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一種方位圈工裝的制作方法

文檔序號:5983386閱讀:399來源:國知局
專利名稱:一種方位圈工裝的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及用于海上的測量繪圖工具,尤其是涉及一種方位圈工裝。
背景技術(shù)
隨著自動標(biāo)繪雷達(APRA)、全球衛(wèi)星定位系統(tǒng)(GPS)、電子海圖及船舶自動識別系統(tǒng)(AIS)等先進導(dǎo)航設(shè)備在航海上的運用,航海技術(shù)已逐步由傳統(tǒng)的經(jīng)驗航海向數(shù)字航海邁進。但遠洋運輸船舶航行在一望無際的茫茫大海上,人命、財產(chǎn)安全是第一位的,因此無論導(dǎo)航設(shè)備如何先進,航海技術(shù)的數(shù)字化進程怎么樣發(fā)展,經(jīng)典 的航海技術(shù)仍然是遠洋船舶駕駛?cè)藛T必須掌握技能。其中物標(biāo)定位就是一項基本技能,物標(biāo)定位是將方位圈置于磁羅經(jīng)或電羅經(jīng)的方位分羅經(jīng)之上,觀測者利用方位圈上的目視照準架和物標(biāo)照準架,目測物標(biāo)(陸上的一些顯著固定、海圖上有注明的標(biāo)記)的方位(方位圈置于磁羅經(jīng)上即為磁方位,方位圈置于電羅經(jīng)方位分羅經(jīng)上即使真方位),從而在海圖上獲得一條船位線,然后再測得另一條方位線或直接利用雷達測得物標(biāo)與本船的距離,即可確定本船的位置。方位圈除用于觀測物標(biāo)方位外,還應(yīng)用在新船的磁羅經(jīng)和電羅經(jīng)基線確定或老船基線校驗上。在方位圈加工完成前,還需要檢測方位圈的精確度,由于人工的校準誤差較大,因此需要檢測工裝來測試。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是解決上述存在的問題,提供一種結(jié)構(gòu)簡單、使用方便,利用工裝檢測方位圈精準度的一種方位圈工裝。本實用新型的目的是以如下方式實現(xiàn)的一種方位圈工裝,具有檢具座和固定在檢具座的與方位圈相配套的檢具盤,所述檢具盤中心部位設(shè)有圓柱對光座,位于對光座頂端面貫穿直徑的凹槽,在所述檢具盤沿凹槽方向上設(shè)有半圓槽。更進一步的說,所述凹槽的間距為1mm。更進一步的說,在所述半圓槽內(nèi)具有一條刻線。本實用新型的優(yōu)點有了統(tǒng)一檢測方位圈工裝,只需將方位圈放置在檢具盤上,只需檢測方位圈投至的光線是否通過凹槽與半圓槽內(nèi)的刻線在一條線上,就能判斷方位圈是否調(diào)制好。這樣產(chǎn)生的效果不僅改變傳統(tǒng)的人工目測,而且提高了方位圈的精準度。

為了使本實用新型的內(nèi)容更容易被清楚地理解,下面根據(jù)具體實施例并結(jié)合附圖,對本實用新型作進一步詳細的說明,其中圖I是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是檢具盤的結(jié)構(gòu)示意圖;圖3為對光座的結(jié)構(gòu)示意圖;附圖標(biāo)記1、檢具座,2、檢具盤,3、對光座,4、凹槽,5、半圓槽。
具體實施方式
見圖I和圖2所示,一種方位圈工裝,具有檢具座I和固定在檢具座I的與方位圈相配套的檢具盤2,所述檢具盤2中心部位設(shè)有圓柱對光座3,位于對光座3頂端面貫穿直徑的凹槽4,在所述檢具盤2沿凹槽方向上設(shè)有半圓槽5 ;所述凹槽4的間距為Imm ;在所述半圓槽5內(nèi)具有一條刻線。其工作原理為只需檢測方位圈投至的光線是否通過凹槽4與半圓槽5內(nèi)的刻線在一條線上,就能判斷方位圈是否調(diào)制好。這樣產(chǎn)生的效果不僅改變傳統(tǒng)的人工目測,而且提高了方位圈的精準度。以上所述的具體實施例,對本實用新型的目的、技術(shù)方案和有益效果進行了進一步詳細說明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本實用新型的具體實施例而已,并不用于限制本實用新型,凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進等,均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)?!?br> 權(quán)利要求1.一種方位圈工裝,其特征在于具有檢具座(I)和固定在檢具座(I)的與方位圈相配套的檢具盤(2),所述檢具盤(2)中心部位設(shè)有圓柱對光座(3),位于對光座(3)頂端面貫穿直徑的凹槽(4),在所述檢具盤(2)沿凹槽方向上設(shè)有半圓槽(5)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種方位圈工裝,其特征在于所述凹槽(4)的間距為1mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種方位圈工裝,其特征在于在所述半圓槽(5)內(nèi)具有一條刻線。
專利摘要本實用新型公開一種方位圈工裝,具有檢具座和固定在檢具座的與方位圈相配套的檢具盤,所述檢具盤中心部位設(shè)有圓柱對光座,位于對光座頂端面貫穿直徑的凹槽,在所述檢具盤沿凹槽方向上設(shè)有半圓槽,有了統(tǒng)一檢測方位圈工裝,只需將方位圈放置在檢具盤上,只需檢測方位圈投至的光線是否通過凹槽與半圓槽內(nèi)的刻線在一條線上,就能判斷方位圈是否調(diào)制好,這樣產(chǎn)生的效果不僅改變傳統(tǒng)的人工目測,而且提高了方位圈的精準度。
文檔編號G01C25/00GK202710078SQ20122027604
公開日2013年1月30日 申請日期2012年6月12日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月12日
發(fā)明者狄丹巖, 朱亮 申請人:常州浩邁船用設(shè)備科技有限公司
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