單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)試裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】一種單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)試裝置，包括全短路測(cè)試蓋板和全開(kāi)路測(cè)試蓋板，所述全短路測(cè)試蓋板和全開(kāi)路測(cè)試蓋板上分別設(shè)有與待測(cè)電路板上的連接腳數(shù)量相同、位置相同的測(cè)試腳，所述全短路測(cè)試蓋板上的測(cè)試腳相互導(dǎo)通，所述全開(kāi)路測(cè)試蓋板上的測(cè)試腳相互斷開(kāi)。有益效果：通過(guò)全短路測(cè)試蓋板和全開(kāi)路測(cè)試蓋板實(shí)現(xiàn)了線(xiàn)路密集的電路板的開(kāi)路和短路的測(cè)試，成本低，制作簡(jiǎn)單，避免了價(jià)格和維修成本高昂的治具費(fèi)用投入。降低了生產(chǎn)成本，提高了出廠(chǎng)產(chǎn)品的可靠性。
【專(zhuān)利說(shuō)明】單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]該發(fā)明涉及一種電路板的測(cè)試裝置，特別涉及一種單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)
試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]傳統(tǒng)的印制電路板測(cè)試裝置采用多層的環(huán)氧板制作測(cè)試針板，由于測(cè)試探針為易損品，所以在測(cè)試裝置制作時(shí)通常采用在針板上固定套管，再在套管中放置測(cè)試探針，這樣無(wú)形中增加了探針與探針間的距離。而隨著電子產(chǎn)品的輕薄化，印制電路板的線(xiàn)路越來(lái)越密集，尤其是1C (半導(dǎo)體元件)腳寬度、間距基本為0.2_，甚至更小，傳統(tǒng)的測(cè)試治具根本無(wú)法完成測(cè)試。產(chǎn)品不經(jīng)過(guò)通斷測(cè)試，無(wú)法確保交付客戶(hù)使用的產(chǎn)品質(zhì)量，市場(chǎng)風(fēng)險(xiǎn)巨大。而制作一幅高精度的測(cè)試裝置動(dòng)輒好幾萬(wàn)元，而且由于測(cè)試探針過(guò)細(xì)，容易折斷，后期的維修費(fèi)用高昂，增加了生產(chǎn)成本。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]發(fā)明目的:本發(fā)明的目的是提供一種通過(guò)全開(kāi)路測(cè)試和全短路測(cè)試來(lái)實(shí)現(xiàn)線(xiàn)路密集的半導(dǎo)體元件的開(kāi)路和短路測(cè)試的單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)試裝置。
[0004]技術(shù)方案:一種單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)試裝置，包括全短路測(cè)試蓋板和全開(kāi)路測(cè)試蓋板，所述全短路測(cè)試蓋板和全開(kāi)路測(cè)試蓋板上分別設(shè)有與待測(cè)電路板上的連接腳數(shù)量相同、位置相同的測(cè)試腳，所述全短路測(cè)試蓋板上的測(cè)試腳相互導(dǎo)通，所述全開(kāi)路測(cè)試蓋板上的測(cè)試腳相互斷開(kāi)。
[0005]所述全短路測(cè)試蓋板測(cè)試表面加工有環(huán)形槽，所述環(huán)形槽連接全短路測(cè)試蓋板上的各測(cè)試腳，所述環(huán)形槽內(nèi)固定安裝有導(dǎo)電膠。測(cè)試時(shí)通過(guò)導(dǎo)電膠連接各測(cè)試腳，實(shí)現(xiàn)全短路測(cè)試
為了更加有效地隔離待測(cè)電路板各連接腳，所述全開(kāi)路測(cè)試蓋板上的測(cè)試腳為相互獨(dú)立的方形通孔。測(cè)試時(shí)將待測(cè)電路板的連接腳置于相應(yīng)的通孔內(nèi)。
[0006]測(cè)試方法:第一次測(cè)試時(shí)使用全開(kāi)路測(cè)試蓋板進(jìn)行測(cè)試，如果顯示全開(kāi)路說(shuō)明產(chǎn)品沒(méi)有發(fā)生短路，如測(cè)試顯示連接說(shuō)明產(chǎn)品中有短路發(fā)生，產(chǎn)品為不良品；將第一次全開(kāi)路測(cè)試合格的電路板進(jìn)行第二次全短路測(cè)試，如果顯示全短路，說(shuō)明線(xiàn)路沒(méi)有發(fā)生開(kāi)路不良，如果測(cè)試線(xiàn)路開(kāi)路說(shuō)明產(chǎn)品中有開(kāi)路發(fā)生，產(chǎn)品不良；兩次測(cè)試全部合格的產(chǎn)品最終判定0K，可以確保產(chǎn)品無(wú)開(kāi)路、短路不良。
[0007]有益效果:通過(guò)全短路測(cè)試蓋板和全開(kāi)路測(cè)試蓋板實(shí)現(xiàn)了線(xiàn)路密集的電路板的開(kāi)路和短路的測(cè)試，成本低，制作簡(jiǎn)單，避免了價(jià)格和維修成本高昂的治具費(fèi)用投入。降低了生產(chǎn)成本，提高了出廠(chǎng)產(chǎn)品的可靠性。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0008]圖1為本發(fā)明全短路測(cè)試蓋板的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明全開(kāi)路測(cè)試蓋板的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0009]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。
[0010]如圖1所示，一種單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)試裝置的全短路測(cè)試蓋板1，所述全短路測(cè)試蓋板1上設(shè)有與待測(cè)電路板上的連接腳數(shù)量相同、位置相同的測(cè)試腳3，所述全短路測(cè)試蓋板1上的測(cè)試腳3相互導(dǎo)通。所述全短路測(cè)試蓋板1測(cè)試表面加工有環(huán)形槽4，所述環(huán)形槽4連接全短路測(cè)試蓋板1上的各測(cè)試腳3，所述環(huán)形槽4內(nèi)固定安裝有導(dǎo)電膠。
[0011]如圖2所示，一種單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)試裝置的全開(kāi)路測(cè)試蓋板2，所述全開(kāi)路測(cè)試蓋板2分別設(shè)有與待測(cè)電路板上的連接腳數(shù)量相同、位置相同的測(cè)試腳3，所述全開(kāi)路測(cè)試蓋板2上的測(cè)試腳3相互斷開(kāi)。所述全開(kāi)路測(cè)試蓋板2上的測(cè)試腳3為相互獨(dú)立的方形通孔。
【權(quán)利要求】
1.一種單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)試裝置，其特征在于:包括全短路測(cè)試蓋板(1)和全開(kāi)路測(cè)試蓋板(2 )，所述全短路測(cè)試蓋板(1)和全開(kāi)路測(cè)試蓋板(2 )上分別設(shè)有與待測(cè)電路板上的連接腳數(shù)量相同、位置相同的測(cè)試腳(3)，所述全短路測(cè)試蓋板(1)上的測(cè)試腳(3)相互導(dǎo)通，所述全開(kāi)路測(cè)試蓋板(2)上的測(cè)試腳(3)相互斷開(kāi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)試裝置，其特征在于:所述全短路測(cè)試蓋板(1)測(cè)試表面加工有環(huán)形槽(4)，所述環(huán)形槽(4)連接全短路測(cè)試蓋板(1)上的各測(cè)試腳(3 )，所述環(huán)形槽(4 )內(nèi)固定安裝有導(dǎo)電膠。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單面印刷電路板開(kāi)路和短路測(cè)試裝置，其特征在于:所述全開(kāi)路測(cè)試蓋板(2)上的測(cè)試腳(3)為相互獨(dú)立的方形通孔。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK103675583SQ201310408042
【公開(kāi)日】2014年3月26日 申請(qǐng)日期:2013年9月10日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月10日
【發(fā)明者】李軍 申請(qǐng)人:鎮(zhèn)江華印電路板有限公司