專利名稱:無基準條件之配合間隙檢測方法
技術領域:
本發(fā)明涉及測量技術領域,特指一種結(jié)合光電儀器測量產(chǎn)品加工質(zhì)量的檢測方法。
背景技術:
現(xiàn)有技術中,對于產(chǎn)品加工質(zhì)量的檢測,有的是采用目測方式,有的是采用簡單的游標卡尺或螺旋測量儀對產(chǎn)品檢測,但無論是目測還是簡單的工具檢測,檢測精度都相對低,誤差大,且較為勞累。隨著科技的發(fā)展,對精密定位測量提出了越來越高的要求,因而傳統(tǒng)的游標卡尺或螺旋測量儀很難滿足測量要求。隨后出現(xiàn)光電測量儀器,其利用影像攫取器(如CCD)將被測物之影像轉(zhuǎn)換為電子信號,再電子信號送到電腦,由電腦的圖像處理芯片將影像放大顯示在顯示器上,再利用電腦三維坐標對應捕捉測量,這種方式可降低測量誤 差,提升測量精度。由此,利用光電測量儀器來檢測所加工產(chǎn)品是否滿足質(zhì)量要求則成為目前常用的手段,但現(xiàn)有的光電檢測時,對于固有基準線或基準點的產(chǎn)品來說,檢測相對容易,直接對應即可;而對于無固有基準來說,檢測就相對復雜,難以找到對應點或線,不利于批量快速檢測,如對于無基準的子母輪廓嵌接配合的間隙檢測,在難以采用光電快速檢測的情況下,目前只好是加工好子母產(chǎn)品后,將兩者嵌接在測量間隙大小,這種方式效率低,且浪費人力、物力,極大影響了生產(chǎn)檢測的進程,影響了整個生產(chǎn)工藝流程。本申請人有鑒于上述習知檢測方法之缺失與不便之處,秉持著研究創(chuàng)新、精益求精之精神,利用其專業(yè)眼光和專業(yè)知識,研究出一種應用范圍廣,符合產(chǎn)業(yè)利用的無基準條件之配合間隙檢測方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種無基準條件之配合間隙檢測方法,可有效提高檢測效率的同時還可確保檢測的準確和質(zhì)量,且操作工序簡單、方便。為達到上述目的,本發(fā)明系采用如下技術方案實現(xiàn)
無基準條件之配合間隙檢測方法,該方法用于子母輪廓嵌接配合的間隙檢測,包括如下步驟
1)、將母輪廓的標準圖A輸入光電測量儀器的電腦中存儲,再將按子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品B放入光電測量儀器的測量平臺,光電測量儀器通過測量鏡頭獲得實體產(chǎn)品B影像,并根據(jù)影像任意抓取實體產(chǎn)品B外輪廓上多段線段BI ;
2)、將步驟I)取得的多段線段BI與母輪廓的標準圖A嵌合比較,找出多段線段BI中與母輪廓的標準圖A相應嵌合部位之間的法向間隙最小的線段,并記為Bll ;
3)、以步驟2)中取得的法向間隙最小的線段Bll作為基準線,用于定位待被測的以子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品B,即可由光電測量儀器將實體產(chǎn)品B之影像準確嵌合于母輪廓的標準圖A中,檢測出實體產(chǎn)品B與母輪廓的標準圖A之間的配合間隙,由此達到間隙檢測。
上述方案中,所述任意抓取實體產(chǎn)品B外輪廓上的多段線段BI為弧線、直線或多義線,線段的長度任意取。本發(fā)明提供的檢測方法具有如下優(yōu)點1、利用光電測量儀器任意抓取按子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品外輪廓上多段線段,將取得的多段線段與母輪廓的標準圖嵌合比較,找出多段線段中與母輪廓的標準圖相應嵌合部位之間的法向間隙最小的線段作為基準,用于定位待被測的以子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品,即可實現(xiàn)檢測出實體產(chǎn)品與母輪廓的標準圖之間的配合間隙,達到批量快速檢測,有效提升檢測效率,促進生產(chǎn),確保檢測的精度,保證產(chǎn)品的質(zhì)量,減少不良率。2、無需完全生產(chǎn)好子母產(chǎn)品后再檢測,節(jié)約原材料,降低成本,省時、省事。3、操作工序簡單、方便,應用面廣,符合產(chǎn)業(yè)大批量、自動化生產(chǎn)的使用。
附圖I為本發(fā)明其一實施工作示意圖。
具體實施例方式 本發(fā)明提供的無基準條件之配合間隙檢測方法,其包括如下步驟
1)、將母輪廓的標準圖A輸入光電測量儀器的電腦中存儲,標準圖A為工程圖;再將按子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品B放入光電測量儀器的測量平臺,光電測量儀器通過測量鏡頭獲得實體產(chǎn)品B影像,并根據(jù)影像任意抓取實體產(chǎn)品B外輪廓上多段線段BI ;多段線段BI可為弧線、直線或多義線,線段的長度任意取,操作相當簡便;
2)、將步驟I)取得的多段線段BI與母輪廓的標準圖A嵌合比較,找出多段線段BI中與母輪廓的標準圖A相應嵌合部位之間的法向間隙最小的線段,并記為Bll ;
3)、以步驟2)中取得的法向間隙最小的線段Bll作為基準線,用于定位待被測的以子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品B,即可由光電測量儀器將實體產(chǎn)品B之影像準確嵌合于母輪廓的標準圖A中,檢測出實體產(chǎn)品B與母輪廓的標準圖A之間的配合間隙,由此達到間隙檢測。實施例
圖I所示,將母輪廓的標準圖A輸入光電測量儀器的電腦中存儲,再將按子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品B放入光電測量儀器的測量平臺,光電測量儀器通過測量鏡頭獲得實體產(chǎn)品B影像,并根據(jù)影像任意抓取實體產(chǎn)品B外輪廓上多段線段BI ;多段線段BI可為弧線、直線或多義線,線段的長度任意取,操作簡便。隨后將取得的多段線段BI與母輪廓的標準圖A嵌合比較,為同時嵌合,使多段線段BI在母輪廓的標準圖A之內(nèi),然后找出多段線段BI中與母輪廓的標準圖A相應嵌合部位之間的法向間隙最小的線段,并記為Bll ;以線段Bll作為基準線,用于定位待被測的以子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品B,具體操作是將待被測的實體產(chǎn)品B放入光電測量儀器的測量平臺,光電測量儀器通過測量鏡頭獲得實體產(chǎn)品B影像,并根據(jù)基準線段Bll去定位,包括移動和旋轉(zhuǎn)實體產(chǎn)品B或測量平臺等,使實體產(chǎn)品B影像上對應部位與基準線段Bll重疊吻合,然后在固定住,達到定位功效,隨后即可由光電測量儀器將實體產(chǎn)品B之影像準確嵌合于母輪廓的標準圖A中,由此檢測出實體產(chǎn)品B與母輪廓的標準圖A之間的配合間隙,達到間隙檢測。本實施中,具體抓點測量動作為常用的電腦三維坐標對應捕捉測量,在此不再一一贅述。本發(fā)明提出的是一種無基準條件之配合間隙檢測方法,由此達到無基準也可利用光電測量儀器快速檢測的功效,有效提升檢測效率,促進生產(chǎn),確保檢測的精度,保證產(chǎn)品、的質(zhì)量,減少不良率;且檢測時無需完全生產(chǎn)好母產(chǎn)品,即可比對子產(chǎn)品和母輪廓的標準圖,由此得到子產(chǎn)品合格情況,節(jié)約原材料,降低成本,省時、省事;整個操作工序簡單、方便,應用面廣,符合產(chǎn)業(yè)大批量、自動化生產(chǎn)的使用?!?br>
權利要求
1.無基準條件之配合間隙檢測方法,其特征在于該方法用于子母輪廓嵌接配合的間隙檢測,包括如下步驟 .1)、將母輪廓的標準圖A輸入光電測量儀器的電腦中存儲,再將按子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品B放入光電測量儀器的測量平臺,光電測量儀器通過測量鏡頭獲得實體產(chǎn)品B影像,并根據(jù)影像任意抓取實體產(chǎn)品B外輪廓上多段線段BI ; .2)、將步驟I)取得的多段線段BI與母輪廓的標準圖A嵌合比較,找出多段線段BI中與母輪廓的標準圖A相應嵌合部位之間的法向間隙最小的線段,并記為Bll ; .3)、以步驟2)中取得的法向間隙最小的線段Bll作為基準線,用于定位待被測的以子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品B,即可由光電測量儀器將實體產(chǎn)品B之影像準確嵌合于母輪廓的標準圖A中,檢測出實體產(chǎn)品B與母輪廓的標準圖A之間的配合間隙,由此達到間隙檢測。
2.根據(jù)權利要求I所述的無基準條件之配合間隙檢測方法,其特征在于任意抓取實體產(chǎn)品B外輪廓上的多段線段BI為弧線、直線或多義線,線段的長度任意取。
全文摘要
本發(fā)明涉及測量技術領域,特指一種無基準條件之配合間隙檢測方法,包括如下步驟將按子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品放入光電測量儀器的測量平臺,光電測量儀器通過測量鏡頭獲得實體產(chǎn)品影像,并根據(jù)影像任意抓取實體產(chǎn)品外輪廓上多段線段;將取得的多段線段與母輪廓的標準圖嵌合比較,找出多段線段中與母輪廓的標準圖相應嵌合部位之間的法向間隙最小的線段并作為基準線,用于定位待被測的以子輪廓生產(chǎn)得到的實體產(chǎn)品,即可由光電測量儀器將實體產(chǎn)品之影像準確嵌合于母輪廓的標準圖中,檢測實體產(chǎn)品與母輪廓的標準圖之間的配合間隙,達到間隙檢測;操作工序簡單,應用面廣,符合產(chǎn)業(yè)大批量、自動化生產(chǎn)的使用;有效節(jié)約原材料,降低成本。
文檔編號G01B11/14GK102679897SQ201210130178
公開日2012年9月19日 申請日期2012年4月28日 優(yōu)先權日2012年4月28日
發(fā)明者徐春云 申請人:東莞七海測量技術有限公司