技術(shù)編號(hào)：6168773
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于測試電路領(lǐng)域，尤其涉及一種測試多個(gè)LED的電路。在本發(fā)明中，測試多個(gè)LED的電路包括多個(gè)依次串接在電源和地的測試子單元，當(dāng)其中某個(gè)測試子單元中的被測試LED達(dá)到壽命極限熄滅時(shí)，與被測試LED并聯(lián)的第一開關(guān)管導(dǎo)通，繼續(xù)形成回路，繼續(xù)進(jìn)行老化測試，而不影響其他被測試LED的測試，此電路在恒流源條件的允許下，可以測試無窮多個(gè)LED。專利說明—種測試多個(gè)LED的電路 [0001]本發(fā)明屬于測試電路領(lǐng)域，尤其涉及一種測試多個(gè)LED的電路。 背景技術(shù)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。