專利名稱：一種mmc閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)及其試驗方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及過流試驗的觸發(fā)時序設(shè)備，具體涉及一種MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)及其試驗方法。
背景技術(shù)：
在大功率電力電子領(lǐng)域，電力電子設(shè)備在應(yīng)用于電力系統(tǒng)中需要進行行業(yè)指定的試驗項目，模塊化多電平方式的柔性直流輸電換流閥由功率子模塊組成，功率子模塊的型式試驗項目需要進行過流試驗，以保證子模塊在發(fā)生誤觸發(fā)過流時設(shè)備可以安全運行。功率子模塊為半橋式拓撲結(jié)構(gòu)，結(jié)構(gòu)圖如圖1所示，功率子模塊由兩個IGBT (SI和S2)、一個電容器以及子模塊控制板組成。功率子模塊的IGBT包括四種觸發(fā)組合，(I)Sl和S2都處于關(guān)斷狀態(tài)；(2) SI開通，S2關(guān)斷；(3) SI關(guān)斷，S2開通；(4) SI和S2都處于開通狀態(tài)。其中第四種狀態(tài)將使子模塊處于過流狀態(tài)，從而造成電容器短路，因此子模塊設(shè)計過程中必須保證在出現(xiàn)第(4)種狀態(tài)時，子模塊能夠自我識別出這種狀態(tài)并閉鎖SI和S2，保證子模塊不出現(xiàn)短路直通的狀態(tài)，從而保證子模塊的安全運行。

發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)及其試驗方法，該裝置使子模塊的IGBT子模塊同時觸發(fā)，以驗證子模塊是否具有識別出當前處于直通狀態(tài)并閉鎖子模塊，從而保證子模塊本身的安全性。本發(fā)明的目的是采用下述技術(shù)方案實現(xiàn)的一種MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)，其改進之處在于，所述系統(tǒng)包括上位機、試驗控制器和過流關(guān)斷試驗裝置；所述上位機通過CAN總線和試驗控制器通信，通信速率為1Mbps，用于監(jiān)視子模塊試驗狀態(tài)、設(shè)置試驗方式和試驗參數(shù)以及操作試驗過程；所述試驗控制器通過CAN總線和上位機通信，接收上位機下發(fā)的試驗方式和試驗參數(shù),根據(jù)試驗要求生成子模塊過流試驗的觸發(fā)時序脈沖；所述試驗控制器和過流關(guān)斷試驗裝置中試品閥的子模塊控制器之間采用光纖通信，每一個子模塊控制器和試驗控制器之間的通信光纖為兩根，一根為發(fā)送光纖；另一根為接收光纖，通信協(xié)議采用HDLC通信方式，協(xié)議為IEC60044-8 ；所述子模塊控制器負責(zé)根據(jù)試驗控制器發(fā)送過來的控制命令，控制子模塊中IGBT模塊的開通和關(guān)斷。其中，所述過流關(guān)斷試驗裝置包括過試品閥、負載回路、充電電源和控制器；所述試品閥、負載回路和充電電源依次連接；所述試驗控制器用于控制試品閥和負載回路。其中，所述試品閥包括串聯(lián)的第一子模塊和第二子模塊；所述第一子模塊包括IGBT模塊Tn、IGBT模塊T12、晶閘管T1和電容Csmi ;所述IGBT模塊T11和所述IGBT模塊T12串聯(lián)后與所述電容Csmi并聯(lián)，所述晶閘管T1和所述IGBT模塊T12并聯(lián)；第二子模塊包括IGBT模塊T21、IGBT模塊T22、晶閘管T2和電容Csm2 ;所述IGBT模塊T21和所述IGBT模塊T22串聯(lián)后與所述電容Csm2并聯(lián)，所述晶閘管T2和所述IGBT模塊T22并聯(lián)；串聯(lián)的IGBT模塊T11和IGBT模塊T12的中間點引出端子，為第一子模塊的高壓輸出立而A11 ；串聯(lián)的IGBT模塊T21和IGBT模塊T22的中間點和所述IGBT模塊T12連接，并引出端子，為第二子模塊高壓輸出端A21 ；所述電容Csm2的正極引出端子，為第二子模塊電容高壓端A12 ；所述電容Csm2的負極引出端子，為第二子模塊低壓輸出端A22 ；所述IGBT模塊Tn、IGBT模塊T12、IGBT模塊T21和IGBT模塊T22均包括反并聯(lián)的二極管和IGBT器件。其中，所述負載回路包括切換開關(guān)Kn、切換開關(guān)Kt2、負載支路I和負載支路II ；所述負載支路I與負載支路II并聯(lián)后兩端引出端子，分別為B1和B2 ;端子B1和B2分別接切換開關(guān)Kn和切換開關(guān)Kt2 ;所述切換開關(guān)Kn選擇第一子模塊的高壓輸出端A11或第二子模塊電容高壓端A21 ;所述切換開關(guān)Kt2選擇第二子模塊高壓輸出端A12或第二子模塊低壓輸出端A22。其中，所述負載支路I包括串聯(lián)的開關(guān)K1和負載電抗器L1 ；所述負載支路II包括串聯(lián)的開關(guān)K2和負載電抗器L2。其中，所述充電電源與負載支路I并聯(lián)，其正極與切換開關(guān)Kn連接，負極接地后與所述第二子模塊低壓輸出端A22連接。本發(fā)明基于另一目的提供的一種MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)的試驗方法，其改進之處在于，所述方法包括下述步驟(I)根據(jù)選擇的試驗方式選擇試驗裝置的接線方式，裝置接線完畢后，上位機設(shè)置對應(yīng)的試驗方式和試驗參數(shù)；(2)將試品閥和負載回路分別與充電電源連接，為試品閥充電；(3)試驗控制器進入試驗脈沖發(fā)生階段，根據(jù)設(shè)定的試驗方式和接線方式產(chǎn)生觸發(fā)脈沖；(4)閉合試品閥放電開關(guān)，使試品閥中的電容放電，試驗結(jié)束。其中，所述步驟(2)中，將試品閥和負載回路分別與充電電源連接，為試品閥充電包括將切換開關(guān)Kn與試品閥第一子模塊的高壓輸出端連接，切換開關(guān)Kt2與試品閥第二子模塊的低壓輸出端連接，投入充電回路，給試品閥的第一子模塊和第二子模塊充電，直至試驗要求電壓后斷開所述切換開關(guān)Kn和所述切換開關(guān)KT2。其中，所述步驟(3)中，試驗方式和接線方式選擇試品閥為試驗對象，并將負載回路的切換開關(guān)對應(yīng)改動，試驗方式和接線方式包括①若試驗對象為所述試品閥的第一子模塊上管IGBT模塊T11,切換開關(guān)Kn使端子B1與試品閥第一子模塊的電容高壓端A11連接，切換開關(guān)Kt2使端子B2與試品閥第二子模塊的高壓輸出端A21連接；觸發(fā)脈沖對第二子模塊上管IGBT模塊T11觸發(fā)；②若試驗對象為所述試品閥的第二子模塊下管IGBT模塊T22,切換開關(guān)Kn使端子B1與試品閥第二子模塊高壓輸出端A12連接，切換開關(guān)Kt2使端子B2與試品閥第二子模塊低壓輸出端A21連接；觸發(fā)脈沖對第二子模塊下管IGBT模塊T22觸發(fā)；③若試驗對象為所述試品閥的第一個子模塊下管IGBT模塊T12和第二子模塊上管IGBT模塊T21,切換開關(guān)Kn使端子B1與試品閥第一子模塊的高壓輸出端A11連接，切換開關(guān)Kt2使端子B2與試品閥第二子模塊低壓輸出端A22連接；觸發(fā)脈沖對第一個子模塊下管IGBT模塊T12和第二子模塊上管IGBT模塊T21觸發(fā)。其中，所述步驟(3)中，所述試驗控制器根據(jù)步驟(2)中的試驗方式和接線方式產(chǎn)生所需的觸發(fā)脈沖；生成的觸發(fā)脈沖根據(jù)下述脈沖寬度設(shè)定<1>試驗對象為單個IGBT模塊，進行單波次試驗時，觸發(fā)脈沖為單個脈沖，其脈沖寬度為IOms ；<2>試驗對象為單個IGBT模塊，進行多波次試驗時，觸發(fā)脈沖為多個脈沖，其脈沖寬度為Ims,脈沖間隔時間為IOms ；<3>試驗對象為兩個IGBT模塊，進行單波次試驗或多波次試驗時，觸發(fā)脈沖為多個脈沖，其脈沖寬度為10ms，脈沖間隔時間為2(Tl00ms。與現(xiàn)有技術(shù)比，本發(fā)明達到的有益效果是1、本發(fā)明設(shè)計的觸發(fā)時序系統(tǒng)通過分層設(shè)計了試驗控制器，實現(xiàn)了過流試驗裝置所要求的試驗脈沖產(chǎn)生。為MMC換流閥的子模塊提供了可靠的過流型式試驗手段。2、通過試驗控制器負責(zé)完成試驗脈沖的產(chǎn)生，本觸發(fā)時序系統(tǒng)通過試驗電路的不同連接方式可以滿足對子模塊多種試驗?？刂破骺捎行У倪x擇不同的試驗方式，分別對子模塊的上管IGBT和下管IGBT進行試驗，并可以對多個模塊的進行過流試驗。3、通過設(shè)置試驗參數(shù)和波形方式，試驗裝置可以產(chǎn)生不同寬度和不同波次的觸發(fā)脈沖，有效的檢驗子模塊在復(fù)雜運行工況下子模塊設(shè)計的安全性能。


圖1是MMC閥的子模塊結(jié)構(gòu)圖；圖2是本發(fā)明提供的MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；A11端為第一子模塊高壓輸出端；A21端為第二子模塊高壓輸出端；A12端為第二子模塊電容高壓端；A22端為第二子模塊低壓輸出端；CSM1、Csmi分別為第一子模塊和第二子模塊的電容J1和T2分別為第一子模塊和第二子模塊的晶閘管；Tn、T12為第一子模塊的IGBT模塊、T21、T22為第二子模塊的IGBT模塊；KT1、KT2為切換開關(guān)分別為負載支路I和負載支路II的開關(guān)；U、L2分別為負載支路I和負載支路II的負載電抗器；E為充電電源；圖3是本發(fā)明提供的單波次試驗方式IGBT的觸發(fā)脈沖圖；圖4是本發(fā)明提供的多波次試驗方式脈沖圖；圖5是本發(fā)明提供的多摸塊試驗方式脈沖圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式
作進一步的詳細說明。本發(fā)明提供的一種MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖如圖2所示，MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)由上位機、試驗控制器以及過流關(guān)斷試驗裝置中試品閥的子模塊控制器組成；所述上位機通過CAN總線和試驗控制器通信，通信速率為1Mbps，用于監(jiān)視子模塊試驗狀態(tài)、設(shè)置試驗方式和試驗參數(shù)以及操作試驗過程；所述試驗控制器通過CAN總線和上位機通信，接收上位機下發(fā)的試驗方式和試驗參數(shù),根據(jù)試驗要求生成子模塊過流試驗的觸發(fā)時序脈沖；所述試驗控制器和過流關(guān)斷試驗裝置中試品閥的子模塊控制器之間采用光纖通信，每一個子模塊控制器和試驗控制器之間的通信光纖為兩根，一根為發(fā)送光纖；另一根為接收光纖，通信協(xié)議采用HDLC通信方式，協(xié)議為IEC60044-8 ；所述子模塊控制器負責(zé)根據(jù)試驗控制器發(fā)送過來的控制命令，控制子模塊中IGBT模塊的開通和關(guān)斷。過流關(guān)斷試驗裝置包括過試品閥、負載回路、充電電源和控制器；所述試品閥、負載回路和充電電源依次連接；所述試驗控制器用于控制試品閥和負載回路。試品閥包括串聯(lián)的第一子模塊和第二子模塊；所述第一子模塊包括IGBT模塊Tn、IGBT模塊T12、晶閘管T1和電容Csmi ;所述IGBT模塊T11和所述IGBT模塊T12串聯(lián)后與所述電容Csmi并聯(lián)，所述晶閘管T1和所述IGBT模塊T12并聯(lián)；第二子模塊包括IGBT模塊T21、IGBT模塊T22、晶閘管T2和電容Csm2 ;所述IGBT模塊T21和所述IGBT模塊T22串聯(lián)后與所述電容Csm2并聯(lián)，所述晶閘管T2和所述IGBT模塊T22并聯(lián)；串聯(lián)的IGBT模塊T11和IGBT模塊T12的中間點引出端子，為第一子模塊的高壓輸出端A11 ;串聯(lián)的IGBT模塊T21和IGBT模塊T22的中間點和所述IGBT模塊T12連接，并引出端子，為第二子模塊高壓輸出端A21 ；所述電容Csm2的正極引出端子，為第二子模塊電容高壓端A12 ；所述電容Csm2的負極引出端子，為第二子模塊低壓輸出端A22 ；所述IGBT模塊Tn、IGBT模塊T12、IGBT模塊T21和IGBT模塊T22均包括反并聯(lián)的二極管和IGBT器件。負載回路包括切換開關(guān)Kn、切換開關(guān)Kt2、負載支路I和負載支路II ;負載支路I與負載支路II并聯(lián)后兩端引出端子，分別為B1和B2 ;端子B1和B2分別接切換開關(guān)Kn和切換開關(guān)Kt2 ;所述切換開關(guān)Kti選擇第一子模塊的高壓輸出端A11或第二子模塊電容高壓端A21 ；所述切換開關(guān)Kt2選擇第二子模塊高壓輸出端A12或第二子模塊低壓輸出端A22。負載支路I包括串聯(lián)的開關(guān)K1和負載電抗器L1 ;負載支路II包括串聯(lián)的開關(guān)K2和負載電抗器L2。本發(fā)明還提供了 MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)的試驗方法，包括下述步驟(I)根據(jù)選擇的試驗方式選擇試驗裝置的接線方式，裝置接線完畢后，上位機設(shè)置對應(yīng)的試驗方式和試驗參數(shù)。( 2 )將試品閥和負載回路分別與充電電源連接，為試品閥充電；將試品閥和負載回路分別與充電電源連接，為試品閥充電包括將切換開關(guān)Kn與試品閥第一子模塊的高壓輸出端連接，切換開關(guān)Kt2與試品閥第二子模塊的低壓輸出端連接，投入充電回路，給試品閥的第一子模塊和第二子模塊充電，直至試驗要求電壓后斷開所述切換開關(guān)Kn和所述切換開關(guān)Kt2。(3)試驗控制器進入試驗脈沖發(fā)生階段，根據(jù)設(shè)定的試驗方式和接線方式產(chǎn)生觸發(fā)脈沖；試驗方式和接線方式選擇試品閥為試驗對象，并將負載回路的切換開關(guān)對應(yīng)改動，試驗方式和接線方式包括①若試驗對象為所述試品閥的第一子模塊上管IGBT模塊T11,切換開關(guān)Kn使端子B1與試品閥第一子模塊的電容高壓端A11連接，切換開關(guān)Kt2使端子B2與試品閥第二子模塊的高壓輸出端A21連接；觸發(fā)脈沖對第二子模塊上管IGBT模塊T11觸發(fā)；②若試驗對象為所述試品閥的第二子模塊下管IGBT模塊T22,切換開關(guān)Kn使端子B1與試品閥第二子模塊高壓輸出端A12連接，切換開關(guān)Kt2使端子B2與試品閥第二子模塊低壓輸出端A21連接；觸發(fā)脈沖對第二子模塊下管IGBT模塊T22觸發(fā)；③若試驗對象為所述試品閥的第一個子模塊下管IGBT模塊T12和第二子模塊上管IGBT模塊T21,切換開關(guān)Kn使端子B1與試品閥第一子模塊的高壓輸出端A11連接，切換開關(guān)Kt2使端子B2與試品閥第二子模塊低壓輸出端A22連接；觸發(fā)脈沖對第一個子模塊下管IGBT模塊T12和第二子模塊上管IGBT模塊T21觸發(fā)。試驗控制器根據(jù)步驟(2)中的試驗方式和接線方式產(chǎn)生所需的觸發(fā)脈沖；生成的觸發(fā)脈沖根據(jù)下述脈沖寬度設(shè)定<1>試驗對象為單個IGBT模塊，進行單波次試驗時，觸發(fā)脈沖為單個脈沖，其脈沖寬度為IOms ;如圖3所示，為單波次試驗方式IGBT的觸發(fā)脈沖圖，其橫軸為時間(t)，縱軸為開關(guān)量的幅值，即0和I。<2>試驗對象為單個IGBT模塊，進行多波次試驗時，觸發(fā)脈沖為多個脈沖，其脈沖寬度為lms，脈沖間隔時間為f IOms ;如圖4所示，為多波次試驗方式脈沖圖，其橫軸為時間(t)，縱軸為開關(guān)量的幅值，即0和I。<3>試驗對象為兩個IGBT模塊，進行單波次試驗或多波次試驗時，觸發(fā)脈沖為多個脈沖，其脈沖寬度為10ms，脈沖間隔時間為2(Tl00ms。如圖5所示，為多摸塊試驗方式脈沖圖，其橫軸為時間(t)，縱軸為開關(guān)量的幅值，即0和I。(4)閉合試品閥放電開關(guān)，使試品閥中的電容放電，試驗結(jié)束。本發(fā)明設(shè)計的試驗電路用于子模塊過流試驗的試驗觸發(fā)機制，用于對子模塊的相關(guān)指標進行測試，可以選擇的單模塊方式、雙模塊(多模塊)方式進行試驗，同時可以選擇單脈沖和多脈沖觸發(fā)模式。最后應(yīng)當說明的是以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非對其限制，盡管參照上述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明，所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當理解依然可以對本發(fā)明的具體實施方式
進行修改或者等同替換，而未脫離本發(fā)明精神和范圍的任何修改或者等同替換，其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當中。
權(quán)利要求
1.一種MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括上位機、試驗控制器和過流關(guān)斷試驗裝置； 所述上位機通過CAN總線和試驗控制器通信，通信速率為1Mbps，用于監(jiān)視子模塊試驗狀態(tài)、設(shè)置試驗方式和試驗參數(shù)以及操作試驗過程； 所述試驗控制器通過CAN總線和上位機通信，接收上位機下發(fā)的試驗方式和試驗參數(shù),根據(jù)試驗要求生成子模塊過流試驗的觸發(fā)時序脈沖； 所述試驗控制器和過流關(guān)斷試驗裝置中試品閥的子模塊控制器之間采用光纖通信，每一個子模塊控制器和試驗控制器之間的通信光纖為兩根，一根為發(fā)送光纖；另一根為接收光纖，通信協(xié)議采用HDLC通信方式，協(xié)議為IEC60044-8 ； 所述子模塊控制器負責(zé)根據(jù)試驗控制器發(fā)送過來的控制命令，控制子模塊中IGBT模塊的開通和關(guān)斷。
2.如權(quán)利要求1所述的觸發(fā)時序系統(tǒng)，其特征在于，所述過流關(guān)斷試驗裝置包括過試品閥、負載回路、充電電源和控制器；所述試品閥、負載回路和充電電源依次連接；所述試驗控制器用于控制試品閥和負載回路。
3.如權(quán)利要求1所述的觸發(fā)時序系統(tǒng)，其特征在于，所述試品閥包括串聯(lián)的第一子模塊和第二子模塊； 所述第一子模塊包括IGBT模塊Tn、IGBT模塊T12、晶閘管T1和電容Csmi ;所述IGBT模塊T11和所述IGBT模塊T12串聯(lián)后與所述電容Csmi并聯(lián)，所述晶閘管T1和所述IGBT模塊T12并聯(lián)； 第二子模塊包括IGBT模塊T21、IGBT模塊T22、晶閘管T2和電容Csm2 ;所述IGBT模塊T2i和所述IGBT模塊T22串聯(lián)后與所述電容Csm2并聯(lián)，所述晶閘管T2和所述IGBT模塊T22并聯(lián)； 串聯(lián)的IGBT模塊T11和IGBT模塊T12的中間點引出端子，為第一子模塊的高壓輸出端A11 ； 串聯(lián)的IGBT模塊T21和IGBT模塊T22的中間點和所述IGBT模塊T12連接，并引出端子，為第二子模塊高壓輸出端A21; 所述電容Csm2的正極引出端子，為第二子模塊電容高壓端A12 ； 所述電容Csm2的負極引出端子，為第二子模塊低壓輸出端A22 ； 所述IGBT模塊Tn、IGBT模塊T12、IGBT模塊T21和IGBT模塊T22均包括反并聯(lián)的二極管和IGBT器件。
4.如權(quán)利要求2所述的觸發(fā)時序系統(tǒng)，其特征在于，所述負載回路包括切換開關(guān)Kn、切換開關(guān)Kt2、負載支路I和負載支路II ； 所述負載支路I與負載支路II并聯(lián)后兩端引出端子，分別為B1和B2 ;端子B1和B2分別接切換開關(guān)Kn和切換開關(guān)Kt2 ;所述切換開關(guān)Kn選擇第一子模塊的高壓輸出端A11或第二子模塊電容高壓端A21 ;所述切換開關(guān)Kt2選擇第二子模塊高壓輸出端A12或第二子模塊低壓輸出端A22。
5.如權(quán)利要求4所述的觸發(fā)時序系統(tǒng)，其特征在于，所述負載支路I包括串聯(lián)的開關(guān)!^和負載電抗器L1 ； 所述負載支路II包括串聯(lián)的開關(guān)K2和負載電抗器L2。
6.如權(quán)利要求2所述的觸發(fā)時序系統(tǒng)，其特征在于，所述充電電源與負載支路I并聯(lián)，其正極與切換開關(guān)Kn連接，負極接地后與所述第二子模塊低壓輸出端A22連接。
7.—種MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)的試驗方法，其特征在于，所述方法包括下述步驟 (1)根據(jù)選擇的試驗方式選擇試驗裝置的接線方式，裝置接線完畢后，上位機設(shè)置對應(yīng)的試驗方式和試驗參數(shù)； (2)將試品閥和負載回路分別與充電電源連接，為試品閥充電； (3)試驗控制器進入試驗脈沖發(fā)生階段，根據(jù)設(shè)定的試驗方式和接線方式產(chǎn)生觸發(fā)脈沖； (4)閉合試品閥放電開關(guān)，使試品閥中的電容放電，試驗結(jié)束。
8.如權(quán)利要求7所述的試驗方法，其特征在于，所述步驟(2)中，將試品閥和負載回路分別與充電電源連接，為試品閥充電包括將切換開關(guān)Kn與試品閥第一子模塊的聞壓輸出端連接，切換開關(guān)Kt2與試品閥第二子模塊的低壓輸出端連接，投入充電回路，給試品閥的第一子模塊和第二子模塊充電，直至試驗要求電壓后斷開所述切換開關(guān)Kn和所述切換開 Kj2。
9.如權(quán)利要求7所述的試驗方法，其特征在于，所述步驟(3)中，試驗方式和接線方式選擇試品閥為試驗對象，并將負載回路的切換開關(guān)對應(yīng)改動，試驗方式和接線方式包括 ①若試驗對象為所述試品閥的第一子模塊上管IGBT模塊T11,切換開關(guān)Kn使端子B1與試品閥第一子模塊的電容高壓端A11連接，切換開關(guān)Kt2使端子B2與試品閥第二子模塊的高壓輸出端A21連接；觸發(fā)脈沖對第二子模塊上管IGBT模塊T11觸發(fā)； ②若試驗對象為所述試品閥的第二子模塊下管IGBT模塊T22,切換開關(guān)Kn使端子B1與試品閥第二子模塊高壓輸出端A12連接，切換開關(guān)Kt2使端子B2與試品閥第二子模塊低壓輸出端A21連接；觸發(fā)脈沖對第二子模塊下管IGBT模塊T22觸發(fā)； ③若試驗對象為所述試品閥的第一個子模塊下管IGBT模塊T12和第二子模塊上管IGBT模塊T21，切換開關(guān)Kn使端子B1與試品閥第一子模塊的高壓輸出端A11連接，切換開關(guān)Kt2使端子B2與試品閥第二子模塊低壓輸出端A22連接；觸發(fā)脈沖對第一個子模塊下管IGBT模塊T12和第二子模塊上管IGBT模塊T21觸發(fā)。
10.如權(quán)利要求7所述的試驗方法，其特征在于，所述步驟(3)中，所述試驗控制器根據(jù)步驟(2)中的試驗方式和接線方式產(chǎn)生所需的觸發(fā)脈沖；生成的觸發(fā)脈沖根據(jù)下述脈沖寬度設(shè)定 <1>試驗對象為單個IGBT模塊，進行單波次試驗時，觸發(fā)脈沖為單個脈沖，其脈沖寬度為 IOms ； <2>試驗對象為單個IGBT模塊，進行多波次試驗時，觸發(fā)脈沖為多個脈沖，其脈沖寬度為Ims,脈沖間隔時間為IOms ； <3>試驗對象為兩個IGBT模塊，進行單波次試驗或多波次試驗時，觸發(fā)脈沖為多個脈沖，其脈沖寬度為10ms，脈沖間隔時間為2(Tl00ms。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種MMC閥過流關(guān)斷試驗的觸發(fā)時序系統(tǒng)及其試驗方法，系統(tǒng)包括上位機、試驗控制器和過流關(guān)斷試驗裝置；上位機通過CAN總線和試驗控制器通信，用于監(jiān)視子模塊試驗狀態(tài)、設(shè)置試驗方式和試驗參數(shù)以及操作試驗過程；試驗控制器通過CAN總線和上位機通信，并生成子模塊過流試驗的觸發(fā)時序脈沖；試驗控制器和試品閥的子模塊控制器之間采用光纖通信，每一個子模塊控制器和試驗控制器之間的通信光纖為兩根，通信協(xié)議采用HDLC通信方式；子模塊控制器負責(zé)根據(jù)試驗控制器發(fā)送過來的控制命令，控制子模塊中IGBT的開通和關(guān)斷。本發(fā)明使子模塊的IGBT子模塊同時觸發(fā)，以驗證子模塊是否具有識別出當前處于直通狀態(tài)并閉鎖子模塊，從而保證子模塊本身的安全性。
文檔編號G01R31/14GK103063888SQ20121054152
公開日2013年4月24日 申請日期2012年12月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月13日
發(fā)明者謝敏華, 楊岳峰, 高陽, 王韌秋, 姜喜瑞, 何維國, 包海龍 申請人:國網(wǎng)智能電網(wǎng)研究院, 中電普瑞電力工程有限公司, 上海市電力公司, 國家電網(wǎng)公司