專利名稱：一種用于孔系位置檢測(cè)的檢具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及機(jī)械加工技術(shù)領(lǐng)域，具體地說(shuō)是一種檢測(cè)方便、檢測(cè)效率高的用于孔系位置檢測(cè)的檢具。
背景技術(shù)：
在機(jī)械加工技術(shù)領(lǐng)域，有許多產(chǎn)品是具有孔系的產(chǎn)品，該產(chǎn)品上分布有若干個(gè)孔，且孔的大小差距較大。傳統(tǒng)的檢測(cè)方法都是用高度尺和游標(biāo)卡尺來(lái)判定位置度是否合格，首先要用高度尺校準(zhǔn)大孔的高度，然后找周邊小孔的高度來(lái)測(cè)量相對(duì)位置。這樣檢測(cè)方法的測(cè)量誤差比較大，速度也慢，檢測(cè)一個(gè)零件至少要耗費(fèi)5分鐘以上，效率極低，滿足不了工業(yè)化生產(chǎn)的需求。這樣的效率不能滿足我公司的高效要求。 發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種檢測(cè)方便、檢測(cè)效率高的用于孔系位置檢測(cè)的檢具。本實(shí)用新型的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案解決的一種用于孔系位置檢測(cè)的檢具，包括底板，其特征在于所述的底板上設(shè)有豎直平行設(shè)置的基本定位銷和可調(diào)定位銷，基本定位銷和可調(diào)定位銷的下端伸入底板上的定位孔內(nèi)與底板固定相連。所述基本定位銷的外徑大于可調(diào)定位銷的外徑。所述基本定位銷的高度大于可調(diào)定位銷的高度。所述可調(diào)定位銷的數(shù)量為1-5個(gè)。所述基本定位銷和可調(diào)定位銷的下端與定位孔之間采用螺紋連接。所述基本定位銷和可調(diào)定位銷的下端與定位孔之間采用焊接相連。所述基本定位銷和可調(diào)定位銷的下端嵌置在定位孔內(nèi)。本實(shí)用新型相比現(xiàn)有技術(shù)有如下優(yōu)點(diǎn)本實(shí)用新型通過(guò)在底板上設(shè)置若干個(gè)固定基本定位銷和可調(diào)定位銷的定位孔，基本定位銷和可調(diào)定位銷的形狀按照待檢工件的孔形進(jìn)行設(shè)計(jì)，定位孔的分布也按照待檢工件的孔形分布進(jìn)行設(shè)計(jì)，使得待檢工件的孔形與基本定位銷和可調(diào)定位銷的分布一一對(duì)應(yīng)，檢測(cè)時(shí)將待檢工件罩在檢具上，如待檢工件的底面與檢具的底板上表面貼平，則說(shuō)明待檢工件的孔系位置度合格；具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便的特點(diǎn)，適宜推廣使用。

附圖I是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；附圖2是附圖I的俯視圖。其中1 一底板；2—定位孔；3—基本定位銷；4一可調(diào)定位銷。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖與實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說(shuō)明。如圖1-2所示一種用于孔系位置檢測(cè)的檢具，包括底板1，在底板I上設(shè)有豎直平行設(shè)置的基本定位銷3和可調(diào)定位銷4，基本定位銷3的高度和外徑大于可調(diào)定位銷4的高度和外徑，且可調(diào)定位銷4的數(shù)量可設(shè)定在1-5個(gè)；基本定位銷3和可調(diào)定位銷4的下端伸入底板I上的定位孔2內(nèi)與底板I固定相連，基本定位銷3和可調(diào)定位銷4的下端與定位孔2之間采用螺紋連接或者焊接相連，亦可直接將基本定位銷3和可調(diào)定位銷4的下端嵌置在定位孔2內(nèi)即可。 本實(shí)用新型在使用時(shí)，首先把該底板I平放于檢驗(yàn)臺(tái)上面，保持底板I的表面清潔、平滑，接著根據(jù)待檢工件孔的數(shù)量選擇基本定位銷3和可調(diào)定位銷4。如附圖I和附圖2所示，本實(shí)施例中選用一個(gè)基本定位銷3和三個(gè)可調(diào)定位銷4，然后將基本定位銷3和可調(diào)定位銷4固定在底板I上的定位孔2中。將待檢工件放于該檢具上，首先保證待檢工件的大孔與該檢具的基本定位銷3相配合，使待檢工件沿著基本定位銷3的導(dǎo)向向下滑動(dòng)，接著將待檢工件的小孔對(duì)準(zhǔn)檢具上面的三個(gè)可調(diào)定位銷4，檢測(cè)是否能放進(jìn)。如果能放進(jìn)，一直讓待檢工件的底面與檢具的底板I上表面貼平，則說(shuō)明待檢工件的孔系位置度合格；如果放不進(jìn)，或者放進(jìn)但是不能讓待檢工件的底面與檢具的底板I上底面貼平，則說(shuō)明待檢工件的孔系位置度不合格。本實(shí)用新型通過(guò)在底板I上設(shè)置若干個(gè)固定基本定位銷3和可調(diào)定位銷4的定位孔2，基本定位銷3和可調(diào)定位銷4的形狀按照待檢工件的孔形進(jìn)行設(shè)計(jì)，定位孔2的分布也按照待檢工件的孔形分布進(jìn)行設(shè)計(jì)，使得待檢工件的孔形與基本定位銷3和可調(diào)定位銷4的分布一一對(duì)應(yīng)，檢測(cè)時(shí)將待檢工件罩在檢具上，如待檢工件的底面與檢具的底板I上表面貼平，則說(shuō)明待檢工件的孔系位置度合格；該檢具具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便的特點(diǎn)，適宜推廣使用。本實(shí)用新型未涉及的技術(shù)均可通過(guò)現(xiàn)有技術(shù)加以實(shí)現(xiàn)。
權(quán)利要求1.一種用于孔系位置檢測(cè)的檢具，包括底板(I)，其特征在于所述的底板(I)上設(shè)有豎直平行設(shè)置的基本定位銷(3)和可調(diào)定位銷(4)，基本定位銷(3)和可調(diào)定位銷(4)的下端伸入底板(I)上的定位孔(2)內(nèi)與底板(I)固定相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于孔系位置檢測(cè)的檢具，其特征在于所述基本定位銷(3)的外徑大于可調(diào)定位銷(4)的外徑。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于孔系位置檢測(cè)的檢具，其特征在于所述基本定位銷(3)的高度大于可調(diào)定位銷(4)的高度。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于孔系位置檢測(cè)的檢具，其特征在于所述可調(diào)定位銷(4)的數(shù)量為1-5個(gè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于孔系位置檢測(cè)的檢具，其特征在于所述基本定位銷(3) 和可調(diào)定位銷(4)的下端與定位孔(2)之間采用螺紋連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于孔系位置檢測(cè)的檢具，其特征在于所述基本定位銷(3)和可調(diào)定位銷(4)的下端與定位孔(2)之間采用焊接相連。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于孔系位置檢測(cè)的檢具，其特征在于所述基本定位銷(3)和可調(diào)定位銷(4)的下端嵌置在定位孔(2)內(nèi)。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于孔系位置檢測(cè)的檢具，包括底板(1)，所述的底板(1)上設(shè)有豎直平行設(shè)置的基本定位銷(3)和可調(diào)定位銷(4)，基本定位銷(3)和可調(diào)定位銷(4)的下端伸入底板(1)上的定位孔(2)內(nèi)與底板(1)固定相連。本實(shí)用新型通過(guò)在底板上設(shè)置若干個(gè)固定基本定位銷和可調(diào)定位銷的定位孔，基本定位銷和可調(diào)定位銷的形狀按照待檢工件的孔形進(jìn)行設(shè)計(jì)，定位孔的分布也按照待檢工件的孔形分布進(jìn)行設(shè)計(jì)，使得待檢工件的孔形與基本定位銷和可調(diào)定位銷的分布一一對(duì)應(yīng)，檢測(cè)時(shí)將待檢工件罩在檢具上，如待檢工件的底面與檢具的底板貼平，則說(shuō)明待檢工件的孔系位置度合格；該檢具具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便的特點(diǎn)，適宜推廣使用。
文檔編號(hào)G01B5/00GK202692878SQ201220311639
公開(kāi)日2013年1月23日 申請(qǐng)日期2012年6月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月29日
發(fā)明者黃九, 趙俊凱, 毛慧, 孫杰, 董會(huì)科, 李佳, 闕翔渝 申請(qǐng)人:鷹普機(jī)械(宜興)有限公司