熒光檢測(cè)裝置及熒光檢測(cè)方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明的目的在于提供一種熒光檢測(cè)裝置，即使在使用在對(duì)試樣照射激發(fā)光的方向上配置了一定厚度的試樣的微陣列時(shí)，也能準(zhǔn)確地檢測(cè)試樣發(fā)出的熒光強(qiáng)度。本發(fā)明的熒光檢測(cè)裝置(6)是對(duì)從含熒光物質(zhì)的透光性試樣(4)發(fā)出的熒光進(jìn)行檢測(cè)的熒光檢測(cè)裝置，其具有：對(duì)試樣照射激發(fā)光的激發(fā)光照射設(shè)備(12)、檢測(cè)試樣發(fā)出的熒光的檢測(cè)設(shè)備(18)、基于試樣的尺寸來(lái)調(diào)整激發(fā)光相對(duì)于試樣的照射角的照射角調(diào)整設(shè)備(14)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】熒光檢測(cè)裝置及熒光檢測(cè)方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及熒光檢測(cè)裝置及使用其的熒光檢測(cè)方法。

【背景技術(shù)】
[0002]微陣列是指用于將多個(gè)檢查、實(shí)驗(yàn)的對(duì)象物固定后，對(duì)其進(jìn)行一次性檢查、實(shí)驗(yàn)的材料或者技術(shù)的總稱(chēng)。特別在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、藥學(xué)方面，從20世紀(jì)末開(kāi)始將以核酸為對(duì)象的DNA微陣列作為中心的開(kāi)發(fā)正在推進(jìn)，漸漸能夠利用。
[0003]例如，在利用DNA微陣列時(shí)，從樣品中提取mRNA，對(duì)經(jīng)過(guò)反轉(zhuǎn)錄而合成的cDNA進(jìn)行生物素標(biāo)記，與在DNA微陣列的基板上的DNA進(jìn)行雜交。然后，對(duì)經(jīng)雜交而形成的試樣照射激發(fā)光，由熒光顯微鏡、熒光激光掃描儀等檢測(cè)試樣中所含的熒光物質(zhì)發(fā)出的熒光強(qiáng)度?；跈z測(cè)的熒光強(qiáng)度可以判定mRNA的表達(dá)量。
[0004]對(duì)在微陣列中配置的試樣照射激發(fā)光來(lái)檢測(cè)來(lái)自試樣的熒光的熒光檢測(cè)裝置，一般有同軸落射方式和非同軸落射方式的2種方式。同軸落射方式中,通過(guò)在激發(fā)光的光路上設(shè)置的聚光透鏡對(duì)試樣照射激發(fā)光，且從被激發(fā)光激發(fā)的試樣發(fā)出的熒光由相同聚光透鏡聚光以在攝像元件上聚焦。
[0005]該同軸落射方式中，由于在激發(fā)光通過(guò)聚光透鏡時(shí)所產(chǎn)生的聚光透鏡的自發(fā)熒光而使得裝置背景上升，從而難以準(zhǔn)確地檢測(cè)出來(lái)自試樣中的微弱熒光。
[0006]這里，作為改善同軸落射方式的缺點(diǎn)的裝置，已知有專(zhuān)利文獻(xiàn)I所示的非同軸落射方式。專(zhuān)利文獻(xiàn)I中記載的裝置中，從斜下方向試樣照射激發(fā)光，通過(guò)在試樣下方配置的透鏡使試樣發(fā)出的熒光聚光，以使得不與該激發(fā)光的光軸重合。該裝置中，由于激發(fā)光不通過(guò)透鏡，可以防止透鏡的自發(fā)熒光的產(chǎn)生。
[0007]現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
[0008]專(zhuān)利文獻(xiàn)
[0009]專(zhuān)利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)2005-62023號(hào)公報(bào)


【發(fā)明內(nèi)容】

[0010]發(fā)明要解決的課題
[0011]在使用在載玻片等平面基板的表面配置試樣的微陣列時(shí)，由于相對(duì)于對(duì)試樣照射激發(fā)光的方向的試樣的厚度小，因此，通過(guò)專(zhuān)利文獻(xiàn)I中記載的那樣的現(xiàn)有的裝置，激發(fā)光可以充分地進(jìn)入到試樣中，可以準(zhǔn)確地檢測(cè)試樣發(fā)出的熒光強(qiáng)度。
[0012]但是，在使用在平板狀的部件中形成的貫通孔中填充試樣的微陣列(例如三菱麗陽(yáng)社制的纖維型DNA芯片)八一> (注冊(cè)商標(biāo))，日本特許第4150330號(hào)公報(bào)、日本特許第3654894號(hào)公報(bào)等))時(shí)，由于相對(duì)于激發(fā)光的照射方向，試樣的厚度大,在專(zhuān)利文獻(xiàn)I中記載的那樣的現(xiàn)有的裝置中，激發(fā)光不能充分地進(jìn)入到試樣中，不能準(zhǔn)確地檢測(cè)試樣發(fā)出的熒光強(qiáng)度。
[0013]因此，本發(fā)明的主要目的是提供一種熒光檢測(cè)裝置及熒光檢測(cè)方法，即使在使用相對(duì)于對(duì)試樣照射激發(fā)光的方向上配置有一定厚度的試樣的微陣列時(shí)，也能準(zhǔn)確地檢測(cè)試樣發(fā)出的熒光強(qiáng)度。
[0014]用于解決課題的方法
[0015]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的第I發(fā)明，熒光檢測(cè)裝置是用于檢測(cè)由含熒光物質(zhì)的透光性試樣發(fā)出的熒光的熒光檢測(cè)裝置，其特征在于，具備:對(duì)試樣照射激發(fā)光的激發(fā)光照射設(shè)備、檢測(cè)試樣發(fā)出的熒光的檢測(cè)設(shè)備、基于試樣的尺寸調(diào)整激發(fā)光相對(duì)于試樣的照射角的照射角調(diào)整設(shè)備。
[0016]此外，本發(fā)明的第I發(fā)明中，優(yōu)選照射角調(diào)整設(shè)備調(diào)整激發(fā)光的照射角，以使得激發(fā)光相對(duì)于試樣的照射角Θ滿(mǎn)足以下算式。
[0017][數(shù)I]
[0018]

【權(quán)利要求】
1.一種熒光檢測(cè)裝置，其特征在于，是對(duì)由含熒光物質(zhì)的透光性試樣發(fā)出的熒光進(jìn)行檢測(cè)的熒光檢測(cè)裝置，其具備:對(duì)所述試樣照射激發(fā)光的激發(fā)光照射設(shè)備、檢測(cè)所述試樣發(fā)出的熒光的檢測(cè)設(shè)備、基于試樣的尺寸調(diào)整激發(fā)光相對(duì)于所述試樣的照射角的照射角調(diào)整設(shè)備。
2.如權(quán)利要求1所述的熒光檢測(cè)裝置，其中，所述照射角調(diào)整設(shè)備調(diào)整所述激發(fā)光的照射角，以使得激發(fā)光相對(duì)于所述試樣的照射角Θ滿(mǎn)足以下算式，
其中，t為所述試樣的厚度，y為所述試樣的寬度。
3.如權(quán)利要求1所述的熒光檢測(cè)裝置，其中，在所述試樣的厚度為0.1~Imm的情況下，所述照射角調(diào)整設(shè)備調(diào)整所述激發(fā)光的照射角，以使得所述激發(fā)光相對(duì)于所述試樣的照射角Θ在15~60°的范圍內(nèi)。
4.如權(quán)利要求1~3的任一項(xiàng)所述的熒光檢測(cè)裝置，其中，具備在從所述試樣向著所述檢測(cè)設(shè)備的熒光的光路上配置的、將所述熒光聚焦于所述檢測(cè)設(shè)備的聚光透鏡， 所述激發(fā)光照射設(shè)備由在以所述聚光透鏡的光軸為中心的圓周上以均等的角度間隔配置的多個(gè)激發(fā)光照射設(shè)備構(gòu)成，或者，由在所述聚光透鏡的周?chē)渲玫膱A環(huán)型的激發(fā)光照射設(shè)備構(gòu)成。
5.如權(quán)利要求4所述的熒光檢測(cè)裝置，其中，具備焦點(diǎn)調(diào)整設(shè)備，其對(duì)所述聚光透鏡及所述檢測(cè)設(shè)備相對(duì)于配置了所述試樣的微陣列的距離在所述聚光透鏡的光軸方向上進(jìn)行調(diào)整。
6.如權(quán)利要求4或5所述的熒光檢測(cè)裝置，其中，具備檢測(cè)位置調(diào)整設(shè)備，其使所述聚光透鏡及所述檢測(cè)設(shè)備與配置了所述試樣的微陣列在與所述聚光透鏡的光軸正交的方向上相對(duì)移動(dòng)。
7.如權(quán)利要求1~6的任一項(xiàng)所述的熒光檢測(cè)裝置，其中，進(jìn)一步具有將透射所述試樣的透射光照射到所述試樣的透射光照射設(shè)備， 所述檢測(cè)設(shè)備配置在透射所述試樣的透射光的光路上，檢測(cè)透射該試樣的透射光。
8.如權(quán)利要求7所述的熒光檢測(cè)裝置，其中，進(jìn)一步具備用于使從所述透射光照射設(shè)備射出的透射光擴(kuò)散的擴(kuò)散板， 所述擴(kuò)散板配置在從所述透射光照射設(shè)備向著所述試樣的透射光的光路上。
9.如權(quán)利要求8所述的熒光檢測(cè)裝置，其中，進(jìn)一步具備擴(kuò)散板移動(dòng)設(shè)備，其在從所述透射光照射設(shè)備向著所述試樣的透射光的光路上插入取出所述擴(kuò)散板。
10.一種熒光檢測(cè)方法，是使用權(quán)利要求1~9的任一項(xiàng)所述的熒光檢測(cè)裝置的熒光檢測(cè)方法，其包括: 由所述激發(fā)光照射設(shè)備對(duì)所述試樣照射激發(fā)光，激發(fā)該試樣中所含的熒光物質(zhì)的工序， 通過(guò)所述檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)所述被激發(fā)的熒光物質(zhì)所發(fā)出的熒光的工序。
11.如權(quán)利要求10所述的熒光檢測(cè)方法，其中， 所述熒光檢測(cè)裝置具備: 聚光透鏡，所述聚光透鏡在從所述試樣向著所述檢測(cè)設(shè)備的熒光的光路上配置，并將所述熒光聚焦于所述檢測(cè)設(shè)備；以及 焦點(diǎn)調(diào)整設(shè)備，所述焦點(diǎn)調(diào)整設(shè)備對(duì)所述聚光透鏡及所述檢測(cè)設(shè)備相對(duì)于配置了所述試樣的微陣列的距離在所述聚光透鏡的光軸方向上進(jìn)行調(diào)整， 所述熒光檢測(cè)方法包括，通過(guò)所述焦點(diǎn)調(diào)整設(shè)備，對(duì)所述聚光透鏡及所述檢測(cè)設(shè)備相對(duì)于所述微陣列的距離在所述聚光透鏡的光軸方向上進(jìn)行調(diào)整，從而使所述聚光透鏡的焦點(diǎn)集中于所述試樣上的工序， 在使所述聚光透鏡的焦點(diǎn)集中于所述試樣上的工序之后，實(shí)施照射所述激發(fā)光到試樣的工序。
12.如權(quán)利要求11所述的熒光檢測(cè)方法，其中， 所述熒光檢測(cè)裝置具備將透射所述試樣的透射光照射到所述試樣的透射光照射設(shè)備， 使所述聚光透鏡的焦點(diǎn)集中于所述試樣上的工序包括: 通過(guò)所述透射光照射設(shè)備將透射光照射到所述試樣上的工序， 通過(guò)所述焦點(diǎn)調(diào)整設(shè)備使所述聚光透鏡及所述檢測(cè)設(shè)備相對(duì)于所述微陣列的距離在所述聚光透鏡的光軸方向上階段地變化，同時(shí)通過(guò)所述檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)透射所述試樣的透射光的工序， 基于所述檢測(cè)設(shè)備所檢測(cè)的透射光的圖像，判定所述聚光透鏡的焦點(diǎn)在所述試樣上的聚焦位置的工序。
13.如權(quán)利要求12所述的熒光檢測(cè)方法，其中， 所述熒光檢測(cè)裝置具備檢測(cè)位置調(diào)整設(shè)備，其使所述聚光透鏡及所述檢測(cè)設(shè)備與所述微陣列在與所述聚光透鏡的光軸正交的方向上相對(duì)移動(dòng)， 所述檢測(cè)突光的工序包括: 通過(guò)所述檢測(cè)位置調(diào)整設(shè)備使所述聚光透鏡及所述檢測(cè)設(shè)備與所述微陣列在與所述聚光透鏡的光軸正交的方向上相對(duì)移動(dòng)的工序；以及 在所述檢測(cè)位置調(diào)整設(shè)備所引起的每次所述移動(dòng)時(shí)，檢測(cè)所述被激發(fā)的熒光物質(zhì)所發(fā)出的熒光的工序。
14.如權(quán)利要求12或13所述的熒光檢測(cè)方法，其中， 所述熒光檢測(cè)裝置具備用于使從所述透射光照射設(shè)備射出的透射光擴(kuò)散的擴(kuò)散板，將所述透射光照射到所述試樣的工序包括將所述擴(kuò)散板配置在從所述透射光照射設(shè)備向著所述試樣的透射光的光路上的工序， 所述照射激發(fā)光的工序包括將所述擴(kuò)散板從由所述透射光照射設(shè)備向著所述試樣的透射光的光路上取出的工序。
【文檔編號(hào)】G01N21/64GK104204778SQ201380013591
【公開(kāi)日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2013年3月12日 優(yōu)先權(quán)日:2012年3月12日
【發(fā)明者】清水浩司 申請(qǐng)人:三菱麗陽(yáng)株式會(huì)社