能夠生成用于掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的集成電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供能夠生成用于通過(guò)(例如集成電路中的)掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的方法和集成電路的各種實(shí)施例。該集成電路包括測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)、計(jì)數(shù)器電路(204)和控制電路(206)。該測(cè)試圖案檢測(cè)塊經(jīng)配置以接收檢測(cè)圖案(208)，并基于該檢測(cè)圖案檢測(cè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的第一圖案和對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的第二圖案，并基于該圖案的檢測(cè)而生成觸發(fā)信號(hào)?？刂齐娐坊谟?jì)數(shù)狀態(tài)生成并控制測(cè)試模式控制信號(hào)。計(jì)數(shù)器電路經(jīng)配置以基于所檢測(cè)的圖案，生成對(duì)應(yīng)于移位階段、捕捉階段和時(shí)鐘信號(hào)(209)中的一種的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
【專利說(shuō)明】能夠生成用于掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的集成電路

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及集成電路的掃描控制。

【背景技術(shù)】
[0002]根據(jù)示例方案，所制造的電路被測(cè)試，以便驗(yàn)證所制造電路內(nèi)的邏輯門的輸入端或輸出端未由于不可預(yù)見情況(例如，諸如短路)在操作期間被卡(或保持)在固定值(例如，邏輯O或邏輯I)。為了減輕上述問(wèn)題，所制造的電路要經(jīng)受掃描測(cè)試。掃描測(cè)試在包括組合部件和時(shí)序部件的集成電路上執(zhí)行。時(shí)序部件可以包括一個(gè)或更多個(gè)存儲(chǔ)元件(例如，觸發(fā)器)的序列。在掃描測(cè)試期間，構(gòu)成集成電路的時(shí)序部件的存儲(chǔ)元件被耦合或連接成掃描鏈，并且測(cè)試矢量通過(guò)在集成電路上提供的一個(gè)或更多個(gè)輸入測(cè)試引腳傳送到掃描鏈。集成電路被置于評(píng)估模式(例如，捕捉階段)，以便更多個(gè)一個(gè)或更多個(gè)存儲(chǔ)元件的一個(gè)或更多個(gè)輸入和狀態(tài)被評(píng)估，并且在評(píng)估模式中獲得的對(duì)應(yīng)響應(yīng)矢量通過(guò)一個(gè)或更多個(gè)輸出測(cè)試引腳被移出。響應(yīng)矢量中的比特值與預(yù)期的輸出進(jìn)行比較，以便確定集成電路中的故障狀況。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]在此公開能夠生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的若干示例方法和集成電路。該集成電路包括測(cè)試圖案檢測(cè)塊，計(jì)數(shù)器電路和控制電路。該測(cè)試圖案檢測(cè)塊經(jīng)配置以接收檢測(cè)圖案并基于檢測(cè)圖案檢測(cè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的第一圖案和對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的第二圖案。該測(cè)試圖案檢測(cè)塊還經(jīng)配置以基于第一和第二圖案中的至少一個(gè)圖案的檢測(cè)生成觸發(fā)信號(hào)。計(jì)數(shù)器電路經(jīng)配置以基于所檢測(cè)的圖案生成(I)對(duì)應(yīng)于移位階段和時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，和(2)對(duì)應(yīng)于捕捉階段和時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)?？刂齐娐放c測(cè)試圖案檢測(cè)塊耦合，并經(jīng)配置以接收觸發(fā)信號(hào)并基于對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)和對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)生成和控制測(cè)試模式控制信號(hào)。
[0004]該控制電路經(jīng)進(jìn)一步配置以執(zhí)行(I)和(2)中的至少一個(gè)，其中(I)如果計(jì)數(shù)狀態(tài)是移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的一個(gè)，則斷言測(cè)試模式控制信號(hào)，以及(2)如果計(jì)數(shù)狀態(tài)是捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)和移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的一個(gè)，則去斷言該測(cè)試模式控制信號(hào)。該計(jì)數(shù)器電路包括寄存器塊和一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器。該寄存器塊經(jīng)配置以存儲(chǔ)移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的至少一個(gè)。與寄存器塊耦合的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器經(jīng)配置以生成對(duì)應(yīng)于移位階段的從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，并生成對(duì)應(yīng)于捕捉階段的從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
[0005]此外，在一個(gè)實(shí)施例中，提供能夠生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的集成電路。集成電路包括測(cè)試圖案檢測(cè)塊，計(jì)數(shù)器電路和控制電路。測(cè)試圖案檢測(cè)塊經(jīng)配置以接收檢測(cè)圖案，基于該檢測(cè)圖案檢測(cè)對(duì)應(yīng)于該測(cè)試圖案的第一移位階段的圖案，并基于該測(cè)試圖案生成觸發(fā)信號(hào)。計(jì)數(shù)器電路包括圖案計(jì)數(shù)器和一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器。圖案計(jì)數(shù)器經(jīng)配置在檢測(cè)到第一移位階段時(shí)被觸發(fā)，并生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)對(duì)應(yīng)于從對(duì)應(yīng)于第一移位階段和隨后移位階段中的一個(gè)的移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于捕捉階段的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的預(yù)定數(shù)目的轉(zhuǎn)換。該一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器經(jīng)配置以生成對(duì)應(yīng)于隨后移位階段和捕捉階段的計(jì)數(shù)狀態(tài)?？刂齐娐放c計(jì)數(shù)器電路和測(cè)試圖案檢測(cè)塊耦合，并經(jīng)配置以接收觸發(fā)信號(hào)和基于對(duì)應(yīng)于第一移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)和對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)隨后移位階段和一個(gè)或更多個(gè)捕捉階段的計(jì)數(shù)狀態(tài)，生成和控制測(cè)試模式控制信號(hào)。
[0006]此外，在一個(gè)實(shí)施例中，提供生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的方法。該方法包括檢測(cè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的第一圖案或?qū)?yīng)于移位階段的第一圖案和對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的第二圖案中的一個(gè)圖案。對(duì)應(yīng)于移位階段和捕捉階段中的每個(gè)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)在圖案檢測(cè)時(shí)通過(guò)計(jì)數(shù)器電路生成。對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)包括移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的計(jì)數(shù)狀態(tài)。該移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與對(duì)應(yīng)于移位階段的時(shí)鐘信號(hào)的周期數(shù)關(guān)聯(lián)。對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)包括在捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的計(jì)數(shù)狀態(tài)，該捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與對(duì)應(yīng)于捕捉階段的時(shí)鐘信號(hào)的周期數(shù)關(guān)聯(lián)。該測(cè)試模式控制信號(hào)基于對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)和對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)生成并隨后被控制。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0007]圖1A示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的用于實(shí)施所公開的技術(shù)的各個(gè)實(shí)施例的示例環(huán)境的框圖；
[0008]圖1B不出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的時(shí)鐘信號(hào)、測(cè)試模式控制信號(hào)、掃描數(shù)據(jù)輸入信號(hào)和掃描數(shù)據(jù)輸出信號(hào)的示例波形；
[0009]圖2示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的能夠生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的示例集成電路；
[0010]圖3A示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的能夠生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的第一示例集成電路；
[0011]圖3B示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的圖3A的集成電路操作的過(guò)程流的示例表示；
[0012]圖4A示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的能夠生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的第二示例集成電路；
[0013]圖4B示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的圖4A的集成電路操作的過(guò)程流的示例表示；
[0014]圖5A示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的能夠生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的第三示例集成電路；
[0015]圖5B示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的圖5A的集成電路操作的過(guò)程流的示例表示；
[0016]圖6示出根據(jù)另一個(gè)實(shí)施例的圖5A的集成電路操作的過(guò)程流的示例表示；
[0017]圖7A示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的示例集成電路，其包括能夠在掃描測(cè)試期間控制移位階段的一組觸發(fā)器；
[0018]圖7B示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的圖7A的集成電路操作的過(guò)程流的示例表示；以及
[0019]圖8示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的方法的流程圖。
[0020]除非特別聲明，在描述中所涉及的附圖不被理解為按比例繪制，并且這類附圖本質(zhì)上僅是示例。

【具體實(shí)施方式】
[0021]根據(jù)示例方案，在集成電路掃描測(cè)試期間，一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試矢量被發(fā)送到與該集成電路關(guān)聯(lián)的掃描鏈中。一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試矢量通過(guò)一組引腳從測(cè)試儀以一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試圖案的形式被發(fā)送。該組引腳包括掃描數(shù)據(jù)輸入引腳、掃描數(shù)據(jù)輸出引腳、時(shí)鐘信號(hào)引腳和掃描使能引腳。該掃描數(shù)據(jù)輸入引腳和掃描數(shù)據(jù)輸出引腳同時(shí)起作用，使得在對(duì)應(yīng)于前面圖案的掃描數(shù)據(jù)輸出信號(hào)從掃描鏈被送出時(shí)，對(duì)應(yīng)于新測(cè)試圖案的掃描數(shù)據(jù)輸入信號(hào)被發(fā)送到該掃描鏈中。該掃描使引腳能夠在掃描測(cè)試期間提供移位階段(在該階段掃描使引腳能夠被斷言)與捕捉階段(在該階段掃描使引腳能夠被去斷言)之間的區(qū)別。在移位階段期間，以測(cè)試圖案形式的掃描數(shù)據(jù)通過(guò)使用時(shí)鐘信號(hào)被移入和移出掃描鏈，以及在捕捉階段期間，集成電路對(duì)掃描數(shù)據(jù)的響應(yīng)通過(guò)使用功能時(shí)鐘在該掃描鏈中被捕捉。對(duì)于掃描鏈中的給定數(shù)量的存儲(chǔ)元件和時(shí)鐘信號(hào)的給定時(shí)鐘序列，測(cè)試模式使能信號(hào)(例如，與掃描使能引腳關(guān)聯(lián)的掃描使能信號(hào))與時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)鐘周期數(shù)量具有固定的關(guān)系。因此，掃描使能引腳的斷言和去斷言對(duì)于給定類型的給定自動(dòng)測(cè)試圖案生成(ATPG)運(yùn)行中的各種圖案是規(guī)范的。
[0022]結(jié)果，來(lái)自測(cè)試儀和掃描使能引腳的每個(gè)周期基礎(chǔ)上的測(cè)試模式控制信號(hào)的動(dòng)態(tài)控制是無(wú)關(guān)緊要的。在減少的引腳數(shù)量測(cè)試中，其中集成電路必須通過(guò)一小組引腳測(cè)試，該集成電路向測(cè)試儀提供受限的引腳，并且一些功能輸入端和輸出端被呈現(xiàn)為不可用。而且，根據(jù)測(cè)試圖案，在移位操作結(jié)束后和在捕捉操作期間，掃描數(shù)據(jù)輸入引腳和掃描數(shù)據(jù)輸出引腳的狀態(tài)保持不變，或還可以在移位操作結(jié)束與捕捉操作結(jié)束期間改變。此外，專用裝置級(jí)引腳(例如掃描使能引腳)在掃描測(cè)試期間必須從測(cè)試儀驅(qū)動(dòng)(例如，受控)，從而導(dǎo)致資源不必要的消耗。而且，測(cè)試儀的輸入/輸出信道速率可以限制掃描使能引腳可以被控制的速度，以及測(cè)試圖案可以被移入和移出集成電路的速度。在基于事件驅(qū)動(dòng)的直接存儲(chǔ)器訪問(wèn)測(cè)試儀架構(gòu)的情況下，移位階段(例如，掃描數(shù)據(jù)使用時(shí)鐘信號(hào)移入和移出掃描鏈)與捕捉階段(例如，使用功能時(shí)鐘在掃描鏈中捕捉的集成電路響應(yīng))之間的切換產(chǎn)生移入掃描鏈的最后數(shù)據(jù)與測(cè)試模式控制信號(hào)的去斷言之間以及捕捉時(shí)鐘的最后應(yīng)用與測(cè)試模式控制信號(hào)的斷言之間的死循環(huán)?；谑录?qū)動(dòng)的直接存儲(chǔ)器訪問(wèn)測(cè)試儀架構(gòu)利用附加循環(huán)以從移位階段切換到捕捉階段以及同樣從捕捉階段切換到移位階段。不過(guò)，所公開的技術(shù)的各個(gè)實(shí)施例提供能夠(I)生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)和(2)克服這些和其他障礙并提供附加好處的方法和集成電路。
[0023]下列描述和附圖呈現(xiàn)在各個(gè)不同實(shí)施例中可以實(shí)踐或以其他方式實(shí)施的所公開的技術(shù)。不過(guò)，需要指出，所公開的技術(shù)的范圍并不局限于本文公開的任一個(gè)實(shí)施例或所有實(shí)施例。實(shí)際上，可以去除、替換、補(bǔ)充或改變所公開的實(shí)施例的裝置、特征、操作、過(guò)程、特性或其它特質(zhì)中的一個(gè)或更多個(gè)。
[0024]圖1A示出用于實(shí)施各個(gè)示例實(shí)施例的環(huán)境。如圖1A所示，測(cè)試儀(102)通過(guò)多個(gè)通信路徑(例如，(112)、(114)、(116)、(118)和(120))與集成電路(104)關(guān)聯(lián)或與其耦合。需要指出，集成電路(104)可以是片上系統(tǒng)(SoC)。集成電路(104)包括解壓縮器
(106)、掃描鏈(108)和壓縮器(110)。掃描鏈(108)包括一個(gè)或更多個(gè)存儲(chǔ)元件(例如，觸發(fā)器)。在移入一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試矢量和移出一個(gè)或更多個(gè)響應(yīng)矢量期間，該一個(gè)或更多個(gè)存儲(chǔ)元件可以耦合或連接為移位寄存器。在掃描測(cè)試期間，測(cè)試儀(102)在輸入路徑
(112)上以壓縮形式向解壓縮器(106)提供一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試矢量，并在輸出路徑(114)上從壓縮器(110)接收壓縮形式的一個(gè)或更多個(gè)響應(yīng)矢量，所述一個(gè)或更多個(gè)響應(yīng)矢量表示捕捉的掃描測(cè)試結(jié)果。所述一個(gè)或更多個(gè)響應(yīng)矢量包含在測(cè)試矢量移入完成時(shí)或之后(例如，在捕捉階段期間)的待測(cè)試集成電路(104)的組合邏輯的評(píng)估結(jié)果(例如，響應(yīng)位)。測(cè)試儀(102)可以將一個(gè)或更多個(gè)響應(yīng)矢量中的比特值與一個(gè)或更多個(gè)期望值比較，以便確定集成電路(104)中的故障。測(cè)試儀(102)在路徑(116)上向集成電路(104)提供測(cè)試模式控制信號(hào)和通過(guò)路徑(118)向集成電路(104)提供一個(gè)或更多個(gè)時(shí)鐘，在掃描測(cè)試期間，該一個(gè)或更多個(gè)時(shí)鐘協(xié)調(diào)集成電路(104)的操作。測(cè)試儀(102)還可以提供配置數(shù)據(jù)以指定一個(gè)或更多個(gè)時(shí)鐘的配置，其中所述配置數(shù)據(jù)可用于通過(guò)輸出路徑(120)在集成電路(104)中生成控制信號(hào)。
[0025]解壓縮器(106)經(jīng)配置解壓縮在路徑(112)上接收的一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試矢量并以未壓縮形式向掃描鏈(108)提供一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試矢量。壓縮器(110)經(jīng)配置以壓縮響應(yīng)矢量并通過(guò)輸出路徑(120)向測(cè)試儀(102)提供相應(yīng)壓縮的一個(gè)或更多個(gè)響應(yīng)矢量。解壓縮器(106)和壓縮器(110)可基于組合和/或時(shí)序邏輯電路使用各種方案進(jìn)行實(shí)施。集成電路(104)缺乏解壓縮器(106)和壓縮器(110)，并且測(cè)試儀(102)經(jīng)配置直接驅(qū)動(dòng)掃描鏈(108)。集成電路(104)可以包含各種附加元件(例如，諸如組合邏輯元件和相應(yīng)電路系統(tǒng)(例如，測(cè)試控制器))以便在內(nèi)部生成可在掃描測(cè)試期間涉及的操作協(xié)調(diào)期間使用的各種時(shí)鐘和控制信號(hào)。
[0026]時(shí)鐘信號(hào)可以基于從測(cè)試儀(102)接收的時(shí)鐘信號(hào)生成。需要指出，路徑(112)和(120)可以包含/表示多個(gè)信號(hào)線(例如，多個(gè)信號(hào)線的每個(gè)信號(hào)線在一定時(shí)間傳送單比特位)，因此，集成電路(104)可以包含連接到多個(gè)信號(hào)線或與其耦合的對(duì)應(yīng)數(shù)量的引腳。在示例方案中，一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試圖案從測(cè)試儀(102)通過(guò)一組引腳被施加到集成電路(104)中，該組引腳可以被實(shí)施以使集成電路(104)經(jīng)受掃描測(cè)試。該組引腳包括掃描數(shù)據(jù)輸入引腳、掃描數(shù)據(jù)輸出引腳和時(shí)鐘信號(hào)引腳。該組引腳可用于生成和傳送控制信號(hào)，該控制信號(hào)可在掃描測(cè)試期間涉及的操作協(xié)調(diào)期間使用。在掃描測(cè)試期間生成的各種控制信號(hào)在圖1B中示出。
[0027]圖1B示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的時(shí)鐘信號(hào)(122)、測(cè)試模式控制信號(hào)(124)、掃描數(shù)據(jù)輸入信號(hào)(126)和掃描數(shù)據(jù)輸出信號(hào)(128)的不例波形。掃描數(shù)據(jù)輸入信號(hào)(126)和掃描數(shù)據(jù)輸出信號(hào)(128)被同時(shí)實(shí)施，以確保在對(duì)應(yīng)于前面測(cè)試圖案的掃描數(shù)據(jù)輸出信號(hào)(128)被移出掃描鏈(108)時(shí)，新測(cè)試圖案同時(shí)被移入掃描鏈(108)。需要指出，術(shù)語(yǔ)“測(cè)試模式控制信號(hào)”被解釋為是指用于在掃描測(cè)試期間控制測(cè)試圖案的移位階段和捕捉階段通過(guò)所公開的技術(shù)的集成電路在內(nèi)部生成的信號(hào)，和/或用于配置各種內(nèi)部寄存器的信號(hào)，所述各種內(nèi)部寄存器控制時(shí)鐘和/或用于控制掃描鏈的輸入和輸出以用于掃描鏈的選擇性操作。測(cè)試模式控制信號(hào)(124)的示例可以包括，但不限于，用于在掃描測(cè)試期間控制測(cè)試圖案的移位階段和捕捉階段的掃描使能信號(hào)，以及加載使能信號(hào)，其用于配置用于控制每個(gè)掃描鏈的時(shí)鐘和/或控制每個(gè)掃描鏈的輸入和輸出的各種內(nèi)部寄存器，以用于掃描鏈(108)的選擇性操作從而改善可控性和啟用觀測(cè)。掃描使能信號(hào)在移位階段和捕捉階段期間具有用于每個(gè)測(cè)試圖案的固定行為，以及加載使能信號(hào)在掃描測(cè)試期間在向掃描鏈(108)施加一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試圖案期間，啟用內(nèi)部寄存器的加載用于各種控制，并作為移位操作的一部分為一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試圖案操作固定周期數(shù)。測(cè)試模式控制信號(hào)(124)提供集成電路(例如，集成電路(104))中移位階段(例如，在其期間測(cè)試模式控制信號(hào)(124)被斷言的移位階段(130)和(134))與捕捉階段(例如，在其期間測(cè)試模式控制信號(hào)(124)被去斷言的(132))之間的區(qū)別，并且還幫助控制施加斷言測(cè)試模式控制信號(hào)或去斷言測(cè)試模式控制到掃描鏈(108)。
[0028]在移位階段期間(例如，移位階段(130)和(134))，測(cè)試圖案被加載到掃描鏈
(108)中，并且測(cè)試響應(yīng)從掃描鏈(108)被卸載。在構(gòu)成掃描鏈(108)的存儲(chǔ)元件的正常操作模式期間，通過(guò)響應(yīng)于在移位階段期間加載的測(cè)試圖案的掃描鏈(108)生成的一個(gè)或更多個(gè)響應(yīng)矢量在捕捉階段(例如，(132))期間被捕捉。如圖1B所示，對(duì)于掃描鏈中的給定數(shù)量的觸發(fā)器和給定的測(cè)試圖案，在掃描使能信號(hào)上的測(cè)試模式控制信號(hào)(124)與時(shí)鐘信號(hào)(122)的時(shí)鐘周期數(shù)具有固定的關(guān)系。雖然在圖1B中示出波形表示一個(gè)捕捉時(shí)鐘(例如，在捕捉階段(132)中)，多個(gè)捕捉時(shí)鐘可以被包括用于各種測(cè)試圖案類型，例如堵塞故障ATPG圖案可以包括一個(gè)捕捉時(shí)鐘，轉(zhuǎn)換故障ATPG圖案可以包括兩個(gè)捕捉時(shí)鐘，以及時(shí)序ATPG圖案可以包括更多個(gè)捕捉時(shí)鐘。測(cè)試模式控制信號(hào)(124)還可以改變例如在推出捕捉轉(zhuǎn)換故障ATPG圖案的兩個(gè)捕捉時(shí)鐘之前的狀態(tài)，在第一捕捉時(shí)鐘與第二捕捉時(shí)鐘之間的狀態(tài)，以及以各種其他方式改變用于各種測(cè)試圖案類型的連續(xù)捕捉時(shí)鐘之間的狀態(tài)(即，可以被去斷目)。
[0029]圖2示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的能夠生成用于通過(guò)集成電路(200)中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的第一示例集成電路(200)。集成電路(200)包括測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)、計(jì)數(shù)器電路(204)和控制電路(206)。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)經(jīng)配置以接收檢測(cè)圖案(208)。控制電路(206)和計(jì)數(shù)器電路(204)通過(guò)時(shí)鐘信號(hào)(209)操作。在移位階段和捕捉階段期間，從測(cè)試儀(例如，圖1A的測(cè)試儀(102))接收時(shí)鐘信號(hào)(209)(例如，圖1B的時(shí)鐘信號(hào)(122))。時(shí)鐘信號(hào)(209)在捕捉階段期間，通過(guò)使用例如鎖相環(huán)(例如，在集成電路(200)中或除此以外在與集成電路(200)通信耦合的裝置裝置中)在內(nèi)部生成。檢測(cè)圖案(208)包括表示測(cè)試圖案的移位階段的開始和/或測(cè)試圖案的捕捉階段的開始的信息。例如，圖案8’ hAA可以指示移位階段的開始，以及圖案8’ h55可以指示捕捉階段的開始。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)經(jīng)配置以基于檢測(cè)圖案(208)，檢測(cè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的開始的第一圖案(例如，8’hAA)和對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的開始的第二圖案(例如，8’h55)。該測(cè)試圖案包括測(cè)試矢量和指示時(shí)鐘信號(hào)(209)的時(shí)鐘周期數(shù)的信息，所述時(shí)鐘信號(hào)對(duì)應(yīng)于掃描測(cè)試期間的每個(gè)移位階段和每個(gè)捕捉階段。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)基于在集成電路(200)的掃描數(shù)據(jù)輸入引腳的比特組合，檢測(cè)第一圖案和第二圖案。
[0030]測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)可以利用單檢測(cè)圖案來(lái)檢測(cè)整個(gè)測(cè)試圖案集的移位階段的開始和捕捉階段的開始。測(cè)試圖案(208)可以通過(guò)可變數(shù)目的輸入信道被發(fā)送到測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)。例如，圖案AA可以作為01010101通過(guò)例如一個(gè)周期八比特總線、兩個(gè)周期四比特總線(例如，在一個(gè)周期中的0101、以及在隨后的周期中的0101)、四個(gè)周期兩比特總線(例如，四個(gè)周期中的每個(gè)周期中的01)以及八個(gè)周期一比特總線發(fā)送。
[0031]在一個(gè)實(shí)施例中，如本文所述，測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)、計(jì)數(shù)器電路(204)和控制電路(206)中的一個(gè)或更多個(gè)可以體現(xiàn)為專門經(jīng)配置執(zhí)行若干操作或其組合的專用集成電路(ASIC)或現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)。在一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)、計(jì)數(shù)器電路(204)和控制電路(206)中的一個(gè)或更多個(gè)還可以包括存儲(chǔ)器裝置(例如，高速緩存器)、計(jì)時(shí)裝置(例如，實(shí)時(shí)時(shí)鐘(RTC))、可配置邏輯塊(CLB)陣列、可編程輸入/輸出塊(1B)陣列和/或附加電路系統(tǒng)或數(shù)據(jù)傳輸信道。CLB和1B可以通過(guò)可編程互連結(jié)構(gòu)彼此互連或耦合。
[0032]在一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)、計(jì)數(shù)器電路(204)和控制電路(206)中的一個(gè)或更多個(gè)可以通過(guò)將配置數(shù)據(jù)流(例如，比特流)加載到與存儲(chǔ)器裝置關(guān)聯(lián)的內(nèi)部配置存儲(chǔ)器單元中來(lái)進(jìn)行編程，其中這種配置數(shù)據(jù)可以包括各種配置的限定。配置數(shù)據(jù)還可以從外部存儲(chǔ)器(例如，可編程只讀存儲(chǔ)器(PROM))讀取或通過(guò)外部裝置寫入到集成電路(200)中。接著，個(gè)別存儲(chǔ)器單元的集體狀態(tài)確定FPGA的功能。圖2的集成電路(200)的示例電路實(shí)施方式在圖3A中示出。
[0033]圖3A示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的能夠生成用于通過(guò)集成電路(300)中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的第一示例集成電路(300)。該測(cè)試模式控制信號(hào)的示例包括，但不限于，掃描使能信號(hào)和加載使能信號(hào)。集成電路(300)包括測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)、計(jì)數(shù)器電路(304)和控制電路(306)。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)、計(jì)數(shù)器電路(304)和控制電路(306)基本類似于圖2的測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)、計(jì)數(shù)器電路(204)和控制電路(206)。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)經(jīng)配置以接收檢測(cè)圖案(308)。檢測(cè)圖案(308)包括表示測(cè)試圖案的移位階段的開始和/或該測(cè)試圖案的捕捉階段的開始的信息。測(cè)試圖案可以包括測(cè)試矢量和指示在掃描測(cè)試期間對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)移位階段和一個(gè)或更多個(gè)捕捉階段的時(shí)鐘信號(hào)(309)的時(shí)鐘周期數(shù)的信息，以及指示在掃描測(cè)試期間對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)移位階段的時(shí)鐘信號(hào)(309)的時(shí)鐘周期數(shù)的信息。
[0034]當(dāng)測(cè)試圖案指示對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)移位階段和一個(gè)或更多個(gè)捕捉階段的時(shí)鐘信號(hào)(309)的時(shí)鐘周期數(shù)時(shí)，移位階段和捕捉階段通過(guò)掃描使能信號(hào)區(qū)分。當(dāng)該測(cè)試圖案單獨(dú)指示一個(gè)或更多個(gè)移位階段時(shí)，移位階段通過(guò)加載使能信號(hào)識(shí)別。指示一個(gè)或更多個(gè)捕捉階段和移位階段的測(cè)試圖案和單獨(dú)指示一個(gè)或更多個(gè)移位階段的測(cè)試圖案通過(guò)使用匹配的測(cè)試模式控制以優(yōu)先的次序進(jìn)行選擇。在移位階段和捕捉階段期間，從測(cè)試儀(例如，圖1A的(102))接收時(shí)鐘信號(hào)(309)(例如，圖1B的時(shí)鐘信號(hào)(122))。時(shí)鐘信號(hào)(309)可以在捕捉階段期間，使用例如鎖相環(huán)(例如，在集成電路(300)中或以其他方式在與集成電路(300)通信耦合的裝置中)在內(nèi)部生成。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)還經(jīng)配置以基于檢測(cè)圖案(308)，檢測(cè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的開始的第一圖案(例如，8’hAA)和對(duì)應(yīng)于該測(cè)試圖案的捕捉階段的開始的第二圖案(例如，8’ h55)。
[0035]測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)基于在掃描數(shù)據(jù)輸入引腳的比特組合檢測(cè)第一圖案和第二圖案。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)包括第一測(cè)試圖案塊(310)，其經(jīng)配置以檢測(cè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的第一圖案，以及第二測(cè)試圖案塊(312)，其經(jīng)配置以檢測(cè)對(duì)應(yīng)于該測(cè)試圖案的捕捉階段的第二圖案。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)經(jīng)配置以基于第一圖案和第二圖案的檢測(cè)生成觸發(fā)信號(hào)(例如，(314)和(316))。第一測(cè)試圖案塊(310)檢測(cè)第一圖案(例如，諸如8’hAA)，其指示移位階段的開始并生成觸發(fā)信號(hào)(314)，以及第二測(cè)試圖案塊(312)檢測(cè)第二圖案(例如，諸如8’h55)，其指示捕捉階段的開始并生成觸發(fā)信號(hào)(316)。
[0036]觸發(fā)信號(hào)(例如，(314)和(316))被傳送到控制電路(306)，其進(jìn)而通過(guò)控制電路(306)觸發(fā)計(jì)數(shù)器電路(304)。計(jì)數(shù)器電路(304)經(jīng)配置以基于所檢測(cè)的圖案生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。計(jì)數(shù)器電路(304)生成對(duì)應(yīng)于移位階段和時(shí)鐘信號(hào)(309)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，以及對(duì)應(yīng)于捕捉階段和時(shí)鐘信號(hào)(309)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。計(jì)數(shù)器電路(304)包括寄存器塊(318)、第一計(jì)數(shù)器(320)和第二計(jì)數(shù)器(321)。寄存器塊(318)包括經(jīng)配置以通過(guò)時(shí)鐘信號(hào)(309)和復(fù)位信號(hào)(319)操作的一個(gè)或更多個(gè)寄存器。寄存器塊(318)經(jīng)配置以存儲(chǔ)移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的至少一個(gè)。
[0037]移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的持續(xù)時(shí)間對(duì)應(yīng)于用于移位階段的測(cè)試模式控制信號(hào)保持被斷言的持續(xù)時(shí)間，并且也對(duì)應(yīng)于掃描測(cè)試期間移位操作必須被執(zhí)行的時(shí)鐘信號(hào)(309)的周期數(shù)。該持續(xù)時(shí)間可以對(duì)應(yīng)于根據(jù)持續(xù)時(shí)間掃描鏈的最大長(zhǎng)度。捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的持續(xù)時(shí)間對(duì)應(yīng)于捕捉階段的測(cè)試模式控制信號(hào)保持被去斷言的持續(xù)時(shí)間，也對(duì)應(yīng)于掃描測(cè)試期間捕捉操作必須被執(zhí)行的時(shí)鐘信號(hào)(309)的周期數(shù)。集成電路(300)還包括與寄存器塊(318)通信關(guān)聯(lián)或耦合的測(cè)試接口((323))，并且測(cè)試接口((323))經(jīng)配置以控制寄存器塊(318)，并基于測(cè)試圖案改變移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)中的至少一個(gè)。測(cè)試接口((323))的示例包括，但不限于，聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組(JTAG)接口和嵌入式內(nèi)核測(cè)試接口。第一計(jì)數(shù)器(320)和第二計(jì)數(shù)器(321)與寄存器塊(318)耦合。測(cè)試儀的時(shí)鐘信號(hào)(309)被第一計(jì)數(shù)器(320)和第二計(jì)數(shù)器(321)用于移位和捕捉操作?？晒┻x擇地，測(cè)試儀的時(shí)鐘信號(hào)(309)被用于第一計(jì)數(shù)器(320)對(duì)移位操作計(jì)時(shí)，以及高速內(nèi)部生成的時(shí)鐘信號(hào)(例如，使用鎖相環(huán)生成的)被用于第二計(jì)數(shù)器(321)對(duì)捕捉運(yùn)行計(jì)時(shí)。
[0038]第一計(jì)數(shù)器(320)經(jīng)配置以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，其對(duì)應(yīng)于從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))的移位階段。第二計(jì)數(shù)器(321)經(jīng)配置以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，其對(duì)應(yīng)于從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))的捕捉階段。第一計(jì)數(shù)器(320)和第二計(jì)數(shù)器(321)可以包括減計(jì)數(shù)器。減計(jì)數(shù)器可以包括，但不限于，八比特減計(jì)數(shù)器。控制電路(306)與測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)耦合，以便被安置，從而從測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)接收一個(gè)或更多個(gè)觸發(fā)信號(hào)(例如，(314)和(316))?？刂齐娐?306)與計(jì)數(shù)器電路(304)耦合，使得包括移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)或捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)被饋入控制電路(306)，以便觸發(fā)控制電路(306)?？刂齐娐?306)包括一個(gè)或更多個(gè)選擇塊(例如，選擇塊(322)和(324))以及一個(gè)或更多個(gè)觸發(fā)器(例如，D 類觸發(fā)器(326)、(328)、(330)和(332))。
[0039]選擇塊的示例包括但不限于多路復(fù)用器。一個(gè)或更多個(gè)選擇塊(例如，(322)和(324))中的每個(gè)選擇塊經(jīng)配置以從測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)接收觸發(fā)信號(hào)(例如，(314)和(316))以及從計(jì)數(shù)器電路(304)接收對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)的信號(hào)(((315))和((317)))。在一個(gè)實(shí)施例中，第一選擇塊(322)經(jīng)配置以接收對(duì)應(yīng)于第一計(jì)數(shù)器(320)的移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的信號(hào)((315))并在接收到信號(hào)((315))時(shí)或隨后被去激活，并且第二選擇塊(324)經(jīng)配置以接收對(duì)應(yīng)于第二計(jì)數(shù)器(321)的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的信號(hào)((317))并在接收到信號(hào)((317))時(shí)或隨后被去激活。
[0040]在一個(gè)實(shí)施例中，每個(gè)觸發(fā)器(例如，觸發(fā)器(326)、(328)、(330)和(332))通過(guò)時(shí)鐘信號(hào)(309)和復(fù)位信號(hào)(319)操作。在接收到觸發(fā)信號(hào)(例如，觸發(fā)信號(hào)(314)和(316))時(shí)或隨后，每個(gè)選擇塊(例如，選擇塊(322)和(324))觸發(fā)一個(gè)或更多個(gè)觸發(fā)器(例如，觸發(fā)器(326)、(328)、(330)和(332))，以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)使能信號(hào)(例如，信號(hào)(340)和(342))，以便通過(guò)計(jì)數(shù)器電路(304)觸發(fā)一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)的生成?？刂齐娐?306)經(jīng)配置以基于對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)和對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，生成和控制測(cè)試模式控制信號(hào)。如果計(jì)數(shù)狀態(tài)是移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的一個(gè)，控制電路(306)經(jīng)配置以執(zhí)行測(cè)試模式控制信號(hào)的斷言。
[0041]控制電路(306)經(jīng)配置以生成使能同步信號(hào)(344)，基于該使能同步信號(hào)(344)，斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)通過(guò)掃描使能生成邏輯生成。如果計(jì)數(shù)狀態(tài)是捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)和移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的一個(gè)，控制電路(306)還經(jīng)配置以執(zhí)行測(cè)試模式控制信號(hào)的去斷言。控制電路(306)經(jīng)配置以生成使能同步捕捉信號(hào)(346)，基于該使能同步捕捉信號(hào)(346)，去斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)通過(guò)掃描使能生成邏輯生成。
[0042]圖3B示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的圖3A的集成電路(300)操作的過(guò)程流的示例表示。在圖3B中，集成電路(300)的掃描測(cè)試的多個(gè)狀態(tài)由塊(350)-(356)表示。多個(gè)操作狀態(tài)包括，但不限于，初始化狀態(tài)(350)、空閑狀態(tài)(352)、移位操作(354)和捕捉操作(356)。在一個(gè)實(shí)施例中，在初始化狀態(tài)(350)期間，集成電路(300)的操作(或掃描測(cè)試)被初始化。在空閑狀態(tài)(352)期間，在移位階段或捕捉階段的開始之前，在掃描測(cè)試中發(fā)生一個(gè)或更多個(gè)等待周期。在測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)檢測(cè)到(例如，請(qǐng)參閱(360))對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案(308)的移位階段的第一圖案時(shí)或隨后，移位操作開始(例如，請(qǐng)參閱(356))。在移位操作(356)期間，控制電路(306)經(jīng)配置以生成計(jì)數(shù)使能信號(hào)(340)從而觸發(fā)計(jì)數(shù)器電路(304)，并且還經(jīng)配置以生成使能同步信號(hào)(344)和基于使能同步信號(hào)(344)的斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)。在計(jì)數(shù)器電路(304)被觸發(fā)時(shí)，計(jì)數(shù)器電路(304)生成對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。需要指出，在通過(guò)計(jì)數(shù)器電路(304)生成的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)的持續(xù)時(shí)間內(nèi)，該測(cè)試模式控制信號(hào)保持?jǐn)嘌?。第一?jì)數(shù)器(320)在對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案(308)的移位階段的圖案的檢測(cè)時(shí)或隨后被觸發(fā)，并且第一計(jì)數(shù)器(320)開始生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，在每個(gè)時(shí)鐘周期，開始遞減從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的計(jì)數(shù)狀態(tài))。
[0043]第一計(jì)數(shù)器(320)改變計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，通過(guò)從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)減計(jì)數(shù))直到第一計(jì)數(shù)器(320)的計(jì)數(shù)狀態(tài)達(dá)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))。在第一計(jì)數(shù)器(320)的計(jì)數(shù)狀態(tài)達(dá)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)或隨后，移位操作(356)結(jié)束(如(362)所示)，并且集成電路(300)的掃描測(cè)試恢復(fù)到空閑狀態(tài)(352)。在測(cè)試圖案檢測(cè)塊(302)檢測(cè)到(如(364)所示)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的第二圖案時(shí)或隨后，在(354)，捕捉開始開始，并且控制電路(306)生成計(jì)數(shù)使能信號(hào)(342)以觸發(fā)計(jì)數(shù)器電路(304)，并且還生成使能同步捕捉信號(hào)(346)，以及基于使能同步捕捉信號(hào)(346)生成去斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，計(jì)數(shù)器電路(304)生成對(duì)應(yīng)于捕捉階段的計(jì)數(shù)狀態(tài)。在對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)的持續(xù)時(shí)間內(nèi)，該測(cè)試模式控制信號(hào)保持去斷言。第二計(jì)數(shù)器(321)被計(jì)數(shù)使能信號(hào)(342)觸發(fā)，并且在觸發(fā)第二計(jì)數(shù)器(321)時(shí)或隨后，生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，在每個(gè)時(shí)鐘周期，遞減從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的計(jì)數(shù)狀態(tài))。
[0044]第二計(jì)數(shù)器(321)改變其計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，通過(guò)從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)減計(jì)數(shù))直到第二計(jì)數(shù)器(321)的計(jì)數(shù)狀態(tài)達(dá)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))。在達(dá)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)或隨后，捕捉操作(354)結(jié)束(如(366)所示)，并且集成電路(300)恢復(fù)到空閑狀態(tài)(352)。在某些實(shí)施例中，計(jì)數(shù)器電路(304)可以包括單個(gè)計(jì)數(shù)器，其用于執(zhí)行本文參照?qǐng)D3A描述的第一計(jì)數(shù)器(320)和第二計(jì)數(shù)器(321)的單獨(dú)或組合功能。
[0045]在某些實(shí)施例中，所公開的技術(shù)的集成電路可以包括一個(gè)或更多個(gè)等待計(jì)數(shù)器，其經(jīng)配置以在移位階段和捕捉階段之前生成一個(gè)或更多個(gè)等待周期，以便啟用特定周期數(shù)的通道，例如，用于掃描使能信號(hào)生成邏輯，使其在后續(xù)移位階段開始前穩(wěn)定，用于內(nèi)部時(shí)鐘控制器邏輯初始化并獲得狀態(tài)，在該狀態(tài)，內(nèi)部生成的全速捕捉脈沖在后續(xù)捕捉階段開始前是可用的。而且，某些測(cè)試圖案可以實(shí)施不同數(shù)量的全速捕捉脈沖；例如，測(cè)試圖案(例如，阻塞故障圖案)可以實(shí)施一個(gè)全速捕捉脈沖，并且測(cè)試圖案(例如，標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)換延遲故障和路徑延遲故障圖案)可以實(shí)施兩個(gè)全速捕捉脈沖。后一類的某些測(cè)試圖案具有大于兩個(gè)的“時(shí)序深度”，其中需要多于兩個(gè)的全速捕捉脈沖。所公開的技術(shù)的集成電路允許提供可變數(shù)量的全速捕捉脈沖。在一個(gè)實(shí)施例中，集成電路包括一個(gè)或更多個(gè)等待計(jì)數(shù)器，其經(jīng)配置以提供固定數(shù)量的全速捕捉脈沖。在一個(gè)或更多個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試圖案檢測(cè)塊可以代替等待計(jì)數(shù)器，以基于圖案檢測(cè)值提供可變數(shù)量的全速捕捉脈沖。包括等待計(jì)數(shù)器的示例集成電路在圖4A-4B中描述。
[0046]圖4A示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的能夠生成用于通過(guò)集成電路(400)中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的第二示例集成電路(400)。集成電路(400)包括測(cè)試圖案檢測(cè)塊(402)、計(jì)數(shù)器電路(404)和控制電路(406)。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(402)經(jīng)配置以接收檢測(cè)圖案(408)。檢測(cè)圖案(408)基本類似于圖3A的檢測(cè)圖案(308)。從測(cè)試儀(例如，圖1A的測(cè)試儀(102))接收(例如，圖1B的)時(shí)鐘信號(hào)(410)。時(shí)鐘信號(hào)(410)可以通過(guò)使用例如鎖相環(huán)(例如，在集成電路(400)中或以其他方式在與集成電路(400)通信耦合的裝置中)在集成電路(300)中在內(nèi)部生成。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(402)經(jīng)配置以檢測(cè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的開始的圖案(例如，8’hAA)。該測(cè)試圖案基本類似于本文參照?qǐng)D3A描述的測(cè)試圖案。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(402)基于在掃描數(shù)據(jù)輸入引腳的比特組合檢測(cè)圖案。
[0047]測(cè)試圖案檢測(cè)塊(402)經(jīng)配置以基于所述圖案的檢測(cè)生成觸發(fā)信號(hào)(例如，(412))。觸發(fā)信號(hào)((412))被傳送到控制電路(406)，以便進(jìn)而通過(guò)控制電路(406)觸發(fā)計(jì)數(shù)器電路(404)。計(jì)數(shù)器電路(404)經(jīng)配置以基于所檢測(cè)的移位圖案生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。在一個(gè)實(shí)施例中，計(jì)數(shù)器電路(404)生成對(duì)應(yīng)于移位階段和時(shí)鐘信號(hào)(410)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，以及對(duì)應(yīng)于捕捉階段和時(shí)鐘信號(hào)(410)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，以準(zhǔn)備其控制通過(guò)掃描使能信號(hào)提供的測(cè)試圖案。在另一個(gè)實(shí)施例中，計(jì)數(shù)器電路(404)生成對(duì)應(yīng)于移位階段和時(shí)鐘信號(hào)(410)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，以準(zhǔn)備其控制通過(guò)加載使能信號(hào)提供的測(cè)試圖案。計(jì)數(shù)器電路(404)包括寄存器塊(414)、第一計(jì)數(shù)器(416)、第二計(jì)數(shù)器(418)和等待計(jì)數(shù)器(420)。為了說(shuō)明的目的，【具體實(shí)施方式】指的是等待計(jì)數(shù)器；但是需要指出，本文公開的方法和集成電路的范圍并不局限于等待計(jì)數(shù)器的實(shí)施方式，而是可以擴(kuò)展到包括多于一個(gè)等待計(jì)數(shù)器的組合。
[0048]寄存器塊(414)包括通過(guò)時(shí)鐘信號(hào)(410)和復(fù)位信號(hào)(419)操作的一個(gè)或更多個(gè)寄存器。而且，第一計(jì)數(shù)器(416)、第二計(jì)數(shù)器(418)和等待計(jì)數(shù)器(420)中的每個(gè)通過(guò)時(shí)鐘信號(hào)(410)和復(fù)位信號(hào)(419)操作。寄存器塊(414)經(jīng)配置以存儲(chǔ)移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)、捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)和指示等待周期數(shù)量的預(yù)定計(jì)數(shù)狀態(tài)值中的至少一個(gè)。移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的持續(xù)時(shí)間對(duì)應(yīng)于移位階段的測(cè)試模式控制信號(hào)保持?jǐn)嘌缘某掷m(xù)時(shí)間，并且捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的持續(xù)時(shí)間對(duì)應(yīng)于捕捉階段的測(cè)試模式控制信號(hào)保持去斷言的持續(xù)時(shí)間。移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)可以對(duì)應(yīng)于根據(jù)持續(xù)時(shí)間掃描鏈的最大長(zhǎng)度。捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)對(duì)應(yīng)于捕捉階段的測(cè)試模式控制信號(hào)保持去斷言的持續(xù)時(shí)間。集成電路(400)還包括與寄存器塊(414)通信關(guān)聯(lián)或耦合的測(cè)試接口((421))，以便被安置，從而控制寄存器塊(414)，并基于測(cè)試圖案改變移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的至少一個(gè)。測(cè)試接口((421))的示例包括但不限于JTAG接口和嵌入式內(nèi)核測(cè)試接口。
[0049]第一計(jì)數(shù)器(416)和第二計(jì)數(shù)器418與寄存器塊(414)耦合。測(cè)試儀(例如，圖1A的測(cè)試儀(102))的時(shí)鐘信號(hào)(410)用于第一計(jì)數(shù)器(416)和第二計(jì)數(shù)器418對(duì)移位和捕捉操作計(jì)時(shí)?？晒┻x擇地，在一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試儀的時(shí)鐘信號(hào)(410)被用于第一計(jì)數(shù)器(416)對(duì)移位操作計(jì)時(shí)，并且高速內(nèi)部生成的時(shí)鐘信號(hào)(例如，使用鎖相環(huán)生成的)被用于第二計(jì)數(shù)器(418)對(duì)捕捉操作計(jì)時(shí)。
[0050]第一計(jì)數(shù)器(416)經(jīng)配置以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，其對(duì)應(yīng)于從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))的移位階段。在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于移位階段開始的圖案時(shí)或隨后，第一計(jì)數(shù)器(416)基于檢測(cè)圖案(408)生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。第二計(jì)數(shù)器418經(jīng)配置以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，其對(duì)應(yīng)于從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))的捕捉階段。第一計(jì)數(shù)器(416)和第二計(jì)數(shù)器418可以包括減計(jì)數(shù)器。減計(jì)數(shù)器可以包括但不限于八比特減計(jì)數(shù)器。第一計(jì)數(shù)器(416)與等待計(jì)數(shù)器(420)耦合，使得等待計(jì)數(shù)器(420)被對(duì)應(yīng)于移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱信號(hào)(413))的信號(hào)觸發(fā)，以便在捕捉階段之前生成對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期的計(jì)數(shù)狀態(tài)。等待計(jì)數(shù)器(420)被耦合到寄存器塊(414)，以檢索寄存器塊(414)的預(yù)定計(jì)數(shù)狀態(tài)值，指示等待周期數(shù)量的預(yù)定計(jì)數(shù)狀態(tài)值在等待計(jì)數(shù)器(420)致動(dòng)時(shí)生成。指示等待周期數(shù)的信息被包括在檢測(cè)圖案中。在這類實(shí)施例中，檢測(cè)圖案可以包括指示等待周期數(shù)的第一組圖案和指示捕捉階段的開始的第二組圖案。在一個(gè)或更多個(gè)等待周期完成時(shí)或隨后，等待計(jì)數(shù)器(420)觸發(fā)控制電路(406)(例如，請(qǐng)參閱信號(hào)(415))以進(jìn)而觸發(fā)第二計(jì)數(shù)器418，從而生成對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。第二計(jì)數(shù)器418生成從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
[0051]控制電路(406)與測(cè)試圖案檢測(cè)塊(402)耦合，以便被安置，從而在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于移位階段的開始的圖案(例如，8’hAA)時(shí)或隨后從測(cè)試圖案檢測(cè)塊(402)接收觸發(fā)信號(hào)(例如，(412))?？刂齐娐?406)包括一個(gè)或更多個(gè)選擇塊(例如，選擇塊(422)、(424)和(425))以及一個(gè)或更多個(gè)觸發(fā)器(例如，D類觸發(fā)器(426)、(428)、(430)和(432))。選擇塊(例如，選擇塊(422)、(424)和(425))的示例可以包括但不限于多路復(fù)用器。選擇塊(422)經(jīng)配置以接收來(lái)自測(cè)試圖案檢測(cè)塊(402)的觸發(fā)信號(hào)(412)和對(duì)應(yīng)于第一計(jì)數(shù)器(416)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)的信號(hào)(413)。
[0052]每個(gè)觸發(fā)器(例如，觸發(fā)器(426)、(428)、(430)和(432))通過(guò)時(shí)鐘信號(hào)(410)和復(fù)位信號(hào)(419)操作。在接收到觸發(fā)信號(hào)(412)時(shí)或隨后，第一選擇塊(422)觸發(fā)觸發(fā)器(426)和(428)。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，觸發(fā)器(426)和(428) —致操作，以生成使能信號(hào)(436)以及使能同步信號(hào)(438)，其中所述使能信號(hào)(436)觸發(fā)第一計(jì)數(shù)器(416)以生成對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，所述使能同步信號(hào)(438)可用于通過(guò)測(cè)試模式控制信號(hào)生成邏輯生成斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)。在接收到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱(413))時(shí)或隨后，在選擇塊(422)，觸發(fā)器(例如，觸發(fā)器(426)、(428)、(430)和(432))被去斷目，使能同步信號(hào)(438)獲得低電平，并由此，測(cè)試模式控制信號(hào)被去斷目。第二選擇塊(424)接收使能同步信號(hào)(438)和對(duì)應(yīng)于等待計(jì)數(shù)器(420)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)的信號(hào)(415)。在使能同步信號(hào)(438)獲得指示移位階段的結(jié)束的低電平(例如當(dāng)使能同步信號(hào)(438)例如從邏輯I轉(zhuǎn)換到邏輯O時(shí))時(shí)或隨后，第二選擇塊(424)觸發(fā)觸發(fā)器(430)，以生成計(jì)數(shù)使能信號(hào)(442)，其觸發(fā)第二計(jì)數(shù)器418以便生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
[0053]在被觸發(fā)時(shí)或隨后，第二計(jì)數(shù)器418生成從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)開始到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，在每個(gè)時(shí)鐘周期，遞減從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的計(jì)數(shù)狀態(tài))。而且，第三選擇塊(425)接收使能信號(hào)(442)和對(duì)應(yīng)于第二計(jì)數(shù)器418的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱(417))的信號(hào)。在接收到使能信號(hào)(442)和對(duì)應(yīng)于來(lái)自第二計(jì)數(shù)器418的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)的信號(hào)(417)時(shí)或隨后，第三選擇塊(425)觸發(fā)觸發(fā)器(432)，以生成使能同步捕捉信號(hào)(444)，其用于通過(guò)測(cè)試模式控制信號(hào)生成邏輯生成去斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)。在接收到對(duì)應(yīng)于捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的信號(hào)(417)時(shí)或隨后，第三選擇塊(425)去激活觸發(fā)器(432)，并因此，使能同步捕捉信號(hào)(444)獲得導(dǎo)致測(cè)試模式控制信號(hào)去斷言的低電平。
[0054]圖4B示出根據(jù)實(shí)施例的圖4A的集成電路(400)操作的過(guò)程流的示例表示。在圖4B中，集成電路(400)的掃描測(cè)試的多個(gè)狀態(tài)由塊(450)-(458)表示。多個(gè)操作狀態(tài)包括但不限于初始化狀態(tài)(450)、空閑狀態(tài)(452)、移位操作(456)、準(zhǔn)備捕捉操作(456)和捕捉操作(456)。在一個(gè)實(shí)施例中，在初始化狀態(tài)(450)期間，集成電路(400)的掃描測(cè)試通過(guò)從測(cè)試儀(例如，圖1A的測(cè)試儀(102))接收時(shí)鐘信號(hào)(410)被初始化。在空閑狀態(tài)(452)期間，在移位階段或捕捉階段的開始之前，掃描測(cè)試中存在一個(gè)或更多個(gè)等待周期。在測(cè)試圖案檢測(cè)塊(402)檢測(cè)到(例如，請(qǐng)參閱(460))對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的圖案時(shí)或隨后，移位操作開始(例如，請(qǐng)參閱(454))。在移位操作(454)期間，計(jì)數(shù)器電路(404)開始生成對(duì)應(yīng)于移位階段的計(jì)數(shù)狀態(tài)。
[0055]控制電路(406)生成計(jì)數(shù)使能信號(hào)(436)以便觸發(fā)計(jì)數(shù)器電路404，并且控制電路(406)還生成使能同步信號(hào)(438)和基于使能同步信號(hào)(438)的斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)。第一計(jì)數(shù)器(416)在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的圖案時(shí)或隨后被觸發(fā)，并且在第一計(jì)數(shù)器(416)被觸發(fā)時(shí)，第一計(jì)數(shù)器(416)檢索寄存器塊(414)的移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)，并生成對(duì)應(yīng)于該移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，在每個(gè)時(shí)鐘周期，第一計(jì)數(shù)器(416)遞減從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的計(jì)數(shù)狀態(tài))。一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)的開始生成。需要指出，在通過(guò)第一計(jì)數(shù)器416生成的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)的持續(xù)時(shí)間內(nèi)，該測(cè)試模式控制信號(hào)保持?jǐn)嘌浴?br> [0056]第一計(jì)數(shù)器(416)改變其計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，通過(guò)從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)減計(jì)數(shù))直到第一計(jì)數(shù)器(416)的計(jì)數(shù)狀態(tài)達(dá)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))。在第一計(jì)數(shù)器(416)的計(jì)數(shù)狀態(tài)達(dá)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱圖4A中的信號(hào)(413))時(shí)或隨后，移位操作(454)結(jié)束(如(462)所示)，測(cè)試模式控制信號(hào)被去斷言，并且集成電路(400)執(zhí)行準(zhǔn)備捕捉操作(如(456)所示)。在準(zhǔn)備捕捉操作(456)期間，等待計(jì)數(shù)器(420)被觸發(fā)。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，等待計(jì)數(shù)器(420)生成對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。在完成一個(gè)或更多個(gè)等待周期(例如，請(qǐng)參閱圖4A中的信號(hào)(415))時(shí)或隨后，第二計(jì)數(shù)器418被觸發(fā)，并且捕捉運(yùn)行(如(458)所示)在(466)處開始。
[0057]在捕捉操作(458)期間，第二計(jì)數(shù)器418從寄存器塊(414)檢索捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)，并生成對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，在每個(gè)時(shí)鐘周期，遞減從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的計(jì)數(shù)狀態(tài))?？刂齐娐?406)生成計(jì)數(shù)使能信號(hào)(442)觸發(fā)計(jì)數(shù)器電路(404)，并且還生成使能同步捕捉信號(hào)(444)和基于使能同步捕捉信號(hào)(444)的去斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)。第二計(jì)數(shù)器418改變計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，通過(guò)從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)減計(jì)數(shù))直到第二計(jì)數(shù)器418的計(jì)數(shù)狀態(tài)達(dá)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)。在第二計(jì)數(shù)器418的計(jì)數(shù)狀態(tài)達(dá)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)或隨后，捕捉操作結(jié)束(如466所示)，并且集成電路(400)恢復(fù)到空閑狀態(tài)(452)。所公開的技術(shù)的集成電路可以經(jīng)配置以基于檢測(cè)對(duì)應(yīng)于第一移位階段圖案操作，并且針對(duì)后續(xù)移位階段和捕捉階段，該集成電路可以基于通過(guò)各個(gè)計(jì)數(shù)器生成的計(jì)數(shù)狀態(tài)迭代操作，并且這類集成電路在圖5A到圖6中進(jìn)一步描述。
[0058]圖5A示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的能夠生成用于通過(guò)集成電路(500)中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的第三示例集成電路(500)。集成電路(500)包括測(cè)試圖案檢測(cè)塊(502)、計(jì)數(shù)器電路(504)和控制電路(506)。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(502)經(jīng)配置以接收檢測(cè)圖案(508)。檢測(cè)圖案(508)基本類似于圖3A的檢測(cè)圖案(308)。從測(cè)試儀(例如，圖1A的測(cè)試儀(102))接收時(shí)鐘信號(hào)510 (例如，圖1B的時(shí)鐘信號(hào)122)。時(shí)鐘信號(hào)(510)可以在捕捉階段期間，通過(guò)使用例如鎖相環(huán)(例如，在集成電路(500)中或以其他方式在與集成電路(500)通信耦合的裝置中)在內(nèi)部生成。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(502)經(jīng)配置以檢測(cè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的第一移位階段的開始的圖案(例如，8’hAA)。該測(cè)試圖案基本類似于本文參照?qǐng)D3A描述的測(cè)試圖案。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(502)基于在掃描數(shù)據(jù)輸入引腳的比特組合檢測(cè)圖案。
[0059]測(cè)試圖案檢測(cè)塊(502)對(duì)圖案的檢測(cè)觸發(fā)控制電路(506)，這進(jìn)而觸發(fā)計(jì)數(shù)器電路(504)。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，計(jì)數(shù)器電路(504)經(jīng)配置以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。計(jì)數(shù)器電路(504)經(jīng)配置以生成對(duì)應(yīng)于移位階段和時(shí)鐘信號(hào)(510)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，以及對(duì)應(yīng)于捕捉階段和時(shí)鐘信號(hào)(510)或內(nèi)部生成時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。計(jì)數(shù)器電路(504)包括寄存器塊(514)、第一計(jì)數(shù)器(516)、第二計(jì)數(shù)器(518)、第一等待計(jì)數(shù)器(520)和第二等待計(jì)數(shù)器(522)。在一個(gè)實(shí)施例中，寄存器塊(514)、第一計(jì)數(shù)器(516)、第二計(jì)數(shù)器(518)、第一等待計(jì)數(shù)器(520)和第二計(jì)數(shù)器(522)中的每個(gè)通過(guò)時(shí)鐘信號(hào)(510)和復(fù)位信號(hào)(519)操作。為了說(shuō)明的目的，【具體實(shí)施方式】指的是等待計(jì)數(shù)器；但是需要指出，本文公開的方法和集成電路的范圍并不局限于等待計(jì)數(shù)器的實(shí)施，而是其范圍可以擴(kuò)展到包括多于一個(gè)等待計(jì)數(shù)器的組合。
[0060]寄存器塊(514)包括一個(gè)或更多個(gè)寄存器。寄存器塊(514)經(jīng)配置以存儲(chǔ)移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)、捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)和指示等待周期數(shù)量和持續(xù)時(shí)間的預(yù)定計(jì)數(shù)狀態(tài)值中的至少一個(gè)。移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的持續(xù)時(shí)間對(duì)應(yīng)于移位階段的測(cè)試模式控制信號(hào)保持?jǐn)嘌缘某掷m(xù)時(shí)間。該持續(xù)時(shí)間可以對(duì)應(yīng)于根據(jù)持續(xù)時(shí)間掃描鏈的最大長(zhǎng)度。捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的持續(xù)時(shí)間對(duì)應(yīng)于捕捉階段的測(cè)試模式控制信號(hào)保持去斷言的持續(xù)時(shí)間。集成電路(500)還包括與寄存器塊(514)通信關(guān)聯(lián)或耦合的測(cè)試接口(521)，并且測(cè)試接口(521)經(jīng)配置以控制寄存器塊(514)，并基于測(cè)試圖案改變移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)中的至少一個(gè)。測(cè)試接口(521)的示例包括但不限于JTAG接口和嵌入式內(nèi)核測(cè)試接口。
[0061]第一計(jì)數(shù)器(516)和第二計(jì)數(shù)器(518)與寄存器塊(514)耦合，以便分別從該寄存器塊中檢索移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)。測(cè)試儀的時(shí)鐘信號(hào)(510)被第一計(jì)數(shù)器(516)和第二計(jì)數(shù)器(518)用于移位和捕捉操作。可供選擇地，在一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試儀的時(shí)鐘信號(hào)(510)被用于第一計(jì)數(shù)器(516)對(duì)移位操作計(jì)時(shí)，以及高速內(nèi)部生成的時(shí)鐘信號(hào)(例如，使用鎖相環(huán)生成的)被用于第二計(jì)數(shù)器(518)對(duì)捕捉運(yùn)行計(jì)時(shí)。
[0062]第一計(jì)數(shù)器(516)經(jīng)配置以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，其對(duì)應(yīng)于從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))的移位階段。在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的第一移位階段的開始的圖案時(shí)或隨后以及測(cè)試圖案的捕捉階段的結(jié)束時(shí)或隨后，第一計(jì)數(shù)器(516)生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。第二計(jì)數(shù)器(518)經(jīng)配置以生成對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的一個(gè)或更多個(gè)捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。第二計(jì)數(shù)器(518)經(jīng)配置以生成從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。第一計(jì)數(shù)器(516)和第二計(jì)數(shù)器(518)可以包括減計(jì)數(shù)器。該減計(jì)數(shù)器可以包括但不限于八比特減計(jì)數(shù)器。
[0063]第一等待計(jì)數(shù)器(520)經(jīng)配置以在移位階段的開始前，生成對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。第二等待計(jì)數(shù)器(522)經(jīng)配置以在捕捉階段的開始前，生成對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。第一等待計(jì)數(shù)器(520)和第二等待計(jì)數(shù)器(522)與寄存器塊(514)耦合，并經(jīng)配置以在被觸發(fā)時(shí)、被觸發(fā)前或被觸發(fā)后，從寄存器塊(514)檢索指示等待周期的數(shù)量和持續(xù)時(shí)間的預(yù)定計(jì)數(shù)狀態(tài)值。寄存器塊(514)可以為第一等待計(jì)數(shù)器(520)和第二等待計(jì)數(shù)器(522)存儲(chǔ)不同的計(jì)數(shù)狀態(tài)值。集成電路(500)附加包括圖案計(jì)數(shù)器529，其經(jīng)配置以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)對(duì)應(yīng)于從對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換。該預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換指示在掃描測(cè)試期間施加到掃描鏈的預(yù)定數(shù)量的測(cè)試圖案。圖案計(jì)數(shù)器529對(duì)施加到掃描鏈的測(cè)試圖案的數(shù)量計(jì)數(shù)。每個(gè)測(cè)試圖案可以包括移位階段和捕捉階段。寄存器塊(514)存儲(chǔ)圖案計(jì)數(shù)器529的初始計(jì)數(shù)狀態(tài)，其指示在掃描測(cè)試期間通過(guò)掃描鏈可施加的最大測(cè)試圖案數(shù)。圖案計(jì)數(shù)器529寄存器塊(514)檢索初始計(jì)數(shù)狀態(tài)，并生成從初始計(jì)數(shù)狀態(tài)開始的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
[0064]第一等待計(jì)數(shù)器(520)與控制電路(506)耦合，使得第一等待計(jì)數(shù)器(520)在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的第一移位階段的圖案時(shí)或隨后被觸發(fā)。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，第一等待計(jì)數(shù)器(520)生成對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。在完成一個(gè)或更多個(gè)等待周期(例如，請(qǐng)參閱(513))時(shí)或隨后，第一等待計(jì)數(shù)器(520)觸發(fā)第一計(jì)數(shù)器(516)，以生成對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，第一計(jì)數(shù)器(516)寄存器塊(514)檢索移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)，并例如通過(guò)從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)開始并繼續(xù)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參照(515))(例如，零計(jì)數(shù))，生成對(duì)應(yīng)于該移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。第一計(jì)數(shù)器(516)的移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱(515))觸發(fā)第二等待計(jì)數(shù)器(522)，以在捕捉階段之前，生成一個(gè)或更多個(gè)等待周期。
[0065]在完成第二等待計(jì)數(shù)器(522)的一個(gè)或更多個(gè)等待周期(例如，請(qǐng)參閱(517))時(shí)或隨后，第二計(jì)數(shù)器(518)被觸發(fā)。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，第二計(jì)數(shù)器(518)生成對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。第二計(jì)數(shù)器(518)生成從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)開始并繼續(xù)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))的計(jì)數(shù)狀態(tài)。第二計(jì)數(shù)器(518)的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱(523))導(dǎo)致被初始化到初始計(jì)數(shù)值的圖案計(jì)數(shù)器529的觸發(fā)，該初始計(jì)數(shù)值指示從對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的預(yù)定數(shù)量的允許轉(zhuǎn)換。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，圖案計(jì)數(shù)器(521)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。計(jì)數(shù)狀態(tài)的改變可以是遞減。在完成圖案計(jì)數(shù)器529的計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱(546))改變時(shí)或隨后，第一計(jì)數(shù)器(516)被再次觸發(fā)，以生成對(duì)應(yīng)于后續(xù)移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。圖案計(jì)數(shù)器529經(jīng)配置以觸發(fā)第一計(jì)數(shù)器(516)，用于從對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換。在一個(gè)實(shí)施例中，在完成預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換時(shí)或隨后，測(cè)試圖案塊502被觸發(fā)(例如，請(qǐng)參閱(549))，以便檢測(cè)后續(xù)移位階段。
[0066]測(cè)試圖案檢測(cè)塊(502)與控制電路(506)耦合，并經(jīng)配置以在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的第一移位階段的開始的圖案時(shí)或隨后，觸發(fā)控制電路(506)，進(jìn)而觸發(fā)計(jì)數(shù)器電路(504)。控制電路(506)包括一個(gè)或更多個(gè)選擇塊(例如，選擇塊(524)、(525)、(526)和(527))以及一個(gè)或更多個(gè)觸發(fā)器(例如，D類觸發(fā)器(528)、(530)、(532)和(534))。觸發(fā)器(例如，觸發(fā)器(528)、(530)、(532)和(534))通過(guò)時(shí)鐘信號(hào)(510)和復(fù)位信號(hào)(519)操作。第一選擇塊(524)經(jīng)配置以接收來(lái)自測(cè)試圖案檢測(cè)塊(502)的觸發(fā)信號(hào)(512)和第一等待計(jì)數(shù)器(520)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱(513))。在接收到觸發(fā)信號(hào)(512)時(shí)或隨后,第一選擇塊(524)觸發(fā)觸發(fā)器(528)以生成使能信號(hào)(538),使能信號(hào)(538)觸發(fā)第一等待計(jì)數(shù)器(520)以在第一移位階段之前，生成對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。一個(gè)或更多個(gè)等待周期(例如，請(qǐng)參閱(513))的完成觸發(fā)第一計(jì)數(shù)器(516)。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，第一計(jì)數(shù)器(516)例如通過(guò)從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)開始并繼續(xù)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參照(515))，生成對(duì)應(yīng)于第一移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
[0067]而且，第一計(jì)數(shù)器(516)的觸發(fā)進(jìn)而觸發(fā)第二選擇塊(525)，這觸發(fā)觸發(fā)器(530)以生成使能同步信號(hào)(540)，并且斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)通過(guò)測(cè)試模式控制信號(hào)生成邏輯基于使能同步信號(hào)(540)生成。第一計(jì)數(shù)器(516)的移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱(515))去激活第二選擇塊(525)，這進(jìn)而促使使能同步信號(hào)(540)獲得導(dǎo)致測(cè)試模式控制信號(hào)去斷言的低狀態(tài)(例如，通過(guò)從邏輯I轉(zhuǎn)換到邏輯O)。第三選擇塊(526)經(jīng)配置以接收使能同步信號(hào)(540)以及第二等待計(jì)數(shù)器(522)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱(517))。在使能同步信號(hào)(540)從邏輯I變化到邏輯O時(shí)或隨后，第三選擇塊(526)被觸發(fā)。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，第三選擇塊(526)進(jìn)而觸發(fā)觸發(fā)器(532)以生成使能捕捉信號(hào)(542)。使能捕捉信號(hào)(542)觸發(fā)第二等待計(jì)數(shù)器(522)，以在捕捉階段之前，生成對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
[0068]第二等待計(jì)數(shù)器(522)的一個(gè)或更多個(gè)等待周期(例如，請(qǐng)參閱(517))的完成觸發(fā)第二計(jì)數(shù)器(518)。在被觸發(fā)時(shí)或隨后，第二計(jì)數(shù)器(518)生成對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。而且，第二計(jì)數(shù)器(518)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱(523))導(dǎo)致第四選擇塊(527)的觸發(fā)，以便進(jìn)而觸發(fā)觸發(fā)器(534)以生成使能同步捕捉信號(hào)(544)。去斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)通過(guò)測(cè)試模式控制信號(hào)生成邏輯基于使能同步捕捉信號(hào)(544)生成。第二計(jì)數(shù)器(518)的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱(523))去激活選擇塊(527)，其進(jìn)而去激活觸發(fā)器(534)并觸發(fā)第一等待計(jì)數(shù)器(520)，以在后續(xù)移位階段之前，生成一個(gè)或更多個(gè)等待周期。捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)觸發(fā)圖案計(jì)數(shù)器529，其使集成電路(500)能夠以循環(huán)的方式操作預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換。
[0069]圖5B不出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的圖5A的集成電路(500)操作的過(guò)程流的不例表不。在圖5B中，集成電路(500)的掃描測(cè)試的多個(gè)狀態(tài)由塊(550)-(562)表示。多個(gè)操作狀態(tài)包括但不限于初始化狀態(tài)(550)、空閑狀態(tài)(552)、準(zhǔn)備移位操作(554)、移位操作(556)、準(zhǔn)備捕捉操作(558)、捕捉允許(560)和測(cè)試圖案計(jì)數(shù)操作(562)。在一個(gè)實(shí)施例中，在初始化狀態(tài)(550)期間，集成電路(500)的操作通過(guò)從測(cè)試儀(例如，圖1A的(102))接收時(shí)鐘信號(hào)(510)被初始化。在空閑狀態(tài)(552)期間，在檢測(cè)到第一移位階段之前，存在一個(gè)或更多個(gè)等待周期。在測(cè)試圖案檢測(cè)塊(502)檢測(cè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的第一移位階段的圖案(例如，請(qǐng)參閱(564))時(shí)或隨后，集成電路(500)準(zhǔn)備移位(例如，請(qǐng)參閱(554))。
[0070]在準(zhǔn)備移位操作(554)期間，第一等待計(jì)數(shù)器(520)被觸發(fā)，以生成一個(gè)或更多個(gè)等待周期。在完成一個(gè)或更多個(gè)等待周期時(shí)或隨后，移位操作開始(例如，請(qǐng)參閱(556))。在移位操作(556)期間，第一計(jì)數(shù)器(516)被觸發(fā)生成對(duì)應(yīng)于第一移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，以在每個(gè)時(shí)鐘周期，遞減從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的計(jì)數(shù)狀態(tài))，并且生成斷言測(cè)試模式控制信號(hào)，如圖5A所示。在通過(guò)第一計(jì)數(shù)器(516)生成的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)的持續(xù)時(shí)間內(nèi)，該測(cè)試模式控制信號(hào)保持?jǐn)嘌浴Ｔ诘谝挥?jì)數(shù)器(516)的計(jì)數(shù)狀態(tài)達(dá)到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)或隨后，移位操作結(jié)束(如(568)所示)。在(558)，捕捉操作的準(zhǔn)備被執(zhí)行，以便準(zhǔn)備捕捉階段。捕捉運(yùn)行的準(zhǔn)備(558)還包括通過(guò)第二等待計(jì)數(shù)器(522)生成一個(gè)或更多個(gè)等待周期。
[0071]在完成一個(gè)或更多個(gè)等待周期時(shí)或隨后，捕捉操作開始(例如，請(qǐng)參閱(570))。在(560)，通過(guò)觸發(fā)第二計(jì)數(shù)器(518)，捕捉操作被執(zhí)行，如本文在前面參照?qǐng)D5A所解釋的。而且，在捕捉操作期間(例如，請(qǐng)參閱(560))，生成去斷言的測(cè)試模式控制信號(hào)。在生成捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)或隨后，捕捉操作(560)結(jié)束(例如，請(qǐng)參閱(574))。在第二計(jì)數(shù)器(518)的計(jì)數(shù)狀態(tài)達(dá)到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)或隨后，圖案計(jì)數(shù)器529的計(jì)數(shù)狀態(tài)改變(例如，請(qǐng)參閱(562)) —個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。如果圖案計(jì)數(shù)器529不保持對(duì)應(yīng)于預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換的最小計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，零計(jì)數(shù))，操作(554)、(556)、(558)和(560)被執(zhí)行預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換。在完成預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換(例如，請(qǐng)參閱574)時(shí)或隨后，該過(guò)程在(550)被再次初始化。
[0072]圖6示出根據(jù)另一個(gè)實(shí)施例的圖5A的集成電路(500)操作的過(guò)程流的示例表示。在圖6中，集成電路(500)的掃描測(cè)試的多個(gè)狀態(tài)由塊(650)-(656)表示。多個(gè)操作狀態(tài)包括但不限于初始化狀態(tài)￠50)、空閑狀態(tài)￠52)、測(cè)試圖案計(jì)數(shù)操作(654)和迭代移位到捕捉操作￠56)。在一個(gè)實(shí)施例中，在初始化狀態(tài)￠50)期間，集成電路(500)的掃描測(cè)試通過(guò)從測(cè)試儀(例如，圖1A的(102))接收時(shí)鐘信號(hào)(510)被初始化。在空閑狀態(tài)(652)期間，在檢測(cè)到第一移位階段之前，存在一個(gè)或更多個(gè)等待周期。
[0073]在測(cè)試圖案檢測(cè)塊(502)檢測(cè)到(例如，請(qǐng)參閱￠58))對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的第一移位階段的圖案時(shí)或隨后，圖案計(jì)數(shù)器改變計(jì)數(shù)狀態(tài)(例如，請(qǐng)參閱￠54)) —個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，其指示一個(gè)測(cè)試圖案的施加(例如，包括一個(gè)移位階段和一個(gè)捕捉階段的測(cè)試圖案)。在圖案計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)或隨后，移位和捕捉操作被執(zhí)行(例如，請(qǐng)參閱(656))，如本文參照?qǐng)D5所述。通過(guò)在每次這類轉(zhuǎn)換結(jié)束處將圖案計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，從對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的第一移位階段和后續(xù)移位階段中的一個(gè)移位階段的移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案(如(656)所示)的捕捉階段的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的轉(zhuǎn)換被迭代執(zhí)行預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換(例如，預(yù)定數(shù)量的測(cè)試圖案)。
[0074]掃描測(cè)試可以包括操作STUMPS 結(jié)構(gòu)(Self-Test Using MISR and PRPGStructures 即使用 MISR 和 PRPG 結(jié)構(gòu)的自測(cè)試，其中 MISR 是 multiple input signatureregister即多輸入特征寄存器，以及PRPG是pseudo-random pattern generator即偽隨機(jī)圖案發(fā)生器)。在一個(gè)實(shí)施例中，為了減少掃描測(cè)試期間的測(cè)試時(shí)間，掃描壓縮可用于增加內(nèi)部STUMPS的數(shù)量，同時(shí)減少STUMPS的長(zhǎng)度，增加內(nèi)部移位頻率和減少移位階段與捕捉階段之間的空閑時(shí)間。在另一個(gè)實(shí)施例中，一個(gè)或更多個(gè)內(nèi)部STUMPS可以通過(guò)組合掃描壓縮邏輯和/或時(shí)序掃描壓縮邏輯驅(qū)動(dòng)。組合掃描壓縮邏輯和/或時(shí)序掃描壓縮邏輯驅(qū)動(dòng)的一個(gè)或更多個(gè)內(nèi)部STUMPS可以包括可選的MISR和PRPG元件。此外，在一個(gè)實(shí)施例中，一個(gè)或更多個(gè)觸發(fā)器可以被置于掃描輸入引腳和掃描輸出引腳上，以便支持更高頻率的掃描移位操作。除了在掃描使能信號(hào)的控制下將測(cè)試圖案驅(qū)動(dòng)到掃描鏈中以外，相同組的觸發(fā)器還可以用于在加載使能信號(hào)的控制下，將替換的圖案驅(qū)動(dòng)到用于時(shí)鐘和掃描控制的內(nèi)部寄存器中，并且還可以用于驅(qū)動(dòng)檢測(cè)圖案用于檢測(cè)移位階段的開始。
[0075]在掃描輸入引腳處的觸發(fā)器可以在移位階段結(jié)束時(shí)被初始化，并且該觸發(fā)器中的測(cè)試圖案可以在將當(dāng)前測(cè)試圖案?jìng)鬟f出掃描鏈并準(zhǔn)備向該掃描鏈?zhǔn)┘雍罄m(xù)測(cè)試圖案期間使用。在該觸發(fā)器中的測(cè)試圖案必須在兩個(gè)連續(xù)移位操作之間被保留。不過(guò)，指示移位階段的開始的檢測(cè)圖案可以在兩個(gè)測(cè)試圖案之間出現(xiàn)。在此情況下，在該觸發(fā)器中的測(cè)試圖案被干擾，從而破壞該測(cè)試圖案。為了減輕上面提到的問(wèn)題，在前面的掃描測(cè)試周期期間被移到觸發(fā)器的輸入端的測(cè)試圖案在后續(xù)測(cè)試周期期間被保留和再使用。在一個(gè)實(shí)施例中，檢測(cè)圖案和測(cè)試圖案通過(guò)不同組的觸發(fā)器傳遞，并且預(yù)定的延遲圖案的檢測(cè)和移位階段的初始化之后被引入，以保留和再使用以前存儲(chǔ)的測(cè)試圖案。結(jié)果，在該檢測(cè)圖案施加期間，該檢測(cè)圖案的施加不干擾觸發(fā)器的狀態(tài)。包括觸發(fā)器的示例集成電路在圖7A中描述。
[0076]圖7A示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的示例集成電路(700)，其包括能夠在掃描測(cè)試期間控制移位階段的一個(gè)或更多個(gè)觸發(fā)器。集成電路(700)包括第一組觸發(fā)器(702)和第二組觸發(fā)器(704)、測(cè)試圖案檢測(cè)塊(706)、STUMP(708)、第一選擇塊(710)，以及第二選擇塊(712)。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(706)可以基本類似于和圖2的測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202)，并且可以如本文參照?qǐng)D3A、4A和5A所描述的各種方式實(shí)施。
[0077]第一組觸發(fā)器(702)通過(guò)第一時(shí)鐘信號(hào)(714)操作，以及第二組觸發(fā)器通過(guò)第二時(shí)鐘信號(hào)(716)操作。第一選擇塊(710)經(jīng)配置以接收檢測(cè)圖案(718)，以及第二選擇塊(712)經(jīng)配置以接收測(cè)試圖案(717)。在一個(gè)實(shí)施例中，第一選擇塊(710)和第二選擇塊(712)中的每個(gè)經(jīng)配置以接收使能信號(hào)和使能同步信號(hào)(719)的組合，并在接收到該使能信號(hào)和使能同步信號(hào)(719)的組合時(shí)被觸發(fā)。使能信號(hào)和使能同步信號(hào)(719)的組合可以通過(guò)基本類似于圖2的控制電路(206)的控制電路生成。第一選擇塊(710)確保測(cè)試模式控制信號(hào)在移位階段的開始之前被斷言高。從測(cè)試儀(例如，圖1A的(102))接收第一時(shí)鐘信號(hào)(714)(例如，圖1B的時(shí)鐘信號(hào)(122))。測(cè)試圖案檢測(cè)塊(706)經(jīng)配置以通過(guò)第一組觸發(fā)器(702)接收檢測(cè)圖案(718)，以便基于檢測(cè)圖案(718)檢測(cè)對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案(717)的第一移位階段的開始的圖案。第一組觸發(fā)器(702)在接收到檢測(cè)圖案(718)之后和在測(cè)試圖案檢測(cè)塊(706)檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于移位階段的圖案時(shí)生成第一預(yù)定延遲。
[0078]第二選擇塊(712)控制測(cè)試圖案(717)通過(guò)第二組觸發(fā)器(704)移入STUMP (708)中。第二組觸發(fā)器(704)將對(duì)應(yīng)于先前移位階段的測(cè)試圖案存儲(chǔ)第二預(yù)定延遲時(shí)間，并在完成第二預(yù)定延遲時(shí)使能該移位階段的初始化。在接收到使能信號(hào)和使能同步信號(hào)(718)時(shí)或隨后，第二選擇塊(712)通過(guò)第二組觸發(fā)器(704)將測(cè)試圖案(717)傳送到STUMP(708)中。將測(cè)試圖案(717)傳送到STUMP(708)中的第二預(yù)定延遲從而確保在移位操作的開始之前，測(cè)試模式控制信號(hào)被斷言高。圖7A的集成電路(700)的操作在此參照7B描述。
[0079]圖7B示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的圖7A的集成電路(700)操作的過(guò)程流的示例表示。在圖7B中，多個(gè)操作狀態(tài)由塊(720)-(726)表示。多個(gè)操作狀態(tài)包括但不限于選擇(720)、準(zhǔn)備移位(722)、移位操作(724)和捕捉操作(726)。在一個(gè)實(shí)施例中，在選擇(720)期間，第一組觸發(fā)器(702)或STUMP(706)中的一個(gè)被選擇用于接收時(shí)鐘信號(hào)。在選擇第一組觸發(fā)器(702)時(shí)或隨后，包括指示移位階段的信息的檢測(cè)圖案(718)在通過(guò)第一組管線觸發(fā)器(702)生成的第一預(yù)定延遲之后被移入測(cè)試圖案檢測(cè)塊(706)中，并且對(duì)應(yīng)于移位階段的圖案基于檢測(cè)圖案(718)被檢測(cè)(例如，請(qǐng)參閱(728))。在檢測(cè)到圖案時(shí)或隨后(例如，請(qǐng)參閱(722))，移位操作的準(zhǔn)備開始，并且第二預(yù)定延遲通過(guò)第二組管線觸發(fā)器(704)被引入。在完成第二預(yù)定延遲時(shí)或隨后，STUMP(706)被選擇(請(qǐng)參閱(720))，并且第二組觸發(fā)器(704)將測(cè)試圖案(717)傳送到STUMP(706)中，以初始化后續(xù)移位階段(例如，請(qǐng)參閱730)。在(724)，移位操作被執(zhí)行，緊隨其后的是在(726)的捕捉操作。移位操作和捕捉操作如同本文參照?qǐng)D3A到5B所描述的。
[0080]圖8示出根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的方法(800)的流程圖。測(cè)試模式控制信號(hào)可以包括，但不限于，控制測(cè)試圖案的移位階段和捕捉階段的掃描使能信號(hào)，以及加載使能信號(hào)，其用于控制到集成電路內(nèi)的掃描鏈(例如，圖1A的掃描鏈(108))的時(shí)鐘并且控制掃描鏈的輸入端和輸出端以用于該掃描鏈的選擇性運(yùn)行。方法(800)開始于操作(802)。在操作(802)，基于檢測(cè)圖案，執(zhí)行對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的第一圖案的檢測(cè)(例如，使用圖2的測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202))或執(zhí)行對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的第一圖案的檢測(cè)和對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的第二圖案的檢測(cè)(例如，使用圖2的測(cè)試圖案檢測(cè)塊(202))。在一個(gè)實(shí)施例中，第一圖案(例如，8’hAA)和第二圖案(例如，8’h55)在檢測(cè)圖案中被檢測(cè)。檢測(cè)圖案包括指示測(cè)試圖案的移位階段的開始和/或測(cè)試圖案的捕捉階段的開始的信息。測(cè)試圖案包括測(cè)試矢量和指示時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)鐘周期數(shù)的信息，所述時(shí)鐘信號(hào)對(duì)應(yīng)于掃描測(cè)試期間的每個(gè)移位階段和每個(gè)捕捉階段。在一個(gè)實(shí)施例中，在操作(804)，在檢測(cè)到第一和第二圖案中的至少一個(gè)圖案時(shí)或隨后，對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)或?qū)?yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)通過(guò)計(jì)數(shù)器電路(例如，圖3A的計(jì)數(shù)器電路(304)、圖4A的(404)、圖5A的(504))生成(例如，使用本文參照?qǐng)D3A、4A和5A描述的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器)。
[0081]對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)在檢測(cè)到第一圖案時(shí)或隨后生成，并且對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)在檢測(cè)到第二圖案時(shí)或隨后生成。對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)包括移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的計(jì)數(shù)狀態(tài)。移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的持續(xù)時(shí)間與對(duì)應(yīng)于移位階段的時(shí)鐘信號(hào)的周期數(shù)關(guān)聯(lián)。對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)包括捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的計(jì)數(shù)狀態(tài)。捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的持續(xù)時(shí)間與對(duì)應(yīng)于捕捉階段的時(shí)鐘信號(hào)的周期數(shù)關(guān)聯(lián)。在一個(gè)實(shí)施例中，在操作(806)中，測(cè)試模式控制信號(hào)基于對(duì)應(yīng)于移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)和對(duì)應(yīng)于捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)生成并隨后被控制。測(cè)試模式控制信號(hào)的生成和控制在本文參照?qǐng)D3A-7B進(jìn)行描述。
[0082]在一個(gè)實(shí)施例中，在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于移位階段的圖案時(shí)，第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)生成為移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)。如果第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)是第一預(yù)定計(jì)數(shù)狀態(tài)，測(cè)試模式控制信號(hào)被斷言。在掃描測(cè)試的移位階段期間，第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)。如果第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)被改變到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，則測(cè)試模式控制信號(hào)被去斷言。如果第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)是移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，計(jì)數(shù)器電路的等待計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期生成。在一個(gè)或更多個(gè)等待周期結(jié)束后，計(jì)數(shù)器電路的第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)生成為捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)。在捕捉階段期間，第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，并且這個(gè)實(shí)施例在本文參照?qǐng)D4A-4B進(jìn)行描述。
[0083]在一個(gè)實(shí)施例中，對(duì)于對(duì)應(yīng)于從對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，對(duì)應(yīng)于第一等待周期的第一等待計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于第一移位階段的圖案和圖案計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)中的一個(gè)時(shí)生成。在第一等待周期結(jié)束后，計(jì)數(shù)器電路的第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)生成為移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)。如果第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)是移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)，則測(cè)試模式控制信號(hào)被斷言。第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)。如果第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)被改變到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，則測(cè)試模式控制信號(hào)被去斷言。如果第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)是移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，則生成對(duì)應(yīng)于第二等待周期的第二等待計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。在第二等待周期結(jié)束后，計(jì)數(shù)器電路的第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)生成為捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)。在掃描測(cè)試的捕捉階段期間，第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)。對(duì)應(yīng)于從對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換的計(jì)數(shù)器電路的圖案計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，并且這個(gè)實(shí)施例在本文參照?qǐng)D5A-5B進(jìn)行描述。
[0084]此外，在一個(gè)實(shí)施例中，對(duì)于對(duì)應(yīng)于從對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的第一移位階段和后續(xù)移位階段中的一個(gè)移位階段的移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的捕捉階段的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，在檢測(cè)到第一移位階段和先前捕捉階段結(jié)束中的一個(gè)時(shí)，計(jì)數(shù)器電路的圖案計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。在將圖案計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)，計(jì)數(shù)器電路的第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)生成為移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)。如果第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)是移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)，則測(cè)試模式控制信號(hào)被斷言。在掃描測(cè)試的移位階段期間，第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)從移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)。如果第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)被改變到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，則測(cè)試模式控制信號(hào)被去斷言。在掃描測(cè)試的捕捉階段期間，計(jì)數(shù)器電路的第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)從捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，并且這個(gè)實(shí)施例在本文參照?qǐng)D6進(jìn)行描述。
[0085]本文公開的一個(gè)或更多個(gè)示例實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)包括在集成電路內(nèi)附加電路的使用，以用于在施加掃描圖案期間，內(nèi)部掃描使能生成和控制。所公開的技術(shù)通過(guò)釋放引腳使能較高的多點(diǎn)測(cè)試，并消除在集成電路與基于事件驅(qū)動(dòng)直接存儲(chǔ)器存取架構(gòu)的測(cè)試儀之間的數(shù)據(jù)傳遞期間，使一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試儀受控引腳和測(cè)試數(shù)據(jù)同步的死循環(huán)的需要。所公開的技術(shù)不僅具有基于事件驅(qū)動(dòng)的直接存儲(chǔ)器存取測(cè)試儀架構(gòu)的好處，而且所有功能基于數(shù)據(jù)傳遞的測(cè)試儀使用利用直接存儲(chǔ)器存取架構(gòu)刷新的存儲(chǔ)器。
[0086]通過(guò)使用基于硬件電路系統(tǒng)(例如，基于互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)的邏輯線路)的邏輯，和/或硬件和軟件(例如，體現(xiàn)在機(jī)器可讀介質(zhì)中)的任何組合，各個(gè)裝置、模塊、分析器發(fā)生器等可以被實(shí)現(xiàn)和操作。例如，各種電氣結(jié)構(gòu)可以通過(guò)使用晶體管、邏輯門、和電氣電路(例如，ASIC電路系統(tǒng)和/或數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)電路系統(tǒng))體現(xiàn)。而且，在各個(gè)實(shí)施例中離散和單獨(dú)描述的和示出的電路可以與其他系統(tǒng)、模塊組合或集成。
[0087]本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)明白，在本發(fā)明權(quán)利要求保護(hù)的范圍內(nèi)，可以對(duì)上述示例實(shí)施例做出修改，并且許多其他的實(shí)施例也是可能的。
【權(quán)利要求】
1.一種能夠生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的集成電路，所述集成電路包括: 測(cè)試圖案檢測(cè)塊，其經(jīng)配置以: 接收檢測(cè)圖案； 基于所述檢測(cè)圖案，執(zhí)行對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的第一圖案的檢測(cè)和對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的捕捉階段的第二圖案的檢測(cè)；并且 基于所述第一和第二圖案中的至少一個(gè)圖案的檢測(cè)而生成觸發(fā)信號(hào)； 控制電路，其耦合到所述測(cè)試圖案檢測(cè)塊，所述控制電路經(jīng)配置以接收所述觸發(fā)信號(hào)并基于對(duì)應(yīng)于所述移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)和對(duì)應(yīng)于所述捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)生成和控制所述測(cè)試模式控制信號(hào)；以及 計(jì)數(shù)器電路，其耦合到所述控制電路，所述計(jì)數(shù)器電路經(jīng)配置以基于所述第一和第二圖案中的至少一個(gè)圖案，生成對(duì)應(yīng)于所述移位階段和時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)以及對(duì)應(yīng)于所述捕捉階段和所述時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路，其中所述控制電路經(jīng)進(jìn)一步配置以執(zhí)行下列中的至少一個(gè): 在所述計(jì)數(shù)器電路的計(jì)數(shù)狀態(tài)是移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的一種狀態(tài)時(shí)，斷言所述測(cè)試模式控制信號(hào)；并且 在所述計(jì)數(shù)狀態(tài)是捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)和移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的一種狀態(tài)時(shí)，去斷言所述測(cè)試模式控制信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的集成電路，其中所述計(jì)數(shù)器電路包括耦合到所述控制電路的寄存器塊，所述寄存器塊經(jīng)配置以存儲(chǔ)所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)、所述捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)以及所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的至少一個(gè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的集成電路，其中所述計(jì)數(shù)器電路進(jìn)一步包括與所述寄存器塊耦合的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器，其經(jīng)配置以: 生成對(duì)應(yīng)于從所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的所述移位階段的所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)；并且 生成對(duì)應(yīng)于從所述捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的所述捕捉階段的所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的集成電路，其中所述計(jì)數(shù)器電路進(jìn)一步包括: 第一計(jì)數(shù)器，其經(jīng)配置以生成從所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)； 第二計(jì)數(shù)器，其經(jīng)配置以生成從所述捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)；以及 一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器，其經(jīng)配置以在所述移位階段的開始前生成對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，以及在所述捕捉階段的開始前生成對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的集成電路，其中所述計(jì)數(shù)器電路進(jìn)一步包括圖案計(jì)數(shù)器，其經(jīng)配置以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)對(duì)應(yīng)于從對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的所述移位階段的所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的所述捕捉階段的所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路，其進(jìn)一步包括: 第一組觸發(fā)器，其與所述測(cè)試圖案檢測(cè)塊耦合，所述第一組觸發(fā)器經(jīng)配置以在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于所述移位階段的所述第一圖案時(shí)生成第一預(yù)定延遲；以及 第二組觸發(fā)器，其與所述掃描鏈耦合，所述第二組觸發(fā)器用于將對(duì)應(yīng)于先前移位階段的測(cè)試圖案存儲(chǔ)第二預(yù)定延遲時(shí)間，并使得在完成所述第二預(yù)定延遲時(shí)使能所述移位階段的初始化。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路，其進(jìn)一步包括與所述寄存器塊通信關(guān)聯(lián)或耦合的測(cè)試接口，所述測(cè)試接口控制所述寄存器塊，并基于所述測(cè)試圖案改變移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)中的至少一個(gè)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路，其中所述測(cè)試模式控制信號(hào)包括用于控制所述測(cè)試圖案的所述移位階段和所述捕捉階段的掃描使能信號(hào)和用于控制所述掃描鏈的操作的加載使能信號(hào)中的一個(gè)。
10.一種能夠生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的集成電路，所述集成電路包括: 測(cè)試圖案檢測(cè)塊，其經(jīng)配置以: 接收檢測(cè)圖案； 基于所述檢測(cè)圖案，執(zhí)行對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的第一移位階段的圖案的檢測(cè)；并且 基于所述圖案的檢測(cè)，生成觸發(fā)信號(hào)； 控制電路，其耦合到所述測(cè)試圖案檢測(cè)塊，所述控制電路經(jīng)配置以接收所述觸發(fā)信號(hào)并基于對(duì)應(yīng)于所述第一移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)和對(duì)應(yīng)于后續(xù)移位階段和捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)而生成和控制所述測(cè)試模式控制信號(hào)；以及 計(jì)數(shù)器電路，其耦合到所述控制電路，所述計(jì)數(shù)器電路包括: 圖案計(jì)數(shù)器，其經(jīng)配置以在檢測(cè)到所述第一移位階段時(shí)被觸發(fā)，所述圖案計(jì)數(shù)器經(jīng)配置以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)對(duì)應(yīng)于從對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的所述第一移位階段和后續(xù)移位階段中的一個(gè)移位階段的移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的捕捉階段的捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換，以及 一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器，其與所述圖案計(jì)數(shù)器耦合，所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器經(jīng)配置以生成對(duì)應(yīng)于所述第一移位階段、所述后續(xù)移位階段和所述捕捉階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的集成電路，其中所述控制電路經(jīng)進(jìn)一步配置以執(zhí)行下列中的至少一個(gè): 在所述計(jì)數(shù)器電路的計(jì)數(shù)狀態(tài)是所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的一種狀態(tài)時(shí)，斷言所述測(cè)試模式控制信號(hào)；并且 在所述計(jì)數(shù)狀態(tài)是捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)和移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的一種狀態(tài)時(shí)，去斷言所述測(cè)試模式控制信號(hào)。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的集成電路，其中所述計(jì)數(shù)器電路包括: 寄存器塊，其經(jīng)配置以存儲(chǔ)所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、所述捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)和所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)中的至少一個(gè)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的集成電路，其中所述計(jì)數(shù)器電路進(jìn)一步包括: 一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器，其經(jīng)配置以生成一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)對(duì)應(yīng)于在所述第一移位階段和后續(xù)移位階段中的一個(gè)的開始前的一個(gè)或更多個(gè)等待周期以及在所述捕捉階段的開始前的一個(gè)或更多個(gè)等待周期，其中所述測(cè)試模式控制信號(hào)的生成進(jìn)一步基于所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)器的所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)。
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的集成電路，其進(jìn)一步包括: 第一組觸發(fā)器，其與所述測(cè)試圖案檢測(cè)塊耦合，所述第一組觸發(fā)器經(jīng)配置以在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于所述移位階段的所述圖案時(shí)生成第一預(yù)定延遲；以及 第二組觸發(fā)器，其與所述掃描鏈耦合，所述第二組觸發(fā)器用于將對(duì)應(yīng)于先前移位階段的測(cè)試圖案存儲(chǔ)第二預(yù)定延遲時(shí)間，并在完成所述第二預(yù)定延遲時(shí)使能所述移位階段的初始化。
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的集成電路，其進(jìn)一步包括與所述寄存器塊通信關(guān)聯(lián)或耦合的測(cè)試接口，所述測(cè)試接口控制所述寄存器塊，并基于所述測(cè)試圖案改變所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、所述捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)、所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)和捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)中的至少一個(gè)。
16.根據(jù)權(quán)利要求10所述的集成電路，其中所述測(cè)試模式控制信號(hào)包括用于控制所述測(cè)試圖案的所述移位階段和所述捕捉階段的掃描使能信號(hào)和用于控制所述掃描鏈的操作的加載使能信號(hào)中的一個(gè)。
17.—種生成用于通過(guò)集成電路中的掃描鏈進(jìn)行掃描測(cè)試的測(cè)試模式控制信號(hào)的方法，所述方法包括: 基于檢測(cè)圖案，執(zhí)行下列檢測(cè)中的一個(gè):對(duì)應(yīng)于測(cè)試圖案的移位階段的第一圖案的檢測(cè)，以及所述第一圖案和對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的捕捉階段的第二圖案的檢測(cè)； 在檢測(cè)到所述第一和第二圖案時(shí)，通過(guò)計(jì)數(shù)器電路生成對(duì)應(yīng)于所述移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)和對(duì)應(yīng)于所述捕捉階段的所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，對(duì)應(yīng)于所述移位階段的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)包括移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的計(jì)數(shù)狀態(tài)，所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與對(duì)應(yīng)于所述移位階段的時(shí)鐘信號(hào)的周期數(shù)關(guān)聯(lián)，對(duì)應(yīng)于所述捕捉階段的所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)包括捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的計(jì)數(shù)狀態(tài)，并且所述捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)與對(duì)應(yīng)于所述捕捉階段的時(shí)鐘信號(hào)的周期數(shù)關(guān)聯(lián)；并且 基于對(duì)應(yīng)于所述移位階段的所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)和對(duì)應(yīng)于所述捕捉階段的所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，生成并隨后控制所述測(cè)試模式控制信號(hào)。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其進(jìn)一步包括迭代執(zhí)行: 在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于所述移位階段的所述第一圖案時(shí)，生成所述計(jì)數(shù)器電路的第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)作為所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)； 如果所述第一計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)是所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，則斷言所述測(cè)試模式控制信號(hào)； 在所述掃描測(cè)試的所述移位階段期間，將所述第一計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)從所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)； 如果所述第一計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)被改變到所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，則去斷言所述測(cè)試模式控制信號(hào)； 在所述第一計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)是所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)，生成對(duì)應(yīng)于一個(gè)或更多個(gè)等待周期的所述計(jì)數(shù)器電路的等待計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)； 在所述一個(gè)或更多個(gè)等待周期的結(jié)束后，生成所述計(jì)數(shù)器電路的第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)作為捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)；并且 在所述捕捉階段期間，將所述第二計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)從所述捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)。
19.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其進(jìn)一步包括迭代執(zhí)行一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)對(duì)應(yīng)于:從對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的所述移位階段的所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的所述捕捉階段的所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)之間的預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換: 在檢測(cè)到對(duì)應(yīng)于第一移位階段的所述圖案和將圖案計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)之中的一個(gè)發(fā)生時(shí)，生成對(duì)應(yīng)于第一等待周期的第一等待計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)； 在所述第一等待周期結(jié)束后，生成所述計(jì)數(shù)器電路的第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)作為移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)； 如果所述第一計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)是所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)，則斷言所述測(cè)試模式控制信號(hào)； 將所述第一計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)從所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)； 如果所述第一計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)被改變到所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，則去斷言所述測(cè)試模式控制信號(hào)； 在所述計(jì)數(shù)狀態(tài)是所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)，生成對(duì)應(yīng)于第二等待周期的第二等待計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)； 在所述第二等待周期結(jié)束后，生成所述計(jì)數(shù)器電路的第二計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)作為捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)； 在所述掃描測(cè)試的所述捕捉階段期間，將所述第二計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)從所述捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)；并且 將所述計(jì)數(shù)器電路的圖案計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)對(duì)應(yīng)于從所述測(cè)試圖案的所述移位階段的所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到所述測(cè)試圖案的所述捕捉階段的所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)的預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換。
20.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其進(jìn)一步包括迭代執(zhí)行一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)，所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)對(duì)應(yīng)于從對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的所述移位階段的所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)到對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試圖案的所述捕捉階段的所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)的預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換: 在檢測(cè)到第一移位階段和前面的捕捉階段結(jié)束中的一個(gè)時(shí)，將對(duì)應(yīng)于所述預(yù)定數(shù)量的轉(zhuǎn)換的所述計(jì)數(shù)器電路的圖案計(jì)數(shù)器的一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)； 在所述一個(gè)或更多個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)改變一個(gè)計(jì)數(shù)狀態(tài)時(shí)，生成所述計(jì)數(shù)器電路的第一計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)狀態(tài)作為移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)； 如果所述第一計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)是所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)，則斷言所述測(cè)試模式控制信號(hào)； 在所述掃描測(cè)試的所述移位階段期間，將所述第一計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)從所述移位開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)； 如果所述第一計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)被改變到所述移位結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)，則去斷言所述測(cè)試模式控制信號(hào)；并且 在所述掃描測(cè)試的所述捕捉階段期間，將所述計(jì)數(shù)器電路的第二計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)狀態(tài)從所述捕捉開始計(jì)數(shù)狀態(tài)改變到所述捕捉結(jié)束計(jì)數(shù)狀態(tài)。
【文檔編號(hào)】G01R31/3185GK104321655SQ201380022743
【公開日】2015年1月28日 申請(qǐng)日期:2013年5月10日 優(yōu)先權(quán)日:2012年5月14日
【發(fā)明者】R·米塔爾, P·薩巴瑞瓦, P·納拉亞南, R·A·帕瑞克基 申請(qǐng)人:德克薩斯儀器股份有限公司, 德克薩斯儀器日本有限公司