技術(shù)特征：
1.一種三維測量系統(tǒng)，其特征在于，包含：一測量載具，用以承載一待測物體，一第一投影模塊，沿一第一光軸朝向該待測物體照射一第一條紋光線，該第一光軸相對該測量平面具有一第一入射角；一第二投影模塊，沿一第二光軸朝向該待測物體照射一第二條紋光線，該第二光軸相對該測量平面具有一第二入射角，該第二入射角的量值不同于該第一入射角的量值，使該第二條紋光線于該測量平面上所形成的一第二投影波長不同于該第一條紋光線于該測量平面上所形成的一第一投影波長；一取像模塊，用以擷取該待測物體于該第一條紋光線反射下的一第一條紋影像以及于該第二條紋光線反射下的一第二條紋影像；以及一控制單元，用以控制該第一投影模塊及該第二投影模塊，并經(jīng)由該第一條紋影像及該第二條紋影像測量該待測物體的三維形狀。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維測量系統(tǒng)，其特征在于，該第一投影模塊包含一第一光源以及一第一光柵，該第一光源產(chǎn)生一第一光線，該第一光柵具有多個第一條紋彼此間隔一第一柵距，并用以轉(zhuǎn)換該第一光線為具有該第一等效波長的該第一條紋光線，該第二投影模塊包含一第二光源以及一第二光柵，該第二光源產(chǎn)生一第二光線，該第二光柵具有多個第二條紋彼此間隔一第二柵距，并用以轉(zhuǎn)換該第二光線為具有該第二等效波長的該第二條紋光線。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維測量系統(tǒng)，其特征在于，該第一光柵的該第一柵距等于該第二光柵的該第二柵距，且該第一等效波長等于該第二等效波長。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維測量系統(tǒng)，其特征在于，該第一投影模塊還包含一光柵移動器用以移動該第一光柵，借此形成該第一條紋光線的各種相位角，該取像模塊進一步擷取該待測物體于該第一條紋光線的各種相位角反射形成的多個第一條紋影像。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維測量系統(tǒng)，其特征在于，該第二投影模塊還包含一光柵移動器用以移動該第二光柵，借此形成該第二條紋光線的各種相位角，該取像模塊進一步擷取該待測物體于該第二條紋光線的各種相位角反射形成的多個第二條紋影像。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維測量系統(tǒng)，其特征在于，還包含一高度計算模塊用以計算該待測物體的高度，其中該高度計算模塊整合該第一條紋光線反射下的該第一條紋影像以及于該第二條紋光線反射下的該第二條紋影像，以取得該待測物體的一整合高度信息。7.一種三維測量方法，其特征在于，用以測量一測量平面上的一待測物體，該三維測量方法包含步驟：產(chǎn)生具有一第一等效波長的一第一條紋光線以及具有一第二等效波長的一第二條紋光線；將該第一條紋光線沿一第一光軸照射至該測量平面上的該待測物體，該第一光軸相對該測量平面具有一第一入射角；將該第二條紋光線沿一第二光軸照射至該測量平面上的該待測物體，該第二光軸相對該測量平面具有一第二入射角，該第二入射角的量值不同于該第一入射角的量值，使該第二條紋光線于該測量平面上所形成的一第二投影波長不同于該第一條紋光線于該測量平面上所形成的一第一投影波長；基于各種相位角的該第一條紋光線而擷取多個第一條紋影像，所述多個第一條紋影像由具有該第一投影波長的該第一條紋光線經(jīng)該待測物體反射所產(chǎn)生；基于各種相位角的該第二條紋光線而擷取多個第二條紋影像，所述多個第二條紋影像由具有該第二投影波長的該第二條紋光線經(jīng)該待測物體反射所產(chǎn)生；利用該第一投影波長下的所述多個第一條紋影像，得到該待測物體的一第一相位信息；利用該第二投影波長下的所述多個第二條紋影像，得到該待測物體的一第二相位信息；以及基于所述第一相位信息與所述第二相位信息，計算取得該待測物體的一整合高度信息。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的三維測量方法，其特征在于，該整合高度信息是基于該第一投影波長與該第二投影波長之間的一波長差距、以及該第一相位信息與該第二相位信息之間的一相對差距而取得。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的三維測量方法，其特征在于，該第一條紋光線是透過一第一柵距的一第一光柵而具有該第一等效波長，該第二條紋光線是透過一第二柵距的一第二光柵而具有該第二等效波長，該第一柵距等于該第二柵距，該第一等效波長等于該第二等效波長。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的三維測量方法，其特征在于，還包含步驟：移動該第一光柵，借此形成該第一條紋光線的各種相位角；以及移動該第二光柵，借此形成該第二條紋光線的各種相位角。