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一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具的制作方法

文檔序號(hào):6197328閱讀:232來(lái)源:國(guó)知局
一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種醫(yī)療用具故障檢測(cè)工具,特別是一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具,包括:基準(zhǔn)電路,用于發(fā)出基準(zhǔn)電壓;電流放大電路,與所述基準(zhǔn)電路連接;采樣電路,與所述放大電流電路連接;測(cè)試負(fù)載電路,與所述采樣電路連接;比較反鎖電路,分別與所述放大電流電路和所述采樣電路連接,并與所述電流放大電路反鎖;以及,比較電路,分別與所述采樣電路、所述測(cè)試負(fù)載電路和所述比較反鎖電路連接。采用上述技術(shù)方案后,本實(shí)用新型具有的有益效果是:不需要拆裝發(fā)射線圈,只需1個(gè)人2分鐘左右即可完成故障檢測(cè);節(jié)省人力、縮短檢測(cè)時(shí)間,測(cè)試方便、快捷,有利于生產(chǎn)檢測(cè)和維修工作人員維修,降低生產(chǎn)的時(shí)間,生產(chǎn)成本低。
【專利說(shuō)明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及醫(yī)療用具故障檢測(cè)領(lǐng)域,尤其是指一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試 工具。 一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具

【背景技術(shù)】
[0002] 貝斯達(dá)公司從2013年安裝超導(dǎo)磁共振成像系統(tǒng)已達(dá)10多臺(tái),在安裝使用過程中, 發(fā)射線圈故障時(shí)有發(fā)生,而這種故障大多數(shù)是發(fā)射二極管被意外擊穿所致。除了從設(shè)備工 藝改進(jìn)減少二極管故障率外,從維修的角度,要求工程師能快速檢測(cè)出問題所在,進(jìn)而排除 故障。目前通常的做法是拆發(fā)射線圈的情況下直接用萬(wàn)用表對(duì)所有二極管逐個(gè)檢測(cè);由于 目前超導(dǎo)磁共振系統(tǒng)中有一個(gè)部件經(jīng)常在使用中發(fā)生二極管故障,而檢測(cè)該故障必須將超 導(dǎo)發(fā)射線圈拆下,用萬(wàn)用表逐個(gè)檢測(cè),才能判斷,這樣做非常不方便,此外,拆發(fā)射線圈一般 需要2個(gè)人1個(gè)多小時(shí)才能檢測(cè)出故障,有時(shí)候不一定是線圈故障導(dǎo)致而做無(wú)用功;而在不 拆發(fā)射線圈的情況下用萬(wàn)用表測(cè)接頭電阻,檢測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確,因?yàn)橛萌f(wàn)用表測(cè)試只有在多 個(gè)二極管損壞時(shí)才能測(cè)量出。本實(shí)用新型的目的就是要在不拆裝超導(dǎo)發(fā)射線圈的情況下對(duì) 二極管的好壞進(jìn)行判斷,節(jié)省時(shí)間,提高工作效率。 實(shí)用新型內(nèi)容
[0003] 為解決上述問題,本實(shí)用新型提供一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具,其不需要 拆裝超導(dǎo)發(fā)射線圈,只需1個(gè)人花2分鐘左右即可完成故障檢測(cè),節(jié)省人力,節(jié)省時(shí)間。
[0004] 為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用如下的技術(shù)方案是:一種磁共振超導(dǎo)線圈故障 測(cè)試工具,其特征在于:包括:
[0005] 基準(zhǔn)電路,用于發(fā)出基準(zhǔn)電壓;
[0006] 電流放大電路,與所述基準(zhǔn)電路連接;
[0007] 采樣電路,與所述放大電流電路連接;
[0008] 測(cè)試負(fù)載電路,與所述采樣電路連接;
[0009] 比較反鎖電路,分別與所述放大電流電路和所述采樣電路連接,并與所述電流放 大電路反鎖;以及,
[0010] 比較電路,分別與所述采樣電路、所述測(cè)試負(fù)載電路和所述比較反鎖電路連接。 [0011] 優(yōu)選的是,所述的電流放大電路采用晶體三極管為放大基礎(chǔ)元件。
[0012] 優(yōu)選的是,所述的測(cè)試負(fù)載電路包括:一字型串聯(lián)的二極管和電感。
[0013] 優(yōu)選的是,所述的二極管和所述的電感各采用8個(gè)或8個(gè)以上。
[0014] 優(yōu)選的是,所述的比較反鎖電路采用單閉環(huán)的方式與所述的電流放大電路進(jìn)行反 鎖。
[0015] 優(yōu)選的是,所述的比較電路包括:紅色發(fā)光二極管和黃色發(fā)光二極管。
[0016] 優(yōu)選的是,所述的比較電路采用的電壓比較器為L(zhǎng)M393或LM339。
[0017] 本實(shí)用新型的有益效果在于:不需要拆裝發(fā)射線圈,只需1個(gè)人2分鐘左右即可完 成故障檢測(cè);節(jié)省人力、縮短檢測(cè)時(shí)間,測(cè)試方便、快捷,有利于生產(chǎn)檢測(cè)和維修工作人員維 修,降低生產(chǎn)的時(shí)間,從而達(dá)到降低生產(chǎn)成本。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0018] 圖1是本實(shí)用新型的一種實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。
[0019] 圖2是本實(shí)用新型的另一種實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020] 圖3是本實(shí)用新型的另一種實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0021] 請(qǐng)參閱圖1-3所示,本實(shí)用新型關(guān)于一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具,其特征 在于:包括:
[0022] 基準(zhǔn)電路1,用于發(fā)出基準(zhǔn)電壓;
[0023] 電流放大電路2,與所述基準(zhǔn)電路1連接;
[0024] 采樣電路3,與所述放大電流電路2連接;
[0025] 測(cè)試負(fù)載電路4,與所述采樣電路3連接;
[0026] 比較反鎖電路5,分別與所述放大電流電路2和所述采樣電路3連接,并與所述電 流放大電路2反鎖;以及,
[0027] 比較電路6,分別與所述采樣電路3、所述測(cè)試負(fù)載電路4和所述比較反鎖電路5 連接。
[0028] 其中,所述的測(cè)試負(fù)載電路4包括:一字型串聯(lián)的二極管41和電感42。
[0029] 其中,所述的電流放大電路2采用晶體三極管為放大基礎(chǔ)元件。
[0030] 其中,所述的二極管41和所述的電感42各采用8個(gè)或8個(gè)以上。
[0031] 其中,所述的比較反鎖電路5采用單閉環(huán)的方式與所述的電流放大電路2進(jìn)行反 鎖。
[0032] 其中,所述的比較電路6包括:紅色發(fā)光二極管61和黃色發(fā)光二極管62。
[0033] 其中,所述的比較電路7采用的電壓比較器為L(zhǎng)M393或LM339。
[0034] 如圖2所示,本實(shí)用新型的實(shí)施例檢測(cè)的負(fù)載線圈是采用一字型串聯(lián)的二極管41 和電感42,所述的二極管41和所述的電感42各具有8個(gè),所述的二極管41與所述的電感 42的連接方式采用一個(gè)二極管41與一個(gè)電感42間隔連接。
[0035] 采用上述結(jié)構(gòu)后,本實(shí)用新型在上述的實(shí)施例的上檢測(cè)的結(jié)果最佳,不需要拆裝 發(fā)射線圈,只需1個(gè)人2分鐘左右即可完成故障檢測(cè);節(jié)省人力、同時(shí)縮短檢測(cè)時(shí)間。
[0036] 本實(shí)用新型的比較結(jié)果是:
[0037] (1)如果有一個(gè)或多個(gè)二極管41擊穿(導(dǎo)通)
[0038] 本測(cè)試工具將有一個(gè)紅色發(fā)光二極管61點(diǎn)亮,指示故障。
[0039] (2)如果有一個(gè)或多個(gè)二極管41開路(不通)
[0040] 本測(cè)試工具將有一個(gè)黃色發(fā)光二極管62點(diǎn)亮,指示故障。
[0041] (3)如果有一個(gè)串聯(lián)電感42開路(不通)
[0042] 本測(cè)試工具將有一個(gè)黃色發(fā)光二極管62點(diǎn)亮,指示故障。
[0043] 以上實(shí)施方式僅僅是對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式進(jìn)行描述,并非對(duì)本實(shí)用新型 的范圍進(jìn)行限定,在不脫離本實(shí)用新型設(shè)計(jì)精神的前提下,本領(lǐng)域普通工程技術(shù)人員對(duì)本 實(shí)用新型的技術(shù)方案作出的各種變形和改進(jìn),均應(yīng)落入本實(shí)用新型的權(quán)利要求書確定的保 護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1. 一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具,其特征在于:包括: 基準(zhǔn)電路,用于發(fā)出基準(zhǔn)電壓; 電流放大電路,與所述基準(zhǔn)電路連接; 采樣電路,與所述放大電流電路連接; 測(cè)試負(fù)載電路,與所述采樣電路連接; 比較反鎖電路,分別與所述放大電流電路和所述采樣電路連接,并與所述電流放大電 路反鎖;以及, 比較電路,分別與所述采樣電路、所述測(cè)試負(fù)載電路和所述比較反鎖電路連接。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具,其特征在于:所述的電 流放大電路采用晶體三極管為放大基礎(chǔ)元件。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具,其特征在于:所述的測(cè) 試負(fù)載電路包括:一字型串聯(lián)的二極管和電感。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具,其特征在于:所述的二 極管和所述的電感各采用8個(gè)或8個(gè)以上。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具,其特征在于:所述的比 較反鎖電路采用單閉環(huán)的方式與所述的電流放大電路進(jìn)行反鎖。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具,其特征在于:所述的比 較電路包括:紅色發(fā)光二極管和黃色發(fā)光二極管。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁共振超導(dǎo)線圈故障測(cè)試工具,其特征在于:所述的比 較電路采用的電壓比較器為L(zhǎng)M393或LM339。
【文檔編號(hào)】G01R35/00GK203849392SQ201320532773
【公開日】2014年9月24日 申請(qǐng)日期:2013年8月23日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月23日
【發(fā)明者】羅斌斌, 郭文, 劉金成, 羅振, 陳文波 申請(qǐng)人:深圳市貝斯達(dá)醫(yī)療器械有限公司
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