專利名稱：Smc1密封面平面度檢驗工裝的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種平面度檢驗エ裝，尤其涉及ー種SMCl密封面平面度檢驗エ裝。
背景技術(shù)：
SMCl高壓負(fù)荷開關(guān)為SF6充氣柜，而SF6氣體主要充放在氣包中，故氣包內(nèi)SF6氣體的泄漏量直接影響著開關(guān)的性能和使用壽命，造成設(shè)備的絕緣水平下降，引起環(huán)境污染，危害身體健康。因此，在出廠前要對每件氣包中SF6氣體年漏氣率檢驗。經(jīng)檢驗發(fā)現(xiàn)，同批次生產(chǎn)出的氣包多數(shù)未能達(dá)到年漏氣率低于5%的要求。針對該問題，申請人經(jīng)多方研究得出氣包殼體上安裝密封槽的平面度不達(dá)到精度 要求是導(dǎo)致SF6泄漏率過高的主要原因。目前，還沒有ー種專門的能夠檢測氣包殼體密封槽平面度的檢具?，F(xiàn)有技術(shù)中的一種檢測技術(shù)是利用塞規(guī)進行測量，將負(fù)荷開關(guān)的氣包裝配完后(其中主要是氣包殼體上安裝密封圈和透明罩)，用塞規(guī)對透明罩與氣包殼體的縫隙進行檢測，并規(guī)定了ー個合格產(chǎn)品應(yīng)滿足的數(shù)據(jù)范圍值，當(dāng)檢測的數(shù)值在允許的范圍內(nèi)視為合格產(chǎn)品，超出范圍視為不合格產(chǎn)品。這種檢測技術(shù)的缺點是該測量技術(shù)在長期的使用期間出現(xiàn)了ー種現(xiàn)象，根據(jù)設(shè)計要求獲得的檢測數(shù)據(jù)范圍不能很好的用來作為塞規(guī)檢測的依據(jù)。用塞規(guī)檢測合格的產(chǎn)品，仍然會出現(xiàn)漏氣率過高。這使得檢測人員不得不一次次的提高他們認(rèn)為的合格產(chǎn)品應(yīng)滿足的精度等級。這樣ー來給氣包的生產(chǎn)廠家的加工帶來了很大的困難，生產(chǎn)成本自然也就不斷的增加，也給公司帶來了不小的經(jīng)濟損失。即便是這樣，仍然還是有部分氣包出現(xiàn)年漏氣率過高的現(xiàn)象；現(xiàn)有技術(shù)中的另ー種檢測技術(shù)是采用目前先進的檢測儀器，目前較為先進的對平面度檢測儀器有三坐標(biāo)測量機和專業(yè)平面度檢測儀等。該類儀器設(shè)備利用智能光電技術(shù)實現(xiàn)對被測面的平面度測量，具有測量精度等級高、通用性好，能夠適用于各種復(fù)雜平面的平面度、粗糙度的檢測。這種檢測技術(shù)的缺點是利用先進的平面度檢測儀器進行檢測，確實能夠很好的檢測產(chǎn)品的平面度，檢測的精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過普通檢測量具的精度等級。但是作為單純檢測ー個零部件就需要花費幾十萬購買一臺檢測儀，且僅僅運用了其中很小一部分的功能，公司沒有那么高的預(yù)算資金。另外，該類技術(shù)產(chǎn)品安裝調(diào)試難度大、對操作人員的技術(shù)要求高和維護費用高等，很不適合用于氣包密封槽的平面度測量。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種性價比高、實用、操作簡單和維護費用低的SMCl密封面平面度檢驗エ裝。本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的
本發(fā)明的SMCl密封面平面度檢驗エ裝，包括基準(zhǔn)板、定位塊和測量表；所述基準(zhǔn)板的底面上設(shè)有三個凸臺，其上表面為基準(zhǔn)面，所述基準(zhǔn)面與三個凸臺的下端面所形成的表面平行；所述基準(zhǔn)板上設(shè)有扇形槽，所述三個凸臺放入SMCl高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包殼體的密封槽中，所述扇形槽與密封槽的位置一致；所述定位塊套在百分表的套管上，并用頂絲夾緊，所述百分表的測頭穿過所述扇形槽伸入到所述密封槽中，所述定位塊的下表面與所述基準(zhǔn)面配合。由上述本發(fā)明提供的技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明提供的SMCl密封面平面度檢驗 エ裝，包括基準(zhǔn)板、定位塊和測量表；基準(zhǔn)板的底面上設(shè)有三個凸臺，其上表面為基準(zhǔn)面，基準(zhǔn)面與三個凸臺的下端面所形成的表面平行；基準(zhǔn)板上設(shè)有扇形槽，三個凸臺放入SMCl高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包殼體的密封槽中，扇形槽與密封槽的位置一致；定位塊套在百分表的套管上，并用頂絲夾緊，百分表的測頭穿過所述扇形槽伸入到密封槽中，定位塊的下表面與基準(zhǔn)面配合。能很方便的對SMCl高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包殼體的密封槽的平面度進行測量，性價比高、實用、操作簡單和維護費用低。


圖I為本發(fā)明實施例中SMCl聞壓負(fù)荷開關(guān)的氣包的密封的結(jié)構(gòu)不意圖；圖2a為本發(fā)明實施例中基準(zhǔn)板的平面結(jié)構(gòu)示意圖；圖2b為本發(fā)明實施例中基準(zhǔn)板的側(cè)面結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實施例中定位塊和測量表的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中1、透明罩，2、密封圏，3、密封槽，4、基準(zhǔn)板，5、扇形槽，6、圓孔，7、凸臺，8、測量表,9、頂絲，10、定位塊。
具體實施例方式下面將對本發(fā)明實施例作進ー步地詳細(xì)描述。本發(fā)明SMCl密封面平面度檢驗エ裝，其較佳的具體實施方式
是包括基準(zhǔn)板、定位塊和測量表；所述基準(zhǔn)板的底面上設(shè)有三個凸臺，其上表面為基準(zhǔn)面，所述基準(zhǔn)面與三個凸臺的下端面所形成的表面平行；所述基準(zhǔn)板上設(shè)有扇形槽，所述三個凸臺放入SMCl高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包殼體的密封槽中，所述扇形槽與密封槽的位置一致；所述定位塊套在百分表的套管上，并用頂絲夾緊，所述百分表的測頭穿過所述扇形槽伸入到所述密封槽中，所述定位塊的下表面與所述基準(zhǔn)面配合。所述基準(zhǔn)板的中間設(shè)有圓孔，所述圓孔的尺寸與SMCl高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包殼體上的透明罩上安裝的驅(qū)動軸的尺寸一致。如圖I所示，SMCl高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包的密封是通過透明罩?jǐn)D壓安裝在氣包殼體密封槽內(nèi)的密封圈來實現(xiàn)密封的。本發(fā)明能很方便的對SMCl高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包殼體的密封槽的平面度進行測量，性價比高、實用、操作簡單和維護費用低。具體實施例
主要有三部分組成即基準(zhǔn)板、定位塊和測量表。如圖2a、圖2b所示，基準(zhǔn)板的扇形槽與氣包殼體密封槽位置一致，井能方便測量表在里面滑動；基準(zhǔn)板的底面上有三個凸臺，基準(zhǔn)板的上表面(基準(zhǔn)面)與三個凸臺的下端面所形成的表面保持平行(平行度誤差不大于0. 01mm)，其原理是通過三點確定ー個平面，該平面與被測平面平行，目的是保證檢具能在ー個與被測平面平行的工作臺上運動。這樣一來就不需要將氣包搬運到基準(zhǔn)工作臺上測量，并保證了測試的精度?；鶞?zhǔn)板中間的圓孔尺寸與透明罩上安裝驅(qū)動軸所需要的尺寸相對應(yīng)。如圖3所示，測量表和定位塊共同組成了測量裝置。測量表的選用需根據(jù)所測量的誤差等級和被測量件的外形尺寸來確定，根據(jù)該氣包選擇的測量表為ー個測量精度為
0.01mm，行程為0 5mm的百分表(該百分表選擇還應(yīng)注意表盤下端到測頭距離A不小于40mm)。定位塊套在百分表套管上，用頂絲夾紫。具體測量的步驟(一)、使用前檢查I.檢查百分表輕輕推動測量桿時，測量桿在套筒內(nèi)的移動要靈活，沒有任何軋卡現(xiàn)象，毎次手松開后，指針能回到原來的刻度位置。2.檢查測量面用干凈棉絲或軟布把基準(zhǔn)面和定位塊表面擦凈，定位塊在基準(zhǔn)面上應(yīng)活動順暢。檢查結(jié)果有疑問應(yīng)及時進行校對或更換檢具。(ニ)、檢具的正確使用I..對氣包殼體密封槽的檢測a.將基準(zhǔn)板平穩(wěn)的放到氣包上端面，三個凸臺插入密封槽內(nèi)平面上，轉(zhuǎn)動基準(zhǔn)板到平穩(wěn)位置。b.將百分表裝到定位塊上,表盤下端與定位塊留有I 3mm的間隙,用頂絲固定(注意固定時カ不應(yīng)太大，以防止損壞測量桿，力的大小以百分表不能輕松轉(zhuǎn)動為宜)。c.百分表測頭透過基準(zhǔn)板的扇形槽放入氣包殼體密封槽內(nèi)，使百分表有一定的壓縮量，旋轉(zhuǎn)百分表外圈調(diào)整大指針指到“0”位。滑動定位塊使測頭在槽內(nèi)移動，觀察百分表指針的擺動，讀數(shù)并記錄下數(shù)據(jù)。旋轉(zhuǎn)基準(zhǔn)板，以便檢測整個槽面。d.百分表讀數(shù)小表盤的ー個分度值為1mm，大表盤的一個格分度值為0. Olmm0讀數(shù)吋，先讀小指針轉(zhuǎn)過的刻度線(即毫米整數(shù))，再讀大指針轉(zhuǎn)過的刻度線(即小數(shù)部分)，并乘以0. 01，然后兩者相加，即得到所測量的數(shù)值。e.指針在表盤上擺動的差值應(yīng)符合以下要求氣包殼體上端面密封槽最大差值應(yīng)小于0. 25mm,即被測平面度合格。2.透明罩對應(yīng)處的平面度將基準(zhǔn)板平放到透明罩的內(nèi)表面，用一根設(shè)計好的階梯軸從兩個零部件的中間圓孔上傳過，使基準(zhǔn)板固定到透明罩上，此時百分表所能檢測到的位置即為與氣包殼體密封槽相對應(yīng)的位置。其他具體操作與氣包殼體密封槽檢測相似。具體實施例中，影響本測量裝置的因素有以下幾個方面百分表精度采用0級表，示值誤差為0.01mm;各面接觸精度綜合后不大于0. 002mm ；
基準(zhǔn)板上平面與三個凸臺組成的平面之間的平行性誤差此值不大于0. 01mm。由此三項綜合后,檢具的示值誤差為 = ' 嫌；+ '°'002； + 0觀5:=0.011mm 完全滿足使用要求。此種測量方法完全符合平面度公差帶的定義。經(jīng)過該檢具檢測合格的產(chǎn)品，年漏氣率均小于5%。，滿足產(chǎn)品要求。本發(fā)明的有益效果是I.該技術(shù)方案成本低利用三點確定ー個平面的原理，通過三個凸臺確定了ー個與被測平面平行的基準(zhǔn)面，用滿足精度要求的百分表(千分表)來對檢測平面進行檢測，即便是被測表面是傾斜的，只要三個凸臺與其接觸到都不會影響檢測精度，這樣減少了公司對購買基準(zhǔn)工作平臺和昂貴檢測設(shè)備的費用。 2.該技術(shù)方案所設(shè)計出的產(chǎn)品移動性好當(dāng)被檢測零部件(包括氣包)的體積和重量較大，且不易移動，直接將該檢具放到被測面上進行檢測即可，無需搬動被檢測零部件，大大降低了檢測人員的工作強度。3.該技術(shù)方案所設(shè)計出的產(chǎn)品操作簡單檢測人員只要會用百分表就能實現(xiàn)對產(chǎn)品的檢測。4.維護費用低檢測人員只要在使用前后涂油保護，禁止用粗糙的東西擦拭其表面和禁止懸空放置基準(zhǔn)板等簡單的檢具維護方法即可。本發(fā)明用于對SMCl密封面平面度的檢測，利用基準(zhǔn)板上與其上表面相平行的三個凸臺確定ー個基準(zhǔn)面，將檢測裝置安放在基準(zhǔn)板的上表面來檢測平面度。較為實用、性價比高、操作簡單、維護費用低，并且可根據(jù)被測區(qū)域的不同對基準(zhǔn)面的幾何形狀尺寸進行改進(如將扇形槽變?yōu)槌梢欢ㄐ蛄信帕械男】子脕頊y量面積較大平面的平面度或粗糙度)。以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實施方式
，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明披露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書的保護范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種SMCl密封面平面度檢驗工裝，其特征在于，包括基準(zhǔn)板、定位塊和測量表； 所述基準(zhǔn)板的底面上設(shè)有三個凸臺，其上表面為基準(zhǔn)面，所述基準(zhǔn)面與三個凸臺的下端面所形成的表面平行； 所述基準(zhǔn)板上設(shè)有扇形槽，所述三個凸臺放入SMCl高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包殼體的密封槽中，所述扇形槽與密封槽的位置一致； 所述定位塊套在百分表的套管上，并用頂絲夾緊，所述百分表的測頭穿過所述扇形槽伸入到所述密封槽中，所述定位塊的下表面與所述基準(zhǔn)面配合。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的SMCl密封面平面度檢驗工裝，其特征在于，所述基準(zhǔn)板的中間設(shè)有圓孔，所述圓孔的尺寸與SMCl高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包殼體上的透明罩上安裝的驅(qū)動軸的尺寸一致。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種SMC1密封面平面度檢驗工裝，包括基準(zhǔn)板、定位塊和測量表；基準(zhǔn)板的底面上設(shè)有三個凸臺，其上表面為基準(zhǔn)面，基準(zhǔn)面與三個凸臺的下端面所形成的表面平行；基準(zhǔn)板上設(shè)有扇形槽，三個凸臺放入SMC1高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包殼體的密封槽中，扇形槽與密封槽的位置一致；定位塊套在百分表的套管上，并用頂絲夾緊，百分表的測頭穿過所述扇形槽伸入到密封槽中，定位塊的下表面與基準(zhǔn)面配合。能很方便的對SMC1高壓負(fù)荷開關(guān)的氣包殼體的密封槽的平面度進行測量，性價比高、實用、操作簡單和維護費用低。
文檔編號G01B5/28GK102768005SQ20121027564
公開日2012年11月7日 申請日期2012年8月3日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月3日
發(fā)明者張全中, 王玉亮 申請人:北京合縱科沃爾電力科技有限公司