專利名稱：微處理器數(shù)字輸入輸出端口的工作狀態(tài)的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測方法，特別涉及ー種微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測方法。
背景技術(shù)：
微處理器是ー種廣泛應(yīng)用的集成電路，一般都有許多數(shù)字輸入輸出端ロ。其中輸出端ロ往往有幾種輸出方式，如弱上拉、推挽和開漏。其中位于端口下邊的場效應(yīng)管是主要工作開關(guān)，其它場效應(yīng)管均可以看成其有源負(fù)載。這個工作開關(guān)的性能好壞決定著輸出端ロ是否能夠正常工作。微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ在處于輸出方式下經(jīng)常在使用中不知不覺損壞，其中 主要是內(nèi)部端口內(nèi)工作開關(guān)的損壞。這樣就容易造成正在使用該端ロ的系統(tǒng)出現(xiàn)不良性能，而使用者不能準(zhǔn)確確定是否是微處理器數(shù)字輸入輸出端口內(nèi)工作開關(guān)損壞。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的是為了解決使用者不能準(zhǔn)確確定是否是微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ內(nèi)工作開關(guān)損壞的問題，提出了 ー種微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測方法。本發(fā)明的微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測方法，該方法是基于微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測裝置實現(xiàn)的，所述微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測裝置包括M組檢測裝置、電阻R、直流電壓源和開關(guān)S ；檢測裝置包括N溝道MOS管和發(fā)光二極管D ；發(fā)光二極管D的陰極接檢測裝置的供電電源的正極，發(fā)光二極管D的陽極接N溝道MOS管的漏極；M組檢測裝置的N溝道MOS管的柵極同時接開關(guān)S的一端，開關(guān)S的另一端接電阻R的一端，電阻R的另一端接直流電壓源的正極，直流電壓源的負(fù)極接檢測裝置的供電電源的負(fù)極，M組檢測裝置的N溝道MOS管的源極為檢測裝置的檢測端ロ ；基于上述裝置的微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測方法，它包括如下步驟步驟ー將微處理器的每ー個待測數(shù)字輸入輸出端ロ與一個檢測裝置的檢測端ロ連接，檢測裝置的供電電源的正極接微處理器的供電電源正極，檢測裝置的供電電源的負(fù)極接微處理器的供電電源負(fù)極；步驟ニ 在微處理器中，嵌入程序，將待測數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為開漏輸出方式；步驟三閉合開關(guān)S，觀察每個檢測裝置中發(fā)光二極管D的狀態(tài)，判斷待測數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)，若發(fā)光二極管D亮，則該檢測裝置對應(yīng)的數(shù)字輸入輸出端ロ的エ作狀態(tài)正常；否則，該檢測裝置對應(yīng)的數(shù)字輸入輸出端ロ損壞。本發(fā)明的優(yōu)點在干在微處理器的數(shù)字輸入輸出端口上，除了連接本發(fā)明的裝置夕卜，沒有連接其它外部使用連接的情況下，用本發(fā)明的方法將數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為輸出方式的開漏狀態(tài)，閉合開關(guān)S，如果發(fā)光二極管亮，則其內(nèi)部的主要工作開關(guān)是良好狀態(tài)的，如果發(fā)光二極管不亮，則其內(nèi)部的主要工作開關(guān)是已損壞斷開。通過發(fā)光二極管的狀態(tài)，使用者能準(zhǔn)確判定微處理器數(shù)字輸入輸出端口內(nèi)工作開關(guān)是否損壞。


圖I為本發(fā)明的微處理 器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本發(fā)明的工作原理示意圖。
具體實施例方式具體實施方式
一結(jié)合圖I和圖2說明本實施方式，本發(fā)明的微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測方法，該方法是基于微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測裝置實現(xiàn)的，所述微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測裝置包括M組檢測裝置
I、電阻R、直流電壓源和開關(guān)S ;檢測裝置I包括N溝道MOS管和發(fā)光二極管D，發(fā)光二極管D的陰極接檢測裝置I的供電電源的正極，發(fā)光二極管D的陽極接N溝道MOS管的漏極；M組檢測裝置I的N溝道MOS管的柵極同時接開關(guān)S的一端，開關(guān)S的另一端接電阻R的一端，電阻R的另一端接直流電壓源的正極，直流電壓源的負(fù)極接檢測裝置I的供電電源的負(fù)極，M組檢測裝置I的N溝道MOS管的源極為檢測裝置I的檢測端ロ ；基于上述裝置的微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測方法，其特征在干，它包括如下步驟步驟ー將微處理器2的每ー個待測數(shù)字輸入輸出端ロ與一個檢測裝置I的檢測端ロ連接，檢測裝置I的供電電源的正極接微處理器2的供電電源正極，檢測裝置I的供電電源的負(fù)極接微處理器2的供電電源負(fù)極；步驟ニ 在微處理器2中，嵌入程序，將待測數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為開漏輸出方式；步驟三閉合開關(guān)S，觀察每個檢測裝置I中發(fā)光二極管D的狀態(tài)，判斷待測數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)，若發(fā)光二極管D亮，則該檢測裝置I對應(yīng)的數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)正常；否則，該檢測裝置I對應(yīng)的數(shù)字輸入輸出端ロ損壞。本實施例可以同時檢測微處理器2的多個數(shù)字輸入輸出端ロ，開關(guān)S閉合時，檢測裝置I導(dǎo)通，而開關(guān)S關(guān)斷吋，M組檢測裝置I斷開。在輸出開漏狀態(tài)下，其內(nèi)部的主要工作開關(guān)可以外接漏極負(fù)載，因而其通斷狀態(tài)可以通過外接漏極負(fù)載電路反應(yīng)出來。閉合開關(guān)S后，會有這樣的結(jié)果如果其內(nèi)部的主要工作開關(guān)是良好狀態(tài)的，則本發(fā)明的裝置中的發(fā)光二極管D會點亮，而如果是內(nèi)部的主要工作開關(guān)已損壞斷開，則本發(fā)明的裝置中的發(fā)光二極管D不會點亮。據(jù)此可判斷數(shù)字輸入輸出端ロ內(nèi)部的主要工作開關(guān)的性能好壞。
具體實施方式
ニ 本實施方式是對具體實施方式
ー的進(jìn)ー步說明，步驟三中，將待測數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為開漏輸出方式的過程為步驟I :對微處理器2的各部件初始化；步驟2 :將待測數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為輸出方式；步驟3 :將待測數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為開漏輸出方式。 在微處理器2的數(shù)字輸入輸出端口上，除了連接本發(fā)明的裝置之外，沒有連接其它外部使用連接的情況下，將數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為輸出方式的開漏狀態(tài)。
權(quán)利要求
1.ー種微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測方法，該方法是基于微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測裝置實現(xiàn)的，所述微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測裝置包括M組檢測裝置(I)、電阻R、直流電壓源和開關(guān)S ； 檢測裝置(I)包括N溝道MOS管和發(fā)光二極管D ； 發(fā)光二極管D的陰極接檢測裝置(I)的供電電源的正極，發(fā)光二極管D的陽極接N溝道MOS管的漏極； M組檢測裝置(I)的N溝道MOS管的柵極同時接開關(guān)S的一端，開關(guān)S的另一端接電阻R的一端，電阻R的另一端接直流電壓源的正極，直流電壓源的負(fù)極接檢測裝置(I)的供電電源的負(fù)極，M組檢測裝置(I)的N溝道MOS管的源極為檢測裝置(I)的檢測端ロ ； 基于上述裝置的微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測方法，其特征在干， 它包括如下步驟 步驟ー將微處理器(2)的每ー個待測數(shù)字輸入輸出端ロ與一個檢測裝置(I)的檢測端ロ連接，檢測裝置(I)的供電電源的正極接微處理器(2)的供電電源正極，檢測裝置(I)的供電電源的負(fù)極接微處理器(2)的供電電源負(fù)極； 步驟ニ在微處理器(2)中，嵌入程序，將待測數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為開漏輸出方式； 步驟三閉合開關(guān)S，觀察每個檢測裝置(I)中發(fā)光二極管D的狀態(tài)，判斷待測數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)，若發(fā)光二極管D亮，則該檢測裝置(I)對應(yīng)的數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)正常；否則，該檢測裝置(I)對應(yīng)的數(shù)字輸入輸出端ロ損壞。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的微處理器數(shù)字輸入輸出端ロ的工作狀態(tài)的檢測方法，其特征在于，待測數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為開漏輸出方式的過程為 步驟I :對微處理器(2)的各部件初始化； 步驟2 :將待測數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為輸出方式； 步驟3 :將待測數(shù)字輸入輸出端ロ設(shè)置為開漏輸出方式。
全文摘要
微處理器數(shù)字輸入輸出端口的工作狀態(tài)的檢測方法，涉及一種數(shù)字輸入輸出端口的工作狀態(tài)的檢測方法，為了解決使用者不能準(zhǔn)確確定是否是微處理器數(shù)字輸入輸出端口內(nèi)工作開關(guān)損壞的問題。該方法是基于一種裝置實現(xiàn)的；該裝置包括M組檢測裝置，檢測裝置包括N溝道MOS管和發(fā)光二極管；發(fā)光二極管D接N溝道MOS管的漏極，N溝道MOS管的源極為檢測裝置的檢測端口，開關(guān)S控制M組檢測裝置的工作狀態(tài)；該方法將待測數(shù)字輸入輸出端口與一個檢測裝置的檢測端口連接；將待測數(shù)字輸入輸出端口設(shè)置為開漏輸出方式；閉合開關(guān)S，根據(jù)發(fā)光二極管D的狀態(tài)，判斷相應(yīng)的待測數(shù)字輸入輸出端口的工作狀態(tài)。它用于檢測微處理器數(shù)字輸入輸出端口的工作狀態(tài)。
文檔編號G01R31/327GK102621487SQ20121010808
公開日2012年8月1日 申請日期2012年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月13日
發(fā)明者王丁 申請人:黑龍江大學(xué)