一種測試多個(gè)led的電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明屬于測試電路領(lǐng)域，尤其涉及一種測試多個(gè)LED的電路。在本發(fā)明中，測試多個(gè)LED的電路包括多個(gè)依次串接在電源和地的測試子單元，當(dāng)其中某個(gè)測試子單元中的被測試LED達(dá)到壽命極限熄滅時(shí)，與被測試LED并聯(lián)的第一開關(guān)管導(dǎo)通，繼續(xù)形成回路，繼續(xù)進(jìn)行老化測試，而不影響其他被測試LED的測試，此電路在恒流源條件的允許下，可以測試無窮多個(gè)LED。
【專利說明】—種測試多個(gè)LED的電路

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于測試電路領(lǐng)域，尤其涉及一種測試多個(gè)LED的電路。

【背景技術(shù)】
[0002]燈具照明在現(xiàn)代社會(huì)里面隨處可見，在各行各業(yè)使用的燈具都有不同的用途，LED作為新型光源，它有著節(jié)能、環(huán)保、高效的特點(diǎn)，技術(shù)已經(jīng)成熟并應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。
[0003]在LED燈具設(shè)計(jì)和制造的時(shí)候，都要對(duì)LED燈具進(jìn)行測試，以檢驗(yàn)產(chǎn)品的質(zhì)量和性能，對(duì)LED燈具進(jìn)行老化測試，但是在進(jìn)行老化測試的時(shí)候會(huì)造成人力、物力極大的浪費(fèi)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種測試多個(gè)LED的電路，旨在解決現(xiàn)在進(jìn)行老化測試的時(shí)候會(huì)造成人力、物力極大的浪費(fèi)的問題。
[0005]本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種測試多個(gè)LED的電路，所述測試多個(gè)LED的電路包括多個(gè)依次串接在電源和地的測試子單元，所述測試子單元包括:
[0006]被測試LED、限流電阻R1、光敏二極管D1、第一開關(guān)管和第二開關(guān)管；
[0007]所述被測試LED的陽極為測試子單元的輸入端，所述被測試LED的陰極為測試子單元的輸出端，所述第一開關(guān)管的高電位端接所述被測試LED的陽極，所述第一開關(guān)管的低電位端接所述被測試LED的陰極，所述限流電阻Rl連接在所述被測試LED的陽極和第一開關(guān)管的控制端之間，所述第一開關(guān)管的控制端接第二開關(guān)管的高電位端，所述第二開關(guān)管的低電位端接地，所述光敏二極管Dl的陽極接所述被測試LED的陽極，所述光敏二極管Dl的陰極接所述第二開關(guān)管的控制端。
[0008]在本發(fā)明實(shí)施例中，測試多個(gè)LED的電路包括多個(gè)依次串接在電源和地的測試子單元，當(dāng)其中某個(gè)測試子單元中的被測試LED達(dá)到壽命極限熄滅時(shí)，與被測試LED并聯(lián)的第一開關(guān)管導(dǎo)通，繼續(xù)形成回路，繼續(xù)進(jìn)行老化測試，而不影響其他被測試LED的測試，此電路在恒流源條件的允許下，可以測試無窮多個(gè)LED。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1是本發(fā)明第一實(shí)施例提供的測試多個(gè)LED的電路的電路結(jié)構(gòu)圖；
[0010]圖2是本發(fā)明第二實(shí)施例提供的測試多個(gè)LED的電路的電路結(jié)構(gòu)圖；
[0011]圖3是本發(fā)明第三實(shí)施例提供的測試多個(gè)LED的電路的電路結(jié)構(gòu)圖。

【具體實(shí)施方式】
[0012]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0013]圖1示出了本發(fā)明第一實(shí)施例提供的測試多個(gè)LED的電路的電路結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分，詳述如下。
[0014]一種測試多個(gè)LED的電路，所述測試多個(gè)LED的電路包括多個(gè)依次串接在電源和地的測試子單元100，所述測試子單元100包括:
[0015]被測試LED、限流電阻R1、光敏二極管D1、第一開關(guān)管101和第二開關(guān)管102 ；
[0016]所述被測試LED的陽極為測試子單元100的輸入端，所述被測試LED的陰極為測試子單元100的輸出端，所述第一開關(guān)管101的高電位端接所述被測試LED的陽極，所述第一開關(guān)管101的低電位端接所述被測試LED的陰極，所述限流電阻Rl連接在所述被測試LED的陽極和第一開關(guān)管101的控制端之間，所述第一開關(guān)管101的控制端接第二開關(guān)管102的高電位端，所述第二開關(guān)管102的低電位端接地，所述光敏二極管Dl的陽極接所述被測試LED的陽極，所述光敏二極管Dl的陰極接所述第二開關(guān)管102的控制端。
[0017]作為本發(fā)明一實(shí)施例，所述第一開關(guān)管101采用NPN型三極管Ql，所述NPN型三極管Ql的基極為第一開關(guān)管101的控制端，所述NPN型三極管Ql的集電極為第一開關(guān)管101的高電位端，所述NPN型三極管Ql的發(fā)射極為第一開關(guān)管101的低電位端。
[0018]作為本發(fā)明一實(shí)施例，所述第二開關(guān)管102采用NPN型三極管Q2，所述NPN型三極管Q2的基極為第二開關(guān)管102的控制端，所述NPN型三極管Q2的集電極為第二開關(guān)管102的高電位端，所述NPN型三極管Q2的發(fā)射極為第二開關(guān)管102的低電位端。
[0019]圖2示出了本發(fā)明第二實(shí)施例提供的測試多個(gè)LED的電路的電路結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分，詳述如下。
[0020]作為本發(fā)明一實(shí)施例，所述第一開關(guān)管101采用N型MOS管Q3，所述N型MOS管Q3的柵極為第一開關(guān)管101的控制端，所述N型MOS管Q3的漏極為第一開關(guān)管101的高電位端，所述N型MOS管Q3的源極為第一開關(guān)管101的低電位端。
[0021]作為本發(fā)明一實(shí)施例，所述第二開關(guān)管102采用N型MOS管Q4，所述N型MOS管Q4的柵極為第二開關(guān)管102的控制端，所述N型MOS管Q4的漏極為第二開關(guān)管102的高電位端，所述N型MOS管Q4的源極為第二開關(guān)管102的低電位端。
[0022]當(dāng)然在本發(fā)明另一實(shí)施例中，所述第一開關(guān)管101和第二開關(guān)管102也可以分別采用N型MOS管和NPN型三極管，圖3示出了本發(fā)明第三實(shí)施例提供的測試多個(gè)LED的電路的電路結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分，所述第一開關(guān)管101和第二開關(guān)管102分別采用N型MOS管Q3和NPN型三極管Q2。
[0023]下面以第一開關(guān)管101和第二開關(guān)管102分別采用N型MOS管Q3和NPN型三極管Q2為例說明測試多個(gè)LED的電路的工作原理:
[0024]根據(jù)被測試LED的具體參數(shù)調(diào)節(jié)好恒流源的電流，接上LED點(diǎn)亮，光敏二極管Dl接收來自LED的光處于導(dǎo)通狀態(tài)，NPN三極管Q2導(dǎo)通，把N型MOS管Q3的柵極拉低，N型MOS管Q3截止；當(dāng)個(gè)別LED點(diǎn)亮到壽命極限時(shí)，LED滅，對(duì)應(yīng)的光敏二極管Dl截止，相應(yīng)的NPN型三極管Q2截止，相應(yīng)的N型MOS管Q3導(dǎo)通，整個(gè)回路不會(huì)因?yàn)閭€(gè)別LED的熄滅而斷開。
[0025]在本發(fā)明實(shí)施例中，在本發(fā)明實(shí)施例中，測試多個(gè)LED的電路包括多個(gè)依次串接在電源和地的測試子單元，當(dāng)其中某個(gè)測試子單元中的被測試LED達(dá)到壽命極限熄滅時(shí)，與被測試LED并聯(lián)的第一開關(guān)管導(dǎo)通，繼續(xù)形成回路，繼續(xù)進(jìn)行老化測試，而不影響其他被測試LED的測試，此電路在恒流源條件的允許下，可以測試無窮多個(gè)LED。
[0026]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種測試多個(gè)LED的電路，其特征在于，所述測試多個(gè)LED的電路包括多個(gè)依次串接在電源和地的測試子單元，所述測試子單元包括: 被測試LED、限流電阻R1、光敏二極管D1、第一開關(guān)管和第二開關(guān)管； 所述被測試LED的陽極為測試子單元的輸入端，所述被測試LED的陰極為測試子單元的輸出端，所述第一開關(guān)管的高電位端接所述被測試LED的陽極，所述第一開關(guān)管的低電位端接所述被測試LED的陰極，所述限流電阻Rl連接在所述被測試LED的陽極和第一開關(guān)管的控制端之間，所述第一開關(guān)管的控制端接第二開關(guān)管的高電位端，所述第二開關(guān)管的低電位端接地，所述光敏二極管Dl的陽極接所述被測試LED的陽極，所述光敏二極管Dl的陰極接所述第二開關(guān)管的控制端。
2.如權(quán)利要求1所述的測試多個(gè)LED的電路，其特征在于，所述第一開關(guān)管采用NPN型三極管Ql，所述NPN型三極管Ql的基極為第一開關(guān)管的控制端，所述NPN型三極管Ql的集電極為第一開關(guān)管的高電位端，所述NPN型三極管Ql的發(fā)射極為第一開關(guān)管的低電位端。
3.如權(quán)利要求1所述的測試多個(gè)LED的電路，其特征在于，所述第二開關(guān)管采用NPN型三極管Q2，所述NPN型三極管Q2的基極為第二開關(guān)管的控制端，所述NPN型三極管Q2的集電極為第二開關(guān)管的高電位端，所述NPN型三極管Q2的發(fā)射極為第二開關(guān)管的低電位端。
4.如權(quán)利要求1所述的測試多個(gè)LED的電路，其特征在于，所述第一開關(guān)管采用N型MOS管Q3，所述N型MOS管Q3的柵極為第一開關(guān)管的控制端，所述N型MOS管Q3的漏極為第一開關(guān)管的高電位端，所述N型MOS管Q3的源極為第一開關(guān)管的低電位端。
5.如權(quán)利要求1所述的測試多個(gè)LED的電路，其特征在于，所述第二開關(guān)管采用N型MOS管Q4，所述N型MOS管Q4的柵極為第二開關(guān)管的控制端，所述N型MOS管Q4的漏極為第二開關(guān)管的高電位端，所述N型MOS管Q4的源極為第二開關(guān)管的低電位端。
【文檔編號(hào)】G01R31/44GK104049222SQ201310082792
【公開日】2014年9月17日 申請(qǐng)日期:2013年3月15日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月15日
【發(fā)明者】周明杰, 黃世俠 申請(qǐng)人:深圳市海洋王照明工程有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司