一種光譜分析小樣品表面定位裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)一種光譜分析小樣品表面定位裝置，該裝置安裝于光譜分析儀器中，包括裝有樣品（1）的樣品盒（2），若干或多個(gè)樣品盒（2）放置在樣品盒平臺(tái)（3）上，樣品盒平臺(tái)（3）設(shè)置在X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置上，樣品盒（2）內(nèi)部的樣品（1）下方設(shè)置有樣品頂緊裝置（8），使樣品（1）的上分析表面與光譜分析儀采光高度位置一致；本實(shí)用新型的X軸與Y軸運(yùn)行裝置為正交連接；本實(shí)用新型可同時(shí)進(jìn)行多品種或多型號(hào)樣品的分析，使分析效率提高，分析過(guò)程更加方便以及分析結(jié)果更加精確。
【專利說(shuō)明】一種光譜分析小樣品表面定位裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及光譜分析【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其是一種用于激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析儀樣品密封環(huán)境中將多個(gè)小樣品分析表面固定到同一高度的定位裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在光譜分析領(lǐng)域，依靠標(biāo)準(zhǔn)樣品繪制工作曲線，然后依據(jù)工作曲線對(duì)相關(guān)樣品進(jìn)行定性或定量分析。此類分析過(guò)程都是在光譜分析儀采光位置固定不變的情況下進(jìn)行的，但采用激光器作為光源激發(fā)樣品進(jìn)行分析時(shí)，樣品或標(biāo)準(zhǔn)樣品的分析表面位置的固定相對(duì)來(lái)講不太方便，不能保證進(jìn)入光譜分析儀的采光高度與樣品表面位置的一致性。此外，激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀的樣品環(huán)境為密閉充氬環(huán)境，一次放置一塊樣品進(jìn)行分析，無(wú)法對(duì)多種小樣品進(jìn)行采集和分析，分析速度慢，分析效率低。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種光譜分析小樣品表面定位裝置，用于解決多種樣品的采集和分析，以及解決樣品表面與光譜分析儀采光高度位置一致性的問(wèn)題。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
[0004]本實(shí)用新型的光譜分析小樣品表面定位裝置安裝于光譜分析儀器中，包括裝有樣品I的樣品盒2，若干樣品盒2放置在樣品盒平臺(tái)3上，樣品盒平臺(tái)3設(shè)置在X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置上，樣品盒2內(nèi)部的樣品I下方設(shè)置有樣品頂緊裝置8。
[0005]本實(shí)用新型所述樣品盒2的頂部設(shè)置有小于樣品盒3外圓的臺(tái)階，該臺(tái)階的內(nèi)表面到樣品盒2外表面底部的高度與光譜分析儀采光高度位置一致；所述若干樣品盒2設(shè)計(jì)為多種規(guī)格或同一規(guī)格型號(hào)。
[0006]本實(shí)用新型還在于所述樣品盒平臺(tái)3與所述X軸與Y軸運(yùn)行裝置之間還設(shè)置有樣品盒轉(zhuǎn)接臺(tái)4 ;所述X軸與Y軸運(yùn)行裝置為正交連接，在所述X軸5與Y軸7之間還設(shè)置有XY軸轉(zhuǎn)接板6。
[0007]本實(shí)用新型的在分析過(guò)程中可保持標(biāo)準(zhǔn)或待分析樣品的上表面與光譜分析儀采光高度位置均處于同一高度，可同時(shí)進(jìn)行多品種或多型號(hào)樣品的分析，使分析效率提高，分析過(guò)程更加方便以及分析結(jié)果更加精確。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0008]圖1為本實(shí)用新型的總體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0009]圖2為樣品盒2的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]附圖標(biāo)記為:樣品I，樣品盒2,樣品盒平臺(tái)3,樣品盒轉(zhuǎn)接臺(tái)4, X軸5, XY軸轉(zhuǎn)接板6，Y軸7，樣品頂緊裝置8。
【具體實(shí)施方式】[0011]以下結(jié)合附圖以及示例性實(shí)施例，進(jìn)一步詳細(xì)描述本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與組成，使本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案更加清楚。
[0012]本實(shí)用新型是一種用于激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析儀樣品密封環(huán)境中，將小樣品待分析表面固定到與光譜分析儀采光高度同一個(gè)特定高度，以及可同時(shí)放置多品種和多型號(hào)小樣品的定位裝置。本實(shí)用新型的激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀的樣品環(huán)境為密閉充氬環(huán)境，可通過(guò)一次放置多個(gè)或多型號(hào)樣品對(duì)樣品的待分析表面進(jìn)行原位分布掃描統(tǒng)計(jì)分析。
[0013]參照?qǐng)D1和圖2，本實(shí)用新型的光譜分析小樣品表面定位裝置包括裝有樣品I的樣品盒2，若干或多個(gè)樣品盒2同時(shí)放置在樣品盒平臺(tái)3上，樣品盒2的頂部設(shè)置有小于樣品盒3外圓的臺(tái)階，該臺(tái)階的內(nèi)表面到樣品盒2外表面底部的高度滿足與光譜分析儀采光高度位置一致的條件，在樣品盒2內(nèi)部的下方設(shè)置有樣品頂緊裝置8，若干或多個(gè)樣品盒2設(shè)計(jì)為多種規(guī)格或同一規(guī)格型號(hào)，以滿足相同或不同尺寸大小樣品的放置。在放置過(guò)程中，將相同或不同的待分析樣品或標(biāo)準(zhǔn)樣品分別放入設(shè)置有臺(tái)階的多個(gè)樣品盒2中，使樣品I的表面緊貼在樣品盒臺(tái)階的內(nèi)表面，調(diào)節(jié)樣品盒2內(nèi)底部的樣品頂緊裝置8并固定樣品頂緊裝置8以達(dá)到頂緊待分析樣品或標(biāo)準(zhǔn)樣品的目的。
[0014]參照?qǐng)D1和圖2，本實(shí)用新型將樣品盒平臺(tái)3設(shè)置在X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置上，在所述樣品盒平臺(tái)3與所述X軸與Y軸運(yùn)行裝置之間還設(shè)置有樣品盒轉(zhuǎn)接臺(tái)4，以使在分析過(guò)程中各樣品之間的切換運(yùn)行；本實(shí)用新型的X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置為正交連接，包括設(shè)置在Y軸7之上并沿Y方向運(yùn)行的X軸5，或者設(shè)計(jì)為設(shè)置在X軸5之上并沿X方向運(yùn)行的Y軸7 ;在所述X軸5與Y軸7之間還設(shè)置有XY軸轉(zhuǎn)接板6，以完成X軸5到Y(jié)軸7的轉(zhuǎn)換，并且通過(guò)各自連接的電機(jī)獨(dú)立控制各軸的運(yùn)動(dòng)，經(jīng)X軸5和Y軸7的電機(jī)帶動(dòng)實(shí)現(xiàn)同一樣品位置的改變或者不同樣品的切換。
[0015]本實(shí)用新型可將樣品盒平臺(tái)3和X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置預(yù)先安裝在激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析儀的密閉樣品室內(nèi)，再將裝好樣品I的樣品盒2放入密閉樣品室內(nèi)的樣品盒平臺(tái)3。
[0016]實(shí)施例1
[0017]參照?qǐng)D1和圖2，將相同或不同的待分析樣品或標(biāo)準(zhǔn)樣品分別放入設(shè)置有臺(tái)階的多個(gè)樣品盒2中，使每個(gè)樣品I的表面緊貼在樣品盒臺(tái)階的內(nèi)表面，調(diào)節(jié)樣品盒2內(nèi)底部的樣品頂緊裝置8，用六角扳手?jǐn)Q緊樣品頂緊裝置8，使樣品固定在樣品盒的內(nèi)表面，再將多個(gè)樣品盒2放置在樣品盒平臺(tái)3上，此時(shí)，樣品的表面到樣品盒2外表面底部的高度即滿足與光譜分析儀采光高度位置一致的條件。為提高分析效率，本實(shí)用新型設(shè)計(jì)了多個(gè)同一規(guī)格型號(hào)，或多種規(guī)格型號(hào)的樣品盒2，以滿足多個(gè)相同或不同尺寸大小樣品的放置。
[0018]參照?qǐng)D1和圖2，將裝入樣品I的多個(gè)樣品盒2放置于光譜分析儀器中的樣品盒平臺(tái)3上，樣品盒平臺(tái)3上設(shè)置在X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置上，X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置為正交連接，即由設(shè)置在Y軸7之上并沿Y方向運(yùn)行的X軸5 ;在所述X軸5與Y軸7之間還設(shè)置有XY軸轉(zhuǎn)接板6，以完成X軸5到Y(jié)軸7的轉(zhuǎn)換；X軸與Y軸各自連接有電機(jī)獨(dú)立控制各軸的運(yùn)動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)樣品位置的改變。然后按照激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀的操作方法進(jìn)行相應(yīng)的分析操作。
[0019]實(shí)施例2
[0020]參照?qǐng)D1，圖2，本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)形式和工作方式如實(shí)施例1所述，本實(shí)施例的X軸5和Y軸7的正交連接為或由設(shè)置在X軸5之上并沿X方向運(yùn)行的Y軸7組成，X軸與Y軸在各自電機(jī)的獨(dú)立控制下，通過(guò)各軸的運(yùn)動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)樣品位置的改變，然后按照激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀的操作方法進(jìn)行相應(yīng)的分析操作。
[0021]本實(shí)用新型安置于光譜分析儀器的密閉環(huán)境中，用于對(duì)金屬材料的表面成分分析，尤其是對(duì)于光譜儀分析過(guò)程中多個(gè)小樣品的上表面定位和分析，既可在保持標(biāo)準(zhǔn)樣品及待分析樣品的上表面與采光設(shè)計(jì)一致，又可放置多個(gè)樣品盒，減少了樣品更換次數(shù)，解決了樣品在密閉環(huán)境中頻繁更換的問(wèn)題，增加了分析預(yù)處理的效率。
[0022]盡管本實(shí)用新型已對(duì)其優(yōu)選實(shí)施方案進(jìn)行了描述，但本實(shí)用新型的上述實(shí)施例僅為示例性實(shí)施例，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)本實(shí)用新型的設(shè)計(jì)原理采取其它實(shí)施方式，在不脫離本實(shí)用新型設(shè)計(jì)思想的范圍內(nèi)，可以進(jìn)行各種變形和修改，這些變化均屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種光譜分析小樣品表面定位裝置，安裝于光譜分析儀器中，其特征在于包括裝有樣品(I)的樣品盒(2)，若干樣品盒(2)放置在樣品盒平臺(tái)(3)上，樣品盒平臺(tái)(3)設(shè)置在X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置上，樣品盒(2)內(nèi)部的樣品(I)下方設(shè)置有樣品頂緊裝置(8); 所述樣品盒(2)的頂部設(shè)置有小于樣品盒(2)外圓的臺(tái)階，該臺(tái)階內(nèi)表面到樣品盒(2)外表面底部的高度與光譜分析儀采光高度位置一致。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述表面定位裝置，其特征在于所述若干樣品盒(2)設(shè)計(jì)為多種規(guī)格或同一規(guī)格型號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述表面定位裝置，其特征在于在所述樣品盒平臺(tái)(3)與所述X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置之間還設(shè)置有樣品盒轉(zhuǎn)接臺(tái)(4)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述表面定位裝置，其特征在于所述X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置為正交連接，在所述X軸(5 )與Y軸(7 )之間還設(shè)置有XY軸轉(zhuǎn)接板(6 )。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述表面定位裝置，其特征在于所述正交連接為設(shè)置在Y軸(7)之上并沿Y方向運(yùn)行的X軸(5)，或者為設(shè)置在X軸(5)之上并沿X方向運(yùn)行的Y軸(7)。
【文檔編號(hào)】G01N21/01GK203502333SQ201320370497
【公開(kāi)日】2014年3月26日 申請(qǐng)日期:2013年6月26日 優(yōu)先權(quán)日:2013年6月26日
【發(fā)明者】陳永彥, 張勇, 韓鵬程, 屈華陽(yáng), 趙雷, 劉佳 申請(qǐng)人:鋼研納克檢測(cè)技術(shù)有限公司