技術(shù)總結(jié)
抗光學(xué)混疊的可溯源精測尺半導(dǎo)體激光測距裝置與方法屬于相位激光測距技術(shù)，所述測距裝置包括測尺生成單元、激光移頻單元、抗混疊測量光路和相位測量單元組成；其測距方法包括步驟如下：步驟一、開啟頻率基準(zhǔn)激光器和半導(dǎo)體激光器；步驟二、一束作為參考激光束，另一束作為測量激光；步驟三、以作為精測尺；步驟四、以作為粗測尺；步驟五、移動測量角椎棱鏡至目標(biāo)端，分別得到精測尺與粗測尺的相位差Φ1和Φ2，最后通過公式得到被測距離值；本發(fā)明解決了超長波長和超短波長的不能同步產(chǎn)生，激光測尺不可直接溯源和非線性周期誤差和頻率混疊的問題，具有測量范圍大、測量精度高、穩(wěn)定性和實時性強(qiáng)的特點。

技術(shù)研發(fā)人員：譚久彬;楊宏興;胡鵬程
受保護(hù)的技術(shù)使用者：哈爾濱工業(yè)大學(xué)
文檔號碼：201410263659
技術(shù)研發(fā)日：2014.06.14
技術(shù)公布日：2017.07.18