(jìn)一步包括步驟:在所計算的熱阻系數(shù)(b)超過值I的情況下，發(fā)出報警(211)。
5.一種計算機(jī)程序，其包括當(dāng)所述程序在計算機(jī)上運(yùn)行時用于執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的方法的所有步驟的程序代碼裝置。
6.一種計算機(jī)可讀介質(zhì)，其在計算機(jī)上執(zhí)行時用于存儲執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的方法的所有步驟的計算機(jī)可執(zhí)行指令。
7.一種電子裝置，其包括定位于共用殼體(101)內(nèi)的發(fā)熱部件(102)和溫度傳感器(105)，其特征在于，所述裝置進(jìn)一步包括: -非易失性存儲器(111)，其被配置來存儲第一功率模式(Emin)與第二功率模式(Emax)之間的功率耗散變化的裝置特定系數(shù)(a)，其中在所述第二功率模式(Emax)中，所述裝置比在所述第一功率模式(Emin)中耗散更多功率， -控制器(104)，其被配置來通過以下測定所述環(huán)境溫度: -通過用于所述第一功率模式(Emin)和所述第二功率模式(Emax)的溫度傳感器(105)測量(203-205)溫度(Tmin, Tmax)， -根據(jù)所測量的溫度(Tmin，Tmax)和從所述非易失性存儲器(111)讀取的功率耗散變化的所述裝置特定系數(shù)(a)來計算(206)所述環(huán)境溫度(Tamb)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述控制器(104)被進(jìn)一步配置來將所測定的環(huán)境溫度(Tamb)與最大容許環(huán)境溫度(Tambmax)相比較，并且在所測定的環(huán)境溫度(Tamb)高于所述最大容許環(huán)境溫度(Tambmax)的情況下發(fā)出報警(209)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的裝置，其特征在于: -所述非易失性存儲器(111)被進(jìn)一步配置來存儲所述裝置與裝置環(huán)境之間的熱阻(R)和所述第一功率模式(Emin)中的功率耗散(Pmin)的裝置特定乘積(R*Pmin)， -并且，所述控制器(104)被進(jìn)一步配置來通過根據(jù)所測量的溫度(Tmin，Tfflax)和裝置特定乘積(R*Pmin)測定(207)裝置-裝置環(huán)境熱阻變化的系數(shù)(b)來檢測裝置-裝置環(huán)境熱阻變化的系數(shù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其中所述控制器被進(jìn)一步配置來在所計算的熱阻系數(shù)(b)超過值I的情況下，發(fā)出報警(211)。
【文檔編號】G01K7/00GK104236736SQ201410286317
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2014年6月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年6月24日
【發(fā)明者】沃達(dá)爾奇克·米羅斯瓦夫, 派斯克德奇·彼得 申請人:遠(yuǎn)升科技股份有限公司