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Led驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置制造方法

文檔序號(hào):6205325閱讀:226來源:國知局
Led驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開一種LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,該LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置分別與燈條和LED驅(qū)動(dòng)電源連接,LED驅(qū)動(dòng)電源用于驅(qū)動(dòng)燈條,LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置包括電流取樣模塊、電壓檢測(cè)模塊和故障記錄模塊。本實(shí)用新型通過電流取樣模塊取樣流過燈條的電流,并將取樣所得的取樣電流轉(zhuǎn)化為取樣電壓輸出,電壓檢測(cè)模塊檢測(cè)電流取樣模塊輸出的取樣電壓,并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果輸出檢測(cè)信號(hào)至故障記錄模塊,故障記錄模塊根據(jù)檢測(cè)信號(hào)判斷LED驅(qū)動(dòng)電源是否發(fā)生故障,且在LED驅(qū)動(dòng)電源發(fā)生故障時(shí)記錄故障狀態(tài)。從而在LED驅(qū)動(dòng)電源發(fā)生故障導(dǎo)致燈條燒壞時(shí),能夠直觀地檢查出燈條燒壞的原因。
【專利說明】 LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電源【技術(shù)領(lǐng)域】,尤其涉及一種LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前,愈來愈多LOKLiquid Crystal Display,液晶顯示屏)彩電使用LED (LightEmitting Diode,發(fā)光二極管)的背光技術(shù),LED燈條正常工作時(shí),燈條是通過LED驅(qū)動(dòng)電源提供的恒流電來驅(qū)動(dòng)的,LED驅(qū)動(dòng)電源提供的恒流電能夠保證燈條處于良好的點(diǎn)燈狀態(tài),但是當(dāng)LED驅(qū)動(dòng)電源出現(xiàn)故障時(shí),LED驅(qū)動(dòng)電源輸出的恒流就會(huì)被破壞,往往是輸出很大的電流將燈條燒壞,但是由于燈條中的LED有一定的抗沖擊能力,短時(shí)間的過流一般不易被發(fā)現(xiàn),從而在燈條被燒壞時(shí),不能肯定燈條是LED驅(qū)動(dòng)電源出現(xiàn)過流故障而燒壞,還是其他故障原因。LED驅(qū)動(dòng)電源發(fā)生的故障情況很隨機(jī),如設(shè)備開關(guān)機(jī)時(shí)、設(shè)備工作在高溫和低溫等惡劣環(huán)境下、設(shè)備老化的過程中等情況下都有可能發(fā)生故障。由于LED驅(qū)動(dòng)電源發(fā)生故障有不可預(yù)測(cè)性,而且有時(shí)只是短暫地出現(xiàn)故障,這些情況下都不便于用示波器來捕捉,從而在LED驅(qū)動(dòng)電源發(fā)生故障導(dǎo)致燈條燒壞時(shí),無法通過示波器檢測(cè)出LED驅(qū)動(dòng)電源曾經(jīng)發(fā)生故障,不能檢查出燈條燒壞的原因。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型的主要目的是提出一種LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,旨在記錄LED驅(qū)動(dòng)電源的故障狀態(tài),能夠直觀地檢查出燈條燒壞的原因。
[0004]為了達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型提出一種LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,該LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置分別與燈條和LED驅(qū)動(dòng)電源連接,所述LED驅(qū)動(dòng)電源用于驅(qū)動(dòng)所述燈條,所述LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置包括用于取樣流過所述燈條的電流并將取樣所得的取樣電流轉(zhuǎn)化為取樣電壓輸出的電流取樣模塊、用于檢測(cè)所述取樣電壓并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果輸出檢測(cè)信號(hào)的電壓檢測(cè)模塊,以及用于根據(jù)所述檢測(cè)信號(hào)判斷所述LED驅(qū)動(dòng)電源是否發(fā)生故障,且在發(fā)生故障時(shí)記錄故障狀態(tài)的故障記錄模塊;
[0005]所述電流取樣模塊的輸入端分別與所述LED驅(qū)動(dòng)電源的輸出端和所述燈條的正端連接,所述電流取樣模塊的輸出端與所述電壓檢測(cè)模塊的輸入端連接,所述電壓檢測(cè)模塊的輸出端與所述故障記錄模塊的控制端連接。
[0006]優(yōu)選地,所述電流取樣模塊包括第一電阻和用于對(duì)流過所述燈條的電流進(jìn)行取樣的電流取樣單元;所述電流取樣單元連接于所述LED驅(qū)動(dòng)電源的輸出端和所述燈條的正端之間,所述第一電阻的一端與所述電流取樣單元連接,且與所述電壓檢測(cè)模塊的輸入端連接,所述第一電阻的另一端接地。
[0007]優(yōu)選地,所述電壓檢測(cè)模塊包括電壓比較器、電壓基準(zhǔn)源和第二電阻;所述電壓比較器的同相輸入端經(jīng)由所述第一電阻接地,所述電壓比較器的反相輸入端與所述電壓基準(zhǔn)源的正極連接,所述電壓比較器的輸出端與所述故障記錄模塊的控制端連接,且經(jīng)由所述第二電阻接地;所述電壓基準(zhǔn)源的負(fù)極接地。[0008]優(yōu)選地,所述電壓檢測(cè)模塊還包括第三電阻和一電容;所述第三電阻的一端與所述電壓比較器的輸出端連接,所述第三電阻的另一端與所述故障記錄模塊的控制端連接,且經(jīng)由所述第二電阻接地,還經(jīng)由所述電容接地。
[0009]優(yōu)選地,所述故障記錄模塊包括電池供電端、可控硅、電子開關(guān)、第四電阻、第五電阻、第六電阻、第一發(fā)光二極管和第二發(fā)光二極管;
[0010]所述可控硅的控制極經(jīng)由所述第三電阻與所述電壓比較器的輸出端連接,所述可控硅的陰極接地;
[0011]所述第一發(fā)光二極管的陽極經(jīng)由所述第四電阻與所述電池供電端連接,所述第一發(fā)光二極管的陰極與所述可控硅的陽極連接,且依次經(jīng)由所述第五電阻和所述第六電阻接地;
[0012]所述電子開關(guān)的第一端與所述第五電阻和所述第六電阻的公共端連接,所述電子開關(guān)的第二端接地,所述電子開關(guān)的第三端與所述第二發(fā)光二極管的陰極連接;所述第二發(fā)光二極管的陽極經(jīng)由所述第四電阻與所述電池供電端連接。
[0013]優(yōu)選地,所述電子開關(guān)為三極管;所述三極管的基極與所述第五電阻和所述第六電阻的公共端連接,所述三極管的發(fā)射極接地,所述三極管的集電極與所述第二發(fā)光二極管的陰極連接。
[0014]優(yōu)選地,所述三極管為NPN三極管。
[0015]優(yōu)選地,所述電子開關(guān)為MOS管;所述MOS管的柵極與所述第五電阻和所述第六電阻的公共端連接,所述MOS管的源極接地,所述MOS管的漏極與所述第二發(fā)光二極管的陰極連接。
[0016]優(yōu)選地,所述MOS管為NMOS管。
[0017]本實(shí)用新型提出的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,通過電流取樣模塊取樣流過燈條的電流,并將取樣所得的取樣電流轉(zhuǎn)化為取樣電壓輸出,電壓檢測(cè)模塊檢測(cè)電流取樣模塊輸出的取樣電壓,并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果輸出檢測(cè)信號(hào)至故障記錄模塊,故障記錄模塊根據(jù)檢測(cè)信號(hào)判斷LED驅(qū)動(dòng)電源是否發(fā)生故障,且在LED驅(qū)動(dòng)電源發(fā)生故障時(shí)記錄故障狀態(tài)。從而在LED驅(qū)動(dòng)電源發(fā)生故障導(dǎo)致燈條燒壞時(shí),能夠直觀地檢查出燈條燒壞的原因。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]圖1為本實(shí)用新型LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置較佳實(shí)施例的原理框圖;
[0019]圖2為本實(shí)用新型LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置一實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)示意圖;
[0020]圖3為本實(shí)用新型LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置另一實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)示意圖。
[0021]本實(shí)用新型的目的、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)的實(shí)現(xiàn),將結(jié)合實(shí)施例,并參照附圖作進(jìn)一步說明。
【具體實(shí)施方式】
[0022]以下結(jié)合說明書附圖及具體實(shí)施例進(jìn)一步說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型,并不用于限定本實(shí)用新型。
[0023]本實(shí)用新型提出一種LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置。
[0024]參照?qǐng)D1,圖1為本實(shí)用新型LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置較佳實(shí)施例的原理框圖。[0025]本實(shí)用新型較佳實(shí)施例中,LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置10分別與燈條30和LED驅(qū)動(dòng)電源20連接,LED驅(qū)動(dòng)電源20用于驅(qū)動(dòng)燈條30。
[0026]LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置10包括電流取樣模塊11、電壓檢測(cè)模塊12和故障記錄模塊13。電流取樣模塊11用于取樣流過燈條30的電流并將取樣所得的取樣電流轉(zhuǎn)化為取樣電壓輸出,電壓檢測(cè)模塊12用于檢測(cè)取樣電壓并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果輸出檢測(cè)信號(hào),故障記錄模塊13用于根據(jù)檢測(cè)信號(hào)判斷LED驅(qū)動(dòng)電源20是否發(fā)生故障,且在發(fā)生故障時(shí)記錄故障狀態(tài)。
[0027]其中,電流取樣模塊11的輸入端分別與LED驅(qū)動(dòng)電源20的輸出端和燈條30的正端連接,電流取樣模塊11的輸出端與電壓檢測(cè)模塊12的輸入端連接,電壓檢測(cè)模塊12的輸出端與故障記錄模塊13的控制端連接。
[0028]在本實(shí)施例中,電流取樣模塊11對(duì)流過燈條30的電流進(jìn)行取樣,并將取樣所得的取樣電流轉(zhuǎn)化為取樣電壓輸出,電壓檢測(cè)模塊12檢測(cè)電流取樣模塊11輸出的取樣電壓,并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果輸出檢測(cè)信號(hào)至故障記錄模塊13,故障記錄模塊13根據(jù)檢測(cè)信號(hào)判斷LED驅(qū)動(dòng)電源20是否發(fā)生故障,當(dāng)電壓檢測(cè)模塊12檢測(cè)到取樣電壓小于電壓檢測(cè)模塊12所預(yù)設(shè)的基準(zhǔn)電壓時(shí),電壓檢測(cè)模塊12輸出低電平的檢測(cè)信號(hào),故障記錄模塊13根據(jù)檢測(cè)信號(hào)為低電平,判斷出LED驅(qū)動(dòng)電源20輸出的電流正常,此時(shí)流過燈條30的電流正常;當(dāng)電壓檢測(cè)模塊12檢測(cè)到取樣電壓大于基準(zhǔn)電壓時(shí),電壓檢測(cè)模塊12輸出高電平的檢測(cè)信號(hào),故障記錄模塊13根據(jù)檢測(cè)信號(hào)為高電平,判斷出LED驅(qū)動(dòng)電源20輸出的電流發(fā)生過流故障,此時(shí)流過燈條30的電流超過燈條30所能承受的正常電流范圍。而且,在LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生故障時(shí),故障記錄模塊13記錄故障狀態(tài)。從而在LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生故障導(dǎo)致燈條30燒壞時(shí),能夠直觀地檢查出燈條30燒壞的原因。
[0029]相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù),本實(shí)用新型提出的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置10,通過故障記錄模塊13記錄LED驅(qū)動(dòng)電源20的故障狀態(tài),從而在LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生故障導(dǎo)致燈條30燒壞時(shí),能夠直觀地檢查出燈條30燒壞的原因。
[0030]再參照?qǐng)D2,圖2為本實(shí)用新型LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置一實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)示意圖。
[0031]本實(shí)施例中,電流取樣模塊11包括電流取樣單元111和第一電阻Rl,電流取樣單元111用于對(duì)流過燈條30的電流進(jìn)行取樣。
[0032]電流取樣單元111連接于LED驅(qū)動(dòng)電源20的輸出端和燈條30的正端之間,第一電阻Rl的一端與電流取樣單元111連接,且與電壓檢測(cè)模塊12的輸入端連接,第一電阻Rl的另一端接地。
[0033]本實(shí)施例中,電壓檢測(cè)模塊12包括電壓比較器Ul、電壓基準(zhǔn)源U2和第二電阻R2。
[0034]電壓比較器Ul的同相輸入端經(jīng)由第一電阻Rl接地,電壓比較器Ul的反相輸入端與電壓基準(zhǔn)源U2的正極連接,電壓比較器Ul的輸出端與故障記錄模塊13的控制端連接,且經(jīng)由第二電阻R2接地;電壓基準(zhǔn)源U2的負(fù)極接地。
[0035]具體地,電壓檢測(cè)模塊12還包括第三電阻R3和電容Cl。在本實(shí)施例中,第三電阻R3和電容Cl組成一 RC濾波器。
[0036]第三電阻R3的一端與電壓比較器Ul的輸出端連接,第三電阻R3的另一端與故障記錄模塊13的控制端連接,且經(jīng)由第二電阻R2接地,還經(jīng)由電容Cl接地。[0037]本實(shí)施例中,故障記錄模塊13包括電池供電端VBAT、可控硅SCR、電子開關(guān)131、第四電阻R4、第五電阻R5、第六電阻R6、第一發(fā)光二極管Dl和第二發(fā)光二極管D2。
[0038]可控硅SCR的控制極經(jīng)由第三電阻R3與電壓比較器Ul的輸出端連接,可控硅SCR的陰極接地;第一發(fā)光二極管Dl的陽極經(jīng)由第四電阻R4與電池供電端VBAT連接,第一發(fā)光二極管Dl的陰極與可控硅SCR的陽極連接,且依次經(jīng)由第五電阻R5和第六電阻R6接地;電子開關(guān)131的第一端與第五電阻R5和第六電阻R6的公共端連接,電子開關(guān)131的第二端接地,電子開關(guān)131的第三端與第二發(fā)光二極管D2的陰極連接;第二發(fā)光二極管D2的陽極經(jīng)由第四電阻R4與電池供電端VBAT連接。
[0039]具體地,電子開關(guān)131為三極管Q1,其中,三極管Ql為NPN三極管。三極管Ql的基極與第五電阻R5和第六電阻R6的公共端連接,三極管Ql的發(fā)射極接地,三極管Ql的集電極與第二發(fā)光二極管D2的陰極連接。
[0040]如圖2所示的驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置10的工作原理具體描述如下:
[0041]電流取樣單元111對(duì)流過燈條30的電流進(jìn)行取樣,將取樣所得的取樣電流轉(zhuǎn)化為第一電阻Rl兩端的電壓信號(hào),該電壓信號(hào)即為取樣電壓,該電壓信號(hào)就代表流過燈條30的電流的大小,第一電阻Rl兩端的取樣電壓被輸出至電壓比較器Ul的同相輸入端,電壓基準(zhǔn)源U2提供的基準(zhǔn)電壓被輸出至電壓比較器Ul的反相輸入端,電壓比較器Ul將取樣電壓和基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較,對(duì)取樣電壓進(jìn)行檢測(cè)。
[0042]當(dāng)取樣電壓小于基準(zhǔn)電壓時(shí),電壓比較器Ul的輸出端輸出低電平的檢測(cè)信號(hào),此時(shí)可控硅SCR的控制極為低電平,可控硅SCR處于關(guān)斷狀態(tài),此時(shí)三極管Ql的基極為高電平,從而三極管Ql導(dǎo)通,流過第二發(fā)光二極管D2的電流能夠驅(qū)動(dòng)第二發(fā)光二極管D2發(fā)光,因而第二發(fā)光二極管D2發(fā)光,而流過第一發(fā)光二極管Dl的電流小,不足以驅(qū)動(dòng)第一發(fā)光二極管Dl發(fā)光,因而第一發(fā)光二極管Dl仍處于熄滅狀態(tài)。第二發(fā)光二極管D2發(fā)光指示LED驅(qū)動(dòng)電源20輸出的電流正常,即流過燈條30的電流正常。
[0043]當(dāng)取樣電壓大于基準(zhǔn)電壓時(shí),電壓比較器Ul的輸出端輸出高電平的檢測(cè)信號(hào),該高電平的檢測(cè)信號(hào)經(jīng)過第三電阻R3、電容Cl濾除干擾后,輸入到可控硅SCR的控制極,可控硅SCR的控制極為高電平,從而可控硅SCR導(dǎo)通,此時(shí)相當(dāng)于三極管Ql的基極經(jīng)由第五電阻R5接到地,三極管Ql的基極為低電平,從而三極管Ql截止,第二發(fā)光二極管D2支路處于斷開狀態(tài),第二發(fā)光二極管D2熄滅,此時(shí)流過第一發(fā)光二極管Dl的電流能夠驅(qū)動(dòng)第一發(fā)光二極管Dl發(fā)光,因而第一發(fā)光二極管Dl發(fā)光,第二發(fā)光二極管D2發(fā)光指示LED驅(qū)動(dòng)電源20輸出的電流發(fā)生過流故障,即流過燈條30的電流過流。由于可控硅SCR具有自鎖特性,因此即使LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生短時(shí)間的過流后不再出現(xiàn)過流,第一發(fā)光二極管Dl仍然發(fā)光,將LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生過流故障這一現(xiàn)象記錄下來,從而根據(jù)第一發(fā)光二極管Dl處于發(fā)光狀態(tài),可以直接判斷出LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生過過流故障,由此可知,若燈條30燒壞時(shí),第一發(fā)光二極管Dl處于發(fā)光狀態(tài),則可以直觀地檢查出燈條30燒壞的原因是LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生過流故障。
[0044]在一變形的實(shí)施例中,如圖3所示為本實(shí)用新型LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置另一實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)示意圖。相對(duì)于圖2,圖3中的電子開關(guān)131為MOS管M1,其中,MOS管Ml為NMOS管。MOS管Ml的柵極與第五電阻R5和第六電阻R6的公共端連接,MOS管Ml的源極接地,MOS管Ml的漏極與第二發(fā)光二極管D2的陰極連接。[0045]如圖3所示的驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置10的工作原理具體描述如下:
[0046]電流取樣單元111對(duì)流過燈條30的電流進(jìn)行取樣,將取樣所得的取樣電流轉(zhuǎn)化為第一電阻Rl兩端的電壓信號(hào),該電壓信號(hào)即為取樣電壓,該電壓信號(hào)就代表流過燈條30的電流的大小,第一電阻Rl兩端的取樣電壓被輸出至電壓比較器Ul的同相輸入端,電壓基準(zhǔn)源U2提供的基準(zhǔn)電壓被輸出至電壓比較器Ul的反相輸入端,電壓比較器Ul將取樣電壓和基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較,對(duì)取樣電壓進(jìn)行檢測(cè)。
[0047]當(dāng)取樣電壓小于基準(zhǔn)電壓時(shí),電壓比較器Ul的輸出端輸出低電平的檢測(cè)信號(hào),此時(shí)可控硅SCR的控制極為低電平,可控硅SCR處于關(guān)斷狀態(tài),此時(shí)MOS管Ml的柵極為高電平,從而MOS管Ml導(dǎo)通,流過第二發(fā)光二極管D2的電流能夠驅(qū)動(dòng)第二發(fā)光二極管D2發(fā)光,因而第二發(fā)光二極管D2發(fā)光,而流過第一發(fā)光二極管Dl的電流小,不足以驅(qū)動(dòng)第一發(fā)光二極管Dl發(fā)光,因而第一發(fā)光二極管Dl仍處于熄滅狀態(tài)。第二發(fā)光二極管D2發(fā)光指示LED驅(qū)動(dòng)電源20輸出的電流正常,即流過燈條30的電流正常。
[0048]當(dāng)取樣電壓大于基準(zhǔn)電壓時(shí),電壓比較器Ul的輸出端輸出高電平的檢測(cè)信號(hào),該高電平的檢測(cè)信號(hào)經(jīng)過第三電阻R3、電容Cl濾除干擾后,輸入到可控硅SCR的控制極,可控硅SCR的控制極為高電平,從而可控硅SCR導(dǎo)通,此時(shí)相當(dāng)于MOS管Ml的柵極經(jīng)由第五電阻R5接到地,MOS管Ml的柵極為低電平,從而MOS管Ml截止,第二發(fā)光二極管D2支路處于斷開狀態(tài),第二發(fā)光二極管D2熄滅,此時(shí)流過第一發(fā)光二極管Dl的電流能夠驅(qū)動(dòng)第一發(fā)光二極管Dl發(fā)光,因而第一發(fā)光二極管Dl發(fā)光,第二發(fā)光二極管D2發(fā)光指示LED驅(qū)動(dòng)電源20輸出的電流發(fā)生過流故障,即流過燈條30的電流過流。由于可控硅SCR具有自鎖特性,因此即使LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生短時(shí)間的過流后不再出現(xiàn)過流,第一發(fā)光二極管Dl仍然發(fā)光,將LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生過流故障這一現(xiàn)象記錄下來,從而根據(jù)第一發(fā)光二極管Dl處于發(fā)光狀態(tài),可以直接判斷出LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生過過流故障,由此可知,若燈條30燒壞時(shí),第一發(fā)光二極管Dl處于發(fā)光狀態(tài),則可以直觀地檢查出燈條30燒壞的原因是LED驅(qū)動(dòng)電源20發(fā)生過流故障。
[0049]本實(shí)用新型的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置10通過電池供電端VBAT輸入的電池電壓進(jìn)行供電,從而LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置10的工作不會(huì)受外界的干擾,也不受顯示設(shè)備(如電視機(jī))斷電的影響,使得LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置10工作穩(wěn)定可靠。同時(shí),本實(shí)用新型的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置10采用簡單的電子元件組成,使用的元件少,從而電路結(jié)構(gòu)簡單,成本低廉
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[0050]以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例,并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍,凡是利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】,均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,分別與燈條和LED驅(qū)動(dòng)電源連接,所述LED驅(qū)動(dòng)電源用于驅(qū)動(dòng)所述燈條,其特征在于, 所述LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置包括用于取樣流過所述燈條的電流并將取樣所得的取樣電流轉(zhuǎn)化為取樣電壓輸出的電流取樣模塊、用于檢測(cè)所述取樣電壓并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果輸出檢測(cè)信號(hào)的電壓檢測(cè)模塊,以及用于根據(jù)所述檢測(cè)信號(hào)判斷所述LED驅(qū)動(dòng)電源是否發(fā)生故障,且在發(fā)生故障時(shí)記錄故障狀態(tài)的故障記錄模塊; 所述電流取樣模塊的輸入端分別與所述LED驅(qū)動(dòng)電源的輸出端和所述燈條的正端連接,所述電流取樣模塊的輸出端與所述電壓檢測(cè)模塊的輸入端連接,所述電壓檢測(cè)模塊的輸出端與所述故障記錄模塊的控制端連接。
2.如權(quán)利要求1所述的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,其特征在于,所述電流取樣模塊包括第一電阻和用于對(duì)流過所述燈條的電流進(jìn)行取樣的電流取樣單元;所述電流取樣單元連接于所述LED驅(qū)動(dòng)電源的輸出端和所述燈條的正端之間,所述第一電阻的一端與所述電流取樣單元連接,且與所述電壓檢測(cè)模塊的輸入端連接,所述第一電阻的另一端接地。
3.如權(quán)利要求2所述的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,其特征在于,所述電壓檢測(cè)模塊包括電壓比較器、電壓基準(zhǔn)源和第二電阻;所述電壓比較器的同相輸入端經(jīng)由所述第一電阻接地,所述電壓比較器的反相輸入端與所述電壓基準(zhǔn)源的正極連接,所述電壓比較器的輸出端與所述故障記錄模塊的控制端連接,且經(jīng)由所述第二電阻接地;所述電壓基準(zhǔn)源的負(fù)極接地。
4.如權(quán)利要求3所述的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,其特征在于,所述電壓檢測(cè)模塊還包括第三電阻和一電容;所述第三電阻的一端與所述電壓比較器的輸出端連接,所述第三電阻的另一端與所述故障記錄模塊的控制端連接,且經(jīng)由所述第二電阻接地,還經(jīng)由所述電容接地。
5.如權(quán)利要求4所述的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,其特征在于,所述故障記錄模塊包括電池供電端、可控娃、電子開關(guān)、第四電阻、第五電阻、第六電阻、第一發(fā)光二極管和第二發(fā)光二極管;` 所述可控硅的控制極經(jīng)由所述第三電阻與所述電壓比較器的輸出端連接,所述可控硅的陰極接地; 所述第一發(fā)光二極管的陽極經(jīng)由所述第四電阻與所述電池供電端連接,所述第一發(fā)光二極管的陰極與所述可控硅的陽極連接,且依次經(jīng)由所述第五電阻和所述第六電阻接地; 所述電子開關(guān)的第一端與所述第五電阻和所述第六電阻的公共端連接,所述電子開關(guān)的第二端接地,所述電子開關(guān)的第三端與所述第二發(fā)光二極管的陰極連接;所述第二發(fā)光二極管的陽極經(jīng)由所述第四電阻與所述電池供電端連接。
6.如權(quán)利要求5所述的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,其特征在于,所述電子開關(guān)為三極管;所述三極管的基極與所述第五電阻和所述第六電阻的公共端連接,所述三極管的發(fā)射極接地,所述三極管的集電極與所述第二發(fā)光二極管的陰極連接。
7.如權(quán)利要求6所述的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,其特征在于,所述三極管為NPN三極管。
8.如權(quán)利要求5所述的LED驅(qū)動(dòng)故障記錄裝置,其特征在于,所述電子開關(guān)為MOS管;所述MOS管的柵極與所述第五電阻和所述第六電阻的公共端連接,所述MOS管的源極接地,所述MOS管的漏極與所述第二發(fā)光二極管的陰極連接。
9.如權(quán)利要求8所述的LED驅(qū) 動(dòng)故障記錄裝置,其特征在于,所述MOS管為NMOS管。
【文檔編號(hào)】G01R31/40GK203595796SQ201320709279
【公開日】2014年5月14日 申請(qǐng)日期:2013年11月11日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月11日
【發(fā)明者】王堅(jiān) 申請(qǐng)人:深圳Tcl新技術(shù)有限公司
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