專利名稱：互電容觸摸屏檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種互電容觸摸屏檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
在互電容觸摸屏的生產(chǎn)制造過(guò)程中，需要對(duì)所制造的互電容觸摸屏進(jìn)行檢測(cè)，現(xiàn)有的大部分作法是，在觸摸屏上選取一部分點(diǎn)(如觸摸屏的邊框線上的點(diǎn))作為待檢測(cè)點(diǎn)，如果被選取的待檢測(cè)點(diǎn)處的電容值在設(shè)定范圍，則判定該互電容觸摸屏合格，否則，則判定互電容觸摸屏不合格。現(xiàn)有的檢測(cè)方法過(guò)于精糙，無(wú)法對(duì)所生產(chǎn)制造的互電容觸摸屏進(jìn)行嚴(yán)格的篩選，使得產(chǎn)品的合格率大大降低。

發(fā)明內(nèi)容
基于此，本發(fā)明在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種互電容觸摸屏檢測(cè)方法，本發(fā)明可以更準(zhǔn)確的對(duì)互電容觸摸屏進(jìn)行檢測(cè)，提高了產(chǎn)品的合格率。其技術(shù)方案如下一種互電容觸摸屏檢測(cè)方法，在待檢測(cè)觸摸屏上選取待檢測(cè)點(diǎn)，檢取待檢測(cè)點(diǎn)的電容值為m，待檢測(cè)點(diǎn)電容值的最大設(shè)定值為a、最小設(shè)定值為b ;待檢測(cè)點(diǎn)電容值與相鄰檢測(cè)點(diǎn)電容值的偏值為n，該偏值的最大設(shè)定值為X，該偏值的最小設(shè)定值為y ;待檢測(cè)點(diǎn)所在行的各檢測(cè)點(diǎn)電容最大值與電容最小值的比值為k，比值最大設(shè)定值為U，比值最小設(shè)定值為V ；如果同時(shí)滿足以下條件A>m>b,x>n>y,u>k>v,則判定該電容觸摸屏合格，否則，判定該電容觸摸屏不合格。在前述步驟中，所選取待檢測(cè)點(diǎn)為所述觸摸屏上的所有電容節(jié)點(diǎn)。下面對(duì)前述技術(shù)方案的優(yōu)點(diǎn)或原理進(jìn)行說(shuō)明在對(duì)互電容觸摸屏進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，需要同時(shí)考慮各待檢測(cè)點(diǎn)處的電容值、其與相鄰檢測(cè)點(diǎn)的偏值、該偏值的斜率等多種因素，采用該檢測(cè)方法后，可以使產(chǎn)品的合格率大大提聞。
具體實(shí)施例方式下面對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明一種互電容觸摸屏檢測(cè)方法，在待檢測(cè)觸摸屏上選取待檢測(cè)點(diǎn)，檢取待檢測(cè)點(diǎn)的電容值為m，待檢測(cè)點(diǎn)電容值的最大設(shè)定值為a、最小設(shè)定值為b ;待檢測(cè)點(diǎn)電容值與相鄰檢測(cè)點(diǎn)電容值的偏值為n，該偏值的最大設(shè)定值為X，該偏值的最小設(shè)定值為y ;待檢測(cè)點(diǎn)所在行的各檢測(cè)點(diǎn)電容最大值與電容最小值的比值為k，比值最大設(shè)定值為U，比值最小設(shè)定值為V ；
如果同時(shí)滿足以下條件A>m>b，x>n>y，u>k> V，則判定該電容觸摸屏合格，否則，判定該電容觸摸屏不合格。在前述步驟中，所選取待檢測(cè)點(diǎn)為所述觸摸屏上的所有電容節(jié)點(diǎn)。本實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)是在對(duì)互電容觸摸屏進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，需要同時(shí)考慮各待檢測(cè)點(diǎn)處的電容值、其與相鄰檢測(cè)點(diǎn)的偏值、該偏值的斜率等多種因素，采用該檢測(cè)方法后，可以使產(chǎn)品的合格率大大提聞。以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的具體實(shí)施方式
，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種互電容觸摸屏檢測(cè)方法，其特征在于，在待檢測(cè)觸摸屏上選取待檢測(cè)點(diǎn)，檢取待檢測(cè)點(diǎn)的電容值為m，待檢測(cè)點(diǎn)電容值的最大設(shè)定值為a、最小設(shè)定值為b ;待檢測(cè)點(diǎn)電容值與相鄰檢測(cè)點(diǎn)電容值的偏值為n，該偏值的最大設(shè)定值為X，該偏值的最小設(shè)定值為y ;待檢測(cè)點(diǎn)所在行的各檢測(cè)點(diǎn)電容最大值與電容最小值的比值為k，比值最大設(shè)定值為U，比值最小設(shè)定值為V ； 如果同時(shí)滿足以下條件A > m > b,X > η > y,u > k > V， 則判定該電容觸摸屏合格，否則，判定該電容觸摸屏不合格。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述互電容觸摸屏檢測(cè)方法，其特征在于，在前述步驟中，所選取待檢測(cè)點(diǎn)為所述觸摸屏上的所有電容節(jié)點(diǎn)。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種互電容觸摸屏檢測(cè)方法，在待檢測(cè)觸摸屏上選取待檢測(cè)點(diǎn)，檢取待檢測(cè)點(diǎn)的電容值為m，待檢測(cè)點(diǎn)電容值的最大設(shè)定值為a、最小設(shè)定值為b；待檢測(cè)點(diǎn)電容值與相鄰檢測(cè)點(diǎn)電容值的偏值為n，該偏值的最大設(shè)定值為x，該偏值的最小設(shè)定值為y；待檢測(cè)點(diǎn)所在行的各檢測(cè)點(diǎn)電容最大值與電容最小值的比值為k，比值最大設(shè)定值為u，比值最小設(shè)定值為v；如果同時(shí)滿足以下條件A＞m＞b，x＞n＞y，u＞k＞v，則判定該電容觸摸屏合格，否則，判定該電容觸摸屏不合格。本發(fā)明可以更準(zhǔn)確的對(duì)互電容觸摸屏進(jìn)行檢測(cè)，提高了產(chǎn)品的合格率。
文檔編號(hào)G01R31/01GK102636718SQ20121014479
公開(kāi)日2012年8月15日 申請(qǐng)日期2012年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月10日
發(fā)明者戴澍達(dá), 雷艷清 申請(qǐng)人:意力(廣州)電子科技有限公司