專利名稱：基于回波損耗補(bǔ)償?shù)恼瓗炀€測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于天線測試領(lǐng)域，具體涉及一種利用回波損耗補(bǔ)償技術(shù)在窄帶天線測試中消除多徑干擾信號，提高測量天線參數(shù)(包括方向圖和增益、以及其它參數(shù))精度的使用方法。
背景技術(shù)：
衡量一付天線的實(shí)際輻射性能，需通過精確的測量。測試環(huán)境中(室外開闊場和微波暗室)存在多徑干擾，在常規(guī)的間接時(shí)域測量中，通常采用加時(shí)域門的方法去除干擾。這需要有足夠的測試帶寬，以獲得高的距離分辨率。然而，對于窄帶天線，特別是低頻段天線，其工作帶寬窄，對應(yīng)的距離分辨率難以優(yōu)于10米量級。當(dāng)多徑信號與直射波的波程差小于 距離分辨率時(shí)，其響應(yīng)在時(shí)間(距離)域上相互重疊，不能明確區(qū)分和分辨。這種情況下時(shí)域加門技術(shù)不能有效去除干擾，難以獲得高的測量精度。而且在低頻段暗室內(nèi)吸波材料的性能下降，使得暗室側(cè)壁、地面等的多徑干擾更嚴(yán)重，測試誤差不能滿足要求。微波暗室在300MHz以下頻段，其靜區(qū)性能難以優(yōu)于_30dB，側(cè)壁的多徑反射增強(qiáng)，導(dǎo)致天線方向圖的測試精度難以達(dá)到±1. 5dB ；IOOMHz以下頻段惡化到±2dB以上。在外場測試時(shí)，由于外部環(huán)境的不可控，多徑干擾更加嚴(yán)重。通常天線的工作帶寬通常取反射系數(shù)小于-IOdB (即駐波比小于2)時(shí)的頻帶范圍。對于工作帶寬小于30MHz的天線，其距離分辨率大于10m，無法通過加時(shí)域們?nèi)コ蓴_。

發(fā)明內(nèi)容
為了避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，本發(fā)明提出一種基于回波損耗補(bǔ)償?shù)恼瓗炀€測試方法，拓展被測天線的測試帶寬。技術(shù)方案一種基于回波損耗補(bǔ)償?shù)恼瓗炀€測試方法，其特征在于步驟如下步驟I :搭建天線測試系統(tǒng)發(fā)射端的輔助天線與測試端的被測天線位于同一高度，且位于同一軸線；步驟2 :測試被測天線的反射系數(shù)r (f)；步驟3 :根據(jù)測試場地的情況，算出要消除代表第m條多徑的多徑波Rm和直射波Rtl的最小波程差A(yù)d = Hiin(Rm-Rtl) (m)，得到測試天線所需的掃頻帶寬
權(quán)利要求
1.一種基于回波損耗補(bǔ)償?shù)恼瓗炀€測試方法，其特征在于步驟如下 步驟I:搭建天線測試系統(tǒng)發(fā)射端的輔助天線與測試端的被測天線位于同一高度，且位于同一軸線； 步驟2 :測試被測天線的反射系數(shù)r (f)； 步驟3 :根據(jù)測試場地的情況，算出要消除代表第m條多徑的多徑波Rm和直射波Rtl的最小波程差A(yù) d = min (Rffl-R0)，單位為m，得到測試天線所需的掃頻帶寬2 ^，由(I)式檢驗(yàn)天線測試系統(tǒng)能否滿足保精度的測試靈敏度要求；
全文摘要
本發(fā)明涉及一種基于回波損耗補(bǔ)償?shù)恼瓗炀€測試方法，其特征在于搭建天線測試系統(tǒng)發(fā)射端的輔助天線與測試端的被測天線位于同一高度，且位于同一軸線；根據(jù)某一頻點(diǎn)的反射系數(shù)，可以推算出天線相應(yīng)頻點(diǎn)的輻射能量損耗，并加以數(shù)值補(bǔ)償，使得時(shí)-頻變換后，時(shí)域波形沒有畸變。本發(fā)明通過對測試帶寬進(jìn)行拓寬，以獲取理想的時(shí)域分辨率，從而有效抑制多徑干擾的影響，將測試技術(shù)應(yīng)用到微波暗室低頻段(300MHz以下頻段)天線測試，以及有近端強(qiáng)反射體的開闊場測試，可使低頻和窄帶天線方向圖精度改善2dB左右，獲得高精度的天線測試結(jié)果。
文檔編號G01R29/10GK102798769SQ20121027381
公開日2012年11月28日 申請日期2012年8月2日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月2日
發(fā)明者張麟兮, 郭靜遠(yuǎn), 宋鵬, 張穎軍, 張曼, 張琦, 魏世京 申請人:西北工業(yè)大學(xué)