專利名稱：電纜屏蔽性能的測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
電纜屏蔽性能的測試系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域[0001]本發(fā)明涉及一種用于屏蔽電纜的屏蔽性能的測試系統(tǒng)，能夠測試在范圍為 IOkHz 18GHz的頻率下電纜的屏蔽性能。[0002]背景技術(shù)[0003]隨著電子設(shè)備高頻化、集成化、智能化、微型化、高功率化的發(fā)展，以及3G網(wǎng)絡(luò)、高 速處理器的發(fā)展，設(shè)備間的互連電纜作為有效的電磁干擾發(fā)射天線和接收天線，不可避免 造成了電子設(shè)備的電磁輻射和電磁耦合，引起了大量的電磁干擾問題。為了解決電纜的電 磁輻射及耦合，大量的屏蔽電纜用于信號的屏蔽。[0004]對于屏蔽電纜屏蔽性能的表征，目前有以下兩種表征方式，一種是通過轉(zhuǎn)移阻抗 間接表征屏蔽性能，轉(zhuǎn)移阻抗越小屏蔽性能越好，轉(zhuǎn)移阻抗定義為單位長度屏蔽層與芯線 的開路電壓與流經(jīng)屏蔽層電流的比值；另一種是直接表征方式，即屏蔽性能，屏蔽性能定義 為電纜有無屏蔽層時所能輻射或接收的場強或功率比值。[0005]轉(zhuǎn)移阻抗的測量主要基于電路的測量，目前主要有以下三種方式，三同軸法、線注 入法、吸收鉗法，其主要思想是構(gòu)建兩個測量回路，內(nèi)回路及外回路，通過測量內(nèi)，外回路的 電參數(shù)值，從而得到芯線與屏蔽層的開路電壓和屏蔽層電流，通過計算得到轉(zhuǎn)移阻抗。由于 是基于電路的原理，其測量頻率范圍只能在幾百MHz以內(nèi)。下面以三同軸法為例描述轉(zhuǎn)移 阻抗的測量機理，三同軸法頻率范圍為IOkHz 100MHz。試驗裝置具有三同軸結(jié)構(gòu)，如

圖1 所示，被測屏蔽電纜構(gòu)成饋電外同軸系統(tǒng)的內(nèi)導(dǎo)體，同時又是內(nèi)同軸系統(tǒng)的外導(dǎo)體。其主要 測量步驟是，在外同軸體的芯線及外同軸體的屏蔽層注入交變信號U1，由U1和終端電阻R1 求得外同軸體芯線(即內(nèi)同軸體屏蔽層)的電流I1，再測量內(nèi)同軸體屏蔽層與內(nèi)同軸體芯線的電壓U2, I為電纜的有效測量長度，則&即為該屏蔽層的轉(zhuǎn)移阻抗。[0006]屏蔽性能的測量主要是基于場的測量原理，目前主要有混響室法，混響室是IEC 規(guī)定的標準試驗室，主要用于電子產(chǎn)品電磁敏感度測量，混響室實際上就是裝有攪拌器的 工作于過模狀態(tài)的屏蔽小室。通過轉(zhuǎn)動攪拌器，改變場的邊界條件，從而改變各模式的能量 分布，在混響室整個測試區(qū)域形成統(tǒng)計均勻各向同性的場分布?；祉懯曳ǖ臏y量布置如圖 2所示，它的測量原理是信號源通過發(fā)射天線輸出，攪拌器進行攪拌，通過干擾接收機分別 測量參考天線以及被測電纜接收的功率值，兩功率值之比為其屏蔽性能，通過參考天線來 表征無屏蔽層時所能接收的場強值?；祉懯覝y試的最低頻率受混響室結(jié)構(gòu)尺寸的影響，混 響室越大，最低工作頻率可越低，如體積為17立方米混響室的最低工作頻率為300MHz，而 1360立方米的最低工作頻率為30MHz。[0007]表I為四種常見測試方法的比較列表，從表中可知，上述的4種測試方法由于受測 試工裝、測試儀器、測試場地的影響均無法滿足測量屏蔽電纜從低頻到高頻的屏蔽性能。[0008]表I測試方法比較[0009]
權(quán)利要求1.一種電纜屏蔽性能的測試系統(tǒng)，包括測試桌；接地金屬板，放置在所述測試桌上；兩個屏蔽箱體，放置在所述接地金屬板上，被測電纜連接在所述兩個屏蔽箱體之間；信號源，用于向所述被測電纜輸入交變信號；天線，用于接收所述被測電纜的輻射信號；信號分析裝置，用于對所述天線接收的所述輻射信號進行分析，得到所述被測電纜的場強。
2.如權(quán)利要求1所述的電纜屏蔽性能的測試系統(tǒng)，進一步包括信號輸入電纜和信號輸出電纜，所述信號輸入電纜的一端電連接到所述信號源，另一端在所述兩個屏蔽箱體中的一個屏蔽箱體中電連接到所述被測電纜的一端；所述信號輸出電纜的一端電連接到所述天線，所述信號輸出電纜的另一端電連接到所述信號分析裝置。
3.如權(quán)利要求2所述的電纜屏蔽性能的測試系統(tǒng)，進一步包括電阻，該電阻位于所述兩個屏蔽箱體中的另一個屏蔽箱體中，與所述被測電纜的另一端電連接。
4.如權(quán)利要求3所述的電纜屏蔽性能的測試系統(tǒng)，進一步包括套在所述信號輸入電纜上的金屬管和套在所述信號輸出電纜上的金屬管。
5.如權(quán)利要求1所述的電纜屏蔽性能的測試系統(tǒng)，其中所述兩個屏蔽箱體中灌滿導(dǎo)電金屬顆粒。
6.如權(quán)利要求5所述的電纜屏蔽性能的測試系統(tǒng)，其中所述導(dǎo)電金屬顆粒的直徑為 Imm 2mm。
專利摘要本實用新型涉及一種電纜屏蔽性能的測試系統(tǒng)。測試電纜的屏蔽性能的系統(tǒng)包括測試桌；接地金屬板，放置在所述測試桌上；兩個屏蔽箱體，放置在所述接地金屬板上，被測電纜連接在所述兩個屏蔽箱體之間；信號源，用于向所述被測電纜輸入交變信號；天線，用于接收所述被測電纜的輻射信號；信號分析裝置，用于對所述天線接收的所述輻射信號進行分析，得到所述被測電纜的場強。
文檔編號G01R31/00GK202837416SQ20122032998
公開日2013年3月27日 申請日期2012年7月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月10日
發(fā)明者王添文, 李子森, 丁永平, 周成龍, 郭艷輝, 黨麗, 楊寶山 申請人:中國兵器工業(yè)新技術(shù)推廣研究所