專利名稱：一種微鉆檢測設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及鉆頭檢測領(lǐng)域，特別是一種微鉆檢測設(shè)備。
背景技術(shù)：
近年來，隨著電子信息產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，相關(guān)的電子產(chǎn)品(如數(shù)碼相機、Iphone等)將往輕、薄、短、小的方向發(fā)展，其相應(yīng)的PCB(Printed Circuit Board,印制電路板)的設(shè)計與制作也將往小孔徑、窄線距、高密度、多層數(shù)方向發(fā)展，這使得印制電路板的孔加工工藝面臨著巨大的挑戰(zhàn)。PCB板的孔加工，是PCB的最后一道制作工藝，其加工質(zhì)量的好壞，對后期PCB板的工作性能影響很大。對于PCB微小孔的加工，目前常用的有激光與機械鉆削兩種加工方式。對于孔徑為0. Imm以下的微孔鉆削，激光鉆孔的效率很高。但與激光鉆孔相比，傳統(tǒng)的機·械鉆孔法在加工成本、微孔品質(zhì)、通孔加工、深孔加工等方面仍具有獨特的優(yōu)勢，因此在PCB孔加工工藝中仍得到廣泛的應(yīng)用。PCB鉆削用的微鉆是一種易耗品，據(jù)相關(guān)資料統(tǒng)計，2005年有7億支微鉆被消耗掉，2006年增加到8億支，近幾年其需求增長的趨勢仍將持續(xù)，PCB板用微鉆的生產(chǎn)利潤空間非常巨大。相關(guān)的統(tǒng)計數(shù)據(jù)表明，在PCB的制造過程中，鉆孔成本占整個制造成本的30% -40%。而微鉆質(zhì)量也直接關(guān)系到后續(xù)PCB板孔加工質(zhì)量的高低，因此加強對PCB微鉆的成品檢測具有非常重大的意義。據(jù)報道，微鉆成品需檢測的相關(guān)參量多達到二十幾個，檢測精度直接影響到最終微鉆成品的整體品質(zhì)，進而影響PCB板的加工質(zhì)量。目前對PCB微鉆的檢測，普遍采用的仍是人工抽檢的方法，在顯微鏡下用人工的方法進行檢測，效率低，難以保證產(chǎn)品的質(zhì)量，給PCB的孔加工帶來了隱患。

實用新型內(nèi)容本實用新型為了解決采用人工的方法檢測微鉆存在的效率低，難以保證產(chǎn)品的質(zhì)量的問題而提供的一種微鉆檢測設(shè)備。為達到上述功能，本實用新型提供的技術(shù)方案是一種微鉆檢測設(shè)備，包括底座、所述底座上設(shè)有一可移動的透明的工作臺，還包括圖像采集裝置、顯示設(shè)備、控制所述圖像采集裝置垂直運動的第一驅(qū)動電機、控制所述工作臺水平前后移動的第二驅(qū)動電機、控制所述圖像采集裝置水平左右運動的第三驅(qū)動電機以及對所述圖像采集裝置采集的圖像進行處理和對所述第一驅(qū)動電機、所述第二驅(qū)動電機、所述第三驅(qū)動電機的運動進行控制的處理器。優(yōu)選地，所述的圖像采集裝置為視覺傳感器。優(yōu)選地，所述的視覺傳感器是800像素的CMOS傳感器。本實用新型的有益效果在于本實用新型的一種微鉆檢測設(shè)備通過所述處理器控制所述第一驅(qū)動電機、所述第二驅(qū)動電機和所述第三驅(qū)動電機帶動放置有待測微鉆的所述工作臺和所述圖像采集裝置運動，從而將微鉆運送至所述圖像采集裝置的正下方，所述圖像采集裝置將采集到的微鉆的圖像發(fā)送至所述處理器，所述處理器內(nèi)的圖像檢測程序?qū)邮盏降奈@的圖像進行實時處理，并將通過顯示設(shè)備將檢測結(jié)果顯示出來，整個檢測過程效率高、檢測的準確性高。

圖I為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型作進一步闡述如圖I所示的一種微鉆檢測設(shè)備，包括底座I、底座I上設(shè)有一可移動的透明的工作臺2，還包括圖像采集裝置3、顯示設(shè)備4、控制圖像采集裝置3垂直運動的第一驅(qū)動電機 5、控制工作臺2水平前后移動的第二驅(qū)動電機6、控制圖像采集裝置3水平左右運動的第三驅(qū)動電機8以及對圖像采集裝置3采集的圖像進行處理和對第一驅(qū)動電機5、第二驅(qū)動電機
6、第三驅(qū)動電機8的運動進行控制的處理器7。為提高檢測的精度在本實施例中，圖像采集裝置3采用800像素的CMOS傳感器，并配備了雙側(cè)遠心鏡頭。處理器7內(nèi)貯存有圖像檢測程序和第一驅(qū)動電機5、第二驅(qū)動電機6、第三驅(qū)動電機8的運動控制程序。當(dāng)要進行檢測時，只需把待檢測的微鉆放置于工作臺2上，處理器7便會控制第一驅(qū)動電機5、第二驅(qū)動電機6和第三驅(qū)動電機8運動，第一驅(qū)動電機5會帶動圖像采集裝置3垂直升降到合適的高度，第二驅(qū)動電機6會帶動放置有待測微鉆的工作臺2水平前后運動到合適位置，第三驅(qū)動電機8帶動圖像采集裝置3水平左右移動到待測微鉆的正上方；圖像采集裝置3將采集微鉆的圖像并將采集到的微鉆的圖像發(fā)送至處理器7，處理器7內(nèi)的圖像檢測程序?qū)邮盏降奈@的圖像進行實時處理，并將通過顯示設(shè)備4將檢測結(jié)果顯示出來。綜上所述，本實用新型的一種微鉆檢測設(shè)備，可以簡單快捷地對微鉆進行自動檢測，且整個檢測過程效率高、檢測的準確性高。以上所述實施例，只是本實用新型的較佳實例，并非來限制本實用新型的實施范圍，故凡依本實用新型申請專利范圍所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均應(yīng)包括于本實用新型專利申請范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種微鉆檢測設(shè)備，包括底座(I)、所述底座(I)上設(shè)有一可移動的透明的工作臺(2)，其特征在于還包括圖像采集裝置(3)、顯示設(shè)備(4)、控制所述圖像采集裝置(3)垂直運動的第一驅(qū)動電機(5)、控制所述工作臺(2)水平前后移動的第二驅(qū)動電機￠)、控制所述圖像采集裝置(3)水平左右運動的第三驅(qū)動電機(8)以及對所述圖像采集裝置(3)采集的圖像進行處理和對所述第一驅(qū)動電機(5)、所述第二驅(qū)動電機￠)、所述第三驅(qū)動電機(8)的運動進行控制的處理器(7)。
2.如權(quán)利要求I所述的一種微鉆檢測設(shè)備，其特征在于所述的圖像采集裝置(3)為視覺傳感器。
3.如權(quán)利要求2所述的一種微鉆檢測設(shè)備，其特征在于所述的視覺傳感器是800像素的CMOS傳感器。
專利摘要本實用新型涉及鉆頭檢測領(lǐng)域，特別是一種微鉆檢測設(shè)備，包括底座、可移動的透明的工作臺，圖像采集裝置、顯示設(shè)備、控制所述圖像采集裝置垂直運動的第一驅(qū)動電機、控制所述工作臺水平移動的第二驅(qū)動電機和第三驅(qū)動電機以及對所述圖像采集裝置采集的圖像進行處理和對驅(qū)動電機的運動進行控制的處理器；通過處理器控制第一驅(qū)動電機、第二驅(qū)動電機和第三驅(qū)動電機將微鉆運送至圖像采集裝置的正下方，圖像采集裝置將采集到的微鉆的圖像發(fā)送至處理器，處理器內(nèi)的圖像檢測程序?qū)邮盏降奈@的圖像進行實時處理，并將通過顯示設(shè)備將檢測結(jié)果顯示出來，整個檢測過程效率高、檢測的準確性高。
文檔編號G01N21/00GK202757873SQ201220328538
公開日2013年2月27日 申請日期2012年6月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月28日
發(fā)明者丁度坤, 李龍根, 張燕琴 申請人:丁度坤