專(zhuān)利名稱(chēng)：耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置及其連接測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及耐壓測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置及其連接檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
為了確保產(chǎn)品的實(shí)用安全，尤其是電器類(lèi)產(chǎn)品，其在制造下線前都會(huì)進(jìn)行安全測(cè)試，如漏電流測(cè)試，耐壓測(cè)試。近些年，因相關(guān)法規(guī)規(guī)定的測(cè)試量逐年增加，測(cè)試程序要求更加嚴(yán)謹(jǐn)，以期待能確實(shí)檢驗(yàn)出不良品或是臨界不良品的待測(cè)產(chǎn)品。目前，多數(shù)電器生產(chǎn)廠家采用傳統(tǒng)測(cè)試方式或傳統(tǒng)測(cè)試電路結(jié)構(gòu)，但是，這種傳統(tǒng)的測(cè)試方式或測(cè)試電路結(jié)構(gòu)很難在測(cè)試前對(duì)測(cè)試設(shè)備與待測(cè)產(chǎn)品之間是否接觸可靠進(jìn)行檢測(cè)，或是在待測(cè)產(chǎn)品測(cè)試前雖能檢測(cè)接觸是否可靠，但是并無(wú)法監(jiān)測(cè)其整個(gè)測(cè)試過(guò)程接觸是否可靠，這些都會(huì)造成產(chǎn)品測(cè)試質(zhì)量的可靠性大受質(zhì)疑，從而無(wú)法確保產(chǎn)品質(zhì)量。如圖I所示，為漏電流下限檢驗(yàn)法的電路原理圖。利用此方式作為待測(cè)產(chǎn)品與高壓測(cè)試端接觸是否可靠的檢驗(yàn)，存在一種問(wèn)題，因?yàn)榇朔N方式是根據(jù)產(chǎn)品本身的漏電流值做為判斷依據(jù)，但是不同待測(cè)產(chǎn)品所具有的漏電流值不同，并非每個(gè)產(chǎn)品都是一樣，因此在判斷上容易造成誤判現(xiàn)象，這種檢驗(yàn)方式可靠性不高。如圖2所示，為開(kāi)路電容檢驗(yàn)法的電路原理圖。利用此方法作為待測(cè)產(chǎn)品與高壓輸出端接觸是否可靠的檢驗(yàn)，同樣存在一種問(wèn)題，此方式是將待測(cè)產(chǎn)品本身等效為一個(gè)電容來(lái)進(jìn)行測(cè)量的，當(dāng)測(cè)試導(dǎo)線與待測(cè)產(chǎn)品接觸與斷開(kāi)的兩種情況下，在整個(gè)待測(cè)產(chǎn)品的兩端所形成的電容量是有變化的，從而可以根據(jù)前后電容變化量來(lái)判斷測(cè)試電路與待測(cè)產(chǎn)品之間接觸是否可靠的依據(jù)。但這方式在實(shí)際生產(chǎn)檢驗(yàn)環(huán)境下存在許多變數(shù)，其待測(cè)產(chǎn)品本身電容量與當(dāng)測(cè)試導(dǎo)線開(kāi)路時(shí)電容量并非每次相同，且當(dāng)有加裝測(cè)試治具或是導(dǎo)線有變化時(shí)，其電容量也會(huì)變化，因此也容易造成誤判現(xiàn)象。因此這種檢驗(yàn)方式可靠性也不高。另外因每次測(cè)試前須先做判斷，因此測(cè)試時(shí)間被延長(zhǎng)，造成測(cè)試效率降低，不符合經(jīng)濟(jì)效益。如圖3所示，為阻值接觸檢驗(yàn)法的電路原理圖。利用此方法作為待測(cè)產(chǎn)品與高壓輸出端接觸是否可靠的檢驗(yàn)，原則上比上述方式或方法要可靠，但是仍存在一種問(wèn)題，因此種方式是在設(shè)備使用前或每次產(chǎn)品測(cè)試前，加裝一阻抗值檢驗(yàn)電路做為是否接觸良好的判斷依據(jù)。此方法確實(shí)是可以確實(shí)檢驗(yàn)出是否接觸良好，但這方式在實(shí)際生產(chǎn)檢驗(yàn)環(huán)境下會(huì)出現(xiàn)判斷的不可靠現(xiàn)象，因只在設(shè)備使用前做檢驗(yàn)，但無(wú)法確保往后的使用時(shí)間內(nèi)沒(méi)有接觸不良或斷線現(xiàn)象，或是每次產(chǎn)品測(cè)試前做檢驗(yàn)，但無(wú)法在產(chǎn)品整的檢驗(yàn)過(guò)程中監(jiān)測(cè)產(chǎn)品是否接觸可靠，因此也易造成誤判現(xiàn)象，因此這種檢驗(yàn)方式可靠性也不高。另外因每次測(cè)試前須先做判斷，因此同樣存在測(cè)試時(shí)間被延長(zhǎng)，測(cè)試效率低的缺點(diǎn)，不符合經(jīng)濟(jì)效益。由此可見(jiàn)，為了保證測(cè)試產(chǎn)品的質(zhì)量可靠性，急需一種測(cè)試可靠性良好、測(cè)試效率高的耐壓測(cè)試技術(shù)
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，能夠解決耐壓測(cè)器可靠性不高及測(cè)試效率低的問(wèn)題。本發(fā)明提供一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，包括
阻抗檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品之間電連接并產(chǎn)生推動(dòng)信
號(hào);
可編程邏輯閘，用于將阻抗檢測(cè)模塊的推動(dòng)信號(hào)與設(shè)定信號(hào)進(jìn)行比較后產(chǎn)生連接判定信號(hào)并輸出給微處理器；
微處理器，用于接收可編程邏輯閘的連接判定信號(hào)并根據(jù)連接判定信號(hào)控制高壓輸出模塊的啟動(dòng)或關(guān)閉；
高壓輸出模塊，用于根據(jù)微處理器的命令產(chǎn)生高壓測(cè)試信號(hào)。優(yōu)選地，所述阻抗檢測(cè)模塊包括至少一個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置和至少一個(gè)高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置，隔離感應(yīng)裝置及隔離電源裝置，其中，隔離電源裝置為低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置、高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置及隔離感應(yīng)裝置提供工作電源，低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置和高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置連接到隔離感應(yīng)裝置，隔離感應(yīng)裝置輸出至所述可編程邏輯閘。優(yōu)選地，所述隔離感應(yīng)裝置包括多個(gè)隔離感應(yīng)電路，每個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置或高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置均連接有一個(gè)隔離感應(yīng)電路；所述隔離電源裝置包括多個(gè)隔離電源， 每個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置或高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置均連接一個(gè)隔離電源。優(yōu)選地，高壓輸出模塊包括主控制器和高壓產(chǎn)生裝置，主控制器通過(guò)I/O控制器連接至所述的微處理器，高壓產(chǎn)生裝置連接于主控制器。優(yōu)選地，所述微處理器上連接有報(bào)警指示裝置。優(yōu)選地，所述微處理器還連接有用于接收遠(yuǎn)端測(cè)試控制信號(hào)的遙控控制模塊。優(yōu)選地，所述高壓輸出模塊還包括多個(gè)高壓測(cè)試通道，所述高壓測(cè)試通道分別連接高壓產(chǎn)生裝置的高壓端和低壓端，高壓測(cè)試通道內(nèi)具有用于選擇高壓端輸出或低壓端輸出的選通開(kāi)關(guān)。上述技術(shù)方案可以看出，由于本發(fā)明實(shí)施例采用阻抗檢測(cè)模塊對(duì)測(cè)試回路進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)，并及時(shí)將檢測(cè)到的連接判定信號(hào)發(fā)送給微處理器，微處理器及時(shí)控制高壓輸出模塊開(kāi)啟或關(guān)閉輸出，因此本發(fā)明實(shí)施例提供的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與現(xiàn)有耐壓測(cè)試方法或耐壓測(cè)試結(jié)構(gòu)相比，能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)試全程(包括測(cè)試前，測(cè)試中)對(duì)待測(cè)產(chǎn)品與測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置之間的接觸是否可靠進(jìn)行監(jiān)測(cè)，提高了測(cè)試結(jié)果的可靠性，保證了待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試質(zhì)量；而且能夠?qū)崿F(xiàn)智能測(cè)試，對(duì)于測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的接觸不良或短線的情況及時(shí)關(guān)閉高壓輸出，保證了待測(cè)產(chǎn)品的安全；測(cè)試前無(wú)需對(duì)測(cè)試設(shè)備或待測(cè)產(chǎn)品的參數(shù)做判斷，直接接入即可測(cè)試，提升了測(cè)試效率。利用上述耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，本發(fā)明還提供了一種連接檢測(cè)方法，包括步驟判斷待測(cè)產(chǎn)品是否與耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置連接可靠，如果是，則耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置輸出測(cè)試電壓至待測(cè)產(chǎn)品，如果否，則耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置啟動(dòng)報(bào)警提示并停止輸出測(cè)試電壓。本發(fā)明實(shí)施例中的耐壓測(cè)試方法能夠充分保證待測(cè)產(chǎn)品完全處于連接良好(接觸可靠)的狀態(tài)下進(jìn)行，能夠保證最終的測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。


為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
圖I是現(xiàn)有技術(shù)中漏電流下限檢驗(yàn)法的電路原理圖2是現(xiàn)有技術(shù)中開(kāi)路電容檢驗(yàn)法的電路原理圖3是現(xiàn)有技術(shù)中阻值接觸檢驗(yàn)法的電路原理圖4是本發(fā)明實(shí)施例I中單信道耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)原理圖5是本發(fā)明實(shí)施例I中低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置與隔離感應(yīng)電路的電路原理圖6是本發(fā)明實(shí)施例I中高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置與隔離感應(yīng)電路的電路原理圖7 Ca)是本發(fā)明實(shí)施例2中多信道耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)原理圖7 (b)是本發(fā)明實(shí)施例2中高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組的結(jié)構(gòu)原理圖7 (c)是本發(fā)明實(shí)施例2中低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組的結(jié)構(gòu)原理圖8是本發(fā)明實(shí)施例3中耐壓測(cè)試方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。實(shí)施例I :
本發(fā)明實(shí)施例提供一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，如圖4所示，包括阻抗檢測(cè)模塊
I、可編程邏輯閘2、微處理器3及高壓輸出模塊4。其中，高壓輸出模塊4、可編程邏輯閘2 均連接于微處理器3，而阻抗檢測(cè)模塊I的輸入端連接于高壓輸出模塊4和待測(cè)產(chǎn)品的連接點(diǎn)，阻抗檢測(cè)模塊I的輸出端連接至可編程邏輯閘2。阻抗檢測(cè)模塊I用于檢測(cè)測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品之間電連接并產(chǎn)生推動(dòng)信號(hào)，即檢測(cè)測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品之間的電氣性接觸是否可靠?？梢岳斫獾氖?，阻抗檢測(cè)模塊I在測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品接觸可靠或不可靠均會(huì)產(chǎn)生一個(gè)推動(dòng)信號(hào)，但是在接觸可靠的情況下所產(chǎn)生的推動(dòng)信號(hào)與接觸不可靠的情況所產(chǎn)生的推動(dòng)信號(hào)有所不同，該推動(dòng)信號(hào)屬于電壓信號(hào)，因此通過(guò)推動(dòng)信號(hào)的電壓幅值來(lái)判斷接觸是否可靠。本發(fā)明實(shí)施例中阻抗檢測(cè)模塊I包括一個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11和高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12，隔離感應(yīng)裝置13及隔離電源裝置14，其中，隔離電源裝置14為低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11、高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12及隔離感應(yīng)裝置13提供工作電源，低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11和高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12連接到隔離感應(yīng)裝置13，隔離感應(yīng)裝置13輸出至所述可編程邏輯閘2。由于本發(fā)明施例中的耐壓檢測(cè)器只包括了一個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置和一個(gè)高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置，因此本發(fā)明實(shí)施例中的耐壓檢測(cè)器定義為單信道耐壓檢測(cè)器，每個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置或高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置分別對(duì)應(yīng)一個(gè)通道。為了保證本測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置在完全懸浮的工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試，低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11、高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置 12、隔離感應(yīng)裝置13及隔離電源裝置14均采用浮地。為了保證每個(gè)通道均處于獨(dú)立的狀態(tài)，所述隔離感應(yīng)裝置13包括多個(gè)隔離感應(yīng)電路，每個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置或高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置均連接有一個(gè)隔離感應(yīng)電路；所述隔離電源裝置14包括多個(gè)隔離電源，每個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置或高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置均連接一個(gè)隔離電源。圖5示出了本發(fā)明實(shí)施例中每個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置與單個(gè)隔離電源及單個(gè)隔離感應(yīng)電路的連接方式，圖5中，隔離感應(yīng)電路131與低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11中的檢測(cè)電路連接，本發(fā)明實(shí)施例中，低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11中的檢測(cè)電路采用電流檢測(cè)原理，其中H 端和L端為待測(cè)端，即待測(cè)產(chǎn)品18與耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置相連接的兩端，如果待測(cè)端連接良好(接觸可靠)，待測(cè)產(chǎn)品18的內(nèi)部相當(dāng)于一個(gè)較小阻值的電阻，則電流由H端流向L端，進(jìn)而在電阻R18上產(chǎn)生電壓，此時(shí)與低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11連接的隔離感應(yīng)電路 131中的光耦器件Ul在其管腳I和管腳4之間的電壓會(huì)發(fā)生變化，從而改變其管腳3處的電壓，實(shí)現(xiàn)了對(duì)待測(cè)端電流的變化轉(zhuǎn)換為電壓變化的過(guò)程，因此，可以理解的是，光耦器件 Ul的管腳3通過(guò)Rll所輸出的電壓信號(hào)即為推動(dòng)信號(hào)，圖5中SI端連接到可編程邏輯閘
2。VCK端連接到隔離電源。圖6示出了本發(fā)明實(shí)施例中每個(gè)高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置與單個(gè)隔離電源及單個(gè)隔離感應(yīng)電路的連接方式。圖6中，隔離感應(yīng)電路132與上述圖5中隔離感應(yīng)電路131采用同樣的電路結(jié)構(gòu)，其輸出端S2同樣連接到可編程邏輯閘2，此處不再贅述，而高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12的檢測(cè)電路采用電壓檢測(cè)原理，其中M端和N端為待測(cè)端，如果待測(cè)產(chǎn)品18與耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置之間連接良好(接觸可靠)，則M端和N端接入的待測(cè)產(chǎn)品18相當(dāng)于一個(gè)阻抗很高的電阻，但并未開(kāi)路，電路中VDK端連接到隔離電源，因此電流可以由M端流至N端，并在電阻28上產(chǎn)生分壓，從而使三極管Ql和三極管Q3組成的復(fù)合管導(dǎo)通，進(jìn)而隔離感應(yīng)電路132中的光耦元件U2的管腳I和管腳4之間電壓發(fā)生變化，最終在光耦元件U2 的管腳3上產(chǎn)生推動(dòng)信號(hào)并由R21將推動(dòng)信號(hào)輸出至S端。如果連接不良(接觸不可靠)， 則M端和N端的電阻增大或者開(kāi)路，復(fù)合管截止，光耦元件U2的管腳I上電壓降低或者降至接近0，因此光耦元件U2的管腳3上的電壓會(huì)提升，因此推動(dòng)信號(hào)發(fā)生變化從而表示M端和N端的連接狀態(tài)?？删幊踢壿嬮l2用于將阻抗檢測(cè)模塊I的推動(dòng)信號(hào)與設(shè)定信號(hào)進(jìn)行比較后產(chǎn)生連接判定信號(hào)并輸出給微處理器3。本發(fā)明實(shí)施例中可編程邏輯閘2可以使用PLC控制器進(jìn)行控制，可以理解的是，所謂設(shè)定信號(hào)是在根據(jù)待測(cè)產(chǎn)品的漏電流參數(shù)、耐壓參數(shù)在測(cè)試之前就設(shè)定好的一個(gè)參考信號(hào)，因此，該設(shè)定信號(hào)通俗的理解為一個(gè)參考電壓，該設(shè)定信號(hào)的值存儲(chǔ)于微處理器3內(nèi)。微處理器3將設(shè)定信號(hào)輸出給可編程邏輯閘2，在可編程邏輯閘 2內(nèi)具有比較單元，推動(dòng)信號(hào)與設(shè)定信號(hào)經(jīng)過(guò)比較單元后得到連接判定信號(hào)，該連接判定信號(hào)即為識(shí)別測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品接觸是否可靠的監(jiān)測(cè)信號(hào)。微處理器3是本發(fā)明實(shí)施例中耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的控制核心，用于接收可編程邏輯閘2的連接判定信號(hào)并根據(jù)連接判定信號(hào)控制高壓輸出模塊4的啟動(dòng)或關(guān)閉。微處理器3上連接有報(bào)警指示裝置31，該報(bào)警指示裝置可以是電子指示燈或電子顯示屏，也可以是蜂鳴器或者指示燈與蜂鳴器的結(jié)合。例如報(bào)警指示裝置選用指示燈與蜂鳴器結(jié)合時(shí)，當(dāng)微處理器3根據(jù)連接判定信號(hào)識(shí)別出測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品接觸不良時(shí)，微處理器3控制指示燈閃爍，同時(shí)控制蜂鳴器發(fā)出警報(bào)，從而非常直觀的提示操作人員。由于測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置具有高壓輸出模塊并且待測(cè)產(chǎn)品也會(huì)在高壓環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試，因此，為了保證操作人員的安全，本發(fā)明實(shí)施例在微處理器3上連接有遙控控制模塊 32，遙控控制模塊與遙控器相匹配，用于接收遠(yuǎn)端測(cè)試控制信號(hào)，例如，當(dāng)待測(cè)產(chǎn)品與測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置接觸可靠時(shí)，報(bào)警指示裝置會(huì)直觀的提示操作人員，操作人員便可以在遠(yuǎn)端利用手中的遙控器發(fā)出測(cè)試控制信號(hào)，由遙控控制模塊34接收并發(fā)送至微處理器3， 微處理器3便會(huì)發(fā)出測(cè)試啟動(dòng)信號(hào)至高壓輸出模塊4。本發(fā)明實(shí)施例采用人工控制測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置啟動(dòng)高壓輸出模塊而并不采用由微處理器3自動(dòng)控制測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置啟動(dòng)高壓輸出模塊4，其主要目的是為了安全考慮，如果阻抗檢測(cè)模塊I在檢測(cè)到測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品之間接觸可靠后，由微處理器3去直接控制高壓輸出模塊的啟動(dòng)，那一旦有人誤闖入到測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置附近，則極容易發(fā)生操作事故，而采用人工控制的方式則可以在確保測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置周?chē)鸁o(wú)人時(shí)再啟動(dòng)高壓輸出模塊。高壓輸出模塊4包括主控制器41和高壓產(chǎn)生裝置42，主控制器41通過(guò)I/O控制器5連接至所述的微處理器3，高壓產(chǎn)生裝置42連接于主控制器41。下面結(jié)合圖4對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的工作原理作出說(shuō)明。待測(cè)產(chǎn)品18與耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的高壓產(chǎn)生裝置42相連，高壓產(chǎn)生裝置42具有高壓HV端和低壓LV端，高壓HV端與待測(cè)產(chǎn)品18的PRI中的一點(diǎn)連接，PRI是待測(cè)產(chǎn)品18的初級(jí)線圈的兩端，低壓LV端與待測(cè)產(chǎn)品的COL中的一點(diǎn)相連，COL是待測(cè)產(chǎn)品 18中的線圈鐵芯的兩端?？梢岳斫獾氖菧y(cè)試過(guò)程中，耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的高壓HV 端可以連接在待測(cè)產(chǎn)品18的PRI中的一點(diǎn)，也可以連接在SEC中的一點(diǎn)，SEC是待測(cè)產(chǎn)品 18的次級(jí)線圈的兩端，本發(fā)明實(shí)施例中耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品初級(jí)線圈兩端的連接方式如下首先需要將耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置中的高壓產(chǎn)生裝置42的高壓 HV端與低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11中的檢測(cè)電路的H端連接，然后將高壓HV端接到待測(cè)產(chǎn)品 18的初級(jí)線圈兩端PRI的一端上，而PRI的另一端則連接低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11的檢測(cè)電路的L端。其次需要將耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置中的高壓產(chǎn)生裝置42的低壓LV端與高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12的檢測(cè)電路的M端連接，然后將低壓LV端連接到待測(cè)產(chǎn)品18的線圈鐵芯COL的一端上，而COL的另一端則連接高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12的檢測(cè)電路的N端。對(duì)于檢測(cè)原理已經(jīng)在對(duì)檢測(cè)電路的介紹中進(jìn)行了詳細(xì)介紹，此處不再贅述。可以理解的是，如果耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)片的次級(jí)線圈連接，則可以參照上述方式連接?？梢岳斫獾氖牵瑢?duì)于其他不具有變壓器線圈的待測(cè)產(chǎn)品，其檢測(cè)原理是一樣的，如產(chǎn)品電源輸入端相當(dāng)于上述的初級(jí)線圈，產(chǎn)品外殼則相當(dāng)于上述的線圈鐵芯，因此對(duì)于不具有變壓器線圈的待測(cè)產(chǎn)品與本發(fā)明實(shí)施例的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的接線方式是本領(lǐng)域技術(shù)人員可以獲知的。在上述阻抗檢測(cè)模塊I的介紹中，我們可以知道，阻抗檢測(cè)模塊I中的低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11和高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12，隔離感應(yīng)裝置13及隔離電源裝置14，提供了一個(gè)懸浮狀態(tài)下的檢測(cè)回路，即阻抗檢測(cè)模塊I中檢測(cè)回路的零電位參考點(diǎn)為浮地。因此阻抗檢測(cè)模塊I中的檢測(cè)回路，與對(duì)待測(cè)產(chǎn)品18提供高壓測(cè)試的高壓產(chǎn)生裝置42是在隔離的懸浮狀態(tài)下進(jìn)行檢測(cè)的，因此可以在整個(gè)高壓測(cè)試過(guò)程中對(duì)產(chǎn)品接觸進(jìn)行監(jiān)視檢測(cè)，不會(huì)因高壓測(cè)試中對(duì)檢測(cè)回路產(chǎn)生對(duì)測(cè)試的影響。將耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品18連接好以后，啟動(dòng)隔離電源裝置14， 低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11、高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12及隔離感應(yīng)裝置13開(kāi)始工作，可以理解的是，本發(fā)明實(shí)施例中隔離電源裝置14包括多個(gè)隔離電源，每個(gè)獨(dú)立電源對(duì)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11和高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12分別獨(dú)立供電，當(dāng)然隔離電源裝置14也可以采用具有多輸出控制的隔離電源，但是多輸出控制的隔離電源成本較高，而且沒(méi)有單獨(dú)的隔離電源獨(dú)立供電的隔離效果好。測(cè)試之初，按照上述方式連接好耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品18后，隔離電源裝置14同時(shí)啟動(dòng)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11與高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12，低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11是利用流經(jīng)待測(cè)端電流大小原理作判斷，該待測(cè)端即為待測(cè)產(chǎn)品接入耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的兩個(gè)連接端，高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12是利用待測(cè)端阻抗大小所得分壓值原理作判斷。低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置11和高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置12分別在與其連接的隔離感應(yīng)裝置21和隔離感應(yīng)裝置22產(chǎn)生兩路推動(dòng)信號(hào)，兩路推動(dòng)信號(hào)同時(shí)輸出至可編程邏輯閘2上，可編程邏輯閘2接收微處理器3上的設(shè)定信號(hào)，如果兩路推動(dòng)信號(hào)中有任何一路推動(dòng)信號(hào)表示了連接不良(接觸不可靠)，則可編程邏輯閘2就會(huì)通過(guò)內(nèi)部比較單元將比較結(jié)果發(fā)送至微處理器3，微處理器3則會(huì)控制報(bào)警指示裝置發(fā)出警報(bào)，操作人員重新連接待測(cè)產(chǎn)品，直到微處理器3控制報(bào)警指示裝置31顯示連接良好(接觸可靠)，此時(shí)，操作人員在排出測(cè)試設(shè)備周?chē)鸁o(wú)人的情況下按下遙控器上的啟動(dòng)鍵，遙控控制模塊32接收到啟動(dòng)信號(hào)后，將啟動(dòng)信號(hào)發(fā)送給微處理器3，微處理器3通過(guò)I/O控制器5將啟動(dòng)信號(hào)發(fā)送至高壓輸出模塊的主控制器41，主控制器41便啟動(dòng)高壓產(chǎn)生裝置42在高壓HV端輸出高壓，低壓 LV端為高壓產(chǎn)生裝置之參考零電位，從而進(jìn)入耐壓測(cè)試階段，在耐壓測(cè)試階段中，如果突然出現(xiàn)連接不良(接觸不可靠)或者連接斷開(kāi)時(shí)，阻抗檢測(cè)模塊I同樣會(huì)產(chǎn)生表示連接不良的推動(dòng)信號(hào)，經(jīng)由可編程邏輯閘2發(fā)給微處理器3，微處理器3會(huì)及時(shí)通過(guò)I/O控制器5將關(guān)閉信號(hào)發(fā)給主控制器41，由主控制器41及時(shí)關(guān)閉高壓產(chǎn)生裝置42，同時(shí)微處理器3還會(huì)控制報(bào)警指示裝置31發(fā)出警報(bào)，提示操作人員重新連接待測(cè)產(chǎn)品18，然后再重新進(jìn)入測(cè)試階段。實(shí)施例2
如圖7所示，本發(fā)明實(shí)施例中的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置具有多個(gè)高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置及多個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置，因此定義本發(fā)明實(shí)施例中的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置為多信道耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置。本發(fā)明實(shí)施例的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置中，其高壓輸出模塊7還包括多個(gè)高壓測(cè)試通道，如圖7 Ca)中高壓測(cè)試通道71分別連接高壓產(chǎn)生裝置的高壓端HV端和低壓端LV端，高壓端HV端其實(shí)是高電壓輸出端，低壓端LV端其實(shí)是高壓零電位參考端。高壓測(cè)試通道71內(nèi)具有用于選擇高壓端輸出或低壓端輸出的選通開(kāi)關(guān)。因此，每個(gè)高壓測(cè)試通道(CH、CHl-CHn)均可以由選通開(kāi)關(guān)選擇作為高壓輸出端或高壓零電位參考端。本發(fā)明實(shí)施例中阻抗檢測(cè)模塊101與上述實(shí)施例I中的阻抗檢測(cè)模塊I略有不同，本發(fā)明實(shí)施例中的阻抗檢測(cè)模塊101具有I個(gè)高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組100和多個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組(110、11Ρ··11η)，所述高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組其電路結(jié)構(gòu)如圖7(b)所示，由高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置1011、隔離感應(yīng)裝置1012及隔離電源1013構(gòu)成，對(duì)于高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置1011、隔離感應(yīng)裝置1012及隔離電源之間的連接與工作原理，可以參見(jiàn)上述實(shí)施例I中的詳細(xì)介紹，此處不再贅述。所述低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組其電路結(jié)構(gòu)如圖7 (c)所示，由低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置1021、隔離感應(yīng)裝置1022及隔離電源1023構(gòu)成?？梢岳斫獾氖牵鳛楸景l(fā)明實(shí)施例的一種改進(jìn)形式，阻抗檢測(cè)模塊101中的高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組與低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組以組合模式形成，組合數(shù)量與形式可以依測(cè)試需求作任意組合，即可以由一個(gè)高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組與多個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組組合形成，也可以由一個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組與多個(gè)高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組組合形成，還可以是由多個(gè)高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組與多個(gè)低阻抗檢測(cè)模組組合形成。所述高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組其電路結(jié)構(gòu)如圖7 (b)所示，由高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置1011、隔離感應(yīng)裝置1012及隔離電源1013構(gòu)成， 對(duì)于高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置1011、隔離感應(yīng)裝置1012及隔離電源之間的連接與工作原理，可以參見(jiàn)上述實(shí)施例I中的詳細(xì)介紹，此處不再贅述。所述低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)模組其電路結(jié)構(gòu)如圖7 (c)所示，由低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置1021、隔離感應(yīng)裝置1022及隔離電源1023構(gòu)成?？梢岳斫獾氖?，本發(fā)明實(shí)施例中的多信道耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置相對(duì)于上述實(shí)施例I中的單信道耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，在結(jié)構(gòu)上增加了低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置和 /或高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置，而工作原理仍與實(shí)施例I中的單信道耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置相同，因此對(duì)于多信道耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的其他部分介紹可以參見(jiàn)實(shí)施例I中的詳細(xì)介紹，此處不再贅述。本發(fā)明實(shí)施例中的多信道耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置能夠同時(shí)對(duì)多個(gè)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，因此相比實(shí)施例I中的單信道耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，其工作效率得到了很大的提升。實(shí)施例3:
如圖3所示，基于本發(fā)明提供的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的連接檢測(cè)方法，包括
步驟301 :判斷待測(cè)產(chǎn)品是否與耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置連接可靠，如果是，則執(zhí)行步驟302 :耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置輸出測(cè)試電壓至待測(cè)產(chǎn)品，如果否，則執(zhí)行步驟303 耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置啟動(dòng)報(bào)警提示并停止輸出測(cè)試電壓。作為一種優(yōu)選的實(shí)施方式，本發(fā)明實(shí)施例在步驟302之前還包括步驟304 :耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置接收遙控啟動(dòng)信號(hào)。而遙控啟動(dòng)信號(hào)是有操作人員在遠(yuǎn)端通過(guò)遙控器發(fā)出的。本發(fā)明實(shí)施例中提供的耐壓測(cè)試方法，能夠充分保證待測(cè)產(chǎn)品完全處于連接良好 (接觸可靠)的狀態(tài)下進(jìn)行，能夠保證最終的測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。需要說(shuō)明的是，由于本發(fā)明方法實(shí)施例與本發(fā)明產(chǎn)品實(shí)施例基于同一構(gòu)思，具體內(nèi)容可參見(jiàn)本發(fā)明產(chǎn)品實(shí)施例中的敘述，此處不再贅述。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述實(shí)施例的各種方法中的全部或部分步驟是可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，該程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，存儲(chǔ)介質(zhì)可以包括只讀存儲(chǔ)器(ROM，Read Only Memory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM，Random Access Memory)、磁盤(pán)或光盤(pán)等。以上對(duì)本發(fā)明實(shí)施例所提供的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置及其連接檢測(cè)方法進(jìn)
9行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時(shí)，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實(shí)施方式
及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說(shuō)明書(shū)內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
權(quán)利要求
1.耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，其特征在于，包括阻抗檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品之間電連接并產(chǎn)生推動(dòng)信號(hào);可編程邏輯閘，用于將阻抗檢測(cè)模塊的推動(dòng)信號(hào)與設(shè)定信號(hào)進(jìn)行比較后產(chǎn)生連接判定信號(hào)并輸出給微處理器；微處理器，用于接收可編程邏輯閘的連接判定信號(hào)并根據(jù)連接判定信號(hào)控制高壓輸出模塊的啟動(dòng)或關(guān)閉；高壓輸出模塊，用于根據(jù)微處理器的命令產(chǎn)生高壓測(cè)試信號(hào)。
2.如權(quán)利要求I所述的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述阻抗檢測(cè)模塊包括至少一個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置和至少一個(gè)高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置，隔離感應(yīng)裝置及隔離電源裝置，其中，隔離電源裝置為低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置、高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置及隔離感應(yīng)裝置提供工作電源，低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置和高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置連接到隔離感應(yīng)裝置，隔離感應(yīng)裝置輸出至所述可編程邏輯閘。
3.如權(quán)利要求2所述的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述隔離感應(yīng)裝置包括多個(gè)隔離感應(yīng)電路，每個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置或高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置均連接有一個(gè)隔離感應(yīng)電路；所述隔離電源裝置包括多個(gè)隔離電源，每個(gè)低阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置或高阻抗導(dǎo)通檢測(cè)裝置均連接一個(gè)隔離電源。
4.如權(quán)利要求I或2或3所述的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，其特征在于高壓輸出模塊包括主控制器和高壓產(chǎn)生裝置，主控制器通過(guò)I/O控制器連接至所述的微處理器，高壓產(chǎn)生裝置連接于主控制器。
5.如權(quán)利要求I或2或3所述的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述微處理器上連接有報(bào)警指示裝置。
6.如權(quán)利要求5所述的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述微處理器還連接有用于接收遠(yuǎn)端測(cè)試控制信號(hào)的遙控控制模塊。
7.如權(quán)利要求1、2或3所述的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述高壓輸出模塊還包括多個(gè)高壓測(cè)試通道，所述高壓測(cè)試通道分別連接高壓產(chǎn)生裝置的高壓端和低壓端，高壓測(cè)試通道內(nèi)具有用于選擇高壓端輸出或低壓端輸出的選通開(kāi)關(guān)。
8.如權(quán)利要求6所述的耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述高壓輸出模塊還包括多個(gè)高壓測(cè)試通道，所述高壓測(cè)試通道分別連接高壓產(chǎn)生裝置的高壓端和低壓端， 高壓測(cè)試通道內(nèi)具有用于選擇高壓端輸出或低壓端輸出的選通開(kāi)關(guān)。
9.一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的連接檢測(cè)方法，其特征在于，包括步驟判斷待測(cè)產(chǎn)品是否與耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置連接可靠，如果是，則耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置輸出測(cè)試電壓至待測(cè)產(chǎn)品，如果否，則耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置啟動(dòng)報(bào)警提示并停止輸出測(cè)試電壓。
10.如權(quán)利要求9所述的一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置的連接檢測(cè)方法，其特征在于，所述耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置輸出測(cè)試電壓至待測(cè)產(chǎn)品的步驟之前還包括耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置接收遙控啟動(dòng)信號(hào)。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置及其連接測(cè)試方法，耐壓測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置包括阻抗檢測(cè)模塊，可編程邏輯閘，微處理器及高壓輸出模塊，阻抗檢測(cè)模塊用于檢測(cè)測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品之間電連接并產(chǎn)生推動(dòng)信號(hào)；微處理器，接收可編程邏輯閘的信號(hào)并根據(jù)測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置與待測(cè)產(chǎn)品之間的連接情況控制高壓輸出模塊。能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)試全程對(duì)待測(cè)產(chǎn)品與測(cè)試器的連接檢測(cè)裝置之間的接觸是否可靠進(jìn)行監(jiān)測(cè)，提高了測(cè)試結(jié)果的可靠性，保證了待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試質(zhì)量。能夠充分保證待測(cè)產(chǎn)品完全處于連接良好的狀態(tài)下進(jìn)行，能夠保證最終測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
文檔編號(hào)G01R31/02GK102590779SQ20121008929
公開(kāi)日2012年7月18日 申請(qǐng)日期2012年3月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月29日
發(fā)明者蔡李政勛 申請(qǐng)人:東莞帝佑儀器有限公司