專利名稱：精密軸承精度測量臺架的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種精密軸承精度測量臺架，屬于測量技術領域。
背景技術：
目前，軸承行業(yè)通用的軸承精度檢查儀B013，在檢查球軸承Kea，Sea時，接觸角度小于25° P5級以下的軸承時，測量數(shù)據(jù)相當可靠。但用該儀器檢查P4級以上軸承精度， 尤其是檢查大于25。的P4、P2級精度精密軸承時，其測量數(shù)據(jù)達不到P2級標準要求，不能滿足高精度的測量要求。發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于克服上述不足之處，從而提供一種精密軸承精度測量臺架，能夠精密測量P4、P2級軸承的精度，使用方便快捷，測量精度高。
按照本發(fā)明提供的技術方案，精密軸承精度測量臺架包括工作臺、基座、第四螺栓、第一夾持塊、第二夾持塊、第三夾持塊、第一定位塊、第二定位塊、第三定位塊、第一螺栓、第二螺栓和第三螺栓，工作臺上通過第四螺栓緊固基座，其特征是基座上端面沿徑向設有第一 T型槽、第二 T型槽和第三T型槽，第一 T型槽中滑動安裝第一夾持塊，第一夾持塊上端通過第一螺栓緊固第一定位塊，第一定位塊內側設有L形的第一定位槽。所述第二 T型槽中滑動安裝第二夾持塊，第二夾持塊上端通過第二螺栓緊固第二定位塊，第二定位塊內側設有L形的第二定位槽。所述第三T型槽中滑動安裝第三夾持塊，第三夾持塊上端通過第三螺栓緊固第三定位塊，第三定位塊內側設有L形的第三定位槽。
所述第一 T型槽、第二 T型槽和第三T型槽以基座圓心為中心均勻分布。
所述第一夾持塊、第二夾持塊、第三夾持塊的高度相等。
所述第一定位塊下平面和第一定位槽槽面、第二定位塊下平面和第二定位槽槽面、第三定位塊下平面和第三定位槽槽面之間的高度差相等。
所述基座平面度和平行差要求小于2um。
本發(fā)明與已有技術相比具有以下優(yōu)點本發(fā)明結構簡單、緊湊，合理；能夠精密測量P4、P2級軸承的精度，使用方便快捷；測量準確。


圖I為本發(fā)明主視圖。
圖2為本發(fā)明俯視圖。
附圖標記說明1_工作臺、2-基座、3-第四螺栓、4-第一夾持塊、5-第二夾持塊、6-第三夾持塊、7-第一定位塊、8-第二定位塊、9-第三定位塊、10-第一螺栓、11-第二螺栓、12-第三螺栓、13-第一 T型槽、14-第二 T型槽、15-第三T型槽。
具體實施方式
下面本發(fā)明將結合附圖中的實施例作進一步描述如圖f 2所示，本發(fā)明主要包括工作臺I、基座2、第四螺栓3、第一夾持塊4、第二夾持塊5、第三夾持塊6、第一定位塊7、第二定位塊8、第三定位塊9、第一螺栓10、第二螺栓11 和第二螺檢12。
工作臺I上通過第四螺栓3緊固基座2，基座2上端面沿徑向設有第一 T型槽13、 第二 T型槽14和第三T型槽15。
所述第一 T型槽13中滑動安裝第一夾持塊4，第一夾持塊4上端通過第一螺栓10 緊固第一定位塊7。第一定位塊7內側設有L形的第一定位槽。
所述第二 T型槽14中滑動安裝第二夾持塊5，第二夾持塊5上端通過第二螺栓11 緊固第二定位塊8。第二定位塊8內側設有L形的第二定位槽。
所述第三T型槽15中滑動安裝第三夾持塊6，第三夾持塊6上端通過第三螺栓12 緊固第三定位塊9。第三定位塊9內側設有L形的第三定位槽。
所述第一 T型槽13、第二 T型槽14和第三T型槽15以基座2圓心為中心均勻分布。
所述第一夾持塊4、第二夾持塊5、第三夾持塊6的高度相等。
所述第一定位塊7下平面和第一定位槽槽面、第二定位塊8下平面和第二定位槽槽面、第三定位塊9下平面和第三定位槽槽面之間的高度差相等。
所述基座2平面度和平行差要求小于2um。
本發(fā)明的工作原理是先調整工作臺I、基座2的水平，然后調整第一夾持塊4、第二夾持塊5、第三夾持塊6在第一 T型槽13、第二 T型槽14和第三T型槽15內的位置，根據(jù)軸承外徑的大小調節(jié)第一定位塊7、第二定位塊8、第三定位塊9到合適的位置并固緊。最后進行準確測量。本發(fā)明結構簡單、緊湊，合理；能夠精密測量P4、P2級軸承的精度，使用方便快捷；測量準確。
權利要求
1.ー種精密軸承精度測量臺架，包括工作臺(I)、基座(2)、第四螺栓(3)、第一夾持塊(4)、第二夾持塊(5)、第三夾持塊出)、第一定位塊(7)、第二定位塊(8)、第三定位塊(9)、第一螺栓(10)、第二螺栓(11)和第三螺栓(12)，工作臺(I)上通過第四螺栓(3)緊固基座(2)，其特征是基座(2)上端面沿徑向設有第一 T型槽(13)、第二 T型槽(14)和第三T型槽(15)，第一 T型槽(13)中滑動安裝第一夾持塊(4)，第一夾持塊(4)上端通過第一螺栓(10)緊固第一定位塊(7)，第一定位塊(7)內側設有L形的第一定位槽；所述第二 T型槽(14)中滑動安裝第二夾持塊(5)，第二夾持塊(5)上端通過第二螺栓(11)緊固第二定位塊(8)，第ニ定位塊(8)內側設有L形的第二定位槽；所述第三T型槽(15)中滑動安裝第三夾持塊(6)，第三夾持塊(6)上端通過第三螺栓(12)緊固第三定位塊(9)，第三定位塊(9)內側設有L形的第三定位槽。
2.如權利要求I所述的精密軸承精度測量臺架，其特征是所述第一T型槽(13)、第二T型槽(14)和第三T型槽(15)以基座(2)圓心為中心均勻分布。
3.如權利要求I所述的精密軸承精度測量臺架，其特征是所述第一夾持塊(4)、第二夾持塊(5)、第三夾持塊(6)的高度相等。
4.如權利要求I所述的精密軸承精度測量臺架，其特征是所述第一定位塊(7)下平面和第一定位槽槽面、第二定位塊(8)下平面和第二定位槽槽面、第三定位塊(9)下平面和第三定位槽槽面之間的高度差相等。
5.如權利要求I所述的精密軸承精度測量臺架，其特征是所述基座(2)平面度和平行差要求小于2um。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種精密軸承精度測量臺架，屬于測量技術領域。其包括工作臺、基座、第四螺栓、第一夾持塊、第二夾持塊、第三夾持塊、第一定位塊、第二定位塊、第三定位塊、第一螺栓、第二螺栓和第三螺栓，基座上端面沿徑向設有第一T型槽、第二T型槽和第三T型槽，第一T型槽中滑動安裝第一夾持塊，第一夾持塊上端通過第一螺栓緊固第一定位塊。第二T型槽中滑動安裝第二夾持塊，第二夾持塊上端通過第二螺栓緊固第二定位塊。第三T型槽中滑動安裝第三夾持塊，第三夾持塊上端通過第三螺栓緊固第三定位塊。本發(fā)明能夠精密測量P4、P2級軸承的精度，測量準確。
文檔編號G01M13/04GK102980769SQ20121050858
公開日2013年3月20日 申請日期2012年12月3日 優(yōu)先權日2012年12月3日
發(fā)明者譚義銀 申請人:無錫市第二軸承有限公司