一種基于gtem小室的輻射emi測試方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種基于GTEM小室的輻射EMI測試方法，該方法先求出頻點(diǎn)為f0的標(biāo)準(zhǔn)被測品在電波暗室中的水平輻射場強(qiáng)和垂直輻射場強(qiáng)，然后分別求得標(biāo)準(zhǔn)被測品在開闊場中總功率算法和Lee算法的水平極化等效輻射場強(qiáng)和垂直極化等效輻射場強(qiáng)，根據(jù)公式求得頻點(diǎn)f0所對應(yīng)的相位補(bǔ)償校準(zhǔn)因子，將相位補(bǔ)償校準(zhǔn)因子和任意被測設(shè)備總功率算法和Lee算法的水平極化等效輻射場強(qiáng)和垂直極化等效輻射場強(qiáng)代入相應(yīng)公式即可求得任意被測設(shè)備在開闊場中的測試結(jié)果。該測試方法在總功率算法基礎(chǔ)上，以Lee算法進(jìn)行相位補(bǔ)充，克服了總功率算法單獨(dú)使用時未考慮相位因素和Lee算法單獨(dú)使用時近似假設(shè)引入誤差而導(dǎo)致測試結(jié)果準(zhǔn)確度較低的問題。
【專利說明】一種基于GTEM小室的輻射EMI測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及輻射EMI測試，尤其涉及一種基于GTEM小室的輻射EMI測試方法，屬于電磁兼容【技術(shù)領(lǐng)域】。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的高速進(jìn)步和經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，各種電子產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于人們的生產(chǎn)和生活中。這些電子產(chǎn)品同時工作時產(chǎn)生的電磁干擾問題日趨嚴(yán)重。電磁干擾問題不僅會影響電子產(chǎn)品的正常工作，也會影響人們的健康，因此對電子產(chǎn)品進(jìn)行電磁兼容性測試研究越來越受到重視。
[0003]電磁兼容是指設(shè)備或者系統(tǒng)在一定電磁環(huán)境中的運(yùn)行情況符合要求，并且不對處于同一電磁環(huán)境中的任何其他設(shè)備產(chǎn)生超過一定限度電磁騷擾的能力。電磁兼容測試包括EMI電磁干擾測試和HMS電磁敏感性測試兩部分。目前，國內(nèi)外主要的電磁兼容測試試驗(yàn)場地有開闊場、電波暗室、屏蔽室以及GTEM小室。GTEM小室作為試驗(yàn)場地與其他試驗(yàn)場地相比，具有截止頻率高、場均勻性好、占地空間小以及建造成本低等優(yōu)點(diǎn)。但是，開闊場作為公認(rèn)的進(jìn)行EMI測試的標(biāo)準(zhǔn)場地，任何其他場地的測試結(jié)果都要等效到開闊測試場中。目ill針對GTEM小室主要有以下二種等效的測試方法和算法:Wilson算法、Lee算法和總功率算法。Wilson算法通過在GTEM小室中測試ETU (被測設(shè)備)不同朝向和旋轉(zhuǎn)角度的輻射發(fā)射值計算出ETU等效的電偶極矩和磁偶極矩，繼而計算出偶極子模型在開闊場中的場強(qiáng)值。Lee算法與Wilson算法測試過程類似，只是考慮了偶極子的相位問題，需要多測幾組，計算過程中不需要求出ETU的等效偶極子分量。Lee算法在推導(dǎo)過程中，做了以下兩點(diǎn)近似:①OATS中測試距離遠(yuǎn)大于EUT高度測試距離遠(yuǎn)大于天線高度。Lee算法的近似假設(shè)引入誤差導(dǎo)致測試結(jié)果準(zhǔn)確度較低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供了一種基于GTEM小室的輻射EMI測試方法，該測試方法在總功率算法基礎(chǔ)上，以Lee算法進(jìn)行相位補(bǔ)充，克服了總功率算法單獨(dú)使用時未考慮相位因素和Lee算法單獨(dú)使用時近似假設(shè)引入誤差從而導(dǎo)致測試結(jié)果準(zhǔn)確度較低的問題。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取以下技術(shù)方案:
一種基于GTEM小室的輻射EMI測試方法，包括以下步驟:
第一步:將頻點(diǎn)為A的標(biāo)準(zhǔn)被測品放置于電波暗室中測得其水平輻射場強(qiáng)￡ar(/D)和
垂直輻射場強(qiáng)&(/0)；
第二步:將頻點(diǎn)為f0的標(biāo)準(zhǔn)被測品放置于GTEM小室內(nèi)；
第三步:根據(jù)總功率算法測試要求，先后將標(biāo)準(zhǔn)被測品橫向、豎向、縱向放置于GTEM小室，測得標(biāo)準(zhǔn)被測品以不同方向放置于GTEM小室時GTEM小室輸出端口的等效電壓信號HS ;根據(jù)總功率算法計算得到標(biāo)準(zhǔn)被測品在開闊場中的水平極化等效輻射場強(qiáng)、(/Β)和垂直極化等效輻射場強(qiáng)^Cf0)；
第四步:根據(jù)Lee算法測試要求，先后將標(biāo)準(zhǔn)被測品橫向、豎向、縱向放置于GTEM小室，逆時針轉(zhuǎn)動轉(zhuǎn)臺的角度為0°，45°，90°，180°和270°，測得標(biāo)準(zhǔn)被測品以不同方向放置于GTEM
小室、轉(zhuǎn)臺處于不冋角度時GTEM小室輸出％5 口的等效電壓彳目號、巧3、&+、1、^31、^23、^33、、^25、^31、> ^3? > ^36 ;根據(jù)Lee算法計算得到標(biāo)準(zhǔn)被測品在開闊場中的
水平極化等效輻射場強(qiáng)&(^)和垂直極化等效輻射場強(qiáng)^rCf0)；
第五步:計算頻點(diǎn)f0對應(yīng)的水平極化相位補(bǔ)償校準(zhǔn)因子和垂直極化相位補(bǔ)償校準(zhǔn)因子
【權(quán)利要求】
1.一種基于GTEM小室的輻射EMI測試方法，其特征在于包括以下步驟:(1)將頻點(diǎn)為的標(biāo)準(zhǔn)被測品放置于電波暗室中測得其水平輻射場強(qiáng)和垂直福射場強(qiáng);(2)將頻點(diǎn)為f0的標(biāo)準(zhǔn)被測品放置于GTEM小室內(nèi)；(3)根據(jù)總功率算法測試要求，先后將標(biāo)準(zhǔn)被測品橫向、豎向、縱向放置于GTEM小室，測得標(biāo)準(zhǔn)被測品以不同方向放置于GTEM小室時GTEM小室輸出端口的等效電壓信號、V21、& ;根據(jù)總功率算法計算得到標(biāo)準(zhǔn)被測品在開闊場中的水平極化等效輻射場強(qiáng)^rCZ0)和垂直極化等效輻射場強(qiáng)(4)根據(jù)Lee算法測試要求，先后將標(biāo)準(zhǔn)被測品橫向、豎向、縱向放置于GTEM小室，逆時針轉(zhuǎn)動轉(zhuǎn)臺的角度為0°，45°，90°，180°和270°，測得標(biāo)準(zhǔn)被測品以不同方向放置于GTEM小室、轉(zhuǎn)臺處于不冋角度時GTEM小室輸出端口的等效電壓彳目號^i1、、、^25 >;根據(jù)Lee算法計算得到標(biāo)準(zhǔn)被測品在開闊場中的水平極化等效輻射場強(qiáng)和垂直極化等效輻射場強(qiáng);(5)計算頻點(diǎn)對應(yīng)的水平極化相位補(bǔ)償校準(zhǔn)因子和垂直極化相位補(bǔ)償校準(zhǔn)因子:=
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種基于GTEM小室的輻射EMI測試方法，其特征是:標(biāo)準(zhǔn)被測品的頻點(diǎn)/,為IOMHz。
【文檔編號】G01R31/00GK103529325SQ201310504431
【公開日】2014年1月22日 申請日期:2013年10月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月24日
【發(fā)明者】趙陽, 劉勇, 顏偉, 陳旸, 夏歡, 張楊, 宋百通, 丁錦輝 申請人:南京麥諾蒙特電磁科技有限公司