一種運載火箭用膜盒組件氦質譜檢漏試驗裝置制造方法
【專利摘要】一種運載火箭用膜盒組件氦質譜檢漏試驗裝置，包括第一接管嘴（1）、下罩（2）、上罩（3）、第四接管嘴（4）、連通管（5）、轉接接頭（6）、第二接管嘴（8）和第三接管嘴（9）；膜盒組件（7）固定在下罩（2）上端面，上罩（3）罩住膜盒組件（7）并與下罩（2）密封連接，第一接管嘴（1）、第二接管嘴（8）和第三接管嘴（9）安裝在下罩（2）的下端面，第一接管嘴（1）與安裝在下罩（2）上端面的第四接管嘴（4）連通，連通管（5）一端連接第四接管嘴（4），另一端通過轉接接頭（6）與膜盒組件（7）外殼體上的接管嘴相連；第二接管嘴（8）與膜盒組件（7）內腔連通，第三接管嘴（9）與上罩（3）與膜盒組件（7）之間的腔體連通。
【專利說明】一種運載火箭用膜盒組件氦質譜檢漏試驗裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型屬于一種運載火箭地面模擬試驗裝置，具體涉及一種運載火箭用膜盒組件氦質譜檢漏試驗裝置。
【背景技術】
[0002]芯一級低溫蓄壓器用于抑制火箭結構和火箭發(fā)動機及管路系統(tǒng)之間的振動耦合引起的整個火箭的縱向振動，即POGO振動，安裝于芯一級發(fā)動機氧化劑泵口啟動活門前。低溫膜盒組件組件為低溫蓄壓器關鍵部件，在研制過程中為了檢查膜盒組件各條焊縫焊接性能是否滿足要求，在運載火箭地面模擬試驗過程中需要對膜盒組件進行氦質譜檢漏。

【發(fā)明內容】

[0003]本實用新型的技術解決問題是:克服現(xiàn)有技術的不足，提供一種膜盒組件氦質譜檢漏試驗裝置，可在膜盒組件同時內外壓下對膜盒進行氦質譜檢漏，可檢查膜盒組件外殼體焊縫及膜盒膜片間焊縫漏率，精度較高。
[0004]本實用新型的技術解決方案是:一種運載火箭用膜盒組件氦質譜檢漏試驗裝置，包括第一接管嘴、下罩、上罩、第四接管嘴、連通管、轉接接頭、第二接管嘴和第三接管嘴；
[0005]膜盒組件固定在下罩上端面，上罩罩住膜盒組件并與下罩密封連接，第一接管嘴、第二接管嘴和第三接管嘴安裝在下罩的下端面，第一接管嘴與安裝在下罩上端面的第四接管嘴連通，連通管一端連接第四接管嘴，另一端通過轉接接頭與膜盒組件外殼體上的接管嘴相連；第二接管嘴與膜盒組件內腔連通，第三接管嘴與上罩與膜盒組件之間的腔體連通。
[0006]所述的膜盒組件與下罩之間通過O型圈密封
[0007]本實用新型與現(xiàn)有技術相比有益效果為:
[0008]膜盒氦質譜檢漏試驗裝置解決了膜盒組件內外充壓下膜盒焊縫的漏率檢測問題，避免了環(huán)境本底對漏率檢測結果的影響，可以得到比較精確的焊縫漏率，具有良好的可靠性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1為本實用新型示意圖。
【具體實施方式】
[0010]下面結合附圖對本實用新型做具體說明。本實用新型試驗對象為運載火箭用膜盒組件，膜盒組件內腔體如圖1所示，記為A腔，膜盒外與膜盒組件外殼體之間的腔體記為B腔，膜盒組件外殼體上焊接有接管嘴，本裝置只需要利用其中一個，所以將剩余接管嘴利用堵帽堵上。本實用新型試驗裝置包括第一接管嘴1、下罩2、上罩3、第四接管嘴4、連通管5、轉接接頭6、第二接管嘴8和第三接管嘴9 ；
[0011]膜盒組件通過螺釘與下罩2連接，由O型圈密封；上罩3罩住膜盒組件(之間的腔體記為C腔)并與下罩2連接，并通過O型圈密封，第一接管嘴1、第二接管嘴8和第三接管嘴9安裝在下罩2的下端面，第一接管嘴I與安裝在下罩2上端面的第四接管嘴4連通，連通管5 —端連接第四接管嘴4，另一端通過轉接接頭6與膜盒組件7外殼體上的接管嘴相連；第二接管嘴8與膜盒組件內腔連通，第三接管嘴9與上罩3與膜盒組件之間的腔體連通。
[0012]試驗時，由第一接管嘴I向B腔充入高純氦氣并置換，并按要求充入規(guī)定壓力氦氣，由第二接管嘴8連接氦質譜檢漏儀對A腔進行抽真空氦質譜檢漏，可檢查膜盒膜片間焊縫I漏率情況；
[0013]由第二接管嘴8向A腔內充入高純氦氣并置換，并充入規(guī)定壓力氦氣，由第一接管嘴I向B腔充入高純氦氣并置換，并充入規(guī)定壓力氦氣；由第三接管嘴9連接氦質譜檢漏儀對C腔進行抽真空氦質譜檢漏，可檢查膜盒組件外殼體焊縫I1、111漏率情況。
[0014]本實用新型未詳細說明部分屬于本領域技術人員公知常識。
【權利要求】
1.一種運載火箭用膜盒組件氦質譜檢漏試驗裝置，其特征在于:包括第一接管嘴(I)、下罩(2)、上罩(3)、第四接管嘴(4)、連通管(5)、轉接接頭(6)、第二接管嘴(8)和第三接管嘴(9)； 膜盒組件(7)固定在下罩(2)上端面，上罩(3)罩住膜盒組件(7)并與下罩(2)密封連接，第一接管嘴(I)、第二接管嘴(8)和第三接管嘴(9)安裝在下罩(2)的下端面，第一接管嘴(I)與安裝在下罩(2)上端面的第四接管嘴(4)連通，連通管(5) —端連接第四接管嘴(4)，另一端通過轉接接頭(6)與膜盒組件(7)外殼體上的接管嘴相連；第二接管嘴(8)與膜盒組件(7)內腔連通，第三接管嘴(9)與上罩(3)與膜盒組件(7)之間的腔體連通。
2.根據權利要求1所述的一種運載火箭用膜盒組件氦質譜檢漏試驗裝置，其特征在于:所述的膜盒組件(7)與下罩(2)之間通過O型圈密封。
【文檔編號】G01M3/20GK203616068SQ201320699747
【公開日】2014年5月28日 申請日期:2013年11月6日 優(yōu)先權日:2013年11月6日
【發(fā)明者】張連萬, 梁景媛, 耿屹, 岳婷, 趙濤, 周炎, 程翔, 王道連 申請人:北京宇航系統(tǒng)工程研究所, 中國運載火箭技術研究院