鋰離子二次電池的劣化診斷裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供鋰離子二次電池的劣化診斷裝置,能夠在不使電路結(jié)構(gòu)變得復(fù)雜的情況下縮短測量時間。充電電路(2)是用于對二次電池(10)提供電流而進行充電的電路。充電電流切斷單元(4)針對充電中或放電中的二次電池(10)進行切斷充電電流或放電電流的控制。電壓測量部(6)測量電流剛切斷之后的二次電池(10)的端子電壓。診斷單元(8)根據(jù)測量的電壓來判斷二次電池(10)有無劣化。已經(jīng)劣化的二次電池(10)與沒有劣化的二次電池(10)相比,電流剛切斷之后的電壓變化緩慢。診斷單元(8)基于此判斷二次電池(10)有無劣化。
【專利說明】鋰離子二次電池的劣化診斷裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及二次電池的劣化診斷技術(shù)。
【背景技術(shù)】
[0002]當反復(fù)使用鋰離子二次電池等時會發(fā)生劣化,并且隨著劣化的發(fā)展而無法再作為二次電池來使用。因此,提出了診斷二次電池的劣化的技術(shù)。
[0003]例如,具有如下這樣的方法(交流阻抗法):在二次電池上連接電源,施加交流電壓或交流電流,測量電壓/電流,測定二次電池的阻抗,由此判斷劣化。使上述施加的頻率從低頻變化到高頻,在復(fù)平面上繪制(Plot)此時的阻抗(稱為科爾-科爾圖)。
[0004]在圖13中示出科爾-科爾圖的例子。用半圓表示的是頻率變化時的二次電池的阻抗的軌跡。通過針對正常電池和劣化電池進行該圖的比較,能夠判斷劣化狀態(tài)。如上的劣化診斷已經(jīng)成為一般性的研究。
[0005]另外,在非專利文獻I中公開了根據(jù)停止放電后的電壓變化AV來測量內(nèi)部電阻的方法。
[0006]非專利文獻1:矢田靜邦“高性能蓄電池-設(shè)計基礎(chǔ)研究々^開発?評価t T _、第I編、第2章、2.電池O充放電性能i完全性評価法”207頁~213頁
[0007]但是,在非專利文獻I所述的技術(shù)中沒有公開用于進行二次電池的劣化診斷的方法。
[0008]另外,在基于交流阻抗法的診斷方法中存在如下問題。因為必須施加交流電流,所以除了通常的提供充電電流的電路之外還需要用于施加/測量交流電流的電路,從而存在電路變得復(fù)雜的問題。
[0009]另外,因為是使交流分量的頻率從低頻變化到高頻而進行測量,所以存在需要花費用于測量的時間的問題。當然,只要花費時間就能夠通過比較科爾-科爾圖來推定劣化,但尤其在低頻區(qū)域中I個周期較長,因此存在本質(zhì)上不得不延長測量時間的問題。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0010]本發(fā)明目的是解決上述的問題點,提供一種能夠在不使電路結(jié)構(gòu)變得復(fù)雜的情況下縮短測量時間的診斷裝置。
[0011](I)本發(fā)明的劣化診斷裝置是二次電池的劣化診斷裝置,其具備:電流切斷單元,其切斷與充電電路或放電電路連接的充電中或放電中的二次電池的充電電流或放電電流;電壓測量部,其測量被上述電流切斷單元切斷了充電電流或放電電流的二次電池的端子電壓;以及診斷單元,其根據(jù)由上述電壓測量部測量的端子電壓隨時間的變化,診斷該二次電池的劣化。
[0012]因此,能夠迅速且準確地判斷二次電池有無劣化。
[0013](2)本發(fā)明的充電裝置是用于二次電池的充電裝置,其具備:充電電路,其用于對二次電池施加充電電流;電流切斷單元,其切斷與上述充電電路或放電電路連接的充電中或放電中的二次電池的充電電流或放電電流;電壓測量部,其測量被上述電流切斷單元切斷了充電電流或放電電流的二次電池的端子電壓;以及診斷單元,其根據(jù)由上述電壓測量部測量的端子電壓隨時間的變化,診斷該二次電池的劣化。
[0014]因此,能夠一邊迅速且準確地判斷二次電池有無劣化,一邊進行充電。而且,與交流阻抗法相比,還具有能夠使電路結(jié)構(gòu)簡化的效果。
[0015](3)本發(fā)明的劣化診斷裝置的特征是,診斷單元根據(jù)剛切斷電流之后的端子電壓的下降速度或上升速度來判斷有無劣化。
[0016]因此,能夠更準確地判斷二次電池有無劣化。
[0017](4)本發(fā)明的劣化診斷裝置的特征是,診斷單元根據(jù)隔膜(s印arator)的厚度和離子的擴散系數(shù)來計算正常的二次電池中剛切斷電流之后的端子電壓的下降速度或上升速度,并與針對診斷對象的二次電池實際測量的、剛切斷電流之后的端子電壓的下降速度或上升速度進行比較,由此判斷有無劣化。
[0018]因此,不用針對正常的二次電池測定端子電壓,就能夠判斷診斷對象的二次電池
有無劣化。
[0019](5)本發(fā)明的劣化診斷裝置的特征是,診斷單元根據(jù)剛切斷電流之后的端子電壓變化的傾斜度達到預(yù)定平緩度為止的時間,來判斷有無劣化。
[0020]因此,能夠更準確地判斷二次電池有無劣化。
[0021](6)本發(fā)明的劣化診斷裝置的特征是,診斷單元根據(jù)隔膜的厚度和離子的擴散系數(shù)來計算正常二次電池中剛切斷電流之后的端子電壓變化的傾斜度達到預(yù)定平緩度為止的時間,將其與針對診斷對象的二次電池實際測量的、剛切斷電流之后的端子電壓變化的傾斜度達到預(yù)定平緩度為止的時間進行比較,由此判斷有無劣化。
[0022]因此,不用針對正常的二次電池測定端子電壓,就能夠判斷診斷對象的二次電池有無劣化。
[0023](7)本發(fā)明的劣化診斷方法是二次電池的劣化診斷方法,其特征是,切斷充電中或放電中的二次電池的充電電流或放電電流,對切斷了充電電流或放電電流的二次電池的端子電壓進行測量,根據(jù)上述測量的端子電壓隨時間的變化來診斷該二次電池的劣化。
[0024]因此,能夠準確地判斷二次電池有無劣化。
[0025]在實施方式中,步驟S5、步驟S15對應(yīng)于“電流切斷單元”。
[0026]在實施方式中,電壓/電流計42對應(yīng)于“電壓測量部”。
[0027]在實施方式中,步驟S7、步驟S17對應(yīng)于“診斷單元”。
[0028]關(guān)于“程序”的概念,不僅是可由CPU直接執(zhí)行的程序,而且還包含源(source)形式的程序、已進行壓縮處理的程序、已加密的程序等。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0029]圖1是本發(fā)明的一個實施方式的劣化診斷裝置的功能框圖。
[0030]圖2是本發(fā)明的一個實施方式的劣化診斷裝置的硬件結(jié)構(gòu)。
[0031 ] 圖3是診斷程序46的流程圖。
[0032]圖4是診斷程序46的流程圖。[0033]圖5是診斷程序46的流程圖。
[0034]圖6是診斷程序46的流程圖。
[0035]圖7是診斷程序46的流程圖。
[0036]圖8是示出切斷放電電流后的電壓變化的曲線圖。
[0037]圖9是示出切斷放電電流后的電壓變化的曲線圖。
[0038]圖10是示出切斷充電電流后的電壓變化的曲線圖。
[0039]圖11是示出切斷充電電流后的電壓變化的曲線圖。
[0040]圖12是示出二次電池的構(gòu)造的圖。
[0041]圖13是用于說明基于阻抗測定的劣化診斷方法的圖。
【具體實施方式】
[0042]1.發(fā)明的背景
[0043]發(fā)明人發(fā)現(xiàn),在二次電池的充電時或放電時切斷了電流時,對于正常的二次電池與已經(jīng)劣化的二次電池而言,剛切斷電流之后的電壓變化曲線不同。即發(fā)現(xiàn)了如下情況:已經(jīng)劣化的二次電池在充電時切斷了電流之后的極短時間內(nèi)電壓下降緩慢,在放電時切斷了電流之后的極短時間內(nèi)電壓上升緩慢。本發(fā)明正是基于發(fā)明人的該新的認識。
[0044]2.劣化診斷裝置的功能框圖
[0045]圖1示出本發(fā)明一個實施方式的劣化診斷裝置12的功能框圖。充放電電路2是用于對二次電池10提供電流而進行充電或者使二次電池10放電的電路。另外,切斷充電中或放電中的二次電池10的充電電流或放電電流。電壓測量部6對剛切斷電流之后的二次電池10的端子電壓進行測量。診斷單元8根據(jù)所測量的電壓來判斷二次電池10有無劣化。
[0046]已經(jīng)劣化的二次電池10與沒有劣化的二次電池10相比,電流剛剛切斷之后的電壓變化緩慢。診斷單元8由此來判斷二次電池10有無劣化。
[0047]3.硬件結(jié)構(gòu)
[0048]圖2示出本發(fā)明的一個實施方式的劣化診斷裝置12的硬件結(jié)構(gòu)。
[0049]充放電電路2接受商用電源20進行降壓/整流/平滑等,對二次電池10施加充電電流。另外,控制二次電池10進行放電。而且在充電中或放電中切斷充電電流或放電電流。
[0050]與CPU30連接著存儲器32、顯示器34、I/O接口 36、A/D轉(zhuǎn)換器38、記錄部40。
[0051]在I/O接口 36上連接著電壓控制電路22,CPU30經(jīng)由I/O接口 36對電壓控制電路22進行控制。
[0052]電壓/電流監(jiān)視電路24對二次電池10的端子電壓、充電電流(放電電流)進行測量。電壓/電流監(jiān)視電路24的輸出通過A/D轉(zhuǎn)換器38轉(zhuǎn)換成數(shù)字數(shù)據(jù)。由此CPU30能夠獲得二次電池10的端子電壓數(shù)據(jù)。在記錄部40中記錄有診斷程序46。
[0053]4.診斷程序
[0054]圖3?圖7示出診斷程序46的流程圖。與充放電電路2連接著二次電池10。在此,假設(shè)該二次電池10的初始充電狀態(tài)未知。
[0055]在步驟SI中,CPU30對電壓控制電路22進行控制,開始對二次電池10的充電。接著,CPU30經(jīng)由A/D轉(zhuǎn)換器38取得電壓/電流監(jiān)視電路24的輸出,并監(jiān)視二次電池10的端子電壓。CPU30監(jiān)視該電壓,判斷二次電池10是否已充滿電(步驟S2)。當二次電池10的電壓達到預(yù)定電壓而充滿電時,CPU30對電壓控制電路22進行控制,開始進行二次電池10的放電(步驟S3)。
[0056]CPU30經(jīng)由A/D轉(zhuǎn)換器38取得電壓/電流監(jiān)視電路42所測量的放電電流,作為放電電流值數(shù)據(jù)。CPU30將放電電流值數(shù)據(jù)與時間相乘(步驟S4)。即,對放電電流值乘以放電時間,計算放電容量。然后,從充滿電的容量減去相乘得到的放電容量來計算剩余容量。
[0057]CPU30判斷該剩余容量是否低于50% (步驟S5)。例如,如果是充滿電時為IOOOmAH的二次電池10,則判斷剩余容量是否低于500mAH。
[0058]當剩余容量未低于50%時,CPU30繼續(xù)放電。當剩余容量低于50%時,CPU30開始對記錄部40記錄從電壓/電流監(jiān)視電路42、A/D轉(zhuǎn)換器38取得的電壓值數(shù)據(jù)(步驟S6)。
[0059]接著,CPU30對電壓控制電路22進行控制,切斷二次電池10的放電電流(步驟S7)。即,使二次電池10的端子成為開放狀態(tài)。CPU30判斷從切斷放電電流起是否經(jīng)過了預(yù)定的測量時間(例如4sec1/2)(步驟S8)。如果經(jīng)過了預(yù)定的測量時間,則根據(jù)所記錄的電壓值數(shù)據(jù)在剛切斷之后的傾斜度來判斷有無劣化(步驟S9)。
[0060]圖8中示出剛切斷放電電流之后的電壓變化的一例??v軸是電壓,橫軸是時間(時間的平方根)。正常數(shù)據(jù)表示正常的二次電池的電壓變化。劣化數(shù)據(jù)表示已經(jīng)劣化的二次電池的電壓變化。
[0061]在剛切斷之后,正常數(shù)據(jù)是3.72V,劣化數(shù)據(jù)是3.64V。正常數(shù)據(jù)極快地達到
3.76V。劣化數(shù)據(jù)則在1.5sec1/2之后達到3.76V。這樣,已經(jīng)劣化的二次電池在剛切斷之后的電壓上升緩慢(上升速度慢)。
[0062]例如,可根據(jù)電壓上升達到預(yù)定值(例如0.1V)為止的時間(即上升速度)是否大于預(yù)定值(例如,lsec1/2),來判斷有無劣化。此外,可根據(jù)對正常的二次電池以及劣化的二次電池進行測量的結(jié)果,預(yù)先記錄這樣的判斷基準。
[0063]接著,CPU30對電壓控制電路22進行控制,再次開始進行二次電池10的放電(步驟S10)。CPU30經(jīng)由A/D轉(zhuǎn)換器38取得由電壓/電流監(jiān)視電路42測量的放電電流,作為放電電流值數(shù)據(jù)。CPU30將放電電流值數(shù)據(jù)與時間相乘(步驟Sll)。即,對放電電流值乘以放電時間來計算放電容量。然后,從充滿電的容量減去相乘得到的放電容量,計算剩余容量。
[0064]CPU30判斷該剩余容量是否為0%(步驟S12)。例如,如果是充滿電時為IOOOmAH的二次電池10,則判斷剩余容量是否為OmAH。
[0065]如果剩余容量不為0,則CPU30繼續(xù)放電。如果為0,則CPU30開始對記錄部40記錄從電壓/電流監(jiān)視電路42、A/D轉(zhuǎn)換器38取得的電壓值數(shù)據(jù)(步驟S13)。
[0066]接著,CPU30對電壓控制電路22進行控制,切斷二次電池10的放電電流(步驟S14) XPU30判斷從切斷放電電流起是否經(jīng)過了預(yù)定的測量時間(例如4sec1/2)(步驟S15)。如果經(jīng)過了預(yù)定的測量時間,則根據(jù)已經(jīng)記錄的電壓值數(shù)據(jù)在剛切斷之后的傾斜度來判斷有無劣化(步驟S16)。
[0067]圖9示出剛切斷放電電流之后的電壓變化的一例。在剛切斷之后,正常數(shù)據(jù)是
3.05V,劣化數(shù)據(jù)是3.0V。然后,正常數(shù)據(jù)經(jīng)過lsec1/2上升到3.2V,然后上升的傾斜度變得平緩。與此相對,劣化數(shù)據(jù)經(jīng)過2.5sec1/2上升到3.35V,然后上升的傾斜度變得平緩。這樣,對于已經(jīng)劣化的二次電池,上升的傾斜度達到預(yù)定平緩度為止的時間更長。
[0068]例如,可根據(jù)電壓上升的傾斜度成為預(yù)定值以下(例如0.05V/sec1/2)為止的時間(即傾斜度)是否大于預(yù)定值(例如,1.5sec1/2),來判斷有無劣化。
[0069]接著,CPU30對電壓控制電路22進行控制,開始二次電池10的充電(步驟S17)。CPU30經(jīng)由A/D轉(zhuǎn)換器38取得電壓/電流監(jiān)視電路42所測量的放電電流,作為充電電流值數(shù)據(jù)。CPU30將充電電流值數(shù)據(jù)與時間相乘(步驟S18)。即,對充電電流值乘以放電時間來計算充電容量。
[0070]CPU30判斷該充電容量是否成為50%(步驟S19)。例如,如果是充滿電時為1000mAH的二次電池10,則判斷充電容量是否成為500mAH。
[0071]如果剩余容量尚未成為500mAH,則CPU30繼續(xù)進行放電。如果成為500mAH,則CPU30開始對記錄部40記錄從電壓/電流監(jiān)視電路42、A/D轉(zhuǎn)換器38取得的電壓值數(shù)據(jù)(步驟S20)。
[0072]接著,CPU30對電壓控制電路22進行控制,切斷二次電池10的充電電流(步驟S21)。即,釋放二次電池10的端子。CPU30判斷從切斷充電電流起是否經(jīng)過了預(yù)定的測量時間(例如4sec1/2)(步驟S22)。如果經(jīng)過了預(yù)定的測量時間,則根據(jù)所記錄的電壓值數(shù)據(jù)在剛切斷之后的斜率度來判斷有無劣化(步驟S23)。
[0073]圖10中示出剛切斷充電電流之后的電壓變化的一例。在剛切斷之后,正常數(shù)據(jù)是3.9價,劣化數(shù)據(jù)是3.95¥。由該曲線圖可知,正常數(shù)據(jù)在切斷的同時電壓下降到3.9V。與此相對,劣化數(shù)據(jù)經(jīng)過lsec1/2左右的時間下降到3.9V。這樣,已經(jīng)劣化的二次電池在剛切斷之后的電壓下降(下降速度)更緩慢。
[0074]例如,可根據(jù)電壓的下降達到預(yù)定值(例如0.1V)為止的時間(即傾斜度)是否大于預(yù)定值(例如,lsec1/2),來判斷有無劣化。此外,可根據(jù)對正常的二次電池以及劣化的二次電池進行測量的結(jié)果來預(yù)先記錄這樣的判斷基準。
[0075]接著,CPU30對電壓控制電路22進行控制,再次開始二次電池10的充電(步驟S24)。CPU30經(jīng)由A/D轉(zhuǎn)換器38取得由電壓/電流監(jiān)視電路42測量的充電電流,作為充電電流值數(shù)據(jù)。CPU30將充電電流值數(shù)據(jù)與時間相乘(步驟S25)。即,對充電電流值乘以充電時間來計算充電容量。
[0076]CPU30判斷該充電容量是否成為100%(步驟S26)。例如,如果是充滿電時為1000mAH的二次電池10,則判斷充電容量是否成為lOOOmAH。
[0077]如果充電容量尚未成為lOOOmAH,則CPU30繼續(xù)進行充電。如果成為lOOOmAH,則CPU30開始對記錄部40記錄從電壓/電流監(jiān)視電路42、A/D轉(zhuǎn)換器38取得的電壓值數(shù)據(jù)(步驟S27)。
[0078]接著,CPU30對電壓控制電路22進行控制,切斷二次電池10的充電電流(步驟
528)。CPU30在切斷充電電流之后,判斷是否經(jīng)過了預(yù)定的測量時間(例如4sec1/2)(步驟
529)。如果經(jīng)過了預(yù)定的測量時間,則根據(jù)所記錄的電壓值數(shù)據(jù)在剛切斷之后的傾斜度來判斷有無劣化(步驟S30)。
[0079]圖11示出剛切斷充電電流之后的電壓變化的一例。在剛切斷之后,正常數(shù)據(jù)和劣化數(shù)據(jù)都大致是4.23V的電壓。由該曲線圖可知,正常數(shù)據(jù)的電壓立即下降到4.2V。 與此相對,劣化數(shù)據(jù)經(jīng)過Isecv2左右的時間,下降到4.17V。這樣,已經(jīng)劣化的二次電池在剛切斷之后的電壓下降更緩慢。
[0080]例如,可根據(jù)電壓的下降達到預(yù)定值(例如0.05V)為止的時間(即傾斜度)是否大于預(yù)定值(例如,lsec1/2)來判斷有無劣化。
[0081]另外,與50%放電后相同地,可根據(jù)傾斜度變緩為止的時間來判斷有無劣化。
[0082]CPU30綜合上述各個步驟S9、S16、S23、S30中的判斷,來判斷二次電池10有無劣化(步驟S31)。例如,只要上述各個判斷中的任何一個表現(xiàn)出劣化趨勢,就判斷為是劣化的二次電池。而且,CPU30將這樣判斷出的結(jié)果顯示在IXD等顯示器34上(步驟S31)。例如,進行“正常”“劣化”等顯示。
[0083]由圖8~圖11的曲線圖可知,在剛切斷之后的大幅變化結(jié)束,電壓穩(wěn)定的時刻,正常的二次電池和劣化的二次電池在電壓值中沒有較大的差異。因此,可以說難以利用該電壓的差異來判斷有無劣化。而在本實施方式中,因為能夠觀察剛切斷之后的電壓變化來判斷有無劣化,所以能夠更準確地進行判斷。
[0084]發(fā)明人發(fā)現(xiàn)在充電電流切斷之后,可利用以下式子來準確地算出放電電流切斷后的電極中的電壓在時間上的變化。
[0085]【式I】
【權(quán)利要求】
1.一種劣化診斷裝置,其是二次電池的劣化診斷裝置,其特征在于, 該劣化診斷裝置具備: 電流切斷單元,其切斷與充電電路或放電電路連接的充電中或放電中的二次電池的充電電流或放電電流; 電壓測量部,其測量被所述電流切斷單元切斷了充電電流或放電電流的二次電池的端子電壓;以及 診斷單元,其根據(jù)由所述電壓測量部測量的端子電壓隨時間的變化,診斷該二次電池的劣化。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的劣化診斷裝置,其特征在于, 所述診斷單元根據(jù)電流剛切斷之后的端子電壓的下降速度或上升速度來判斷有無劣化。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的劣化診斷裝置,其特征在于, 所述診斷單元根據(jù)隔膜的厚度和離子的擴散系數(shù)來計算正常二次電池中電流剛切斷之后的端子電壓的下降速度或上升速度,將其與針對診斷對象的二次電池實際測量的電流剛切斷之后的端子電壓的下降速度或上升速度進行比較,由此判斷有無劣化。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的劣化診斷裝置,其特征在于, 所述診斷單元根據(jù)電流剛切斷之后的端子電壓變化的傾斜度達到預(yù)定平緩度為止的時間,來判斷有無劣化。`
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的劣化診斷裝置,其特征在于, 所述診斷單元根據(jù)隔膜的厚度和離子的擴散系數(shù)來計算正常二次電池中電流剛切斷之后的端子電壓變化的傾斜度達到預(yù)定平緩度為止的時間,將其與針對診斷對象的二次電池實際測量的電流剛切斷之后的端子電壓變化的傾斜度達到預(yù)定平緩度為止的時間進行比較,由此判斷有無劣化。
6.一種充電裝置,其是用于二次電池的充電裝置,其特征在于, 該充電裝置具備: 充電電路,其對二次電池施加充電電流; 電流切斷單元,其切斷與所述充電電路或放電電路連接的充電中或放電中的二次電池的充電電流或放電電流; 電壓測量部,其測量被所述電流切斷單元切斷了充電電流或放電電流的二次電池的端子電壓;以及 診斷單元,其根據(jù)由所述電壓測量部測量的端子電壓隨時間的變化,診斷該二次電池的劣化。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的充電裝置,其特征在于, 所述診斷單元根據(jù)電流剛切斷之后的端子電壓的下降速度或上升速度來判斷有無劣化。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的充電裝置,其特征在于, 所述診斷單元根據(jù)隔膜的厚度和離子的擴散系數(shù)來計算正常二次電池中電流剛切斷之后的端子電壓的下降速度或上升速度,將其與針對診斷對象的二次電池實際測量的電流剛切斷之后的端子電壓的下降速度或上升速度進行比較,由此判斷有無劣化。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的充電裝置,其特征在于, 所述診斷單元根據(jù)電流剛切斷之后的端子電壓變化的傾斜度達到預(yù)定平緩度為止的時間,來判斷有無劣化。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的充電裝置,其特征在于, 所述診斷單元根據(jù)隔膜的厚度和離子的擴散系數(shù)來計算正常二次電池中電流剛切斷之后的端子電壓變化的傾斜度達到預(yù)定平緩度為止的時間,將其與針對診斷對象的二次電池實際測量的電流剛切斷之后的端子電壓變化的傾斜度達到預(yù)定平緩度為止的時間進行比較,由此判斷有無劣化。
11.一種劣化診斷方法,其是二次電池的劣化診斷方法,其特征在于, 切斷充電中或放電中的二次電池的充電電流或放電電流, 測量切斷了充電電流或放電電流的二次電池的端子電壓, 根據(jù)所述測量的`端子電壓隨時間的變化來診斷該二次電池的劣化。
【文檔編號】G01R31/36GK103513184SQ201310122201
【公開日】2014年1月15日 申請日期:2013年4月10日 優(yōu)先權(quán)日:2012年6月26日
【發(fā)明者】川平孝雄, 內(nèi)山泰宏, 小島淳平, 桂井徹, 川田浩二, 小林敏之, 仁科辰夫 申請人:Imv株式會社